JPH0798205A - 距離計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 三角測距方式を用いた距離計測装置に関し、
装置上における基線長Ｂを大きく設定することにより精
度の高い距離値を計測することができる距離計測装置を
提供することを目的とする。 【構成】 照射される光量を電荷量に変換する第１光セ
ンサ（３Ｂ）と、仮想中心軸に対して第１光センサと対
称な位置に配置され、照射される光量を電荷量に変換す
る第２光センサ（３Ｒ）と、第１光センサ上に測距対象
物を結像させる第１レンズ（２Ｂ）と、第２光センサ上
に測距対象物を結像させる第２レンズ（２Ｒ）と、測距
対象物からの２経路の入射光の光束を中心軸に近付く方
向に光路変更し、かつ第１レンズ及び第２レンズを通過
させるように光路変更を行う光路変更手段と、第１光セ
ンサにより生成された電荷量と第２光センサにより生成
された電荷量との間の相関演算を行い、相関値に基づい
て三角測距方式により測距対象物までの距離を演算する
手段とを有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、距離計測装置に関し、
特に三角測距方式を用いた距離計測装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図４（Ａ）は、位相差検出型測距装置の
外光三角方式光学系を説明するための概略図である。測
距対象物１３３から発せられる光ビーム１３４Ｂ，１３
４Ｒは、２つのレンズ１３１Ｂ，１３１Ｒを通して、２
組の光センサ１３２Ｂ，１３２Ｒ上に写し出される。

【０００３】基準レンズ１３１Ｂを通る光ビーム１３４
Ｂは、基準光センサ１３２Ｂ上に結像され、測距対象物
１３３の像が写し出される。参照レンズ１３１Ｒを通る
光ビーム１３４Ｒは、参照光センサ１３２Ｒ上に結像さ
れ、測距対象物１３３の像が写し出される。測距対象物
１３３の像は、基準光センサ１３２Ｂ上と参照光センサ
１３２Ｒ上にそれぞれ写し出される。

【０００４】測距対象物がレンズ１３１から無限遠に位
置すれば、基準光センサ１３２Ｂ上に結像される像と参
照光センサ上に結像される像との間隔は、基線長Ｂとな
る。図に示すように測距対象物１３３がレンズ１３１か
ら距離Ｌだけ離れている場合には、基準光センサ１３２
Ｂ上に結像される像と参照光センサ１３２Ｒ上に結像さ
れる像の間隔は、Ｂ＋ｘの距離となる。つまり、基線長
Ｂに加え位相差ｘの長さだけ離れて、光センサ１３２上
に結像される。

【０００５】レンズ・センサ間距離ｆは、レンズ１３１
から測距対象物の光像が光センサ１３２上に写し出され
る面までの長さである。測距距離Ｌは、測距対象物１３
３からレンズ１３１までの距離であり、この距離が測距
装置から測距対象物までの距離として測定される。

【０００６】図に示すように、測距対象物１３３が基準
レンズ１３１Ｂの光軸上にあるとする。この時参照レン
ズ１３１Ｒの光軸、測距対象物１３３から参照レンズ１
３１Ｒの中心を通る光線、測距対象物１３３を含む物平
面、光センサ１３２上の像平面が作る２つの三角形は相
似となり、

【０００７】

【数１】Ｌ／Ｂ＝ｆ／ｘ の関係が成り立つ。

【０００８】すなわち、図４（Ｂ）に示すように

【０００９】

【数２】 Ｌ＝Ｂ・ｆ／ｘ ‥‥‥（２） が成立する。ｘをセンサピッチｐの数ｎで表すと

【００１０】

【数３】 Ｌ＝Ｂ・ｆ／（ｎ・ｐ） ‥‥‥（３） となる。センサピッチｐは、光センサを構成する複数の
受光素子の間隔であり、例えば２０［μｍ］程度の値を
とる。この時は、分母がセンサピッチｐの整数倍の精度
を表す。

【００１１】センサピッチｐをさらに補間法を用いてｋ
分割して、その小区分でｘを表したときｉ個に相当する
とすれば、ｘ＝ｉ（ｐ／ｋ）となり、

【００１２】

【数４】 Ｌ＝Ｂ・ｆ／（ｉ／ｋ）ｐ ‥‥‥（４） となる。つまり、補間法により分母がｐ／ｋの整数倍の
精度を表すことができ、数式（３）よりも高精度の測距
距離Ｌが得られる。

【００１３】次に、基準光センサ１３２Ｂ上の像と参照
光センサ１３２Ｒ上の像との位相差ｘを求めるために行
う相関演算について説明する。図５は、相関演算による
位相差検出について説明するための概念図である。

【００１４】図５（Ａ）は、光センサ上に結像される像
を表す。光センサ１３２Ｂ，１３２Ｒは、フォトダイオ
ードを１次元に複数個配置したラインセンサである。光
センサ１３２を構成するフォトダイオードの数は、光セ
ンサ１３２上に結像される画像の画素数に相当する。参
照光センサ１３２Ｒの画素数は、基準光センサ１３２Ｂ
の画素数に比べて同じかそれよりも多い。

【００１５】基準光センサ１３２Ｂには、基準レンズ１
３１Ｂを介して測距対象物の画像が結像されている。ま
た、基準光センサ１３２Ｂと基線長水平方向に離された
参照光センサ１３２Ｒには、参照レンズ１３１Ｒを介し
て測距対象物の画像が結像されている。

【００１６】測距対象物が無限遠位置にあるときは、基
準光センサ１３２Ｂと参照光センサ１３２Ｒの対応する
フォトダイオードの受光素子には同一の画像が結像され
る。測距対象物が無限遠位置になければ、光センサ１３
２Ｂ，１３２Ｒ上の画像は水平方向に変位する。すなわ
ち、測距対象物が近付けば画像間の距離は広がり、測距
対象物が遠ざかれば画像間の距離は近付く。この画像間
の距離の変動を検出するために、参照光センサ１３２Ｒ
は基準光センサ１３２Ｂよりも画素数が多く設定されて
いる場合が多い。

【００１７】基準光センサ１３２Ｂ上の画像と参照光セ
ンサ１３２Ｒ上の画像間の距離の変動を検出するため
に、相関演算による位相差検出法が用いられている。相
関演算による位相差検出は、次式（５）に基づく演算に
より光センサ１３２Ｂ，１３２Ｒ上の一対の結像の相関
値Ｈ（ｎ）を求め、相関値が最小となるまでのこれらの
結像の相対移動値（位相差）を求める。

【００１８】

【数５】 Ｈ（ｎ）＝Σ（ｊ＝１〜ｌ）｜Ｂ（ｊ）−Ｒ（ｊ＋ｎ）｜ ‥‥（５） ただし、Σ（ｊ＝１〜ｌ）はｊが１からｌまでの関数の
和を表す。ｊは基準光センサ１３２Ｂ内の画素を指定す
る。また、ｎはたとえば−６から６までの整数で、参照
光センサ内の上記の相対移動量を示す。

【００１９】Ｂ（ｊ）は基準光センサ１３２Ｂの各画素
より時系列的に出力される電気信号であり、Ｒ（ｊ＋
ｎ）は参照光センサ１３２Ｒの画素より時系列的に出力
される電気信号である。

【００２０】図５（Ｂ）は、画素シフト量と相関値の関
係を示す。画素シフト量ｎを−６から６まで順次変化さ
せる毎に上記数式（５）の演算を行えば、図に示すよう
な相関値Ｈ（−６）、Ｈ（−５）、・・・、Ｈ（６）が
得られる。例えば、相関値Ｈ（０）が最小値となる場合
に測距対象物までの距離が所定の値になるようにあらか
じめ設定しておく。これよりずれた位置での相関値が最
小値となれば、そのずれ量によって測距対象物の所定位
置からのずれ、すなわち測距対象物までの距離を検出す
ることができる。

【００２１】ところで、基準光センサ１３２Ｂ、参照光
センサ１３２Ｒの受光素子は、例えば２０［μｍ］のピ
ッチで配置されている。相関値は画像面において２０
［μｍ］を単位とした距離毎に演算される。測距対象物
までの距離が、受光素子のピッチの中間位置に相当する
ときは、図の破線で示すように相関値の極値の右側の相
関値と左側の相関値の値が異なるようになる。このよう
な場合、補間演算を行うことによってピッチ間隔以上の
解像度を得ることができる。

【００２２】図５（Ｃ）は、３点補間の方法を説明する
ための概略図である。極小の相関値の得られた位置をｘ
２とし、その両側のサンプル位置をｘ１、ｘ３とする。
実際に演算で得られた相関値を黒丸で示す。図で示すよ
うに、ｘ３における相関値ｙ３がｘ１における相関値ｙ
１より低い場合、真の極小値はｘ２からｘ３に幾分進ん
だところに存在すると考えられる。

【００２３】もし、極小値が正確にｘ２の位置にある場
合、相関値曲線は破線ｇ１で示すようにｘ２で折れ曲が
り、左右対称に立ち上がるとすればｘ３における相関値
ｙ３ａはｘ１における相関値ｙ１と等しくなる。

【００２４】一方、ｘ２とｘ３の中点が真の最小相関値
の位置であるとすれば、相関値曲線は破線ｇ２で示すよ
うにｘ２とｘ３の中点で折れ曲がり、ｘ２における相関
値ｙ２とｘ３における相関値ｙ３ｂは等しくなる。図に
示すように、これら２つの場合における相関値の差（ｙ
３ａ−ｙ３ｂ）はｘ１とｘ２の間の相関値の差（ｙ１−
ｙ２）に等しい。すなわち、半ピッチ進むことによって
１単位の相関値が変化する。そこで、実際に演算で得ら
れた相関値が上に述べた２つの場合のどの中間位置にあ
るかを調べることにより、真の相関値最小の位置を得る
ことができる。ｘ２からのずれ量ｄは、隣接するサンプ
ル点間の距離を１としたとき、

【００２５】

【数６】ｄ＝（ｙ１−ｙ３）／２（ｙ１−ｙ２） で与えられる。

【００２６】以上により、最小の相関値を表す位置の位
相差ｘを検出することができ、数式（２）より、測距距
離Ｌは、基線長Ｂとレンズ・センサ間距離ｆとの積Ｂｆ
を位相差ｘで除算した商により表される。

【００２７】数式（２）より、位相差ｘを表す式に書き
換えると、

【００２８】

【数７】ｘ＝Ｂｆ／Ｌ となる。Ｌの変化によるｘの変化を見るため、両辺の微
分をとると、

【００２９】

【数８】 ∂ｘ＝（−Ｂｆ／Ｌ² ）∂Ｌ ‥‥‥（８） となる。測距精度は測距距離Ｌの変化に対するセンサ上
の変位∂ｘ／∂Ｌで表せるので、測距距離Ｌの自乗に反
比例し、Ｂｆ積に比例する。

【００３０】このように、Ｂｆの値を大きくするほど距
離の分解能は高くなる。距離計測において、高い分解能
を必要とする場合には、Ｂｆの値を大きく設定すればよ
い。また、測距距離ＬとＢｆは比例関係にあるので、も
っと遠距離にある像を計測する必要がある場合にも、Ｂ
ｆの値を大きく設定すればよい。

【００３１】図４（Ａ）に示す構成の場合、基線長Ｂ又
はレンズ・センサ間距離ｆの値を大きく設計配置する
と、レンズ１３１および光センサ１３２を含む測距モジ
ュール全体が大きくなってしまう。

【００３２】

【発明が解決しようとする課題】従来の距離計測装置に
おいて、測距精度を向上させるために基線長Ｂを大きく
設置すると、レンズ間の距離が離れる。また、レンズ・
センサ間距離ｆを大きく設置すると、レンズと光センサ
間の距離が離れる。このように、基線長Ｂ又はレンズ・
センサ間距離ｆを大きくすると、測距モジュールが大型
化してしまい、２つの光センサを１チップにしにくい。

【００３３】本発明の目的は、装置上における基線長Ｂ
を大きく設定することにより精度の高い距離値を計測す
ることができる距離計測装置を提供することである。

【００３４】

【課題を解決するための手段】本発明の距離計測装置
は、照射される光量を電荷量に変換する第１光センサ
と、仮想中心軸に対して第１光センサと対称な位置に配
置され、照射される光量を電荷量に変換する第２光セン
サと、第１光センサ上に測距対象物を結像させる第１レ
ンズと、第２光センサ上に測距対象物を結像させる第２
レンズと、測距対象物からの２経路の入射光の光束を中
心軸に近付く方向に光路変更し、かつ第１レンズ及び第
２レンズを通過させるように光路変更を行う光路変更手
段と、第１光センサにより生成された電荷量と第２光セ
ンサにより生成された電荷量との間の相関演算を行い、
相関値に基づいて三角測距方式により測距対象物までの
距離を演算する手段とを有する。

【００３５】

【作用】測距対象物からの光線を光学系手段を用いて光
路変更することにより、レンズ間の距離を大きくするこ
となく基線長Ｂを大きく設置することができる。したが
って、小型の測距モジュールにて測距精度を向上させる
ことができる。

【００３６】

【実施例】数式（８）に示すように、測距精度は測距距
離Ｌの自乗に反比例し、Ｂｆ積に比例する。したがっ
て、一定距離範囲を対象とした計測における測距精度
は、基線長Ｂを拡大することにより向上させることがで
きる。

【００３７】自動車に測距装置を搭載し、前方の車や障
害物までの距離を測定しようとする場合、前方５０〜１
００［ｍ］程度でかなりの分解能を持つことが望まれ
る。この場合、Ｂｆ積は少なくとも２００程度、好まし
くは約４００以上あることが望まれる。ところで、カメ
ラ用に開発された位相差型相関式測距装置のＢｆ積はた
かだか１００であった。

【００３８】図１は、ミラーを用いることにより基線長
Ｂの拡大を行った測距装置の構成例を示す。同一測距対
象物から、光線１Ｂと光線１Ｒが測距装置に入射する。
光線１Ｂは、ミラー５Ｂで反射し、装置の内側に光路変
更される。反射した光線１Ｂは、さらにミラー６Ｂで反
射し、基準レンズ２Ｂの方向に光路変更される。ミラー
６Ｂで反射した光線１Ｂは、基準レンズ２Ｂを通過し、
基準光センサ３Ｂ上に照射される。

【００３９】同様に、光線１Ｒは、ミラー５Ｒで反射
し、装置の内側に光路変更される。反射した光線１Ｒ
は、さらにミラー６Ｒで反射し、参照レンズ２Ｒの方向
に光路変更される。ミラー６Ｒで反射した光線１Ｒは、
参照レンズ２Ｒを通過し、参照光センサ３Ｒ上に照射さ
れる。

【００４０】基準光センサ３Ｂには、基準レンズ２Ｂを
介して測距対象物の画像が結像され、参照光センサ３Ｒ
には、参照レンズ２Ｒを介して測距対象物の画像が結像
される。基準光センサ３Ｂ上に結像される画像と参照光
センサ３Ｒ上に結像される画像との間で相関演算を行
い、最小の相関値となる位相差を検出する。検出された
位相差から測距距離を演算し、対象物までの測距値を出
力する。

【００４１】測距対象物からの光線１Ｂ，１Ｒは、それ
ぞれミラー５Ｂ，５Ｒにより内側に光路変更された上
で、ミラー６Ｂ，６Ｒによりさらに光路変更され、光セ
ンサ３Ｂ，３Ｒ上に照射される。ミラー５とミラー６
は、互いに反射面が平行になるよう構成される。ミラー
５Ｂに入射する光線１Ｂとミラー５Ｒに入射する光線１
Ｒの間隔が基線長Ｂである。

【００４２】従来の測距装置では、無限遠の対象物から
基準光センサ３Ｂ上に照射される光線と参照光センサ３
Ｒ上に照射される光線の光センサ３上での間隔距離Ｂ’
が基線長となる。つまり、図において、ミラー５及びミ
ラー６を取り除いたときに、測距対象物からの光線はミ
ラーを介することなく、レンズ２を通過して光センサ３
上に照射される。この時の基線長は、距離Ｂ’となる。

【００４３】ミラー５Ｂ，５Ｒに入射する光線１Ｂ，１
Ｒの間隔距離である基線長Ｂは、光センサ３上の光線の
間隔距離Ｂ’に比べ大きく広げることができる。測距モ
ジュール４は、レンズ２Ｂ，２Ｒと光センサ３Ｂ，３Ｒ
を有する。測距モジュール４の大きさは小型の従来の大
きさに留めた上で、ミラー５，６の光学系を用いること
により、基線長Ｂの拡大を行うことができる。

【００４４】測距精度は、測距距離Ｌの自乗に反比例し
Ｂｆ積に比例するので、遠距離用測距装置においてはＢ
ｆ積を大きくすることにより、一定の測距精度を保つこ
とができる。そこで、数式（３）において、測距装置を
Ｂｆ＝４００に設定し、所定のセンサピッチｐを有する
光センサを用いた場合の測距距離Ｌの計測結果を示す。

【００４５】センサシフト数ｎを０から１４まで変化さ
せた時の計測可能な被測定物までの距離は、１３３
［ｍ］から１．１２［ｍ］までの範囲である。測距距離
が５０［ｍ］の位置にある被測定物は、数式（４）にお
けるｉ／ｋ＝２／８とｉ／ｋ＝３／８のどちらかで検出
される。つまり、測距距離は、Ｌ＝６６．７またはＬ＝
４４．４［ｍ］として得られる。この測距距離の誤差
は、最大±２２．３／２［ｍ］と考えられる。

【００４６】これに対し、Ｂｆ＝１１００の時には、測
距距離が５０［ｍ］の位置にある被測定物は、ｉ／ｋ＝
７／８とｉ／ｋ＝８／８のどちらかで検出される。この
時の測距距離は、Ｌ＝５２．３８１またはＬ＝４５．８
３３［ｍ］として得られる。この測距距離の誤差は、最
大±６．５４８／２［ｍ］と考えられる。

【００４７】このように、Ｂｆの値を大きくするほど距
離の分解能は高くなる。距離計測において、高い分解能
を必要とする場合には、Ｂｆの値を大きく設定すればよ
い。カメラ用においては、対象となる被写体までの距離
は近距離ほど正確に測定する必要があるために、Ｂｆの
値は１００位である。車載用の場合は、比較的離れた物
体までの距離を精度高く測定する必要がある。このた
め、Ｂｆ＝１００では目的に合わず、Ｂｆ＝２００以上
が必要である。好ましくは、Ｂｆは約４００以上とす
る。

【００４８】例えば、従来のカメラ用の測距モジュール
がＢｆ＝１００であるとすると、この測距モジュールを
用いてＢｆ＝４００とするには、ミラー５とミラー６を
用いてＢ＝４×Ｂ’とした測距装置を構成すればよい。
また、Ｂｆ＝１１００として、さらに遠距離用の測距装
置を構成するには、Ｂ＝１１×Ｂ’となるように、ミラ
ー５とミラー６を配置し、光路変更による基線長の拡大
を行えばよい。

【００４９】図２は、プリズムミラーを用いることによ
り基線長Ｂの拡大を行った測距装置の構成例を示す。同
一測距対象物から、光線１１Ｂと光線１１Ｒが測距装置
に入射する。光線１１Ｂは、プリズムミラー１７Ｂの鏡
面１５Ｂで反射し、装置の内側に光路変更される。反射
した光線１１Ｂは、さらに鏡面１６Ｂで反射し、基準レ
ンズ２Ｂの方向に光路変更される。鏡面１６Ｂで反射し
た光線１１Ｂは、基準レンズ２Ｂを通過し、基準光セン
サ３Ｂ上に照射される。

【００５０】同様に、光線１１Ｒは、プリズムミラー１
７Ｒの鏡面１５Ｒで反射し、装置の内側に光路変更され
る。反射した光線１１Ｒは、さらに鏡面１６Ｒで反射
し、参照レンズ２Ｒの方向に光路変更される。鏡面１６
Ｒで反射した光線１１Ｒは、参照レンズ２Ｒを通過し、
参照光センサ３Ｒ上に照射される。

【００５１】測距対象物からの光線１１Ｂ，１１Ｒは、
それぞれプリズムミラー１７Ｂ，１７Ｒの鏡面１５Ｂ，
１５Ｒにより内側に光路変更された上で、鏡面１６Ｂ，
１６Ｒによりさらに光路変更され、光センサ３Ｂ，３Ｒ
上に照射される。プリズムミラー１７Ｂに入射する光線
１１Ｂとプリズムミラー１７Ｒに入射する光線１１Ｒの
間隔が基線長Ｂである。

【００５２】基線長Ｂは、光センサ３上の光線の間隔距
離Ｂ’に比べ大きく広げることができる。小型の測距モ
ジュール４のままで、プリズムミラー１７の鏡面１５，
１６の光学系を用いることにより、基線長Ｂの拡大を行
うことができる。

【００５３】図３は、プリズムを用いることにより基線
長Ｂの拡大を行った測距装置の構成例を示す。同一測距
対象物から、光線２１Ｂと光線２１Ｒが測距装置に入射
する。光線２１Ｂは、プリズム２７の入射面２５Ｂに入
射し、屈折により装置の内側に光路変更される。屈折し
た光線２１Ｂは、射出面２６Ｂから射出し、基準レンズ
２Ｂの方向に屈折し、光路変更される。射出面２６Ｂか
ら射出した光線２１Ｂは、基準レンズ２Ｂを通過し、基
準光センサ３Ｂ上に照射される。

【００５４】同様に、光線２１Ｒは、プリズム２７の入
射面２５Ｒに入射し、屈折により装置の内側に光路変更
される。屈折した光線２１Ｒは、射出面２６Ｒから射出
し、参照レンズ２Ｒの方向に屈折し、光路変更される。
射出面２６Ｒから射出した光線２１Ｒは、参照レンズ２
Ｒを通過し、参照光センサ３Ｒ上に照射される。

【００５５】測距対象物からの光線２１Ｂ，２１Ｒは、
それぞれプリズム２７の入射面２５Ｂ，２５Ｒにより内
側に光路変更された上で、射出面２６Ｂ，２６Ｒにより
さらに光路変更され、光センサ３Ｂ，３Ｒ上に照射され
る。プリズム２７の入射面２５Ｂに入射する光線２１Ｂ
と入射面２５Ｒに入射する光線２１Ｒの間隔が基線長Ｂ
である。ここで、入射面２５と射出面２６は平行であ
る。

【００５６】基線長Ｂは、光センサ３上の光線の間隔距
離Ｂ’に比べ大きく広げることができる。小型の測距モ
ジュール４のままで、プリズム２７の光学系を用いるこ
とにより、基線長Ｂの拡大を行うことができる。

【００５７】以上のように、光学系システムを配置する
ことにより、測距モジュールを大型化することなく、基
線長Ｂを拡大し、測距精度を向上させることができる。
なお、車載用の測距装置のように遠距離測距を行う必要
がある場合において、ミラーを用いて基線長を拡大する
実施例を例に述べたが、これはプリズムミラーを用いた
測距装置でもプリズムを用いた測距装置でも同様にして
所望の精度にて遠距離測距を行うことができる。

【００５８】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組合わせ等が可能なことは当業者に自
明であろう。

【００５９】

【発明の効果】レンズ間の距離を大きくすることなく基
線長Ｂを大きく設置することができるので、２つの光セ
ンサを１チップに収めた高精度の距離計測装置を実現す
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】ミラーを用いることにより基線長Ｂの拡大を行
った測距装置の構成例を示す概略図である。

【図２】プリズムミラーを用いることにより基線長Ｂの
拡大を行った測距装置の構成例を示す概略図である。

【図３】プリズムを用いることにより基線長Ｂの拡大を
行った測距装置の構成例を示す概略図である。

【図４】測距距離の計測方法を説明するための概略図で
ある。図４（Ａ）は、位相差検出型測距装置の外光三角
方式光学系の概略図であり、図４（Ｂ）は、測距距離を
算出するための演算式である。

【図５】相関演算による位相差検出を説明するための図
である。図５（Ａ）は基準部と参照部に得られる画像信
号を示すグラフ、図５（Ｂ）は得られる相関値曲線を示
すグラフ、図５（Ｃ）は３点補間の方法を説明するため
の概略図である。

【符号の説明】

１，１１，２１ 入射光 ２ レンズ ３ 光センサ ４ 測距モジュール ５， ６ ミラー １５，１６ 鏡面 １７ プリズムミラー ２７ プリズム

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 照射される光量を電荷量に変換する第１
   光センサ（３Ｂ）と、 仮想中心軸に対して前記第１光センサと対称な位置に配
   置され、照射される光量を電荷量に変換する第２光セン
   サ（３Ｒ）と、 前記第１光センサ上に測距対象物を結像させる第１レン
   ズ（２Ｂ）と、 前記第２光センサ上に測距対象物を結像させる第２レン
   ズ（２Ｒ）と、 測距対象物からの２経路の入射光の光束を前記中心軸に
   近付く方向に光路変更し、かつ前記第１レンズ及び前記
   第２レンズを通過させるように光路変更を行う光路変更
   手段と、 前記第１光センサにより生成された電荷量と前記第２光
   センサにより生成された電荷量との間の相関演算を行
   い、相関値に基づいて三角測距方式により測距対象物ま
   での距離を演算する手段とを有する距離計測装置。
2. 【請求項２】 前記光路変更手段が各光センサに対して
   ２つのミラー（５，６）を含む請求項１記載の距離計測
   装置。
3. 【請求項３】 前記光路変更手段が各光センサに対して
   平行なミラー面を有するプリズムミラー（１７）を含む
   請求項１記載の距離計測装置。
4. 【請求項４】 前記光路変更手段が光軸に対して傾いた
   面法線を有する平行な入射面、射出面を２組有するプリ
   ズム（２７）を含む請求項１記載の距離計測装置。