JPH04135727A

JPH04135727A - 成形品良否判別方法及び装置

Info

Publication number: JPH04135727A
Application number: JP25523990A
Authority: JP
Inventors: Hideo Naito; 内藤　英夫; Masaaki Kamiguchi; 上口　賢明; Tetsuaki Neko; 哲明根子
Original assignee: Fanuc Corp
Current assignee: Fanuc Corp
Priority date: 1990-09-27
Filing date: 1990-09-27
Publication date: 1992-05-11
Anticipated expiration: 2012-11-26
Also published as: JP2681845B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】産業上の利用分野本発明は、射出成形機で成形される成形品の良否を射出
成形機を制御する制御装置が自動的に判別する成形品良
否判別方法に関する。

従来の技術射出成形機の各成形サイクルで成形される成形品の良否
を射出成形機を制御する制御装置によって各成形サイク
ル毎自動的に判別する方法はすでに公知である。例えば
、射出工程における樹脂圧をサンプリングし、予め設定
されている基準となる各サンプリング時の樹脂圧と比較
し、この比較結果によって成形品の良否を判別する方法
が特開平２−４８９１８号公報によって公知である。

また、射出開始からの時間を計測し、設定された時間に
達したときのスクリュー位置が設定された範囲の位置か
否か、または、射出圧が設定された範囲内か否かによっ
て成形品の良否を判別したり、射出時の設定されたスク
リュー位置におれる射出圧が設定範囲内にあるか否かに
よって成形品の良否を判別する等の方法で成形品の良否
を判別する方法も特公平２−７８５１６号公報で公知で
ある。

さらに、成形サイクル中の各種動作状態を表す値を監視
項目とし、これら監視項目の値を各成形サイクル毎検出
し、夫々の項目に設定されている設定範囲内に検出値か
あればその成形サイクルで成形された成形品を良品と判
断し、範囲外であれば、不良品と判別して成形品の良否
を判別する方法も公知である（例えば特公平２−１０６
３１５号公報参照）。この場合、複数の監視項目の内−
つでも設定範囲内に検出値がないと不良と判断したり、
すべての監視項目において、検出値が各設定範囲内にあ
るときのみ成形品を良品と判別する方法が採られていた
。

発明か解決しようとする課題複数ある監視項目の内１つでもその監視項目に対して設
定されている設定範囲内に検出値がないとき、その成形
サイクルで成形された成形品を不良品とする場合、良品
を不良品と判別する場合がある。それは、成形動作にお
ける各動作状態を表す値は相互に関係し合っていること
から、１つの監視項目が設定範囲内になくても、良品の
成形品が成形されることがあるからである。また、１つ
の監視項目で良品と判別されても、不良品が成形される
場合もある（他の監視項目の動作状態を表す値が適した
値ではない）。

また、すべての監視項目に対して検出値が設定範囲内と
判断されとき成形品を良品と判別するようにした場合、
良品でも不良品と判別される確率が高くなり、良否判別
を誤る場合が出てくる。

そこで、本発明の目的は複数の監視項目で成形品の良否
を判別する方法において極力判別誤りをなくした成形品
良否判別方法を提供することにある。

課題を解決するための手段成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を成形品
の良否を判別する監視項目として検出し、１サイクル終
了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目の検出
値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して、各成
形品の良否を判別する成形品判別方法において、本発明
は、各監視項目の設定範囲内か及び該範囲より大きいか
小さいかの組み合わせに対するコードを設け、該コード
に対し良品と判定するコードまたは、不良品と判定する
コードの少なくともどちらか一方を記憶しておくか、ま
たは、各監視項目の設定範囲内か及び該範囲より大きい
か小さいかの組み合わせとその組み合わせにおける成形
品の良否の情報を記憶するテーブルを上記制御装置内の
記憶装置に記憶しておき、１成形サイクル終了後、該該
サイクル中に検出された各監視項目の値が設定された範
囲内かもしくは範囲より大きいか小さいか判断し、この
判断結果の組み合わせに対するコードを求め、該コード
に対して成形品が良若しくは不良とじて記憶されている
か否か、または、上記組み合わせを上記テーブルより検
索し、該組み合わせに対して記憶されている成形品良否
情報に基づいて、成形昼食もしくは不良の信号を送出す
るようにすることにより上記課題を解決した。

また、上記各監視項目の設定範囲を複数のランクに分け
、各監視項目の動作状態を表す検出値が各ランクの範囲
内か範囲より大きいか小さいかをも判別しこの判別結果
の組み合わせによって、より精度が高く成形品の良否を
判別する。

作　　用射出成形機の制御装置は各成形サイクル中に各監視項目
に対応する動作状態の値を検出し、この各検出値が夫々
設定されている設定範囲にあるか否か、設定範囲より大
きいか、小さいかを判別し、各監視項目に対するこの判
別結果の組み合わせに対するコードによって、または該
組み合わせと一致する組み合わせをテーブルより検索し
、上記組み合わせに対して記憶されている成形品の良否
の情報によって成形品の良否を判別する。

実施例以下、本発明の一実施例について説明する。

第２図は本発明の一実施例における射出成形機の制御装
置のブロック図で、本実施例においては、該制御装置を
数値制御装置（以下、ＮＣ装置という）１０で構成して
いる。該ＮＣ装置１０はＮＣ用のマイクロプロセッサ（
以下、ＣＰＵという）１１とプログラマブルマシンコン
トローラ（以下、ＰＭＣという）用のＣＰＵ１２を有し
ており、２ＭＣ用ＣＰＵ１２には射出成形機のシーケン
ス動作を制御するシーケンスプログラム等を記憶したＲ
ＯＭｌ８とデータの一時記憶、演算等に用いられるＲＡ
Ｍ１９が接続されている。

ＮＣ用ＣＰＵＩＩには射出成形機を全体的に制御する管
理プログラムを記憶したＲＯＭ１４及び射出用、クラン
プ用、スクリュー回転用、エジェクタ用等の各軸のサー
ボモータを駆動制御するサーボ回路１７がサーボインタ
フェイス１６を接続されている。また、２０はバブルメ
モリやＣＭＯＳメモリで構成される不揮発性の共有ＲＡ
Ｍで、射出成形機の各動作を制御するＮＣプログラム等
を記憶するメモリ部、設定された成形条件を記憶する成
形条件メモリ部、各種監視項目に対する設定範囲を記憶
するメモリ部、及び後述する各監視項目の設定範囲か、
設定範囲より大きいか、小さいかの組み合わせとその組
み合わせのときは成形品が良品か不良品かを記憶するテ
ーブルを有している。

１３はバスアービタコントローラ（以下、ＢＡＣという
）で、該ＢＡＣ１３にはＮＣ用ＣＰＵ１１及びＰＭＣ用
ＣＰＵ１２．共有ＲＡＭ２０．入力回路２１．出力回路
２２の各バスが接続され、該ＢＡＣ１３によって使用す
るバスを制御するようになっている。入力回路２１には
、射出成形機に設けた各種センサや周辺機器からの入力
線が接続され、出力回路２２には射出成形機本体の各種
アクチュエイタや周辺機器への出力線が接続されている
。また、２４はオペレータパネルコントローラ２３を介
してＢＡＣｌ　３に接続されたＣＲＴ表示装置付手動デ
ータ入力装置（以下、ＣＲＴ／ＭＤＩという）であり、
ソフトキーやテンキー等の各種操作キーを操作すること
により様々な指令及び設定データの入力ができるように
なっている。

なお、１５はＮＣ用ＣＰＵＩ　１にバス接続されたＲＡ
Ｍでデータの一時記憶等に利用されるものである。

以上の構成は、従来のＮＣ装置で制御される射出成形機
の制御部（ＮＣ装置）と路間−である。

第３図は、本実施例で使用する上記テーブルの一例で、
本実施例においては、監視項目として、クツション量、
射出時間、計量時間、計量位置、ピーク圧、■−Ｐ位置
（射出速度制御から保圧制御への切換位置）を用い、上
記テーブルには、該監視項目に対して設定された範囲内
か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせに対する成
形品の良否判定を記憶している。第３図において、監視
項目に対して設定範囲内の時は「０」、設定値より大き
いときは「１」、設定値より小さいときは「２」を記憶
しており、判定の欄における「０」は成形品が「良」、
「１」は成形品が「不良」であることを示している。例
えば、ナンバーＮａ１のすべての監視項目が設定範囲（
ｒＯＪ　）であれば、成形品は良（「０」）、ナンバー
Ｎａ＝２のクツション量が設定範囲より太きいく、他の
監視項目が設定範囲内であれば、成形品は「不良」（Ｉ
ｌｌ　）と記憶されている。また、ナンバーＮａ＝４で
示すように射出時間が設定範囲より大きく、他の監視項
目がすべて設定範囲内の時は成形品は「不良」、シかし
ナンバーＮａ＝７のように射出時間が設定範囲より小さ
くて他の監視項目が設定範囲内である場合には、成形品
は「良」と判定され、各監視項目の設定範囲内かその範
囲より大きいか小さいかの組み合わせによって成形品の
良否判定を決めている。

以下このテーブルには、各監視項目の設定範囲内か、範
囲より大きいか、小さいかの組み合わせ３６＝７２９通
りと（Ｎ＝１〜７２９）、各組み合わせにおける成形品
の良否を記憶している。

そして、各監視項目の範囲を設定し上記共有ＲＡＭ２０
に記憶させておく。すなわち、クツション量の下限値Ｃ
３Ｌ、上限値Ｃ３Ｈ１射出時間の下限値ＩＴＬ、上限値
ＩＴＨ，計量時間の下限値ＥＴＬ、上限値ＥＴＨ，計量
位置の下限値ＥＰＬ。

上限値ＥＰＨ，ピーク圧の下限値ＰＰＬ、上限値ＰＰＨ
，Ｖ−Ｐ切換位置（射出速度制御から保圧制御への切換
位置）の下限値ＶＰＬ、上限値ＶＰＨを夫々設定し記憶
させておく。

第１図（ａ）、　　（ｂ）は、本実施例における射出成
形機の制御装置１０のＰＭＣ用ＣＰＵ１２が実施する各
成形サイクルの処理のフローチャートである。

型閉じ、射出、保圧、計量、型開きの各処理指令をＰＭ
Ｃ用ＣＰＵＩ２はＮＣ用ＣＰＵＩ　１に共有ＲＡＭ２０
を介して出力し、ＮＣ用ＣＰＵＩ　１は各指令に応じて
各処理を実行する（ステップ８１〜Ｓ５）。これらの処
理は従来と同じであり、公知であるのでその説明を省略
する。また、この型閉じから型開きまでの１成形サイク
ル中に、従来と同様にクツション量Ｃ８，射出時間ＩＴ
、計量時間ＥＴ、計量位置ＥＰ、　　ピーク圧ＰＰ、Ｖ
−Ｐ切換位置ＶＰを計測する。すなわち、クツション量
Ｃ８は保圧完了時のスクリュー位置によって検出し、射
出時間ＪＴは射出開始から計時を開始し射出速度制御か
ら保圧への切換位置にスクリューが達した時までの時間
をタイマー等で検出し、計量時間ＥＴは計量開始から計
量完了までの時間をタイマーで計時し、計量位置ＥＰは
計量完了時のスクリュー位置より検出し、ピーク圧ＰＰ
は射出中射出圧力を検出し、前回記憶の射出圧力より大
きい射出圧力になる毎にその射出圧力に書換え記憶し射
出終了時において記憶している射出圧力をピーク圧ＰＰ
として検出する。また、ｖ−Ｐ切換位置ＶＰは射出速度
制御から保圧に切換えられた実際のスクリュー位置を検
出することによって検出する。これら監視項目の動作状
態の検出は従来と同じ方法で行うもので詳細は省略する
。なお、例えば、特願平（Ｐ　８８５９）号に示す方法
と同一である。

こうして、型開きが完了して、１成形サイクルが終了す
るとＰＭＣ用ＣＰＵ１２はステップＳ６以下の処理を開
始する。

まず、上記成形サイクルで検出されたｖ−Ｐ・切換位置
ｖＰが設定されたＶ−Ｐ切換位置の下限値ＶＰＬ以上か
否か、上限値ＶＰＨ以下か否か判断し、下限値ＶＰＬよ
り小さいときにはレジスタＮにｒ４８６Ｊ　　（＝２Ｘ
３５）を設定し、検出Ｖ−Ｐ切換位置ｖＰが上限値ＶＰ
Ｈより大きいときには、レジスタＮにｒ２４３Ｊ　　（
＝３５）を設定し、検出Ｖ−Ｐ切換位置ＶＰが設定範囲
内（ＶＰＬ≦ｖｐ≦ＶＰＨ）のときには、レジスタＮに
ｒＯＪを設定する（ステップ８６〜５１０）。次に、検
出ピーク圧ＰＰが設定範囲内か否か判断し、ピーク圧の
設定下限値ＰＰＬより小さいときには、レジスタＮにｒ
１６２Ｊ　　（＝２Ｘ３’）を加算し、ピーク圧の設定
上限値ＰＰＨより大きいときにはレジスタＮにｒ８１Ｊ
　　（＝３’）を加算し、上限値と下限値の範囲内であ
れば（ＰＰＬ≦ＰＰ≦ＰＰＨ）、レジスタＮには何等加
えずステップＳ１５に進む（ステップ３１１〜５１４）
。

次に検出計量位置ＥＰが設定範囲内か否か判断し、検出
計量位置ＥＰが設定下限値ＥＰＬより小さいときにはレ
ジスタＮにｒ５４Ｊ　　（＝２Ｘ３３）を加算し、設定
上限値ＥＰＨより大きいときにはレジスタＮにｒ２７Ｊ
　　（＝３’）を加算し、設定範囲内（ＥＰＬ≦ＥＰ≦
ＥＰＨ）ならば、レジスタＮに同等加算することなくス
テップＳ１９に進む。

次に検出計量時間ＥＴが設定範囲内か否か判断し、設定
された計量時間の下限値ＥＴＬより小さいときにはレジ
スタＮにｒ１８Ｊ　　（＝２Ｘ３２）を加算し、設定上
限値ＥＴＨより大きいときにはレジスタＮにｒ９Ｊ　　
（＝３２）を加算し、設定範囲内（ＥＴＬ≦ＥＴ≦ＥＲ
Ｈ）のときにはそのままステップＳ２３に進む（ステッ
プＳＬ９〜５２２）。

同様に、検出射出時間ＩＴが設定された射出時間の下限
値ＩＴＬより小さいときにはレジスタＮにｒ６Ｊ　　（
＝２Ｘ３’）を加算し、設定上限値ＩＴＨより大きいと
きにはレジスタＮにｒ３Ｊ　　（＝３１）を加算する。

また、検出クツション量Ｃ８が設定されたクツション量
下限値ＣＳＬより小さいときにはレジスタＮにｒ２Ｊ　
　（＝２Ｘ３０）、上限値Ｃ８Ｈより大きいときにはレ
ジスタＮにｒｌＪ　　（＝３°）を加算し、検出射出時
間ＩＴ。

検出クツション量Ｃ８が設定範囲内（ＩＴＬ≦ＩＴ≦Ｉ
ＴＨ，Ｃ３Ｌ≦Ｃ８≦Ｃ３Ｈ）ならば、レジスタＮの値
を変えない（ステップ８２３〜５３０）。そして、最後
にレジスタＮに「１」加算して（ステップ５３１）、該
レジスタＮに記憶する値に対応するナンバーＮａを上記
テーブルより読み該ナンバーＮａに記憶された判定を読
み出し、「０」ならば成形品は良品、「１」ならば成形
品は不良品として、不良品の時のみ不良品信号を送出し
くステップＳ３２，５３３）、当該成形サイクルを終了
する。

例えば、各監視項目の動作状態を表す検出値がすべて設
定範囲内にあるときには、ステップＳ８でレジスタＮは
「０」に設定され、ステップＳ３１で「１」加算される
だけであるから、レジスタＮの値は「１」となりテーブ
ルのナンバーＮａの「ＩＪの判定に記憶する「０」が読
みとられ、該成形サイクルで成形された成形品は「良」
と判定する。また、射出時間、計量時間、計量位置、ピ
ーク圧、Ｖ−Ｐ切換位置が設定範囲であり、クツション
量Ｃ８が設定されたクツション量の上限値Ｃ３Ｈより大
きいときにはステップＳ２９で「１」にセットされ、ス
テップＳ３１で「１」加算されるから、「２」となり、
テーブルのナンバーＮａが「２」の判定が読み出され、
「１」すなわち不良品が読み出されるので不良品信号が
送出される。

同様に検出クツション量Ｃ８が設定クツション量の下限
値Ｃ３Ｌより小さく、他の監視項目は設定範囲ないであ
れば、レジスタＮにはステップＳ３０で「２」、ステッ
プＳ３１で「１」が加算されて「３」となるからテーブ
ルのナンバー３に記憶する「１」の判定が読み出され、
不良品信号を送出する。

以下、検出射出時間ＩＴが設定上限値ＩＴＨより大きく
他の監視項目は設定範囲内であるときには、レジスタＮ
の値は「４」となり、射出時間■Ｔか上限値ＩＴＨより
大きくクツション量Ｃ８が上限値Ｃ８Ｈより太きいく他
の監視項目は設定範囲内であるときにはレジスタＮの値
は「５」となる。以下同様であり、すべての監視項目に
おいて設置下限値より検出値がそれぞれ小さいときには
、ステップＳＩＯ，Ｓ１４．Ｓ１８．Ｓ２２，３２６、
Ｓ３０．　　Ｓ３１の処理によりレジスタＮの値は７２
９　（＝４８６＋１６２＋５４＋１８＋６＋２＋１）と
なり、上記ステップ８６〜Ｓ３１の処理によって７２９
通りの組み合わせが求められ、各監視項目の範囲内か設
定値より大きいか小さいかの組み合わせによって夫々の
組み合わせにおける成形品の良か不良かが検出される。

上述した説明からも分かるように、テーブルには、必ず
しも各監視項目の範囲内にあるか範囲より大きいか小さ
いかを記憶せさて置く必要はなく、これら監視項目の設
定範囲内か、範囲より大きいか小さいかの組み合わせの
ナンバーＮａをコードとして記憶し、かつこのコードに
対して成形品が良か不良かを記憶すればよい。この場合
、不良品となる組み合わせのコード（ナンバー）のみを
記憶し、各監視項目の検出値が設定範囲内か範囲より大
きいか小さいかの組み合わせに対するコード（ナンバー
Ｎａ）を上述した処理で求め、該コードが不良品のコー
ドとして記憶したものにあるか否か判断し、あれば不良
品信号を送出し、なければ良品とすればよい。また、逆
に、良品になるときの組み合わせのコードのみを記憶し
ておき、各監視項目の検出値から夫々の設定範囲内か、
範囲よす大きいか小さいかの組み合わせに対するコード
を上述のようにして求め、求められたコードが良品とし
て記憶されたコード内にないときのみ不良品コードを送
出するようにしてもよい。

さらに、コード（ナンバーＮａ）を用いずに、上記テー
ブル、すなわち、各監視項目のそれぞれの設定範囲内か
範囲より大きいか小さいかを記憶しておき、各監視項目
毎に検出値が設定範囲内か範囲より大きいか小さいかを
記憶するレジスタを設け、このレジスタの値の組み合わ
せと一致するテーブルの各監視項目の値の組み合わせを
検索し、検索されたものに対して記憶している成形品良
か不良かの情報を読み出し成形品が良か不良か判断する
ようにしてもよい。この場合、上記第３図に示すフロー
チャートにおいて、ステップＳ８．Ｓ９、ＳＩＯでは、
Ｖ−Ｐ切換位置が設定範囲内であれば、「０」設定範囲
より大きいときには「１」設定範囲より小さいときには
「２」が、■−Ｐ切換位置用レジスタに格納されること
になり、同様に他の監視項目においても、夫々の監視項
目に対応して設けられたレジスタに設定範囲内であれば
、「０」設定範囲より大きければ「１」、小さければ「
２」が記憶され、最後に各レジスタの記憶値の組み合わ
せと一致する組み合わせを上記テーブルより検索し、検
索された組み合わせに対する成形品良か不良かの情報に
より成形品の良か不良かを判別するようにする。また、
この場合にも、成形品を不良とする上記レジスタの値の
組み合わせもしくは、成形品を良とする組み合わせのみ
を記憶しておき、各監視項目の検出値より得られたレジ
スタの値の組み合わせが、この記憶したものの中にある
か否かによって成形品の良否を判別するようにしてもよ
い。

さらに、上記実施例では各監視項目に対しては設定範囲
をある１つの幅に設定したが、この設定範囲を複数のラ
ンクに別けて設けてもよい。例えばランク１．ランク２
．ランク３と分けたとき、ランク１の幅〉ランク２の幅
〉ランク３の幅とし、ランク１の上限値〉ランク２の上
限値〉ランク３の上限値、ランク１の下限値くランク２
の下限値くランク３の下限値とする。

そして、各監視項目の各ランクの範囲内か範囲より大き
いか小さいかの組み合わせに対する成形品の良否の情報
を記憶しておき、各監視項目に対して検出された値が各
ランクの範囲内か範囲より大きいか小さいかを求め、求
められた各監視項目の各ランクの範囲内か、範囲より大
きいか小さいかの組み合わせに対応する成形品良否の情
報より成形品良否判別を行うようにしてもよい。

また、良否判別の監視項目として、サイクルタイム、最
小クツション量、シリンダ温度、ノズル温度、樹脂供給
口の温度、金型温度、プラテン温度１周囲温度、ヒータ
ーのＯＮ１０　Ｆ　Ｆ時間の比。

射出開始後所定時間が経過したときの圧力とスクリュー
位置などを用いてもよい。

発明の効果本発明においては、成形サイクルで検出された各監視項
目の検出値に対して、夫々設定された範囲内にあるか否
か及び範囲より大きいか小さいかの組み合わせによって
その成形サイクルで成形された成形品が良品か不良品か
判別するようにしているので、１つの監視項目において
設定範囲内にない場合でも他の監視項目の検出値の状態
で良成形品が成形されていると判断されるような場合に
は、成形昼食と判別することができるので、良成形品を
不良成形品とすることが少なくなる。また、成形品の良
否判別をきめ細かく判別するので、良品を不良品、また
不良品を良品と判別することが少なくなる。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、　　（ｂ）は、本発明の一実施例の動作
処理フローチャート、第２図は、同実施例を実施する射
出成形機の制御装置の要部ブロック図、第３図は、同実
施例におけ２成形品の良否を判別するためのテーブルの
説明図である。１０・・・数値制御装置（ＮＣ装置）、Ｃ８Ｌ・・・ク
ツション量の下限値、Ｃ３Ｈ・・・クツション量の上限
値、ＩＴＬ・・・射出時間の下限値、ＩＴＨ・・・射出
時間の上限値、ＥＴＬ・・・計量時間の下限値、ＥＴＨ
・・・計量時間の上限値、ＥＰＬ・・・計量位置の下限
値、ＥＰＨ・・・計量位置の上限値、ＰＰＬ・・・ピー
ク圧の下限値、ＰＰＨ・・・ピーク圧の上限値、ＶＰＬ
・・・Ｖ−Ｐ切換位置の下限値、ＶＰＨ・・・Ｖ−Ｐ切
換位置の上限値、Ｃ８・・・検出クツション良の値、Ｉ
Ｔ・・・検出射出時間の値、ＥＴ・・・検出計量時間の
値、ＥＰ・・・検出計量位置の値、ＰＰ・・・検出ピー
ク圧の値、ＶＰ・・・検出ｖ−Ｐ切換位置の値である。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を
成形品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイ
クル終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目
の検出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して
、各成形品の良否を判別する成形品判別方法において、
各監視項目の設定範囲内か及び該範囲より大きいか小さ
いかの組み合わせに対してコードを設け、成形品が良と
判定する組み合わせのコードか若しくは不良成形品と判
定する組み合わせのコードかの少なくともどちらか一方
を上記制御装置内の記憶装置に記憶しておき、１成形サ
イクル終了後が該サイクル中に検出された各監視項目の
値が設定された範囲内かもしくは範囲より大きいか小さ
いか判断し、この判断結果の組み合わせに対応するコー
ドを求め、該コードが上記記憶装置内に記憶されている
か否か判断し、該判断結果に基づいて成形品良もしくは
不良の信号を送出するようにした成形品良否判別方法。
（２）成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を
成形品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイ
クル終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目
の検出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して
、各成形品の良否を判別する成形品判別方法において、
各監視項目に対して設定する範囲を複数ランクに分けて
設定し、各監視項目の各ランクの設定範囲内か及び該範
囲より大きいか小さいかの組み合わせに対してコードを
設け、成形品が良と判定する組み合わせのコードか若し
くは不良成形品と判定する組み合わせのコードかの少な
くともどちらか一方を上記制御装置内の記憶装置に記憶
しておき、１成形サイクル終了後が該サイクル中に検出
された各監視項目の値が設定された各ランクの範囲内か
もしくは範囲より大きいか小さいか判断し、この判断結
果の組み合わせに対応するコードを求め、該コードが上
記記憶装置内に記憶されているか否か判断し、該判断結
果に基づいて成形品良もしくは不良の信号を送出するよ
うにした成形品良否判別方法。
（３）成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を
成形品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイ
クル終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目
の検出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して
、各成形品の良否を判別する成形品判別方法において、
各監視項目の設定範囲内か及び該範囲より大きいか小さ
いかの組み合わせとその組み合わせにおける成形品の良
否の情報を記憶するテーブルを上記制御装置内の記憶装
置に記憶しておき、１成形サイクル終了後が該サイクル
中に検出された各監視項目の値が設定された範囲内かも
しくは範囲より大きいか小さいか判断し、この判断結果
の組み合わせに合致する組み合わせを上記テーブルより
検索し、該組み合わせに対して記憶されている成形品良
否情報に基づいて成形品良もしくは不良の信号を送出す
るようにした成形品良否判別方法。
（４）成形品を成形する１サイクル中の各種動作状態を
成形品の良否を判別する監視項目として検出し、１サイ
クル終了後射出成形機の制御装置が自動的に該監視項目
の検出値が夫々設定された範囲内にあるか否か判断して
、各成形品の良否を判別する成形品判別方法において、
各監視項目に対して設定する範囲を複数ランクに分けて
設定し、各監視項目の各ランクの設定範囲内か若しくは
範囲より大きいか小さいかの組み合わせとその組み合わ
せにおける成形品の良否の情報を記憶するテーブルを上
記制御装置内の記憶装置に記憶しておき、１成形サイク
ル終了後が該サイクル中に検出された各監視項目の値が
設定された各ランクの範囲内か若しくは大きいか小さい
か判断し、この判断結果の組み合わせに合致する組み合
わせを上記テーブルより検索し、該組み合わせに対して
記憶されている成形品良否情報に基づいて成形品良もし
くは不良の信号を送出するようにした成形品良否判別方
法。