JPS62118596A - 部品検知方法 - Google Patents
部品検知方法Info
- Publication number
- JPS62118596A JPS62118596A JP60259625A JP25962585A JPS62118596A JP S62118596 A JPS62118596 A JP S62118596A JP 60259625 A JP60259625 A JP 60259625A JP 25962585 A JP25962585 A JP 25962585A JP S62118596 A JPS62118596 A JP S62118596A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- component
- liquid
- printed circuit
- circuit board
- board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
基板上に搭載される部品が、基板上の所定位置に正確に
位置決めされζいるか検知する際に、基板部を液体に浸
漬し、部品は液面から露出させることで、部品と部品以
外の領域との判別を行ない易くする。
位置決めされζいるか検知する際に、基板部を液体に浸
漬し、部品は液面から露出させることで、部品と部品以
外の領域との判別を行ない易くする。
電子部品を実装したプリント基板の製造工程において、
電子部品の実装状態を検知する作業があるが、この実装
検査を自動化することが強く望まれている。本発明は、
このようにプリント基板などに電子部品が正確に位置決
め実装されているかどうかを自動的に検査する場合に適
する部品検知方法に関する。
電子部品の実装状態を検知する作業があるが、この実装
検査を自動化することが強く望まれている。本発明は、
このようにプリント基板などに電子部品が正確に位置決
め実装されているかどうかを自動的に検査する場合に適
する部品検知方法に関する。
プリント基板やセラミック基板などの部品搭載基板に電
子部品を実装する際、電子部品の小型化や実装の高密度
化に伴ない、チップ部品を使用することが増えている。
子部品を実装する際、電子部品の小型化や実装の高密度
化に伴ない、チップ部品を使用することが増えている。
リード部品の場合は、リード端子が基板のスルーホール
に挿入されることで、位置決めされるため、実装不良な
どの恐れは少ない。しかしながらチップ部品の場合は、
基板のランドとチップ部品端子との位置がずれたりする
恐れがある。
に挿入されることで、位置決めされるため、実装不良な
どの恐れは少ない。しかしながらチップ部品の場合は、
基板のランドとチップ部品端子との位置がずれたりする
恐れがある。
第4図はチップ部品をプリント基板に実装する方法を示
す断面図である。プリント基板1のランド2I−に、チ
ップ部品3の端子部4が位置するように位置決めされた
状態で、チップ部品3が接着剤5で仮止めされている。
す断面図である。プリント基板1のランド2I−に、チ
ップ部品3の端子部4が位置するように位置決めされた
状態で、チップ部品3が接着剤5で仮止めされている。
この接着剤5が硬化する前に、チップ部品3の端子位置
の確認検査を行ない、(i/置がずれている場合は、再
度位置合ねセを行ない、端子4が正確にランド2上に位
置決めされた状態で、半[l槽に浸漬し、端子4とラン
ド2間を半田6で接続する。
の確認検査を行ない、(i/置がずれている場合は、再
度位置合ねセを行ない、端子4が正確にランド2上に位
置決めされた状態で、半[l槽に浸漬し、端子4とラン
ド2間を半田6で接続する。
前記の位置ずれ検査は、プリント基板1に実装される全
チップ部品について行なう必用がある。
チップ部品について行なう必用がある。
また半[■付は後に、再検査する場合もある。
このように、チップ部品の実装状態を検知するには、第
5図のような方法が採られている。第5図は、検知作業
状態の側面図であり、プリント基板1に複数のチップ部
品3・・・が搭載され、前記のようにして接着剤で仮1
1−めされている。この状態で、ランプ7で部品実装面
を照明し、その時の反射光の強弱によって、?農淡の画
像を得ている。すなわちTVカメラ8などで撮像する。
5図のような方法が採られている。第5図は、検知作業
状態の側面図であり、プリント基板1に複数のチップ部
品3・・・が搭載され、前記のようにして接着剤で仮1
1−めされている。この状態で、ランプ7で部品実装面
を照明し、その時の反射光の強弱によって、?農淡の画
像を得ている。すなわちTVカメラ8などで撮像する。
〔発明が解決しようとする問題点〕
第〔1図じ1こ・うU7て1最影した映像であり、白黒
σ)画像が得られる。チップ部品4.111nい色のも
のが多く、その、)jjjY部4.4 L:I:i+1
1常、銀色を呈するため、白く互り、士たラン12も白
< ’l;’る。ごれに火1し基板1は、濃い緑色のレ
ジストで覆われているため、黒く写る。この図で、(イ
)は部品のもン置決めが正俤に行なわれている場合、D
+)I4位置決め不良の場合である。
σ)画像が得られる。チップ部品4.111nい色のも
のが多く、その、)jjjY部4.4 L:I:i+1
1常、銀色を呈するため、白く互り、士たラン12も白
< ’l;’る。ごれに火1し基板1は、濃い緑色のレ
ジストで覆われているため、黒く写る。この図で、(イ
)は部品のもン置決めが正俤に行なわれている場合、D
+)I4位置決め不良の場合である。
このように互いに1[−較する2つの部分、ずなわち端
子部4とランF 2が共に白く可るため、位置ずれの確
認が困難である。これは、チップ部品3の端子部4とラ
ンド2とのコントラスIが充分得られない場合が多いこ
とに起因する。
子部4とランF 2が共に白く可るため、位置ずれの確
認が困難である。これは、チップ部品3の端子部4とラ
ンド2とのコントラスIが充分得られない場合が多いこ
とに起因する。
本発明の技術的課題は、従来の部品検知方法におけるこ
のような問題を解消し、チップ部品端子と基板との相対
位置を鮮明に検知可能とすることにある。
のような問題を解消し、チップ部品端子と基板との相対
位置を鮮明に検知可能とすることにある。
第1図は本発明による部品検知方法の基本原理を説明す
る断面図である。9は水槽であり、液体10が入ってい
る。1はプリント基板やセラミック基板などの基板であ
り、チップ部品3が搭載されている。そして基板1は、
その全面が液中に隠れる程度まで液体10中に浸漬され
ている。搭載部品3ば、下の部分は液体10中に浸漬さ
れていても支障ないが、少なくとも上側の部分は、液面
から露出している。この状態で、TVカメラ8などの光
学手段で、−上方から検知する。
る断面図である。9は水槽であり、液体10が入ってい
る。1はプリント基板やセラミック基板などの基板であ
り、チップ部品3が搭載されている。そして基板1は、
その全面が液中に隠れる程度まで液体10中に浸漬され
ている。搭載部品3ば、下の部分は液体10中に浸漬さ
れていても支障ないが、少なくとも上側の部分は、液面
から露出している。この状態で、TVカメラ8などの光
学手段で、−上方から検知する。
このように基板1を液体10中に浸漬しても、部品3は
高いために、少なくとも上側は液面から露出する。その
結果、上方から検知した場合、部品部分以外は総て液体
16の液面が検知されることになり、部品端子の色や表
面状態、液体10の色や液面状態などにもよるが、部品
3の端子部分と液体10の液面とのコントラストが明瞭
に出る。コントラストが明瞭に出ない場合ば、液体10
を着色する、液面を微振動させる、粉体を浮遊さ−lる
などの方法で、充分対応できる。
高いために、少なくとも上側は液面から露出する。その
結果、上方から検知した場合、部品部分以外は総て液体
16の液面が検知されることになり、部品端子の色や表
面状態、液体10の色や液面状態などにもよるが、部品
3の端子部分と液体10の液面とのコントラストが明瞭
に出る。コントラストが明瞭に出ない場合ば、液体10
を着色する、液面を微振動させる、粉体を浮遊さ−lる
などの方法で、充分対応できる。
また基板のランドも液体中に隠れるので、ランドは確認
できないが、基板のランド位置は、予め判明しているた
め、コンピュータに記憶さゼておき、そのデータと本発
明の方法で検知された部品端子位置とを照合させること
で、自動的に検査できる。
できないが、基板のランド位置は、予め判明しているた
め、コンピュータに記憶さゼておき、そのデータと本発
明の方法で検知された部品端子位置とを照合させること
で、自動的に検査できる。
次に本発明による部品検知方法が実際−1二どのように
具体化されるかを実施例で説明する。第2図は本発明に
よる部品検知方法の実施例を示す断面図である。水槽9
には、液体10が入っており、水槽の底に支持された基
板ホルダー11.11上に、プリント基板1が載置され
ている。このとき、プリント基板1の全体が液体10中
に隠れるように、基板ホルダー11.11の高さが予め
設定されている。
具体化されるかを実施例で説明する。第2図は本発明に
よる部品検知方法の実施例を示す断面図である。水槽9
には、液体10が入っており、水槽の底に支持された基
板ホルダー11.11上に、プリント基板1が載置され
ている。このとき、プリント基板1の全体が液体10中
に隠れるように、基板ホルダー11.11の高さが予め
設定されている。
プリント基板1」二にはチップ部品3・・・などが搭載
されているが、これらの部品3・・・は、高いため、水
面から露出する。
されているが、これらの部品3・・・は、高いため、水
面から露出する。
また基板ボルダ−11,11は、図示のように部分的に
液面から露出する形状にしておけば、基板ホルダー位置
も検知されるので、比較対照に利用できる。基板ホルダ
ーは、プリン1〜基板1の種類に応じて予め所定位置乙
二設置し、基板ホルダー11.11てプリント基板1を
位置決めしておけば、部品端子位置のみを検知すること
で、相互の位置ずれは容易に判別できる。
液面から露出する形状にしておけば、基板ホルダー位置
も検知されるので、比較対照に利用できる。基板ホルダ
ーは、プリン1〜基板1の種類に応じて予め所定位置乙
二設置し、基板ホルダー11.11てプリント基板1を
位置決めしておけば、部品端子位置のみを検知すること
で、相互の位置ずれは容易に判別できる。
この状態で、上方からランプ7て照明し、TVカメラ8
で撮影すると、第3図のように、部品3・・・のみ力東
羊明な映像3゛・・・となって撮影され、特に端子位置
か明瞭に写る。なお12は結像用のレンズである。
で撮影すると、第3図のように、部品3・・・のみ力東
羊明な映像3゛・・・となって撮影され、特に端子位置
か明瞭に写る。なお12は結像用のレンズである。
液体10にプリント基+反1を浸?Mすることによって
、プリント基板1や搭載部品3・・・が悪影響を受ける
ことかあってはならない。したがって液体10としては
、プリント基板洗浄液などが適している。
、プリント基板1や搭載部品3・・・が悪影響を受ける
ことかあってはならない。したがって液体10としては
、プリント基板洗浄液などが適している。
例えばプooセン(商品名)と呼ばれている無色のプリ
ント基板洗浄液などがある。無色の液体の場合シ3!、
プリント基板1が透げて見えるため、着色が必用である
。着色口、1ffl常のインクなどを添加することで容
易に可能であり)、検査後に無色洗浄液で洗浄してもよ
い。
ント基板洗浄液などがある。無色の液体の場合シ3!、
プリント基板1が透げて見えるため、着色が必用である
。着色口、1ffl常のインクなどを添加することで容
易に可能であり)、検査後に無色洗浄液で洗浄してもよ
い。
部品端子とのご1ントラスI・が明瞭に出ない場合も、
部品端子との:lン1−ラストが出やずい色に液体10
を着色すれば、明瞭なmlントラストが得られる。着色
する色は、対象部品端子が黒いときは白、白いときは黒
というように、二1ントラストが良くなるように選ぶ。
部品端子との:lン1−ラストが出やずい色に液体10
を着色すれば、明瞭なmlントラストが得られる。着色
する色は、対象部品端子が黒いときは白、白いときは黒
というように、二1ントラストが良くなるように選ぶ。
部品端子とのコントラストが明瞭な色の粉体を浮遊さ−
Uることもできる。また水槽9を微振動さセ、液面に微
細な波を立てることで、模様を発生さ・Uることによっ
ても、模様の無い部品端子との区別が容易になる。
Uることもできる。また水槽9を微振動さセ、液面に微
細な波を立てることで、模様を発生さ・Uることによっ
ても、模様の無い部品端子との区別が容易になる。
以」このように本発明によれば、基板部分のみ液体10
に浸漬し、部品3・・・は液面から露出する状態で、部
品検知を行なうため、部品端子と他の領域とのコントラ
ストが良くなり、部品端子を鮮明ムこ検知でき、検査の
信頼性が向上する。プリント基板1の配線パターンなど
のような余計な部分か検知されないので、検知情報の処
理か簡単になる。
に浸漬し、部品3・・・は液面から露出する状態で、部
品検知を行なうため、部品端子と他の領域とのコントラ
ストが良くなり、部品端子を鮮明ムこ検知でき、検査の
信頼性が向上する。プリント基板1の配線パターンなど
のような余計な部分か検知されないので、検知情報の処
理か簡単になる。
また基板のランl−位置は予めコンピュータに記憶させ
ておき、そのデータと本発明の方法で検知された部品端
子位置とを照合させることで、自動的に検査可能となり
、検査の自動化に適している。
ておき、そのデータと本発明の方法で検知された部品端
子位置とを照合させることで、自動的に検査可能となり
、検査の自動化に適している。
第1図は本発明による部品検知方法の基本原理を説明す
る断面図、第2図は同部品検知方法の実施例を示す断面
図、第3図は同実施例の方法で検知された画像を示す図
、第4図はチップ部品のプリント基板への実装方法を示
す断面図、第5図は従来の部品検知方法を示す側面図、
第6図は従来方法による検知画像を示す図である。 図において、1は基板(プリント基板)、2はランド、
3は部品(チップ部品)、4は部品端子、8はTVカメ
ラ、9は水槽、10は液体、11は基板ホルダーをそれ
ぞれ示す。 n 液体 本発明方法の基本房a区 第1図 火撫奢]方法による画像 第3区 1リレト迦(し辷 / r 本発明の実施例 第2図 票 千ッ71シhのア゛ル隨飼反への寛1じ5大第4図 豐
る断面図、第2図は同部品検知方法の実施例を示す断面
図、第3図は同実施例の方法で検知された画像を示す図
、第4図はチップ部品のプリント基板への実装方法を示
す断面図、第5図は従来の部品検知方法を示す側面図、
第6図は従来方法による検知画像を示す図である。 図において、1は基板(プリント基板)、2はランド、
3は部品(チップ部品)、4は部品端子、8はTVカメ
ラ、9は水槽、10は液体、11は基板ホルダーをそれ
ぞれ示す。 n 液体 本発明方法の基本房a区 第1図 火撫奢]方法による画像 第3区 1リレト迦(し辷 / r 本発明の実施例 第2図 票 千ッ71シhのア゛ル隨飼反への寛1じ5大第4図 豐
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基板に対する電子部品の実装状態などを確認する際に
、 検知される部品(3)側を上にして、基板(1)が液体
(10)中に隠れる程度まで液体(10)中に浸漬し、
実装部品(3)はその少なくとも上方部分を液面から露
出させ、上方から検知することを特徴とする部品検知方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60259625A JPS62118596A (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | 部品検知方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60259625A JPS62118596A (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | 部品検知方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62118596A true JPS62118596A (ja) | 1987-05-29 |
Family
ID=17336674
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60259625A Pending JPS62118596A (ja) | 1985-11-18 | 1985-11-18 | 部品検知方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62118596A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107478152A (zh) * | 2017-08-11 | 2017-12-15 | 哈尔滨工业大学 | Tr芯片定位方法及检测方法 |
CN111609799A (zh) * | 2019-02-22 | 2020-09-01 | 东芝存储器株式会社 | 检查装置及检查方法 |
-
1985
- 1985-11-18 JP JP60259625A patent/JPS62118596A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107478152A (zh) * | 2017-08-11 | 2017-12-15 | 哈尔滨工业大学 | Tr芯片定位方法及检测方法 |
CN111609799A (zh) * | 2019-02-22 | 2020-09-01 | 东芝存储器株式会社 | 检查装置及检查方法 |
US11151709B2 (en) | 2019-02-22 | 2021-10-19 | Toshiba Memory Corporation | Inspection device and inspection method |
TWI765173B (zh) * | 2019-02-22 | 2022-05-21 | 日商鎧俠股份有限公司 | 檢查裝置及檢查方法 |
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