JP2586931B2 - カメラの測距装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、カメラの測距装置に関し、より詳細には、
被写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に結像させる結
像光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基線長だけ離れ
るように配設し、上記２つの受光素子に結像されたそれ
ぞれの像を比較することで上記被写体までの距離を測定
するいわゆる、三角測量に基づいた受動型の測距を行う
カメラの測距装置に関するものである。

〔従来の技術〕

カメラにおいて、被写体距離を検出する基本的な原理
の１つとして、三角測量の原理を応用したものがある。
この三角測量に基づいたものとしては、被写体からの自
然光を受ける受動型と、被写体に補助光を投光しその反
射光の入射位置を検出する能動型とに大別される。

そして、このような三角測量の原理を用いた種々の測
距装置が従来より提案されており、例えば、特開昭60-5
3909号、特開昭60-53190号、特開昭60-68307号公報に
は、それぞれ上記能動型、上記受動型および撮影レンズ
を所定の位置に固定する固定型の三種類の測距装置を併
設したものが開示されている（以下、「第１の従来例」
という）。

また、特開昭56-143904号および特開昭58-100807号公
報には、上記受動型に上記補助光を投光する投光手段を
付設したものが開示されている（以下、「第２の従来
例」という）。

〔発明が解決しようとする課題〕

上記第１の従来例においては、三種類の測距装置を独
立的に設けることから、広い配設スペースが必要となる
と共に、製作コストが上昇するという問題があり、上記
第２の従来例においては、受動型が有する欠点、すなわ
ち被写体がコントラストのない壁のようなものだった
り、あるいは低照度下にあってコントラストの差がほと
んど現われない場合に測距不能になるという欠点は解決
されるものの、光学系を構成する部材の大きさ、特に受
光素子の大きさから発生する制約、つまり近距離側で測
距不能となる制約が残されたままとなっている。

本発明は、上述の事情に鑑みなされたもので、その目
的とすることろは、簡略な構成で占有スペースが殆んど
増加せず、受動型の利点を活しつつ能動型の利点を加
え、受動型における限界位置よりも至近側での測距が可
能なカメラの測距装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、上述の目的を達成たるめに、被写体の像を
それぞれ２つの受光素子上に結像させる結像光学系をそ
れぞれの受光光軸が所定の基線長だけ離れるように配設
し、上記２つの受光素子に結像されたそれぞれの像を比
較することで上記被写体までの距離を測定する受動型の
測距を行うカメラの測距装置において、多数の画素を直
線状に配設した受光部を有する上記２つの受光素子と、
仮想の中心線に対して対称的に且つ上記受光部の受光面
が略直角となるように配設した２つの受光素子に対し無
限遠からの第１の光線がそれぞれ上記受光部の一方側の
端部に入射し、近距離側で測距が不能となる限界位置を
通過してきた第２の光線が上記受光部の上記端部と逆の
端部にそれぞれ入射し上記受光光軸が上記第１の光線と
略一致するように配設した上記結像光学系としての受光
光学系と、上記被写体に補助光を投光する投光手段と、
上記補助光の投光光軸が上記２つの受光軸の間に形成さ
れる平面内にありしかも該受光光軸のいずれか一方に近
く且つ略平行となるような投光光学系とを具備し、上記
補助光が上記被写体で反射た反射光を上記受光素子の少
なくともいずれか一方で受ける能動型の測距をも可能と
し、上記限界位置よりも至近側に位置する被写体は上記
能動型で測距するように構成したことを特徴とするもの
である。

さらに、本発明は、上述の目的を達成するために、受
動型の測距を行うカメラの測距装置において、多数の画
素を直線状に配設した受光部を有する上記２つの受光素
子と、仮想の中心線に対して対称的に且つ上記受光部の
受光面が略直角となるように配設した２つの受光素子に
対し無限遠からの第１の光線がそれぞれ上記受光部の一
方側の端部に入射し、近距離側で測距が不能となる限界
位置を通過してきた第２の光線が上記受光部の上記端部
と逆の端部にそれぞれ入射し上記受光光軸が上記第１の
光線と略一致するように配設した上記結像光学系として
の受光光学系と、上記被写体に補助光を投光する投光手
段と、上記補助光の投光光軸が上記２つの受光光軸を含
む平面内にあり且つ上記第１の光線と上記第２の光線と
の間にそれぞれ形成される２つの光路のうち少なくとも
いずれか一方の光路に上記限界位置にて交わるような投
光光学系とを具備し、上記補助光が上記被写体で反射し
た反射光を上記受光素子の少なくともいずれか一方で受
ける能動型の測距をも可能とし、上記限界位置よりも至
近側に位置する被写体は上記能動型で測距するように構
成したことを特徴とするものである。

〔作用〕

本発明は、上述のように構成したから、受動型の測距
においては、無限遠から限界位置までに位置する被写体
に対応した像がそれぞれの線形受光素子上の対応する位
置に結像され、これらの像の相対的な位置関係を検出す
ることによって当該被写体距離が測定でき、能動型の測
距においては、請求項１に記載の発明の場合、上記限界
位置から最至近位置までに位置する被写体からの反射光
が少なくとも投光光軸に近い側の線型受光素子の所定の
位置から第２の光線を受ける端部までの間の対応する位
置に入射し、この入射位置を検出することで当該被写体
距離が測定でき、請求項２に記載の発明の場合、受光し
ようとする線形受素子に係る光路と交わる投光光軸は、
第１の光線または第２の光線上の限界位置で交わり、第
２の光線または第１の光線の最至近位置で交わるから、
限界位置から最至近位置までの被写体からの反射光は、
当該線形受光素子の両端部間の対応する位置に入射し、
この入射位置を検出することによって、当該被写体距離
が測定できる。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて具体的に
説明する。

第１図は、第１の実施例に係るカメラの測距装置の全
体構成を模式的に示す平面図である。

同図において、１は仮想の中心線、２および３はこの
中心線１に対称的に配設された受光素子の受光部として
のセンサアレイで、この例では説明を煩雑にしないた
め、それぞれ６個の画素が直線状に配列されている例を
示す。2aおよび3aは上記センサアレイ２および３の中心
線１寄り側の端部である内端の画素、2bおよび3bは上記
センサアレイ２および３の中心線１から最も遠い端部で
ある外端の画素、４および５はそれぞれ上記センサアレ
イ２および３の前方に所定の距離（焦点距離）で配設さ
れた結像レンズ（以下、単に「レンズ」という）であ
る。

６は無限遠位置（以下、「∞位置」という）、７は受
動型の測距において近距離側に生じる測距可能な限界で
ある限界位置、7aはこの限界位置７と中心線１とが交わ
る限界点、８は上記レンズ4,5が配設されたる基準位
置、９および10は∞位置６に位置する被写体（図示せ
ず）からそれぞれレンズ4,5を介して画素2a,3aに入射さ
れる第１の光線としての∞光線、11および12はそれぞれ
上記∞光線９および10と略一致する受光光軸である。
尚、レンズ4,5はそれぞれ受光光軸11,12上に配設され、
受光光軸間は基線長Ｌだけ離れている。

13はおよび14はそれぞれ上記限界点7aを通過し、レン
ズ４および５を介して画素2bおよび3bに入射する第２の
光線としての近い光線で、以上をもって受動型の測距を
行う受光光学系を構成している。

15は補助光としての投光ビーム15aを投光する投光手
段としての投光部、16は上記投光ビーム15aが投光され
る投光光軸で、受光光軸11と12との間に形成される平面
内に在り、しかも中心線１よりもセンサアレイ２側（図
において左方側）に近い距離Laの位置にあり且つ受光光
軸11,12に平行となるように投光光学系が構成されてい
る。17は投光光軸16が近い光線13と交わる至近側として
の至近位置、18および19は上記投光ビーム15aが至近位
置17および限界位置７に位置する被写体（図示せず）で
反射した反射ビームである。

Z1およびZfはそれぞれ受動型の測距可能範囲および不
能範囲、Z2は能動型の測距によって拡張された拡張範
囲、20は∞光線９と近い光線13とで形成される光路、21
は∞光線10と近い光線14とで形成される光路である。

尚、以下の図面で、第１図と共通の部位には同一符号
を付すものとする。

第２図および第３図は、いずれも本発明の第２および
第３の実施例のカメラの測距装置の全体構成を示す平面
図である。

尚、受光光学系の構成は、第１の実施例と同一であ
り、投光部15および投光ビーム15aも共通とする。

第２図および第３図において、22および23は投光ビー
ム15aが投光される投光光軸で、いずれも受光光軸11と1
2を含む平面内に在り、しかも投光光軸22は光路20と交
わり、投光光軸23は光路20および21と交わるように投光
光学系が構成されている。尚、より詳しくは、第２図に
おいて、投光部15はレンズ４と５との間に位置し、投光
光軸22は限界位置７にて受光光軸11、つまり∞光線９と
交わるように構成され、一方、第３図において、投光部
15はレンズ４の外側（図中左方）に位置し、投光光軸23
は限界点7aを通過するように構成されている。

第２図において、24および25は、投光ビーム15aがそ
れぞれ至近位置17および限界位置７上にある被写体で反
射した反射ビームである。第３図の26は限界位置７より
も少し∞位置６側の測距可能範囲Z1内の位置である範囲
内位置、27および28は投光ビーム15aがそれぞれ限界点7
aに位置する被写体で反射した反射ビーム、29および30
はそれぞれ至近位置17および範囲内位置26に位置する被
写体で反射した反射ビームである。

第４図〜第６図は、受動型の測距原理を説明するため
の模式図である。

第４図において、D1〜D5はそれぞれ被写体距離、31は
被写体、32〜36はそれれ上記被写体距離D1〜D5に位置す
る被写体31を個々に示した被写体であるる。尚、被写体
距離D1およびD5は、それぞれ限界位置７および∞位置６
と略同一である。また、第４図では図示していないが被
写体31は、第１図等に示した中心線１上にあるものとす
る。

第５図において、CL1〜CL5およびCR1〜CR5は、それぞ
れ被写体32〜36がセンサアレイ２および３に結像してい
る状態の画像、さらに32a〜36aおよび32b〜36bは、それ
ぞれ上記画像CL1〜CL5およびCR1〜CR5内の各被写体32〜
36に対応する像である。

第６図において、37はセンサアレイ２が有する６個の
画素に対応した６個のエリアA1〜A6から成る基準メモ
リ、DTaは像36aに対応する基準データ、38はセンサアレ
イ３が有する６個の画素に対応した６個のエリアB1〜B6
から成る比較用のシフトレジスタ、DTbは像36bに対応す
る比較データである。また、38a〜38fは、シフトレジス
タ38の各状態である。

第７図は、能動型の測距における特性図を示し、縦軸
ILはセンサアレイ２に入射する像の輝度、横軸Ｎは画素
の配列に対応している。

第７図において、39は反射光18,24,27を受けた場合の
輝度分布、40は投光ビーム15aを投光しない場合の輝度
分布である。

このように構成された本実施例の作用および動作につ
いて説明する。まず、第４図〜第６図に基づいて、受動
型の測距動作を説明する。第４図に示すように被写体31
が被写体距離D1に位置する場合、すなわち被写体32の場
合、その中央部からの近い光線13がレンズ４を通してセ
ンサアレイ２の外端の画素2bに入射され、しかも光路20
内には被写体52の図中左半分しか入っていないので、第
５図の画像CL1に示すように、上記左半分のみが像32aと
してとらえられる。一方、被写体32の中央部からの距離
光線14がレンズ５を通してセンサアレイ３の外端の画素
3bに入射され、しかも光路21内には被写体32の図中右半
分しか入ってしないので、画像CR1に示すように上記右
半分のみが像32bとしてとらえられる（結像する）。

次に、被写体33の場合は、近い光線13および14よりも
少し光路20および21内に入っているので、それぞれ画像
CL2およびCR2に示すように、像33aおよび33bが外端側2b
および3bよりも少し内側に結像する。そして、被写体距
離D3においては、互いの光路20,21が一致するので、つ
まり被写体34は両光路20,21の中央に位置するので、画
像CL3,CR3のように像34a,34bはセンサアレイ2,3の略中
央に結像する。以下、同様に、被写体距離がD4,D5と増
大するに伴ってセンサアレイ２では画像CL4,CL5のよう
に像35a,36aは順次内端側2aに近づき、また、センサア
レイ３では、CR4,CR5に示すように内端3a側に近づいた
位置に結像する。すなわち、被写体距離D1〜D5の変化に
対して第５図でわかるように、像32aは外端2b側から順
次内端2a側に移動して像36aとなり、また像32bは外端3b
から順次内端3aに移動して像36bとなるような変化を示
す。従って、像（例えば32aと32b）の間隔を検出するこ
とによって被写体距離D1〜D5が知られるのである。尚、
上述の説明からもわかるように、仮に被写体32が被写体
距離D1よりも至近側に位置したとすると、光路20,21の
共通部から外れて近い光線13,14がセンサ2,3のそれぞれ
の外端の画素2a,3aから外れ、結像できなくなる。従っ
て、被写体距離D1〜D5が受動型の測距可能範囲Z1とな
り、D1より至近側が測距不能範囲Zfとなる。

次に、上記簡単を検出する動作を述べる。例えば、被
写体31として被写体距離D5に位置する被写体36を代表し
て説明する。従って画像は、CL5,CR5である。まず、第
６図に示すようにいずれか一方のセンサアレイの画像
（例えばCL5）を基準するため、センサアレイ２の各画
素のデータを基準メモリ37のエリアA1〜A6にそれぞれ１
対１に転送する。従って、像36aのデータDTaは、エリア
A6に記憶される。一方、比較すべきセンサアレイ３の各
画素のデータをシフトレジスタ38（詳しくは38a）のエ
リアB1〜B6に１対１に転送する。従って、この時点（状
態38a）では像36bに対応するデータDTbがエリアB1にセ
ットされる。そして、シフトレジスタ38を１エリア分だ
けシフトさせて比較データDTbをエリアB1からエリアB2
に移し（シフトし）、基準メモリ37のエリアA1〜A6と状
態38bのシフトレジスタ38の各エリアB1〜B6を１対１に
比較する。以下、同様にシフトと比較を繰返し、状態38
fに至り、比較データDTbがエリアB6にシフトされて基準
メモリ37と内容が一致する。つまり、シフト可能な最大
のシフト回数である５回のシフト内容が一致したのであ
るから、これを∞位置６を定義しておけば、被写体距離
D5が検出できる。

さて、次に本発明の要部である能動型の測距動作につ
いて述べる。第１図に示すように、不能範囲Zfでは、受
動型の測距はできないから、至近位置17にある被写体
（図示せず）の被写体距離は検出できない。ところが、
投光部15から投光ビーム15aが投射されると、至近位置1
7上に位置する被写体においては、近い光線13上の反射
光18上の反射光（図示せず）がセンサアレイ２で受光で
き、さらに限界位置７上の被写体においては、投光ビー
ム15aが反射光19として受光できる。従って、拡張範囲Z
2においての測距が可能となる。

また、限界位置７から∞位置６内燃機関に位置する被
写体でも投光ビーム15aが被写体に当って反射し再びセ
ンサアレイに到達する限りにおいて、測距可能である。

次に能動型の検出原理を光線18を例に述べる。第７図
に示すように投光ビーム15a、つまり、反射光18がない
場合の輝度分布40に対して、反射光18がある場合は、輝
度分布39のようになり投光ビーム15aが投射されている
部位の輝度が高くなる。つまり、反射光18の場合はセン
サアレイ１の外端部の画素2bに入射するから、画素2bの
輝度が最高となる。そして、受光光軸11と投光光軸16間
の距離Laは予めわかっているから、能動型の場合、この
Laが基線長Ｌに対応する三角測量の原理が適用でき、画
素2bを至近位置17、画素22aを∞位置６と定義し、その
間の画素も適宜、被写体距離（位置）に対応させておけ
ば、どの画素が最高の輝度であるかを調べることによっ
て被写体距離が検出できる。

このように第１実施例では不能範囲Zfのうち少なくと
も拡張範囲Z2の分だけ近距離側の測距範囲が拡張された
ことになる。

次に、第２図では、限界位置７からの反射光25は外端
の画素2bに、至近位置17のからの反射光24は内端画素2a
に入射するので、拡張範囲Z2内に位置する被写体からの
反射光はすべてセンサアレイ２で受光できる。従って、
画素2bを至近位置17、画素2aを限界位置７と定義してお
けば、この間の被写体距離が検出できる。

第３図においては、至近位置17からの反射ビーム29は
センサアレイ２の内端の画素2aに、限界位置７からの反
射ビーム27,28のうち一方の反射ビーム27はセンサアレ
イ２の外端の画素2bに入射し、範囲内位置26からの反射
光30は内端の画素3aに、限界位置７からの反射光28は外
端の画素3bに入射するから、画素2bおよび2aをそれぞれ
限界位置７および至近位置17と定義し、画素3aおよび3b
をそれぞれ範囲内位置26および限界位置７と定義してお
けば、拡張範囲Z2内の被写体距離はセンサアレイ２で、
共通範囲Z3内の被写体距離はセンサアレイ３で検出でき
る。

このように、第１の実施例によれば、受動型の測距を
行う受光光学系の受光光軸11から距離Laの位置に投光光
軸16があるように投光光学系を構成したから、受動型の
測距可能範囲Z1に加えて、不能範囲Zf内でも拡張範囲Z2
の分だけ能動型測距によって測距範囲を拡大できるとい
う利点がある。

また、限界位置７以遠でも投光ビーム15aが到達可能
な限り能動型の測距ができ、受動型の原理的欠点である
低コントラストおよび低輝度の被写体に対しての測距が
可能になるという利点もある。

また、第２あるいは第３の実施例によれば、上記受光
光学系の光路20と、あるいは光路20,21と投光光軸22あ
るいは23が交わるように投光光学系を構成したから、第
２の場合、能動型の測距において、単に拡張範囲Z2の分
だけ測距範囲が拡張されるという利点に加えて、上記拡
張範囲Z2内の距離変化をセンサアレイ２の内端の画素2a
から外端の画素2bに至るフルサイズで検出するので、第
１実施例に比べて検出の分解能が高くなるという利点が
ある。

また、第３図に示す第３実施例の場合、上述の第２の
場合と同様に、センサアレイ２によって、拡張範囲Z2内
の距離変化が高い分解能で検出できる利点に加え、セン
サアレイ３によって共通範囲Z3内の距離変化も高い分解
能で検出できるという利点がある。しかも共通範囲Z3内
は、受動型の測距可能範囲Z1内であるから、上述した受
動型の原理的欠点をカバーできるという利点がある。

また、本実施例によれば、受動型の測距を行う受光光
学系およびセンサアレイ2,3を共用し、投光部15を付設
するだけの簡素な構成であるから、装置の大型化を来た
すことがなく、受動型の利点である測距範囲が広いとい
うことを活かしつつ、能動型の測距によって不能範囲Zf
内を至近位置17まで測距可能となし得るという利点があ
る。

尚、本発明は、上述の実施例に限定されることなく、
その要旨を逸脱しない範囲内で、種々の変形実施ができ
るものである。

例えば、第１図、第２図では、センサアレイ２で反射
光18,19,24,25を受光する例を示したが、勿論、センサ
アレイ３で受光するように構成してもよい。

また、センサアレイ2,3の画素は、説明を煩雑にしな
いため６個としたが、価格および測距精度（分解能）等
の兼ね合いにおいてその個数を増してもよい。

また、第６図では、基準メモリ37とシフトレジスタ38
で像の間隔を検出するように説明したが、マイクロコン
ピュータを用いて、直接、各画素のアドレス（番地）を
比較するように構成してもよい。

また、受動型の測距動作を説明するに際して、１つの
画素に１つの像（例えば36aまたは36b）が対応している
かのように述べたが、実際には、数個の画素を１つのグ
ループとして像36a,36bをとらえている場合が多く、例
えば全画素数が64個とし、このうちの連続した。10個の
画素を１つのグループとして扱う（処理する）ように構
成されている場合、仮に像36aが上記10個のうち５個の
画素上に結像しているとれば、像36aが該グループ内の
どの位置にあってもこのグループとしては像36aを検出
していることになる（このことを「グループ検出型」と
いう）。つまり、このグループ検出型は、換言すると、
第８図に示すように、実際のセンサアレイ2,3の物理的
なサイズはそれぞれ画素2a,2bおよび3a,3bで決まるが、
上記グループ検出型の動作を行うことで、見かけ上セン
サアレイ2,3のサイズが画素41a,41bおよび42a,42bのよ
うに拡大されたことになる。その結果、受光可能な角度
（範囲）が拡大され、∞光線9,10はそれぞれ拡大された
∞光線43,44となり、近い光線13,14はそれぞれ拡大され
た近い光線45,46となる。

従って、上記グループ検出型の動作を行う場合は、第
２図に示すように投光光軸22が限界線７と受光光軸11と
の交点を通過する構成に限らず、第８図に示すように、
投光光軸47が、限界位置７上の受光光軸11よりも中心線
１寄りの点を通過するように投光光学系を構成してもよ
い。この場合、第２図と比べて、拡張範囲Z2を同一に設
定した場合、基準位置８に対する投光光軸47の角度αを
大きく設定できるで、測距可能範囲Z1内にも投光ビーム
15aが投射できるという利点がある。尚、この変形例の
考え方は、第３図にも適用できる。

〔発明の効果〕

以上、詳述したように、請求項１に記載の発明によれ
ば、受動型の測距を行う受光光学系が有する１つの結像
光学系の受光光軸に投光光軸が平行になるような投光光
学系を設けて能動型の測距を可能にし、上記受動型の測
距が不能となる限界位置よりも至近側の被写体距離は上
記能動型で測距するように構成し、さらに請求項２に記
載の発明によれば、上記受光光学系の光路に投光光軸が
交わるよう投光光学系を設けて上記限界位置よりも至近
側の被写体距離は上記能動型で測定するように構成した
から、構成部材の共用化により安価にして簡略に構成す
ることができ、従って、小型でありながら、受動型の利
点を活かしつつ受動型の欠点を補い、しかも至近側の測
距範囲を拡張し得るカメラの測距装置に関することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の第１の実施例に係る全体構成を示す
平面図、第２図および第３図は、本発明の第２および第
３の実施例の全体構成をそれぞれ示す平面図、第４図〜
第６図は、いずれも受動型の測距原理を説明するための
模式図、第７図は、縦軸ILがセンサアレイに入射する像
の輝度を示し横軸Ｎが画素の配列に対応させた能動型の
測距における特性図、第８図は、第２実施例の変形例を
示す平面図である。 １……仮想中心線、2,3……センサアレイ、2a,2b,3a,3
b,41a,41b,42a,42b……画素、4,5……結像レンズ（レン
ズ）、６……無限遠位置（∞位置）、７……限界位置、
9,10……∞光線、11,12……受光光軸、Ｌ……基線長、1
3,14……近い光線、15……投光部、15a……投光ビー
ム、La……距離、16,22,23,47……投光光軸、17……至
近位置、18,19,24,25,27〜30……反射ビーム、Z1……受
動型の測距可能範囲、Z2……拡張範囲、Zf……不能範
囲、20,21……光路、26……範囲内位置、31,32〜36……
被写体、D1〜D5……被写体距離。

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に
   結像させる結像光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基
   線長だけ離れるように配設し、上記２つの受光素子に結
   像されたそれぞれの像を比較することで上記被写体まで
   の距離を測定する受動型の測距を行うカメラの測距装置
   において、多数の画素を直線状に配設した受光部を有す
   る上記２つの受光素子と、仮想の中心線に対して対称的
   に且つ上記受光部の受光面が略直角となるように配設し
   た２つの受光素子に対し無限遠からの第１の光線がそれ
   ぞれ上記受光部の一方側の端部に入射し、近距離側で測
   距が不能となる限界位置を通過してきた第２の光線が上
   記受光部の上記端部と逆の端部にそれぞれ入射し上記受
   光光軸が上記第１の光線と略一致するように配設した上
   記結像光学系としての受光光学系と、上記被写体に補助
   光を投光する投光手段と、上記補助光の投光光軸が上記
   ２つの受光軸の間に形成される平面内にありしかも該受
   光光軸のいずれか一方に近く且つ略平行となるような投
   光光学系とを具備し、上記補助光が上記被写体で反射し
   た反射光を上記受光素子の少なくともいずれか一方で受
   ける能動型の測距をも可能とし、上記限界位置よりも至
   近側に位置する被写体は上記能動型で測距するように構
   成したことを特徴とするカメラの測距装置。
2. 【請求項２】被写体の像をそれぞれ２つの受光素子上に
   結像させる結像光学系をそれぞれの受光光軸が所定の基
   線長だけ離れるように配設し、上記２つ受光素子に結像
   されたそれぞれの像を比較することで上記被写体までの
   距離を測定する受動型の測距を行うカメラの測距装置に
   おいて、多数の画素を直線状に配設した受光部を有する
   上記２つの受光素子と、仮想の中心線に対して対称的に
   且つ上記受光部の受光面が略直角となるように配設した
   ２つの受光素子に対し無限遠からの第１の光線がそれぞ
   れ上記受光部の一方側の端部に入射し、近距離側で測距
   が不能となる限界位置を通過してきた第２の光線が上記
   受光部の上記端部と逆の端部にそれぞれ入射し上記受光
   光軸が上記第１の光線と略一致するように配設した上記
   結像光学系としての受光光学系と、上記被写体に補助光
   を投光する投光手段と、上記補助光の投光光軸が上記２
   つの受光光軸を含む平面内にあり且つ上記第１の光線と
   上記第２の光線との間にそれぞれ形成される２つの光路
   のうち少なくともいずれか一方の光路に上記限界位置に
   交わるような投光光学系とを具備し、上記補助光が上記
   被写体で反射した反射光を上記受光素子の少なくともい
   ずれか一方で受ける能動型の測距をも可能とし、上記限
   界位置よりも至近側に位置する被写体は上記能動型で測
   距するように構成したことを特徴とするカメラの測距装
   置。