JP2605108Y2 - 信号伝送システムの伝送試験装置 - Google Patents

信号伝送システムの伝送試験装置

Info

Publication number
JP2605108Y2
JP2605108Y2 JP1993042040U JP4204093U JP2605108Y2 JP 2605108 Y2 JP2605108 Y2 JP 2605108Y2 JP 1993042040 U JP1993042040 U JP 1993042040U JP 4204093 U JP4204093 U JP 4204093U JP 2605108 Y2 JP2605108 Y2 JP 2605108Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
test
transmission
speed
modem
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1993042040U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0714738U (ja
Inventor
康男 大上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP1993042040U priority Critical patent/JP2605108Y2/ja
Publication of JPH0714738U publication Critical patent/JPH0714738U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2605108Y2 publication Critical patent/JP2605108Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この考案は信号伝送システムの伝
送試験装置に関し、例えば、データ伝送システムの伝送
試験などに適用し得るものである。
【0002】
【従来の技術】近年、データ伝送システムはいろいろな
システム環境で実現されている。そして、この様なデー
タ伝送システムの保守や点検を行う方法についても、い
ろいろと提案され、実現されている。そして、この様な
データ伝送システムを保守・点検するための試験装置に
ついても、例えば、CCITT.勧告V.54『モデム
用ループ試験デバイス』などによって試験装置の仕様が
勧告されている。
【0003】例えば、図2は、データ伝送システムのモ
デム用ループ試験を行うためのシステムの構成を示して
いる。
【0004】この図2において、データ端末装置DTE
1の送信データはモデム1によって変調され、回線を通
じて相手側モデム2に与えられる。相手側モデム2に与
えられた変調信号は復調され復調データ(受信データ)
はデータ端末装置DTE2に与えられる。
【0005】また、相手側のデータ端末装置DTE2か
ら送信されたデータはモデム2で変調され、この変調信
号は回線を通じてモデム1に与えられる。そして、この
モデム1は、与えられた変調信号を復調して復調データ
をデータ端末装置DTE1に与える。
【0006】以上の様にして、データ端末装置DTE1
とDTE2の間でデータ通信を行うことができる。そし
て、この様なデータ伝送システムにおいて、モデムルー
プ試験を行う場合は、図2に図示の様に、試験装置5、
9をモデム1、2に接続して行う。この試験装置5、9
は、両方とも同じ機能構成とする。そして、試験装置5
は自装置側のモデム1に接続される。試験装置9は、相
手側モデム2に接続される。
【0007】例えば、試験装置5を使用してモデム1〜
相手側モデム2までのループ試験を行う場合の試験動作
を説明する。先ず、試験装置5のループスイッチSW1
をオンして制御部53を動作させる。すると、制御部5
3は制御信号を切換器3に与える。同時に制御部53は
信号発生部51に対して命令を与える。すると、信号発
生部51は試験用信号(データ)を発生して切換器3に
与える。切換器3は、制御部53からの制御信号によっ
て、接点を切換え、変調器1aに対して送信データでは
無く、試験用信号(データ)を与える様に切り換える。
【0008】そして、モデム1の変調器1aは切換器3
からの試験信号(データ)を変調して変調信号をモデム
2に与える。このモデム2は与えられた変調信号を復調
して復調データをデータ端末装置DTE2に与えると共
に試験装置9の信号検出部に与える。そして、この信号
検出部では、復調データから試験信号(データ)を検出
し、ループ制御信号をモデム2に与えて折り返しループ
モードAにさせる。これによって、モデム1からの変調
信号はモデム2で折り返しされて、モデム1の復調器1
bに与えられる。
【0009】そして、モデム1の復調器1bは折り返し
て戻されてきた変調信号を復調して復調データをデータ
端末装置DTE1に与えると共に、信号検出部52に与
える。そして、信号検出部52は、折り返して戻ってき
た復調データを検査して、信号の変化などから異常の有
無を調べる。そして、この異常の有無からモデム機能な
どの試験を行うことができる。
【0010】そして、以上の様な試験装置5、9は、論
理ゲート回路やCPUなどを用いて実現する事が出来
る。そして、CPUを用いて実現した場合、送信データ
や受信データの速度や変調速度や復調速度が速くなる
と、処理速度の高速なCPUが必要となってくる。
【0011】例えば、データ速度がおよそ14.4kb
ps程度位までは、一般の8ビットCPUなどで十分に
この様な処理を行うことができる。例えば、沖電気工業
製の8ビットCPUであるMSM80C51F/MSM
80C31Fなどで実現することができる。
【0012】
【考案が解決しようとする課題】しかしながら、伝送速
度が数十kbps程度のデータの伝送試験を行う場合
は、上記の様な8ビットCPU程度のものに因る試験装
置5、9では、処理することが出来ないという問題があ
った。
【0013】このため、CPUの速度の高速のもので試
験装置5、9を実現し様としても、CPUの処理速度は
有限であるため、必ず限界となる速度がある事になり、
簡単に実現することは簡単には行い得なかった。
【0014】この様な事から、数十kbps程度以上の
データ伝送システムにおける伝送試験を行い得るための
新たな伝送試験装置を開発しなければならないという困
難があった。
【0015】従って、簡単な仕組みで容易に数十kbp
s程度以上のデータ伝送システムであっても、伝送試験
を行い得る伝送試験装置が要請されていた。
【0016】この考案は、以上の課題に鑑み為されたも
のであり、その目的とする所は、高速の信号伝送システ
ムにおいても、簡単な構成で、容易に低速処理で試験判
定処理を行い得る信号伝送システムの伝送試験装置を提
供することである。
【0017】
【課題を解決するための手段】この考案は、以上の目的
を達成するために、少なくとも1以上の端末装置から信
号速度がNの信号を与えられると、この信号を処理した
処理信号を伝送路に送信出力する送信側の処理装置と、
伝送路から処理信号が与えられると、この信号を受信処
理して信号速度がNの受信出力信号を受信出力する受信
側の処理装置とを有してなる信号伝送システムについて
の伝送試験を行う伝送試験装置において、以下の様な特
徴的な構成で実現した。
【0018】すなわち、送信側の処理装置及び受信側の
処理装置に接続される伝送試験装置に、試験用信号生成
手段、信号速度変換手段及び試験判定回路をそれぞれ備
えることにし、各手段又は回路が、伝送試験時に以下の
動作をするような構造とした。送信側の試験用信号発生
手段は、端末装置から与えられる信号の代わりに信号速
度がN/A(但し、Aは2以上の整数)の試験用信号を
送信側の処理装置に与え、送信側の処理装置は、信号速
度がN/Aの試験用信号を信号速度がNの試験用信号に
変換して伝送路に接続された受信側の処理装置に送信出
力し、受信側の処理装置は、信号速度がNの試験用信号
の受信出力信号を所定の信号経路を介して折り返し、伝
送路を介して接続された送信側の処理装置に再度戻し、
送信側の信号速度変換手段は、送信側の処理装置から取
り出される信号速度がNの受信タイミング信号及び送信
タイミング信号の信号速度をそれぞれN/Aに変換し、
速度変換後の受信タイミング信号を試験判定回路に、速
度変換後の送信タイミング信号を試験用信号生成手段に
それぞれ与え、送信側の試験判定回路は、信号速度がN
/Aの受信タイミング信号を動作クロックとして、送信
側の処理回路から出力された信号速度がNの受信出力信
号を処理し、試験判定を行い、試験用信号生成手段は、
信号速度がN/Aの送信タイミング信号を動作クロック
として、信号速度がN/Aの試験用信号を生成するよう
にした。
【0019】尚、上記処理装置としては、例えば、モデ
ムや、多重化・分離化装置や、交換装置などが想定され
る。
【0020】また、上記端末装置としては、例えば、デ
ータ通信装置である。
【0021】
【作用】この考案によれば、本来の信号伝送システムに
おける処理装置及び伝送路上では信号速度がN(例え
ば、48kbps)の場合であっても、この信号伝送シ
ステムの伝送試験を行うための伝送試験装置内では信号
速度がN/A(但し、Aは2以上の整数、例えば4)の
状態で試験が可能となる。
【0022】つまり、送信側の処理装置(例えば、モデ
ム)には、試験用信号生成手段が試験用信号として、信
号速度がN/A(例えば、48kbps/4=12kb
ps)の試験用信号を与える。この場合に、送信側の処
理装置(例えば、モデム)は、当該試験用信号をA倍し
て信号速度がN(例えば、48kbps)の試験用信号
に変換し、伝送路に出力す。一方、受信側の処理装置
(例えば、モデム)は、信号速度がN(例えば、48k
bps)の試験用信号を所定の信号経路を介して折り返
し、再度、送信側の処理装置(例えば、モデム)に戻
す。
【0023】かくして、送信側の処理装置(例えば、モ
デム)には、信号速度がN(例えば、48kbps)の
試験用信号が与えられ、その受信出力信号が送信側の試
験判定回路に与えられる。ただし、送信側の試験判定回
路には、信号速度がN(例えば、48kbps)の受信
タイミング信号を1/A倍した信号速度がN/A(例え
ば、48kbps/4=12kbps)の受信タイミン
グ信号が動作クロックとして送信側の信号速度変換手段
より与えられるため、試験判定回路は、実際上、信号速
度がN/A(例えば、48kbps/4=12kbp
s)の受信出力信号を処理することになる。
【0024】この様に信号速度を変換する信号速度変換
手段を新たに伝送試験装置の付加し、しかも試験判定回
路の入力側に設けることによって、試験判定回路自体は
N/Aの信号速度にされた受信出力信号を処理すること
ができる。しかも、信号速度変換手段は、例えば、論理
ゲート(例えば、カウンタやシフトレジスタやゲートな
ど)による分周回路や、PLL(Phase Lock
ed Loop、位相同期ループ)回路などで実現する
こともできるので、比較的容易に実現することができ
る。
【0025】従って、信号伝送システムにおける端末装
置と処理装置(例えば、モデム)との間の信号速度が高
速であっても、それに合わせて伝送試験装置の試験判定
回路を高速に処理動作させる必要が無い。
【0026】
【実施例】次にこの考案をモデムが介在するデータ伝送
システムのモデムループ試験装置に適用する場合の好適
な一実施例を図面を用いて説明する。
【0027】(データ伝送システムの構成) 図1は
一実施例のデータ伝送システム及びこのシステムのため
の伝送試験用の試験装置の構成図である。そして、従来
のデータ伝送システムの図2と同じ部分には、同じ符号
を使用しているので、説明を省略する。そして、試験装
置7、8は同じ機能構成としている。即ち、試験装置
7、8は、試験部5、11と、分周回路6、10とから
構成されている。そして、試験部5、11は、従来の図
2の試験装置と同様に信号発生部51と、信号検出部5
2と、制御部53とから構成されている。ここで、特徴
的に異なる部分は、分周回路6、10の追加構成であ
る。
【0028】(試験装置の構成7、8の構成) そし
て、図1において試験装置7、8には、新たに分周回路
6、10が追加構成されている。この分周回路6は、同
期式のモデム1から送信タイミングSg3と受信タイミ
ング信号Sg4とを取り込み、例えば、1/4分周させ
て、それぞれ試験部5に与える。即ち、1/4分周され
た送信タイミング信号は、信号発生部51に与えられ
る。そして、1/4分周された受信タイミング信号は信
号検出部52に与えられる。
【0029】そして、図1の試験装置8の分周回路10
も、同期式のモデム2から送信タイミングSg5と受信
タイミング信号Sg6とを取り込み、例えば、1/4分
周させて、それぞれ試験部11に与える。即ち、1/4
分周された送信タイミング信号は、試験部11の信号発
生部51に与えられる。そして、1/4分周された受信
タイミング信号は試験部11の信号検出部52に与えら
れる。
【0030】(試験動作) 次に図1のデータ伝送シ
ステムにおけるモデムループ試験の動作を説明する。先
ず、試験装置7、8の試験部5、11は、従来と同様に
低速処理、例えば、12kHz程度の処理速度で処理す
るものとする。そして、データ端末装置DTE1から
は、データが例えば48kbpsで切換器3を通じてモ
デム1に与えられている。そして、モデム1で送信用デ
ータを例えば、48kHzで変調して、変調信号を回線
を通じてモデム2に供給する。
【0031】そして、図1のモデム2は、与えられた変
調信号を例えば、48kHzの処理速度で復調を行い、
48kbpsの復調データを受信出力し、データ端末装
置DTE2に与え、同時に試験部11にも与えられる。
【0032】更に、データ端末装置DTE2からも48
kbps程度の送信データも上述と同様な動作で、モデ
ム2で変調されてモデム1に変調信号が与えられる。そ
して、モデム1に与えられた変調信号は、例えば、48
kHz程度の処理速度で復調されて、48kbpsの復
調データがデータ端末装置DTE1に与えられると共
に、試験部5に与えられる。
【0033】(モデムループ試験の動作) そして、
モデムループ試験を行う場合は、先ず、ループスイッチ
SW1をオンとすると、試験装置7は試験動作を開始す
る。即ち、試験部5の制御部53は、切換信号を切換器
3に与える。そして、モデム1からの送信タイミング信
号Sg3(図3(A))を分周回路6で1/4に分周し
て、分周信号(図3(B))を試験部5の信号発生部5
1に与える。すると、信号発生部51は、この分周信号
に対応して、12kbpsの試験用信号(図3(C))
を発生して切換器3に与える。
【0034】そして、切換器3は、切換信号によって切
り換えられているので、試験用信号は切換器3を通じて
モデム1に与える。そして、モデム1は試験用信号を、
例えば、96kHz程度の処理速度で変調して変調信号
を出力し、回線を通じて相手側のモデム2に与える。そ
して、モデム2は、変調信号の復調を、例えば96kH
zで行い、48kbpsの復調データを出力し、データ
端末装置DTE2と試験部11とに与える。
【0035】そして、試験部11の信号検出部52で
は、復調データからモデムループ試験モードであること
を検出すると、制御部53に対して、モデムループ試験
モードに制御させる。つまり、制御部53は、モデム2
に対してループ制御信号Sg12を与える。すると、モ
デム2は、図1の折り返しモードAとなり、受信復調デ
ータをそのまま、再び変調して変調信号をモデム1に戻
す。
【0036】そして、モデム1に戻された変調信号は復
調され、48kbpsの復調データと、これに同期した
48kHzの受信タイミング信号Sg4(図3(A))
とが試験装置7に与えられる。即ち、受信タイミング信
号Sg4(図3(A))は、分周回路6に与えられ、こ
こで、1/4に分周されて、12kHzの分周信号(図
3(B))が試験部5の信号検出部52に与えられる。
そして、信号検出部52は、この12kHzの分周信号
のタイミングで48kbpsの受信復調データを読みと
って、試験判定を行う。即ち、試験用信号の変化などか
ら図1の折り返しAによるモデムループの正常/異常の
判定や、モデム1、2の正常/異常の判定などを検出す
る。
【0037】図3は一実施例の図1の各部の信号波形図
である。この図3において、図3(A)は、モデム1の
48kHzの送信タイミング信号Sg3、受信タイミン
グ信号Sg4の波形図である。図3(B)は送信タイミ
ング信号Sg3を1/4に分周した12kHzの分周出
力信号Sg7である。更に、この図3(B)は受信タイ
ミング信号Sg4を1/4に分周した12kHzの分周
出力信号Sg8でもある。図3(C)は、図3(B)の
12kHzの分周出力信号Sg7、Sg8に同期したも
のであって、試験用信号の発生タイミングを表してい
る。更に、この図3(C)は、ループ制御信号Sg10
を出力するタイミングでもある。
【0038】一実施例の効果 以上の一実施例のデー
タ伝送システムの試験装置によれば、試験装置7、8の
従来からの試験部5は12kHzの低速処理であって
も、高速のデータ伝送速度48kbpsのデータ伝送シ
ステムのモデムループ試験に適用することが出来た。
【0039】これは、試験装置7、8に新たに分周回路
6、10を付加して、送信タイミング信号Sg3、受信
タイミング信号Sg4などを試験部5で処理し得る信号
に変換しているからである。
【0040】従って、上述の様な分周回路6、10は、
論理ゲート回路などで簡単に実現でき、試験部5は従来
の構成がそのまま使用出来るので、全体としては比較的
容易に実現することが出来る。
【0041】つまり、制御部53や信号検出部52や信
号発生部51などは変更すること無く、しかも、プログ
ラムの変更などを行うこと無く、従来の試験装置5、9
を使用して試験を行うことができる。
【0042】他の実施例 (1)尚、以上の一実施例
においては、データ伝送システムにモデムが介在するシ
ステムを例に説明したが、この様なシステムへの適用に
限定するものでは無い。例えば、モデムでなくても、多
重化・分離化装置や交換装置などであっても適用するこ
とができる。
【0043】(2)また、上述の一実施例における試験
装置7、8の機能ブロック図は一例であって、この様な
構成に限定されるものでは無い。また、信号速度も上述
の一実施例に限定されるものでは無い。
【0044】例えば、上述の一実施例では、分周回路
6、10は、試験装置7、8の中に構成されているが、
この様に構成しなくても、試験装置7、8の外に別個に
分周回路6、10を接続できる様に構成することであっ
ても良い。
【0045】(3)更に、上述の一実施例の図1におい
ては、分周回路6、10は、論理ゲート回路から構成す
ることもできるし、また、PLL(位相同期ループ)回
路などで実現することもできる。この様な構成であれ
ば、数百kHz程度までの周波数の信号を発生する上で
は簡単な構成で安定的に実現することができる。
【0046】(4)更にまた、上述の一実施例では、モ
デムループ試験を例として説明したが、この様な試験に
限定するものでは無い。例えば、ループ試験でなく、単
に試験装置7から送信側のモデム1に試験用信号を与
え、受信側のモデム2で受信して、受信復調データを試
験装置8に取り込んで、試験判定を行う場合であっても
この発明を適用することができる。
【0047】
【考案の効果】以上述べた様にこの考案の信号伝送シス
テムの伝送試験装置によれば、上記試験用信号として信
号速度がN/A(但し、Aは2以上の整数)の試験用信
号を送出して、上記送信側の処理装置に与える試験用信
号生成手段と、上記受信側の処理装置の受信出力信号の
信号速度Nを、N/Aに変換して上記試験判定回路に与
える信号速度変換手段とを備えたことによって、高速の
信号伝送システムにおいても、簡単な構成で、容易に低
速処理で試験判定処理を行い得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】この考案の一実施例のデータ伝送システムの試
験構成図である。
【図2】従来例のデータ伝送システムの試験構成図であ
る。
【図3】一実施例の各部の信号タイミングチャートであ
る。
【符号の説明】
1、2…モデム、5…試験部、6、10…分周回路、
7、8…試験装置、DTE1〜DTE2…端末装置。

Claims (1)

    (57)【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1以上の端末装置から信号速
    度がNの信号を与えられると、この信号を処理した処理
    信号を伝送路に送信出力する送信側の処理装置と、伝送
    路から前記処理信号が与えられると、この信号を受信処
    理して信号速度が前記Nの受信出力信号を受信出力する
    受信側の処理装置とを有してなる信号伝送システムにつ
    いての伝送試験を行う伝送試験装置において、 前記送信側の処理装置及び前記受信側の処理装置に接続
    される伝送試験装置には、試験用信号生成手段、信号速
    度変換手段及び試験判定回路がそれぞれ備えられてお
    り、 伝送試験時、前記送信側の試験用信号発生手段は、前記
    端末装置から与えられる信号の代わりに信号速度がN/
    A(但し、Aは2以上の整数)の試験用信号を前記送信
    側の処理装置に与え、 前記送信側の処理装置は、信号速度が前記N/Aの試験
    用信号を信号速度がNの試験用信号に変換して伝送路に
    接続された前記受信側の処理装置に送信出力し、 前記受信側の処理装置は、信号速度が前記Nの試験用信
    号の受信出力信号を所定の信号経路を介して折り返し、
    伝送路を介して接続された前記送信側の処理装置に再度
    戻し、 前記送信側の信号速度変換手段は、前記送信側の処理装
    置から取り出される信号速度が前記Nの受信タイミング
    信号及び送信タイミング信号の信号速度をそれぞれN/
    Aに変換し、速度変換後の受信タイミング信号を前記試
    験判定回路に、速度変換後の送信タイミング信号を前記
    試験用信号生成手段にそれぞれ与え、 前記送信側の試験判定回路は、信号速度が前記N/Aの
    受信タイミング信号を動作クロックとして、前記送信側
    の処理装置から出力された信号速度が前記Nの受信出力
    信号を処理することで試験判定を行い、 前記試験用信号生成手段は、信号速度が前記N/Aの送
    信タイミング信号を動作クロックとして、信号速度が前
    記N/Aの試験用信号を生成する ことを 特徴とする信号
    伝送システムの伝送試験装置。
JP1993042040U 1993-07-30 1993-07-30 信号伝送システムの伝送試験装置 Expired - Lifetime JP2605108Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1993042040U JP2605108Y2 (ja) 1993-07-30 1993-07-30 信号伝送システムの伝送試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1993042040U JP2605108Y2 (ja) 1993-07-30 1993-07-30 信号伝送システムの伝送試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0714738U JPH0714738U (ja) 1995-03-10
JP2605108Y2 true JP2605108Y2 (ja) 2000-06-26

Family

ID=12625031

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1993042040U Expired - Lifetime JP2605108Y2 (ja) 1993-07-30 1993-07-30 信号伝送システムの伝送試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2605108Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0714738U (ja) 1995-03-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH036156A (ja) データ伝送路障害検知回路
JP2605108Y2 (ja) 信号伝送システムの伝送試験装置
US5117425A (en) Communication interface
KR100260623B1 (ko) 광전송장치에서 수신데이터 처리장치
KR100201410B1 (ko) 디지탈 키세트의 데이타 송수신 장치
JP2848229B2 (ja) 受信回路
JP2715886B2 (ja) 通信装置
KR100234135B1 (ko) 비동기 전송 모드 교환기에서 망 동기용 기준 클럭 발생 회로
KR940009842B1 (ko) 155 Mbps급 시스템의 DSI-NAS(1.544Mbps) 신호 사상 및 저속 다중기
KR100442372B1 (ko) 데이터 전송 장치 및 방법
JPH07231316A (ja) 双方向通信装置
JP4326124B2 (ja) 多重化装置
KR940009332B1 (ko) 155Mbps급 시스템의 DS1-CEPT(2.048Mbps)신호 사상 및 저속 다중기
JPH05102956A (ja) 非同期シリアル通信におけるフレーム同期検出装置
JP2655089B2 (ja) 受信レベル試験回路
JP2571027B2 (ja) 信号伝送方式
JP2504213B2 (ja) 光伝送装置
JPH0715754A (ja) Dtmf信号を使用した回線終端装置リモートテスト制御方式
KR20020070054A (ko) 내장형 시험 패턴 장치를 구비한 티-3급 채널 서비스 유니트
JPS63111743A (ja) デ−タ回線終端装置
JPH0326124A (ja) データ伝送システム
JPH05344090A (ja) 光同期端局装置
JPH03253129A (ja) 同期クロックの障害情報の伝達方式
KR970064055A (ko) 전원인가시 안정적인 클럭복귀회로
JPH04331520A (ja) 多重化装置