JP4297280B2 - 射出成形用波形表示方法及び装置 - Google Patents

射出成形用波形表示方法及び装置 Download PDF

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本発明は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示方法及び装置に関する。
一般に、射出成形機には、コントローラに付属するディスプレイ(表示装置)を備えており、従来より、このディスプレイに、各成形サイクルにおける射出工程等の所定の成形工程の動作に係わる物理量(射出圧力等)の変化波形(プロセスデータ)を表示することにより、射出成形動作に対するモニタを行っている(例えば、特開2004−155065号公報等参照)。
一方、このような物理量の変化波形をディスプレイに表示する場合、複数の成形サイクルにおける変化波形を重ね描き表示する場合も少なくない。この理由は、成形サイクル毎に採取される複数の変化波形を順次重ね描き表示すれば、例えば、任意の成形サイクルにおける変化波形が他の変化波形に対して異なる波形として表示された場合、何らかの異常が発生したものとしてその情報をいち早く知ることができるためである。
特開2004−155065号
ところで、複数の変化波形を順次重ね描き表示する場合、通常は、動作(工程)の開始点を一致させる表示を行っている。例えば、射出工程の動作に係わる射出圧力の変化波形を表示する場合、射出動作の開始時点が起点となる表示が行われる(図1(b)及び図2(b)参照)。
しかし、射出成形機の加熱筒内における溶融樹脂の密度,比重及び粘度等の物理的状態は、可塑化工程(計量工程)におけるスクリュの作用状態,加熱筒の温度状態,成形材料の供給状態等の様々な要因により変動するため、スクリュに付設した逆流防止弁に作用する樹脂状態も変動し、逆流防止弁が閉じるスクリュ位置、即ち、実質的な射出動作開始位置がズレたり、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間がバラつき、射出動作開始指令に基づいて変化波形を表示した場合、望ましい重ね描き表示を行うことができず、結局、重ね描き表示から得られる情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できないなど、得られる情報を正確,容易かつ迅速に把握できない問題があった。
本発明は、このような背景技術に存在する課題を解決した射出成形用波形表示方法及び装置の提供を目的とするものである。
本発明に係る射出成形用波形表示方法は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Pta,Ptb,Pxa,Pxbをディスプレイ2に重ね描き表示するに際し、予め、成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値St,Sxを設定し、生産稼働時に、成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Pta…,Pxa…を検出するとともに、当該変化波形Pta…,Pxa…が基準値St…を通過する通過点Ta,Tb,Xa,Xbを時間又は位置により検出し、変化波形Pta…,Pxa…をディスプレイ2に表示する際に、通過点Ta…,Xa…を一致させて各変化波形Pta…,Pxa…を重ね描き表示するようにしたことを特徴とする。
この場合、本発明の好適な態様により、物理量には、少なくとも、射出圧力,射出速度,型締力,型締速度,型位置の一又は二以上を含ませることができる。また、通過点Ta…,Xa…を一致させるに際しては、任意の変化波形Pta,Pxaが基準値St,Sxを通過する通過点Ta,Xaと他の変化波形Ptb,Pxbが基準値St,Sxを通過する通過点Tb,Xbの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Pta,Pxaが基準値St,Sxを通過する通過点Ta,Xaに対して加算又は減算することができる。さらに、この偏差は、成形工程における動作の開始点,切換点,終了点の一又は二以上の変更に用いることができる。
一方、本発明に係る射出成形用波形表示装置1は、複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Pta…,Pxa…をディスプレイ2に重ね描き表示する波形表示装置であって、成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値St…を設定する基準値設定機能3と、成形工程の動作に係わる物理量の変化波形Pta…,Pxa…を検出する変化波形検出機能4と、変化波形Pta…,Pxa…が基準値St…を通過する通過点Ta…,Xa…を時間又は位置により検出する通過点検出機能5と、通過点Ta…,Xa…を一致させて各変化波形Pta…,Pxa…をディスプレイ2に重ね描き表示する波形表示変更機能6とを備えてなることを特徴とする。
この場合、本発明の好適な態様により、物理量には、少なくとも、射出圧力,射出速度,型締力,型締速度,型位置の一又は二以上を含ませることができる。
このような本発明に係る射出成形用波形表示方法及び装置1によれば、次のような顕著な効果を奏する。
(1) 各変化波形Pta…,Pxa…が予め設定した基準値St…を通過する通過点Ta,Tb,Xa,Xbを一致するように重ね描き表示するため、樹脂状態に基づいて発生するバラつきを排除できる。この結果、重ね描き表示から得る情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できるため、得られる情報を正確,容易かつ迅速に把握できるなど、射出成形用波形表示にとって最適な重ね描き表示を行うことができる。
(2) 好適な態様により、物理量に、少なくとも、射出圧力,射出速度,型締力,型締速度,型位置の一又は二以上を含ませれば、波形表示が必要かつ重要となる射出成形機における主要な成形工程をカバーできるとともに、特に、型締力や型位置に用いることにより、型締力や型位置が射出(樹脂)状態と密接に関係する射出圧縮成形等において効果的となる。
(3) 好適な態様により、通過点Ta…,Xa…を一致させるに際し、任意の変化波形Pta,Pxaが基準値St,Sxを通過する通過点Ta,Xaと他の変化波形Ptb,Pxbが基準値St,Sxを通過する通過点Tb,Xbの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Pta,Pxaが基準値St,Sxを通過する通過点Ta,Xaに対して加算又は減算するようにすれば、目的とする重ね描き表示を容易に行うことができる。
(4) 好適な態様により、任意の変化波形Pta,Pxaの通過点Ta,Xaと他の変化波形Ptb,Pxbの通過点Tb,Xbの偏差を、成形工程における動作の開始点,切換点,終了点の一又は二以上の変更に用いれば、制御精度の向上、更には成形品質の向上に寄与できる。
次に、本発明に係る最良の実施形態を挙げ、図面に基づき詳細に説明する。
まず、本実施形態に係る射出成形用波形表示装置1を備える射出成形機Mの構成について、図3及び図4を参照して説明する。
図3中、仮想線で示すMは射出成形機であり、機台Mbと、この機台Mb上に設置された射出装置Mi及び型締装置Mcを備える。射出装置Miは、加熱筒10を備え、この加熱筒10の前端に図に現れない射出ノズルを有するとともに、加熱筒10の後部には材料を供給するホッパ11を備える。一方、型締装置Mcには可動型と固定型からなる金型12を備える。
また、射出成形機Mは、機台Mb上に起設した側面パネル13を備えるとともに、ディスプレイユニット14及びこのディスプレイユニット14に接続するコントローラ15(図4)を備える。本実施形態に係る波形表示装置1は、このディスプレイユニット14及びコントローラ15を利用して構成する。ディスプレイユニット14は、タッチパネル2tを付設したカラー液晶ディスプレイを利用したディスプレイ2を備え、このディスプレイ2は側面パネル13に配設される。そして、このディスプレイ2には本実施形態に係る波形表示方法に用いる波形表示画面Vaが表示される。一方、コントローラ15は機台Mbに内蔵させる。
図4は、コントローラ15のブロック系統図を示す。21はCPUであり、このCPU21には内部バス22を介してチップセット23を接続する。また、チップセット23には、PCIバス等のローカルバスを用いたバスライン24を接続してHMI(ヒューマン・マシン・インタフェース)制御系を構成する。このため、バスライン24には、RAM等を含む内部メモリ25を接続するとともに、本実施形態に係る波形表示方法を実行する処理プログラム等の各種プログラムを格納したプログラム格納メモリ26を接続する。さらに、バスライン24には、表示インタフェース27を介して上述したディスプレイユニット14を接続するとともに、入出力インターフェイス28を介してメモリカード等の記憶メディア29に対する読出及び書込を行うドライブユニット30を接続する。
一方、チップセット23には、バスライン24と同様のバスライン31を接続してPLC(プログラマブル・ロジック・コントローラ)制御系を構成する。このため、バスライン31には、スイッチ等の切換データ(入力)DiをCPU21に付与し、かつCPU21から得る制御指令データ(出力)Doを対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス32を接続するとともに、各種センサの検出信号(入力)Siを、アナログ−ディジタル変換してCPU21に付与し、かつCPU21から得る制御指令データをディジタル−アナログ変換して得た制御信号(出力)Soを対応するアクチュエータに付与する入出力インターフェイス33を接続する。これにより、所定のフィードバック制御系及びオープンループ制御系が構成される。
したがって、前述したプログラム格納メモリ26には、PLCプログラムとHMIプログラムが格納される。なお、PLCプログラムは、射出成形機Mにおける各種工程のシーケンス動作や射出成形機Mの監視等を実現するためのソフトウェアであり、HMIプログラムは、射出成形機Mの動作パラメータの設定及び表示,射出成形機Mの動作監視データの表示等を実現するためのソフトウェアである。これらのソフトウェアは、コントローラ15を搭載する射出成形機Mの固有アーキテクチャとして構築される。
次に、本実施形態に係る射出成形用波形表示装置1の構成について、図3〜図5を参照して説明する。
波形表示装置1は、上述したように、ディスプレイユニット14及びコントローラ15を利用して構成され、ディスプレイユニット14を構成するディスプレイ2には、図5に示す波形表示画面Vaを表示する。そして、波形表示画面Vaの上段には、各種画面を切換える画面項目毎に設けた七つの画面切換キーを有する画面切換部Kuを表示するとともに、下段には、各種画面を切換える画面項目毎に設けた六つの画面切換キーを有する画面切換部Kdを表示する。この場合、下段の画面切換部Kdには、本実施形態において使用する波形表示画面Vaを表示するための波形表示画面切換キーK1が含まれる。なお、各画面切換キーは、波形表示画面Vaを他の画面に切換えた場合でも同様に表示される。
また、画面切換部KuとKd間における上側の位置には、波形表示画面Vaの主要部分となる第一波形表示部51を表示するとともに、下側の位置には、第二波形表示部52を表示する。この場合、第一波形表示部51の横軸目盛は時間となり、第二波形表示部52の横軸目盛はスクリュ位置となるとともに、第一波形表示部51及び第二波形表示部52の縦軸目盛は百分率である。例示する第一波形表示部51及び第二波形表示部52には、成形工程の動作に係わる物理量として射出圧力の変化波形Pta…,Pxa…が表示されている。
他方、前述したように、プログラム格納メモリ26には、本実施形態に係る波形表示方法を実行する処理プログラムが格納されており、これにより、各種機能、即ち、図4に示す基準値設定機能3,変化波形検出機能4,通過点検出機能5及び波形表示変更機能6を実現する。
この場合、基準値設定機能3は、成形工程(例示は射出工程)の動作開始時における物理量(例示は射出圧力)に対して所定の大きさとなる基準値St,Sxを設定する機能である。この基準値St,Sxは、図5に示すように、第一波形表示部51と第二波形表示部52にライン表示されるため、実際に表示される変化波形Pta…,Pxa…を参考にするなどにより、オペレータが波形表示画面Vaに表示される設定キーKsを利用して任意のレベルに設定できる。変化波形検出機能4は、射出工程の動作に係わる射出圧力の変化波形Pta,Ptb,Pxa,Pxbを検出する機能、具体的には、射出圧力を一定のサンプリング間隔(例えば、100〔μs〕)毎に検出し、射出圧力データとして内部メモリ25に記憶する機能を有する。したがって、得られた射出圧力データが順次プロットされることにより変化波形Pta,Ptb,Pxa,Pxbとして表示される。通過点検出機能5は、変化波形Pta…,Pxa…が基準値St…を通過する通過点Ta…,Xa…を検出する機能であり、第一波形表示部51では時間により検出されるとともに、第二波形表示部52では、位置(スクリュ位置等)により検出される。波形表示変更機能6は、通過点Ta…,Xa…を一致させて各変化波形Pta…,Pxa…をディスプレイ2に重ね描き表示する機能である。
次に、本実施形態に係る射出成形用波形表示方法を含む波形表示装置1の機能(動作)について、図1〜図5を参照しつつ図6に示すフローチャートに従って説明する。
本実施形態では、射出工程における射出圧力の変化波形Pta,Ptb,Pxa,Pxbを表示する場合を例示する。まず、予め基準値設定機能3を用いて基準値St,Sxを設定する。この基準値St,Sxは、複数の試し打ちを行い、得られる変化波形を重ね描き表示することによりバラつきの小さい部分(位置)、望ましくは、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間のバラつきが排除されるレベル等を考慮して、オペレータが波形表示画面Vaに表示される設定キーKsにより設定する。これにより、基準値St,Sxは、図5に示すように、第一波形表示部51と第二波形表示部52にそれぞれライン表示される。
一方、射出成形機Mが自動運転による生産稼働を開始し、計量工程が終了して射出工程に移行した場合を想定する。これにより、射出工程が開始する(ステップS1)。射出工程の開始により、加熱筒10内における計量された樹脂が金型12に射出充填される射出工程動作が行われる(ステップS2)。さらに、射出工程の開始により射出工程動作に係わる物理量である射出圧力,射出速度等の各種データが収集される(ステップS3)。射出圧力の場合、変化波形検出機能4により、一定のサンプリング間隔(100〔μs〕)毎に順次検出され、検出された射出圧力データは、内部メモリ25に記憶される。そして、得られた射出圧力データは、リアルタイムにより第一波形表示部51と第二波形表示部52に順次プロットされ、変化波形Pta,Pxaとして表示される(ステップS4)。この際、第一波形表示部51における射出圧力の変化波形Ptaは、横軸が時間により表示され、第二波形表示部52における射出圧力の変化波形Pxaは、横軸がスクリュ位置により表示される。なお、初期段階で得られる射出圧力データは、必ずしも表示することを要しない。即ち、後述するように、通過点Ta,Xaが検出された後、表示変更を行ってから表示してもよい。したがって、この場合には、通過点Ta,Xaが検出されるまでの射出圧力データは内部メモリ25のバッファエリアに一時記憶し、表示変更に伴う変更処理を行ってからデータエリアに記憶すればよい。リアルタイムによる表示は、通過点Ta,Xaが検出されるまでの変化(挙動)を把握できる利点がある。
また、通過点検出機能5により、射出圧力データ(変化波形Pta,Pxa)に対する監視が行われ、予め設定された基準値St,Sxを変化波形Pta,Pxaが通過する通過点Ta,Xaが検出される(ステップS5,S6,S7)。この場合、第一波形表示部51に表示される変化波形Ptaに対しては、時間による通過点Taが検出されるとともに、第二波形表示部52に表示される変化波形Pxaに対しては、スクリュ位置による通過点Xaが検出され、検出された通過点Ta,Xaは、内部メモリ25に記憶される。
そして、表示される変化波形Pta,Pxaが初回の表示であれば、そのままの波形表示が継続して行われる(ステップS8)。さらに、変化波形Pta,Pxaが初回の表示でない場合であっても重ね描きモードが選択されていない場合には、そのままの波形表示が継続して行われる(ステップS9)。この場合、重ね描きモードを行うか否かの選択は、波形表示画面Vaに表示される重ね描きキーKmにより選択することができる。なお、重ね描きモードを選択しない場合には、現在行われている成形サイクルの変化波形Pta,Pxaがリアルタイムで表示され、他の成形サイクルの変化波形は表示されない。
これに対して、表示される変化波形Ptb,Pxbが初回ではなく、かつ重ね描きモードが選択されている場合には、波形表示変更機能6により、既に表示されている変化波形Pta,Pxaに対して、通過点Tb,Xbを一致させる処理を行う(ステップS8,S9,S10)。これにより、通過点Ta…,Xa…が一致する各変化波形Pta,Ptb,Pxa,Pxbが第一波形表示部51及び第二波形表示部52にそれぞれ重ね描き表示される(ステップS11)。
この場合、通過点Ta…,Xa…を一致させる処理は、任意の変化波形Pta,Pxaが基準値St,Sxを通過する通過点Ta,Xaと他の変化波形Ptb,Pxbが基準値St,Sxを通過する通過点Tb,Xbの偏差を求め、この偏差を任意の変化波形Pta,Pxaの通過点Ta,Xaに対して加算又は減算すればよい。より具体的には、得られる射出圧力データ及び時間データを、基準値St,Sxに達するまでは、内部メモリ25のバッファエリアに格納するとともに、基準値St,Sxに達したなら各射出圧力データ及び時間データを内部メモリ25のデータエリアに転送し、通過点Ta,Xaと通過点Tb,Xbに係わる射出圧力データの偏差及び時間データの偏差を算出する処理を行う。この際、バッファエリアにデータがある間は、バッファエリアからデータを読み出し、各偏差を通過点Ta,Xaにおける射出圧力データ及び時間データに対して加算又は減算を行って波形表示するとともに、バッファエリアのデータが空になったらリアルタイムにより波形表示する。
このような処理を行うことにより、目的とする重ね描き表示を容易に行うことができる。なお、この偏差は、変化波形Ptb,Pxbを変化波形Pta,Pxaに一致させる補正量としての意味を持つため、成形工程における動作の開始点,切換点,終了点の一又は二以上を変更(補正)する際にも利用可能であり、このように利用すれば、制御精度の向上、更には成形品質の向上に寄与できる利点がある。
図1(a)には、本実施形態に係る波形表示方法により第一波形表示部51に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Pta,Ptbを示す。また、図1(b)は、本実施形態に係る波形表示方法によらない従来の表示方法、即ち、射出動作の開始時点を起点とする表示方法により第一波形表示部51に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Pta,Ptbを示す。
図1(b)から明らかなように、射出動作の開始時点を起点とする表示方法の場合、任意の変化波形Ptaは、通過点Taで基準値Stを通過するとともに、他の変化波形Ptbは、通過点Taとは異なる通過点Tbで基準値Stを通過し、この結果、通過点Tbと通過点Taには時間的なズレを生じる。この要因としては、例えば、スクリュに付設した逆流防止弁に作用する樹脂状態が変動し、射出動作開始後における逆流防止弁の閉じる時間がバラついたことが考えられる。この結果、全体の変化波形PtaとPtbも時間軸方向にズレを生じることになり、基準値Stを通過した以降に表示される変化波形PtaとPtbの相違点を容易に把握できなくなる。
これに対して、図1(a)は、本実施形態に係る波形表示方法により、任意の変化波形Ptaの通過点Taに対して他の変化波形Ptbの通過点Tbを一致させたものである。この場合、上述した逆流防止弁の閉じる時間がバラついたことによる時間軸方向のズレが是正されることになるため、全体の変化波形PtaとPtbにおける時間軸方向のズレも同時に解消される。これにより、図1(a)に示すように、局部的な相違領域Jaが明確に現れるため、その相違領域Jaを容易かつ正確に把握でき、原因究明等を迅速に行うことができる。
一方、図2(a)には、本実施形態に係る波形表示方法により第二波形表示部52に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Pxa,Pxbを示す。また、図2(b)は、本実施形態に係る波形表示方法によらない従来の表示方法、即ち、射出動作の開始時点を起点とする表示方法により第二波形表示部52に重ね描き表示した射出圧力の変化波形Pxa,Pxbを示す。
図2(b)から明らかなように、射出動作の開始時点を起点とする表示方法の場合、任意の変化波形Pxaは、通過点Xaで基準値Sxを通過するとともに、他の変化波形Pxbは、通過点Xbで基準値Sxを通過し、この通過点Xbと通過点Xaには位置的なズレを生じる。この場合も、図1(b)と同様に、全体の変化波形PxaとPxbが横軸方向にズレてしまうため、基準値Sxを通過した以降に生じる変化波形PxaとPxbの相違が把握しにくくなる。
そこで、図2(a)に示すように、本実施形態に係る波形表示方法により、任意の変化波形Pxaの通過点Xaに対して他の変化波形Pxbの通過点Xbを一致させる重ね描き表示を行えば、他の変化波形Pxbが任意の変化波形Pxaに対して、射出圧力の増加方向にシフトしていることを明確に把握できる。この要因としては、射出ノズル或いは加熱筒10の加熱温度が低下したことにより樹脂粘度が増加したことが考えられる。このように、任意の変化波形Pxaが正常である場合、他の変化波形Pxbにおける異常を容易かつ正確に把握でき、原因究明等を迅速に行うことができる。なお、同様に、他の変化波形Pxbが任意の変化波形Pxaに対して、射出圧力の低下方向にシフトする場合もあり、この場合には、射出ノズル或いは加熱筒10の加熱温度が上昇したことによる樹脂粘度の低下が考えられ、バリ等の発生しやすい状態にあるため、迅速に温度設定等を確認する必要がある。
よって、このような本実施形態に係る波形表示方法(波形表示装置1)によれば、各変化波形Pta…,Pxa…が予め設定した基準値St…を通過する通過点Ta,Tb,Xa,Xbを一致するように重ね描き表示するため、樹脂状態に基づいて発生するバラつきを排除できる。この結果、重ね描き表示から得る情報に対して質的側面と量的側面の双方を十分に確保できるため、得られる情報を正確,容易かつ迅速に把握できるなど、射出成形用波形表示にとって最適な重ね描き表示を行うことができる。
他方、射出成形動作が終了すれば、以降の成形工程動作、保圧工程や計量工程が行われ、次のショットが継続する場合には、次のショットにおける射出開始から同様の表示処理が行われる(ステップS12,S13,S14,S15,S1…)。
以上、最良の実施形態について詳細に説明したが、本発明は、このような実施形態に限定されるものではなく、細部の手法,構成等において、本発明の要旨を逸脱しない範囲で、任意に変更,追加,削除することができる。
例えば、物理量として射出圧力を例示したが、射出速度,型締力,型締速度,型位置等の他の物理量であっても同様に適用でき、少なくとも、これらの一又は二以上を用いることにより、波形表示が必要かつ重要となる射出成形機における主要な成形工程をカバーできるとともに、特に、型締力や型位置に用いることにより、型締力や型位置が射出(樹脂)状態と密接に関係する射出圧縮成形等において効果的となる。一方、重ね描き表示は、複数の成形サイクルにおける変化波形を対象とするが、重ね描き表示する一つの変化波形は、予め登録された標準的な変化波形等であってもよく、必ずしも検出した変化波形であることを要しない。また、二つの変化波形を重ね描き表示した場合を例示したが三つ以上の変化波形を重ね描き表示しても勿論よいし、他の物理量に係る変化波形を一緒に重ね描き表示しても勿論よい。さらに、基準値の設定方法は、例示に限定されるものではなく、他の設定方法を用いても勿論よい。なお、本実施形態では、射出成形機Mの成形機コントローラ15に備えるディスプレイ2に表示させる場合を示したが、別途の監視装置や射出成形解析装置等の周辺機器にも同様に適用できるなど、射出波形を表示させる機能の全てに利用可能である。
本発明の最良の実施形態に係る射出成形用波形表示方法により表示された変化波形の説明図、 同射出成形用波形表示方法により表示された他の変化波形の説明図、 本発明の最良の実施形態に係る射出成形用波形表示装置を備える射出成形機の概要図、 同射出成形機に備えるコントローラの機能ブロック図、 同射出成形用波形表示装置に備えるディスプレイの画面図、 同射出成形用波形表示方法により変化波形を表示する際の処理手順を示すフローチャート、
符号の説明
1 射出成形用波形表示装置
2 ディスプレイ
3 基準値設定機能
4 変化波形検出機能
5 通過点検出機能
6 波形表示変更機能
St 基準値
Sx 基準値
Ta… 通過点(時間)
Xa… 通過点(位置)
Pta… 物理量(射出圧力)の変化波形
Pxa… 物理量(射出圧力)の変化波形

Claims (6)

  1. 複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示方法において、予め、前記成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値を設定し、生産稼働時に、前記成形工程の動作に係わる物理量の変化波形を検出するとともに、当該変化波形が前記基準値を通過する通過点を時間又は位置により検出し、前記変化波形を前記ディスプレイに表示する際に、前記通過点を一致させて各変化波形を重ね描き表示することを特徴とする射出成形用波形表示方法。
  2. 前記物理量には、少なくとも、射出圧力,射出速度,型締力,型締速度,型位置の一又は二以上を含むことを特徴とする請求項1記載の射出成形用波形表示方法。
  3. 前記通過点を一致させるに際して、任意の変化波形が前記基準値を通過する通過点と他の変化波形が前記基準値を通過する通過点の偏差を求め、この偏差を任意の変化波形が前記基準値を通過する通過点に対して加算又は減算することを特徴とする請求項1記載の射出成形用波形表示方法。
  4. 前記偏差は、前記成形工程における動作の開始点,切換点,終了点の一又は二以上の変更に用いることを特徴とする請求項3記載の射出成形用波形表示方法。
  5. 複数の成形サイクルにおける所定の成形工程の動作に係わる物理量の変化波形をディスプレイに重ね描き表示する射出成形用波形表示装置において、前記成形工程の動作開始時における物理量に対して所定の大きさとなる基準値を設定する基準値設定機能と、前記成形工程の動作に係わる物理量の変化波形を検出する変化波形検出機能と、前記変化波形が前記基準値を通過する通過点を時間又は位置により検出する通過点検出機能と、前記通過点を一致させて各変化波形をディスプレイに重ね描き表示する波形表示変更機能とを備えることを特徴とする射出成形用波形表示装置。
  6. 前記物理量には、少なくとも、射出圧力,射出速度,型締力,型締速度,型位置の一又は二以上を含むことを特徴とする請求項5記載の射出成形用波形表示装置。
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