JP2927805B2 - 射出成形機の工程モニタデータ印字装置 - Google Patents

射出成形機の工程モニタデータ印字装置

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JP2927805B2 JP63300869A JP30086988A JP2927805B2 JP 2927805 B2 JP2927805 B2 JP 2927805B2 JP 63300869 A JP63300869 A JP 63300869A JP 30086988 A JP30086988 A JP 30086988A JP 2927805 B2 JP2927805 B2 JP 2927805B2
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、射出成形機において、各成形サイクルの成
形動作の状態を表す変量をモニタし印字する射出成形機
の工程モニタデータ印字装置に関する。
従来の技術 射出成形時に、成形サイクルの各工程をモニタし、サ
イクル時間,射出時間,混練時間,ピーク射出圧,切換
圧力,クッション量を検出し、現在と過去数回の各サイ
クル毎のこれらデータを表示装置に表示する射出成形機
は既に特開昭61−114832号公報で知られている。
また、不良品発生時に、その成形サイクルにおけるこ
うしたデータを印字する射出成形機も公知である。
発明が解決しようとする課題 各成形サイクルの成形動作状態を表す上述した現在か
ら過去数回の成形サイクルの各検出データを単に表示す
るだけでは、不良成形品が発生したときも表示が順次更
新され、不良成形の原因追及にとって不便である。
また、モニタした各種データを印字する上述した従来
の方法も、不良成形時にその成形サイクルの各種データ
を印字するだけでは、不良成形の原因追及には不充分で
ある。
成形不良品が発生した場合、該発生した成形サイクル
はもちろん、この成形サイクルより前の成形サイクルの
各種データ、即ち、成形動作状態を表す各種データにも
何らかの変化が現われる可能性があり、これらデータの
履歴を把握することは、成形不良発生の原因追及にとっ
て非常に参考になり、原因究明の効率をよくするもので
ある。
さらに、従来は、成形品の良否を判別するための各種
データの基準値も表示されなく、原因追及のための評価
に手間がかかるという問題があった。
そこで、本発明の目的は、過去の各成形サイクルの動
作状態を表す各種データを印字し、成形不良発生時の成
形不良原因究明を容易にすることにある。
さらに、本発明の目的は、成形良否判別のための各種
データの基準値をも印字し、成形不良原因究明を容易に
することにある。
問題点を解決するための手段 本発明は、各成形サイクルにおける成形動作状態を表
す設定された各種変量を検出するための変量検出手段
と、該変量検出手段で検出された変量データを複数成形
サイクル分順次更新しながら記憶する記憶手段と、上記
変量検出手段で検出される変量データの少なくとも1つ
から成形不良を判別する判別手段と、該判別手段で成形
不良が判別されると上記記憶手段に記憶された各成形サ
イクルの変量データをプリンタで印字させる印字制御手
段とを設けることによって、成形不良が生じたときの
み、過去の各成形サイクルの各変量データを印字し、成
形不良発生の原因追及を容易にし、さらには、このとき
成形良否の判別基準値も印字することにより、成形不良
発生の原因追及を容易にした。
作 用 記憶手段に過去の成形サイクルの変量データを順次更
新しながら記憶し、上記判別手段で成形不良が検出され
ると、上記記憶手段に記憶された各成形サイクルの変量
データをプリンタで印字する。さらには、良否判別の基
準値をも印字させる。その結果、成形不良品が生じたと
き、不良品が生じた成形サイクル以前の各成形サイクル
の成形動作状態を表す変量データが印字されることとな
り、成形不良発生の原因追及が容易となる。
実施例 第1図は本発明の一実施例の射出成形機における制御
装置としてのNC装置の要部ブロック図で、NC装置1はNC
用のマイクロプロセッサ(以下、CPUという)2と、プ
ログラマブル・マシン・コントローラ(以下、PMCとい
う)用のCPU3を有しており、PC用CPU3には射出成形機の
シーケンスプログラムを記憶したROM5、及び、データの
記憶演算等に利用されるRAM6が接続され、NC用CPU2には
射出成形機を全体的に制御する制御プログラムを記憶し
たROM7,データの一時記憶,演算等に利用されるRAM8及
びサーボインタフェイス9を介して、射出用,クランプ
用,スクリュー回転用,エジェクタ用の各軸のサーボモ
ータを駆動制御するサーボ回路10〜13が接続され、該サ
ーボ回路10〜13には各軸のサーボモータ及び各サーボモ
ータの回転位置を検出する検出機が接続され、また、出
力回路16から出力されるトルクリミッタ値を受信し(第
1図中では接続関係を省略)、サーボモータの位置,速
度,トルクを制御している。また、14はCMOSメモリやバ
ブルメモリで構成された不揮発性の共有RAMで、射出成
形機の各動作を制御するNCプログラムや各種設定値,成
形品良否判別の各変量の基準値及び後述する各成形サイ
クルの動作状態の変量を記憶するテーブル等を記憶する
ものである。18はCRT表示装置付手動データ入力装置
(以下、CRT/MDIという)で、19はプリンタである。こ
れらCRT/MDI18及びプリンタ19は、オペレータパネルコ
ントローラ17を介してバスアービタコントローラ(以
下、BACという)4に接続され、該BAC4にはNC用CPU2及
びPMC用CPU3,共有RAM14,入力回路15,出力回路16の各バ
スが接続され、該BAC4によって使用するバスを制御する
ようになっている。
入力回路15には射出成形機に取付けられた各種センサ
が接続され、出力回路16には各種アクチュエイタが接続
されている。
以上の構成は、従来のNC装置で制御される射出成形機
のNC装置の構成と変るところはなく、また、射出成形機
の型締,射出,計量の各機構についても、従来の電動式
射出成形機と同一であり、本願発明の要旨とこれら機構
は直接関係ないので省略する。
第2図は、上記構成によって本発明が実施する第1の
実施例のフローチャートで、まず、CRT/MDI18を利用
し、従来と同様、射出成形条件を設定し共有RAM14内に
記憶させると共に、本発明と関係する各成形サイクルに
おける成形良か否かの判別基準、即ち、成形品が良品か
不良品かを判別するための基準値を設定し共有RAM14に
格納する。本実施例では、成形動作状態を検出するため
の変量を成形サイクルのサイクル時間,射出時間,計量
時間及びクッション量としており、共有RAM14内には成
形品の良否を判別するためのこれらの基準値、即ち、サ
イクル時間の基準値CTS,射出時間の基準値ITS,計量時間
の基準値ETS、クッション量の基準値CSが設定される。
以上のようにして、成形条件等の各種設定値を設定し
た後、射出成形機を稼動させると、PMC用CPU3は第1図
にフローチャートで示す処理を各成形サイクル毎に行
う。
PMC用CPU3は、まず、型締指令をBAC4を介して共有RAM
14に出力すると共に、タイマT1をリセットしスタートさ
せる。NC用CPU2はBAC4を介して共有RAM14に型締指令が
書込まれたことを検出し型締動作を開始する(ステップ
S1,S2)。なお、PMC用PCU3,NC用PCU2間の信号の送受はB
AC4,共有RAM14を介して行われるが、以下、この点は省
略して説明する。型締工程が終了し、NC用CPU2から終了
信号が出力されると、PMC用CPU3はタイマT2をリセット
しスタートさせ、射出指令を出力し、NC用CPU2は射出動
作を開始する(ステップS3,S4)。射出工程が終了し、N
C用CPU2より射出終了信号を受信するとPMC用CPU3はタイ
マT2を停止し、NC用CPU2は射出動作に続いて保圧動作を
行い、保圧工程が終了すると、保圧終了信号を受けてPM
C用CPU3はNC用CPU2によって共有RAM14に書込まれている
スクリュー位置、即ち、クッション量Cを読取り、RAM6
中に一時記憶する(ステップS5〜S7)。そして、タイマ
T3をリセットしスタートさせ、計量開始指令をNC用CPU2
に送出し、NC用CPU2は計量動作を開始する(ステップS
7,S9)。計量工程が終了し、PMC用CPU3は計量終了信号
を受信するとタイマT3を停止させ、型開き指令を送出し
NC用CPU2に型開き動作を開始させる(ステップS10,S1
1)。そして、型開き工程が終了し終了信号を受信する
と、PMC用CPU3はタイマT1を停止させ(ステップS12)、
1成形サイクルの処理が終了する。以上の処理は従来の
処理と同一であり、タイマT1に当該成形サイクルのサイ
クル時間が、タイマT2に射出時間が、タイマT3に計量時
間が記憶されていることとなる。すなわち、本実施例に
おいては、各成形サイクルの成形動作状態を表す変量を
成形サイクルのサイクル時間,射出時間,計量時間及び
クッション量とし、タイマT1〜T3及びステップS7のクッ
ション量検出処理によって変量検出手段としている。
次に、PMC用CPU3は、共有RAM14にサイクル時間の現在
値CATとしてタイマT1の値を、射出時間の現在値ITAとし
てタイマT2の値を、計量時間の現在値ETAとしてタイマT
3の値を、クッション量の現在値CAとしてステップS7で
読取ったクッション量Cを格納し(ステップS13)、各
種変量データを印字するためのプリンタ用紙の行数を示
すレジスタLが「0」か否か判断し(ステップS14)、
「0」ならば「成形モニタデータ」というタイトル及び
ページ数を印字し(ステップS15)、次に、共有RAM14内
に記憶したサイクル時間,射出時間,計量時間,クッシ
ョン量の基準値CTS,ITS,ETS,CS及び現在値CTA,ITA,ETA,
CAを印字する(ステップS16,S17)。また、レジスタL
の値が「0」でなければ、即ち、プリンタ用紙が変更さ
れず、1枚のプリンタ用紙に最初に印字する場合ではな
いときには、ステップS15,S16のタイトルや基準値の印
字は行わず各変量データの現在値CAT,ITA,ETA,CAのみが
印字される。そして、印字行数を示すレジスタLに
「1」加算し(ステップS18)、該レジスタLの値がプ
リンタ用紙に印字できる行数、即ち、1成形サイクルの
変量データを1行で印字し、この変量データを印字でき
る行数Pを越えたか否か判断し(ステップS19)、越え
ていなければそのまま当該成形サイクルの処理を終了
し、越えていればレジスタLの値を「0」にセットして
(ステップS20)処理を終える。
かくして、プリンタ19のプリンタ用紙には第3図に示
すように、タイトル,ページ数と共にサイクル時間,射
出時間,計量時間,クッション量の基準値CTA、ITA,ET
A,CAが最初の行に印字され、該行以下の行に各成形サイ
クルのサイクル時間,射出時間,計量時間,クッション
量の現在値が各成形サイクル毎に印字される。
第4図は、本発明の第2の実施例の動作処理フローチ
ャートであり、射出成形機の構成は第1の実施例で示し
た第1図の構成と同一である。そして、この第2の実施
例においては、成形不良が発生したときのみ、過去の何
回かの各成形サイクルの変量データ、即ち、サイクル時
間,射出時間,計量時間,クッション量を印字するよう
にしている。
そのために、共有RAM14内に第5図の説明図が示すよ
うに、変量データの現在値と過去n回の変量データを記
憶するテーブルTBが設けられている。
さらには、成形品が、良品か不良品かを判別するため
の判別基準値が共有RAM中に設定されるようになってお
り、本実施例においては、この判別基準を保圧完了時の
スクリュー位置、即ち、クッション量によって判別する
ものとし、良品と判別されるクッション量の上限値,下
限値を設定する。なお、このクッション量に加えて、1
成形サイクルのサイクル時間,射出時間,計量時間等,
他の判別データを加えてもよいことはもちろんである。
そこで、射出成形機を稼動させると、PMC用CPU3は第
4図に示す処理を開始するが、射出成形動作中、各変量
データを検出するまでの処理は第1の実施例と同一であ
り、第2図に示す第1の実施例の動作処理フローチャー
トの各処理と同一の処理のステップ番号は同一番号を付
している。即ち、サイクル時間T1,射出時間T2,計量時間
T3,クッション量Cを検出するまでのステップS1〜S12ま
では同一であり説明を省略する。
1成形サイクルの成形動作が終了し、各変量データが
検出されると、まず、PMC用CPU3は、指標iをnに設定
する(ステップS30)。次に、指標jを「1」に設定し
(ステップS31)、なお、jの値が「1」のときはサイ
クル時間,「2」のときは射出時間,「3」のときは計
量時間,「4」のときはクッション量を意味し、指標i
とjの値によって成形サイクルと変量(サイクル時間,
射出時間,計量時間,クッション量)を特定し、そのデ
ータが記憶されているテーブルTBのアドレスを示すこと
となる。
指標iが「n」,指標jが「1」に特定されると、テ
ーブルTBのアドレスR(I,j)=R(n,1)にアドレスR
(i−1,j)=R(n−1,1)に記憶されているデータ、
即ち、n−1回前のサイクル時間をn回前のサイクル時
間として格納し(ステップS32)、指標jに「1」加算
し、指標jが4を越えてなければ(ステップS33,S3
4)、ステップS32の処理を行う。
すなわち、指標jが1〜4まで更新されながら、i−
1=n−1回前の成形サイクルの変更データであるサイ
クル時間,射出時間,計量時間,クッション量をn回前
の成形サイクルのデータとして転送し書換える。そし
て、指標jが「5」になると、指標iより「1」減算し
(ステップS35)、指標iが「0」になるまで(ステッ
プS19)、ステップS31以下の処理を繰返す。即ち、以上
の処理によって、i回前(なお、i=n……1)の各デ
ータ記憶アドレス位置にi−1回前の対応するアドレス
に記憶するデータを書込み、データを更新させる。な
お、iが「1」のとき、即ち、1回前の各データ記憶ア
ドレス位置には、今まで現在値として記憶していた対応
するアドレスのデータが書き込まれることとなり、現在
値及び1〜(n−1)回前の各成形サイクルの各データ
が夫々1つ前の成形サイクルのデータとしてシフトされ
ることとなる。ステップS14〜S19の繰返し処理によっ
て、指標iが「0」になると(ステップS36)、タイマT
1,タイマT2,タイマT3の各値をテーブルTBの現在値のサ
イクル時間,射出時間,計量時間のアドレス位置R(0,
1),R(0,2),R(0,3)に書き込み、また、ステップS7
で検出したクッション量cを現在値のクッション量アド
レス位置R(0,4)に書込む(ステップS37)。
このように、ステップS30からステップS37によってテ
ーブルTBに成形動作状態を表すサイクル時間,射出時
間,計量時間,クッション量の現在値及び現在よりn回
前までの各成形サイクルの値が記憶されることとなる。
即ち、本実施例においては、ステップS30〜S37の処理に
よって、変量データをシフトさせ更新させる更新制御手
段を構成している。
次に、PMC用CPU3は、検出されたクッション量Cが設
定された良品のクッション量の上限,下限値内か判別し
(ステップS38)(なお、サイクル時間,射出時間,計
量時間をも加えて良品か不良品か判別するようにしても
よい)、良品ならば当該成形サイクルの処理は終了し、
不良品と判別されると指標iを「m」に設定する(ステ
ップS39)。
なお、mは、現在より遡って印字させる回数(1≦m
≦n)で、これも設定値として設定しておく、そして、
指標jを「1」にして(ステップS40)、テーブルTBの
アドレスR(i,j)=R(m,1)を読出し、BAC4,オペレ
ータパネルコントローラ17を介してプリンタ19で印字さ
せる(ステップS41)。即ち、m回前の成形サイクルの
サイクル時間が印字される。次に、指標jに「1」加算
し(ステップS42)、指標jが4を越えてなければ(ス
テップS43)、ステップS41〜S43の処理を繰返し、m回
前の成形サイクルのサイクル時間,射出時間,計量時
間,クッション量を印字し、指標jが4を越えると指標
iより「1」減算し(ステップS44)、指標iが「0」
より小さくなければ(ステップS45)、ステップS40〜S4
5の処理を繰返し、m回前の成形サイクルから現在の成
形サイクルの各サイクル時間,射出時間,計量時間,ク
ッション量を印字する。
すなわち、本実施例においては、ステップS38で成形
不良か否かの判別手段を構成し、ステップS39〜S45で各
成形サイクルの変量データの印字制御手段を構成してい
る。
以上のようにして、成形不良が検出されると、現在の
成形サイクルから設定された数の過去の成形サイクルの
成形動作状態を示す変量データが印字され、成形動作状
態の変遷,履歴が印字されることとなる。
なお、本第2の実施例においても、共有RAM14にサイ
クル時間,射出時間,計量時間,クッション量の基準値
(第1の実施例におけるCTA,ITA,ETA,CA)を設定記憶さ
せておき、変量データを印字するとき、これら基準値も
印字するようにしてもよい。この場合、第4図のフロー
チャートでステップS38で不良品と判別されたとき、ま
ず、上記各基準値を印字し、その後、ステップS39以下
の処理を行わせて、サイクル時間,射出時間,計量時
間,クッション量の基準値,現在値及び現時点よりm個
前までの各値を印字するようにしてもよい。
発明の効果 本発明においては、不良品発生時のみ、不良品発生時
より遡って複数の成形サイクルの各変量データを印字さ
せることにより、成形動作状態の変遷,履歴を印字させ
るので、不良品発生過程を容易に追跡できる。さらに、
各変量データに対する成形良否の判別基準値も印字する
ことによって、変量データと基準値との比較を容易にし
成形不良発生の原因追及をより容易にした。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1,第2の実施例における射出成形
機の制御装置の要部ブロック、 第2図は、本発明の第1の実施例が行う動作処理フロー
チャート、 第3図は、同第1の実施例による変量データの印字例を
示す図、 第4図は、本発明の第2の実施例を行う動作処理処理フ
ローチャート、 第5図は、成形サイクルの成形動作状態の変量データを
記憶するテーブルの説明図である。 1……NC装置、TB……テーブル。

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】各成形サイクルにおける成形動作状態を表
    す設定された各種変量を検出するための変量検出手段
    と、該変量検出手段で検出された変量データを複数成形
    サイクル分順次更新しながら記憶する記憶手段と、上記
    変量検出手段で検出される変量データの少なくとも1つ
    から成形不良を判別する判別手段と、該判別手段で成形
    不良が判別されると上記記憶手段に記憶された各成形サ
    イクルの変量データをプリンタで印字させる印字制御手
    段とを有することを特徴とする射出成形機工程モニタデ
    ータ印字装置。
  2. 【請求項2】上記記憶手段は、成形サイクルの変量デー
    タが検出されると該記憶手段に記憶された過去の各成形
    サイクルの各変量データを1つ前の成形サイクルの変量
    データとして書換え、検出された変量データを現在と変
    量データとして上記記憶手段に書込む更新制御手段を備
    える請求項1記載の射出成形機工程モニタデータ印字装
    置。
  3. 【請求項3】成形品の良否判別のための上記各種変量の
    基準値を記憶する記憶手段を有し、上記印字制御手段は
    上記各種変量の基準値をもプリンタで印字させることを
    特徴とする請求項1または請求項2記載の射出成形機工
    程モニタデータ印字装置。
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