JPH05344090A - 光同期端局装置 - Google Patents
光同期端局装置Info
- Publication number
- JPH05344090A JPH05344090A JP4146116A JP14611692A JPH05344090A JP H05344090 A JPH05344090 A JP H05344090A JP 4146116 A JP4146116 A JP 4146116A JP 14611692 A JP14611692 A JP 14611692A JP H05344090 A JPH05344090 A JP H05344090A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- test
- optical
- test signal
- stm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】送信側装置と受信側装置との間のクロック同期
が外れても伝送路導通試験が行えるようにする。 【構成】送信側装置１において、ＳＴＭ信号の送信処理
部７の出力信号１３と試験信号１２とを選択部８に入力
し、選択部８は試験時に出力される試験開始信号１４に
より試験信号１２を選択し光伝送路５へ送出する。受信
側装置３では試験信号判定部９でこの試験信号１２を識
別し受信する。試験信号１２は送信処理部７より受信処
理部１０を介さないので局クロックの同期とは無関係に
伝送路の試験が可能となる。
が外れても伝送路導通試験が行えるようにする。 【構成】送信側装置１において、ＳＴＭ信号の送信処理
部７の出力信号１３と試験信号１２とを選択部８に入力
し、選択部８は試験時に出力される試験開始信号１４に
より試験信号１２を選択し光伝送路５へ送出する。受信
側装置３では試験信号判定部９でこの試験信号１２を識
別し受信する。試験信号１２は送信処理部７より受信処
理部１０を介さないので局クロックの同期とは無関係に
伝送路の試験が可能となる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光同期端局装置に関し、
特に伝送路の導通試験を行うための試験機能を備える信
号フォーマットがＳＴＭ方式の光同期端局装置に関す
る。
特に伝送路の導通試験を行うための試験機能を備える信
号フォーマットがＳＴＭ方式の光同期端局装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の光同期端局装置は図２に
示す構成である。図２は従来例のブロック図である。本
装置の伝送信号はＳＴＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｔ
ｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｍｏｄｅ同期伝送モード）方
式を用いている。光伝送路１０５に送信側装置１０１と
受信側装置１０３とが対向に接続されている。送信側装
置１０１のＳＴＭ信号の送信処理部１０７はクロック供
給装置１０２より動作クロックを供給されて動作し、伝
送路導通試験用信号を発生する試験信号発生部１０６か
ら試験信号を入力し、これを主信号のタイムスロットに
挿入しＳＴＭ信号として変換器（Ｅ／Ｏ）１０８に出力
する。電気光変換器１０８は、ＳＴＭ信号を光に変換し
光伝送路１０５に出力する。
示す構成である。図２は従来例のブロック図である。本
装置の伝送信号はＳＴＭ（Ｓｙｎｃｈｒｏｎｏｕｓ Ｔ
ｒａｎｓｍｉｓｓｉｏｎ Ｍｏｄｅ同期伝送モード）方
式を用いている。光伝送路１０５に送信側装置１０１と
受信側装置１０３とが対向に接続されている。送信側装
置１０１のＳＴＭ信号の送信処理部１０７はクロック供
給装置１０２より動作クロックを供給されて動作し、伝
送路導通試験用信号を発生する試験信号発生部１０６か
ら試験信号を入力し、これを主信号のタイムスロットに
挿入しＳＴＭ信号として変換器（Ｅ／Ｏ）１０８に出力
する。電気光変換器１０８は、ＳＴＭ信号を光に変換し
光伝送路１０５に出力する。
【０００３】受信側装置１０３で受信されてた受信光信
号は、光電気変換器１１１で電気信号に変換されＳＴＭ
信号として受信処理部１１０へ出力する。受信処理部１
１０では、局クロック供給装置１０４よりクロックを供
給されかつＳＴＭ信号内から伝送路試験信号を抽出し伝
送路試験用信号を照合判定する試験信号判定部１０９へ
出力する。
号は、光電気変換器１１１で電気信号に変換されＳＴＭ
信号として受信処理部１１０へ出力する。受信処理部１
１０では、局クロック供給装置１０４よりクロックを供
給されかつＳＴＭ信号内から伝送路試験信号を抽出し伝
送路試験用信号を照合判定する試験信号判定部１０９へ
出力する。
【０００４】次に動作について詳細を説明する。送信側
装置１０１のクロック供給装置１０２と受信側装置１０
３のクロック供給装置１０４とは、クロック同期がとれ
ていて、各々ＳＴＭ信号の送信処理部１０７と受信処理
部１１０とはクロック１１４とクロック１１７により同
期して動作している。送信処理部１０７では、ＳＴＭ信
号のオーバヘッド信号処理ペイロード信号処理を行な
い、ＳＴＭ信号フォーマットを作成する。
装置１０１のクロック供給装置１０２と受信側装置１０
３のクロック供給装置１０４とは、クロック同期がとれ
ていて、各々ＳＴＭ信号の送信処理部１０７と受信処理
部１１０とはクロック１１４とクロック１１７により同
期して動作している。送信処理部１０７では、ＳＴＭ信
号のオーバヘッド信号処理ペイロード信号処理を行な
い、ＳＴＭ信号フォーマットを作成する。
【０００５】この時、オーバヘッド信号処理を行なう
際、試験発生部１０６からの試験用信号のパターンをオ
ーバヘッド部分に挿入しＳＴＭ信号フォーマットを作成
する。ＳＴＭ信号フォーマット化された信号１１３は電
気信号を光に変換する電気光変換器１０８に入力され、
光信号に変換され、光伝送路１０５へ出力される。光伝
送路１０５から受信側装置１０３に光信号が入力され、
光を電気信号へ変換する光電気変換器１１１では、光を
電気信号に変換し、ＳＴＭ信号フォーマット１１５を再
生する。信号処理部１１０では、ＳＴＭ信号のオーバヘ
ッド部分に挿入されている試験信号を抽出し、試験信号
判定部１０９へ出力する。
際、試験発生部１０６からの試験用信号のパターンをオ
ーバヘッド部分に挿入しＳＴＭ信号フォーマットを作成
する。ＳＴＭ信号フォーマット化された信号１１３は電
気信号を光に変換する電気光変換器１０８に入力され、
光信号に変換され、光伝送路１０５へ出力される。光伝
送路１０５から受信側装置１０３に光信号が入力され、
光を電気信号へ変換する光電気変換器１１１では、光を
電気信号に変換し、ＳＴＭ信号フォーマット１１５を再
生する。信号処理部１１０では、ＳＴＭ信号のオーバヘ
ッド部分に挿入されている試験信号を抽出し、試験信号
判定部１０９へ出力する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この従来の光同期端局
装置は、ＳＴＭ信号の処理部が、装置間でクロック同期
がとれていないと信号フォーマットが正しく送受信でき
ず、このために信号フォーマット内に挿入されている伝
送路試験信号の抽出ができない。従って、クロック同期
がとれていない障害時には光伝送路導通試験ができない
という問題がある。
装置は、ＳＴＭ信号の処理部が、装置間でクロック同期
がとれていないと信号フォーマットが正しく送受信でき
ず、このために信号フォーマット内に挿入されている伝
送路試験信号の抽出ができない。従って、クロック同期
がとれていない障害時には光伝送路導通試験ができない
という問題がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明の光伝送路導通試
験方式は、ＳＴＭフォーマットされたＳＴＭ信号を出力
する送信処理部と、伝送路導通試験用の試験信号を発生
する試験信号発生部と、前記ＳＴＭ信号と前記試験信号
とを入力し前記試験信号発生部からの信号により一方を
選択し出力する選択部と、前記選択部の出力信号を光信
号に変換し送信側光伝送路へ送出する電気光変換部と、
受信側光伝送路からの受信光信号を電気信号に変換する
光電気変換部と、前記光電気変換部の出力信号を入力し
対向装置からの前記試験信号を選択する試験信号選択部
と、前記光電気変換回路の出力信号を入力し対向装置か
らの前記ＳＴＭ信号を受信処理する受信処理部とを備え
ている。
験方式は、ＳＴＭフォーマットされたＳＴＭ信号を出力
する送信処理部と、伝送路導通試験用の試験信号を発生
する試験信号発生部と、前記ＳＴＭ信号と前記試験信号
とを入力し前記試験信号発生部からの信号により一方を
選択し出力する選択部と、前記選択部の出力信号を光信
号に変換し送信側光伝送路へ送出する電気光変換部と、
受信側光伝送路からの受信光信号を電気信号に変換する
光電気変換部と、前記光電気変換部の出力信号を入力し
対向装置からの前記試験信号を選択する試験信号選択部
と、前記光電気変換回路の出力信号を入力し対向装置か
らの前記ＳＴＭ信号を受信処理する受信処理部とを備え
ている。
【０００８】
【実施例】次に本発明の一実施例について図面を参照し
て説明する。図１は本実施例のブロック図である。光伝
送路５に送信側装置１と受信側装置３とが対向されて接
続されている。送信側装置１の送信処理部７はクロック
供給装置２より動作し、ＳＴＭ信号を選択部８に出力す
る。光伝送路を試験するための伝送路試験用信号を発生
する試験信号発生部６は、試験開始信号１４と試験信号
１２とを選択部８へ出力する。試験を行う時は、試験開
始信号１４が出力され、選択部８は試験信号１３を選択
し出力する。又試験をしない時は、試験用始信号１４は
出力されないのでＳＴＭ信号が選択され出力される。こ
の出力信号は電気光変換器１８で光信号に変換され光伝
送路５へ送出される。
て説明する。図１は本実施例のブロック図である。光伝
送路５に送信側装置１と受信側装置３とが対向されて接
続されている。送信側装置１の送信処理部７はクロック
供給装置２より動作し、ＳＴＭ信号を選択部８に出力す
る。光伝送路を試験するための伝送路試験用信号を発生
する試験信号発生部６は、試験開始信号１４と試験信号
１２とを選択部８へ出力する。試験を行う時は、試験開
始信号１４が出力され、選択部８は試験信号１３を選択
し出力する。又試験をしない時は、試験用始信号１４は
出力されないのでＳＴＭ信号が選択され出力される。こ
の出力信号は電気光変換器１８で光信号に変換され光伝
送路５へ送出される。
【０００９】受信側装置３で受信した光信号は、光電気
変換器１１で電気信号に変換される。変換された電気信
号は受信処理部１０と試験信号判定部９に分配される。
試験信号判定部９では、送信側装置１からの試験信号１
２を識別して受信し、伝送路の良否判定を行なう。
変換器１１で電気信号に変換される。変換された電気信
号は受信処理部１０と試験信号判定部９に分配される。
試験信号判定部９では、送信側装置１からの試験信号１
２を識別して受信し、伝送路の良否判定を行なう。
【００１０】尚、送信側装置１の試験信号１２はランダ
ムなＳＴＭ信号に対し１，０を連続する信号が設定され
ており、受信側装置３の試験信号判定部９ではこの連続
する試験信号を容易に識別することができる。また導通
試験の判定結果は別の保守用回線を介して送信側装置に
伝えられて試験が行なわれる。
ムなＳＴＭ信号に対し１，０を連続する信号が設定され
ており、受信側装置３の試験信号判定部９ではこの連続
する試験信号を容易に識別することができる。また導通
試験の判定結果は別の保守用回線を介して送信側装置に
伝えられて試験が行なわれる。
【００１１】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、局クロッ
クで動作するＳＴＭ信号の処理部とは無関係に送信側で
試験信号を挿入し、受信側で照合判定することにより、
局クロックが同期していなくても、光伝送路の導通試験
が行える効果がある。
クで動作するＳＴＭ信号の処理部とは無関係に送信側で
試験信号を挿入し、受信側で照合判定することにより、
局クロックが同期していなくても、光伝送路の導通試験
が行える効果がある。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】従来例のブロック図である。
１ 送信側装置 ２，４ 局クロック供給装置 ３ 受信側装置 ５ 光伝送路 ６ 試験発生部 ７ 送信処理部 ８ 選択部 ９ 試験信号判定部 １０ 受信処理部 １１ 光電気変換器 １２ 試験信号 １３ ＳＴＭ信号 １４ 試験開始信号
Claims (1)
- 【請求項１】 ＳＴＭフォーマットされたＳＴＭ信号を
出力する送信処理部と、伝送路導通試験用の試験信号を
発生する試験信号発生部と、前記ＳＴＭ信号と前記試験
信号とを入力し前記試験信号発生部からの信号により一
方を選択し出力する選択部と、前記選択部の出力信号を
光信号に変換し送信側光伝送路へ送出する電気光変換部
と、受信側光伝送路からの受信光信号を電気信号に変換
する光電気変換部と、前記光電気変換部の出力信号を入
力し対向装置からの前記試験信号を選択する試験信号選
択部と、前記光電気変換回路の出力信号を入力し対向装
置からの前記ＳＴＭ信号を受信処理する受信処理部とを
備えることを特徴とする光同期端局装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4146116A JPH05344090A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 光同期端局装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4146116A JPH05344090A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 光同期端局装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05344090A true JPH05344090A (ja) | 1993-12-24 |
Family
ID=15400525
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4146116A Pending JPH05344090A (ja) | 1992-06-08 | 1992-06-08 | 光同期端局装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05344090A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009182598A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nec Corp | 光伝送システム、電気／光変換器、光回線切断検出装置及び受信側システム並びにそれらに対応する方法 |
-
1992
- 1992-06-08 JP JP4146116A patent/JPH05344090A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009182598A (ja) * | 2008-01-30 | 2009-08-13 | Nec Corp | 光伝送システム、電気／光変換器、光回線切断検出装置及び受信側システム並びにそれらに対応する方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19991019 |