JP2654600B2 - 試験用端子兼用型部品搭載位置認識マーク - Google Patents
試験用端子兼用型部品搭載位置認識マークInfo
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- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0266—Marks, test patterns or identification means
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/303—Surface mounted components, e.g. affixing before soldering, aligning means, spacing means
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- Structure Of Printed Boards (AREA)
Description
部品自動搭載位置認識マークおよびパネル試験用端子を
共用化した試験用端子兼用部品搭載位置認識マークに関
する。
刷配線基板において、自動搭載設備に部品搭載位置を認
識させる手段の一つとして、印刷配線基板上のある決め
られた位置に円形、あるいは十字形等の部品搭載位置認
識パターンを設け、これの認識パターンを画面認識にて
検出することによって、あらかじめ設定された部品位置
と部品搭載位置認識パターンとの位置関係を基にして部
品の搭載位置を決定する手段が多く用いられている。
品を実装した後に、そのパネルの試験に必要な信号を取
り出して確認を行なうために、印刷配線基板上に被試験
信号を導通させた円形パターン等の試験用端子(テスト
パッド)を設けて試験用プローブ等を当接し易くする方
法も従来より多く用いられている。
ク、図5(a)及び(b)は従来の試験用パッドをそれ
ぞれ示す。図4(a)において2は自動搭載機によって
実装される部品、10はその部品搭載位置認識マークで
あり、画像認識精度向上を狙って、図3(b)〜(d)
に示すような様々な形状をしている。また試験用端子1
1は印刷配線基板1において図4(b)の断面図に示す
ようにスルーホール13で構成され、試験信号供給パタ
ーン12によって被試験信号が供給されている。
いては、画像認識によって検出するときの誤認識を最小
限に抑えるために、部品搭載位置認識マーク10の近隣
に同様なパターンを配さないこと、及び近隣に光の乱反
射等の障害を発生させる要因を配さないこと等の配慮を
必要とする。また、試験用端子11についても、試験用
ピンプローブを当接させるために周囲に他の部品を配設
しないように配慮する必要がある。
来、部品搭載位置認識マークと試験用端子が各々別々に
印刷配線基板上に配設されており、しかも、この部品搭
載位置認識マークおよび試験用端子の両者が、いずれも
ある程度の面積を必要としている。このため、これらを
別々に印刷配線基板上に配設すると、基板の高密度化、
ひいては装置の小型化に関し大きな制約となってしまう
という問題がある。
れたものであり、基板の高密度化を実現しうる試験用端
子兼用部品搭載位置認識マークの提供を目的とする。
に本発明の試験端子兼用型部品搭載位置認識マークは、
部品の自動搭載設備によって部品実装が行なわれること
を想定して設計される印刷配線基板における、部品自動
搭載機に部品搭載位置を検出・認識させるための位置認
識マークと、部品実装後の動作認識等のために必要な信
号を試験用プローブ等を当接して取出すための試験用端
子とを、共用化した構成としてあり、好ましくは、部品
搭載位置認識マークを試験用プローブ等を当接すること
ができるような形状とするとともに、該部品搭載位置認
識マークに試験用信号を供給する構成としてある。
て説明する。図1は本発明の第一実施例に係る試験用端
子兼用型部品搭載位置認識マークを示す図であり、図1
(a)は平面図、図1(b)は断面図をそれぞれ示す。
の部品2の搭載位置の周辺であって、部品搭載位置の対
角線の延長線上に、二つの円形をした試験用端子兼用部
品搭載位置認識マーク4を設ける。
は、図1(b)に示すように、ブラインドスルーホール
技術によって構成されており、最外層はパターンメッキ
にて平坦化されている。また、試験用端子兼用部品搭載
位置認識マーク4には、多層印刷配線基板の内層におい
て試験信号供給パターン5及び6にそれぞれ接続されて
おり、被試験信号が供給されるようになっている。
子兼用部品搭載位置認識マークの作用について説明す
る。
マークは、部品自動搭載機に部品搭載位置を検出・認識
させるための位置認識マークとしての機能と、部品実装
後の動作確認等のために必要な信号を試験用プローブ等
を当接して取出すための試験用端子としての機能とを兼
備している。
端子兼用部品搭載位置認識マーク4を自動搭載機が画像
認識によって検出して、被実装部品2の搭載位置を認識
し、四層構成の多層印刷配線基板1上の部品実装用パッ
ド3上に被実装部品2を実装する。
兼用部品搭載位置認識マーク4に試験用ピンプローブを
当接(接触)させ、被試験信号を取り出してパネル試験
を行なう。このため、試験用端子兼用部品搭載位置認識
マーク4の大きさは、試験用ピンプローブで当接させ易
い大きさとしておく。
る。図2は、本発明の第二実施例に係る試験用端子兼用
部品搭載位置認識マークを示す図であり、図2(a)は
平面図、図2(b)は断面図をそれぞれ示す。
実施例においては、多層印刷配線基板1の最外層に、試
験用端子兼用部品搭載位置認識マーク4を形成してあ
る。また、試験用端子兼用部品搭載位置認識マーク4
は、多層印刷配線基板の最外層において、試験信号供給
パターン5及び6にそれぞれ接続してある。
試験用信号の供給が外層パターンによって行なわれてい
るため、画像認識の検出精度が低下し、誤認識が発生す
る可能性がある。この誤認識を確実に避けるためには、
第一実施例のように被試験信号の供給を内層より行なう
構成とすればよい。
本発明の第三実施例に係る試験用端子兼用部品搭載位置
認識マークを示す断面図である。
は、試験用端子兼用部品搭載位置認識マーク4をスルー
ホール7で構成するとともに、多層印刷配線基板4の内
層において、試験信号供給パターン5及び6をそれぞれ
接続した構成としてある。
品搭載位置認識マークとして機能する試験用端子兼用部
品搭載位置認識マーク4の中心部にドリル穴(スルーホ
ール7)があいているため、誤認識が発生する可能性が
ある。
一実施例のように試験用端子兼用部品搭載位置認識マー
ク4をブラインドスルーホールで構成すればよい。この
場合、試験用端子兼用部品搭載位置認識マーク4の表面
がスルーホールメッキによって平坦化されているので、
試験用プローブの接触安定性が増大する。
発明の要旨の範囲内で適宜変形して実施される。例え
ば、試験用端子兼用部品搭載位置認識マーク4の形状
は、画像認識し易い、正三角形や十字形等の形状といて
もよい。
兼用部品搭載位置認識マークによれば、基板の高密度実
装化の実現に貢献できる。また、試験用端子兼用部品搭
載位置認識マークをブラインドスルーホールで構成する
と、画像認識精度及び試験用プローブの接触安定性を確
実に向上させることができる。
搭載位置認識マークを示す図であり、(a)は平面図、
(b)は断面図をそれぞれ示す。
搭載位置認識マークを示す図であり、(a)は平面図、
(b)は断面図をそれぞれ示す。
搭載位置認識マークを示す断面図である。
ある。
面図(b)は断面図をそれぞれ示す。
Claims (3)
- 【請求項1】 部品の自動搭載設備によって部品実装が
行なわれることを想定して設計される印刷配線基板にお
ける、部品自動搭載機に部品搭載位置を検出・認識させ
るための位置認識マークと、部品実装後の動作認識等の
ために必要な信号を試験用プローブ等を当接して取出す
ための試験用端子とを、共用化したことを特徴とする試
験用端子兼用型部品搭載位置確認マーク。 - 【請求項2】 部品搭載位置認識マークを試験用プロー
ブ等を当接することができるような形状とするととも
に、該部品搭載位置認識マークに試験用信号を供給する
ようにしたことを特徴とした請求項1記載の試験用端子
兼用部品搭載位置認識マーク。 - 【請求項3】 請求項1において、印刷配線基板を多層
印刷配線基板とし、該試験用端子兼用部品搭載位置認識
マークをブラインドスルーホール技術によって構成する
とともに、試験用端子への被試験信号の供給を印刷配線
基板の内層配線によって行なうように構成したことを特
徴とする試験用端子兼用部品搭載位置認識マーク。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3355296A JP2654600B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 試験用端子兼用型部品搭載位置認識マーク |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3355296A JP2654600B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 試験用端子兼用型部品搭載位置認識マーク |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05175624A JPH05175624A (ja) | 1993-07-13 |
JP2654600B2 true JP2654600B2 (ja) | 1997-09-17 |
Family
ID=18443094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3355296A Expired - Lifetime JP2654600B2 (ja) | 1991-12-20 | 1991-12-20 | 試験用端子兼用型部品搭載位置認識マーク |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2654600B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0845631A (ja) * | 1994-07-29 | 1996-02-16 | Nippon Denki Factory Eng Kk | Icソケット |
JP4654519B2 (ja) * | 2001-01-29 | 2011-03-23 | ダイキン工業株式会社 | 電路板及び空気調和機 |
CN112281132A (zh) * | 2020-09-29 | 2021-01-29 | 维达力实业(深圳)有限公司 | Pvd镀膜的方法及pvd镀膜装置 |
-
1991
- 1991-12-20 JP JP3355296A patent/JP2654600B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05175624A (ja) | 1993-07-13 |
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