JP4088145B2 - 透過型干渉計及び膜厚測定システム - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、反射光学系の位置調整が容易な透過型干渉計、並びに薄膜の厚みムラ測定に好適な膜厚測定システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
干渉計を用いた非接触型の膜厚測定装置として、マイケルソン干渉計を利用して層別厚み測定を行うものが知られている(特許文献1参照)。この膜厚測定装置では、シート状のベース素材と薄膜素材との間の屈折率差が大きい被検体を測定対象としており、薄膜層及びベース層の各境界面における透過光及び反射光を参照光と干渉させ、各層の厚みに応じて生じる光路差から得られる干渉縞の明暗強度を解析し、各層の厚みを測定している。
【0003】
【特許文献1】
特開昭55−29708号公報
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上述の膜厚測定装置は、ベース層と薄膜層との屈折率差がない被検体に対しては干渉縞の検出感度が低くなり、汎用的な膜厚測定には適していない。また、被検体を透過した測定光を平面ミラーによって反射させているため、この平面ミラーの法線が干渉光軸に対して傾くと干渉縞のピッチが変化して測定精度が下がる。これを防止するために、平面ミラーと干渉光軸との位置調整を精密に行うことは手間である。さらに平面ミラーの微振や熱変形による光軸ズレを防止するための設備には多大なコストがかかる。
【0005】
また、低コヒーレント光を利用するマイケルソン干渉計では、被検体の層境界面を透過又は反射した測定光から干渉縞を形成するために、参照ミラーを微動させて参照光と測定光との光路差を得ているため時間応答性が悪く、長尺のシート体を高速搬送しながらの厚み測定に使用することができない。
【0006】
本発明は、上記問題点を考慮してなされたもので、測定光の反射光学系と干渉光学系の位置調整が容易な干渉計、並びに二層間に屈折率差のない被検体に対してもベースシート上に形成した薄膜の厚みを求めることができ、高速搬送される被検体の厚み測定も可能な膜厚測定システムを提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、可干渉性の光から参照光と測定光を得るためのビームスプリッタと、測定対象物を透過した前記測定光をその入射方向と平行な方向に反射する反射手段とを備え、前記測定対象物を再度透過した前記測定光と前記参照光とを重ね合わせることにより干渉縞を形成する透過型干渉計において、前記反射手段を、コーナーキューブリフレクタと、前記コーナーキューブリフレクタ及び前記測定対象物の間に設けられ、前記コーナーキューブリフレクタにより反射されて倒立した前記測定光を正立させて、前記測定対象物を2回透過する前記測定光の像の向きを揃える光学系とで構成したことを特徴とするものである。
【0009】
【発明の実施の形態】
図1において、膜厚測定システム1は、写真フイルムの製造工程内に設けられる。フイルムベース2は図中左から右方へ搬送されており、感光材料3の塗布工程を介して写真フイルム4が製造される。感光材料3の塗布工程前後には、透過型干渉計5,6がそれぞれ設置されている。以下では、フイルムベース2と写真フイルム3とを被検体と総称する場合がある。
【0010】
感光材料3の塗布前工程に設置された透過型干渉計5は、レーザー光源7a、発散レンズ8a、光路変更用ハーフミラー9a、コリメータレンズ10a、参照用ハーフミラー11a、正立ポロプリズム12a、コーナーキューブミラー13a、CCDカメラ14aとから構成されている。なお、感光材料3の塗布後工程に設置された透過型干渉計6も同様の構成である。なお、参照用ハーフミラー11aや正立ポロプリズム12a、コーナーキューブミラー13aの反射面は、被検体の表面に比べて極めて高い精度の平坦面である。
【0011】
レーザー光源7aは、写真フイルム3が感光しにくい波長のレーザー光を発する。射出されたレーザー光は、発散レンズ8aとコリメータレンズ10aとによって光束径の大きい平行光となる。コリメータレンズ10aを透過したレーザー光は、フイルムベース2に向かって進行する測定光と、参照用ハーフミラー11aで反射される参照光とに分割される。
【0012】
図2において、測定光はフイルムベース2を透過して、コーナーキューブミラー13aに入射する。コーナーキューブミラー13aは、互いに直交する3つの反射面に金属膜を施した180度偏角プリズムであり、周知のように、3つの反射面を反射した光が入射方向と平行な方向に射出される再帰性反射光学素子である。コーナーキューブミラー13aを反射した測定光は、4つの直角プリズムを組み合わせて構成された正立ポロプリズム12aに入射する。
【0013】
コーナーキューブミラー13aは、図3(a)に示すように、頂点A1を中心に反射面15a,15b,15cを有している。なお、図中二点鎖線で示しているのは、再帰性反射の有効径内に現れるキュービックコーナーの稜線の反射像である。ここで、反射面15aに測定光が「F」の形をした光束として入射したとき、この光束は反射面15b,15cを経て、頂点A1に対して点対称な位置から180度偏向した倒立光束として出射する。
【0014】
「F」の倒立光束は、図3(b)に示すように、正立ポロプリズム12aを構成する第1直角プリズム16a内に入射する。第1直角プリズム16aに入射した倒立光束は、第2,第3直角プリズム16b,16cを反射して、第4直角プリズム16dから出射する。「F」の倒立光束は、正立ポロプリズム12aを透過・反射する過程で180度偏向し、コーナーキューブミラー13aへの入射時と同じ偏角の光束として正立する。
【0015】
図3(c)には、コーナーキューブミラー13aと正立ポロプリズム12aとによる測定光の倒立・正立変換の様子を示す。コーナーキューブミラー13aへの入射光路と、正立ポロプリズム12aからの出射光路とが一致しておらず、中に端末矢印で示す距離だけ隔たった光路を進行し、測定光は被検体の異なる2つの位置を透過することになる。
【0016】
正立ポロプリズム12aを出射した測定光は、フイルムベース2を再び透過して参照用ハーフミラー11aに到達する。参照用ハーフミラー11aに達した測定光は、フイルムベース2を透過することで参照光に比べて位相に遅れが生じる。この位相遅れの大きさは、フイルムベース2を測定光が透過する2つの位置の厚みを合計した大きさに応じて決まる。
【0017】
参照用ハーフミラー11a上では、参照光と測定光とがその位相差によって干渉し、測定光が一度目に透過した箇所の厚みと、二度目に透過した箇所の厚みとを足し合わせた厚みの情報を含んだ干渉縞が形成される。測定光と参照光との干渉光は、コリメータレンズ10aを透過した後に光路変更用ハーフミラー9aで進路が折り曲げられ、CCDカメラ14aに到達する。CCDカメラ14aでは、参照用ハーフミラー11a上に形成された干渉縞が撮影される。
【0018】
透過型干渉計に正立ポロプリズム12aとコーナーキューブミラー13aとを併用した反射系を用いる利点について、コーナーキューブミラー13aのみの反射系を用いた場合と比較しながら図4,図5を用いて説明する。
【0019】
図4に示すコーナーキューブミラー13aのみを備えた反射系において、図4(a)中の点p1,p2で示す間を直線状の測定光が入射することを想定する。点p1,p2に入射した光は、図4(b)に示す厚み分布を有する被検体を一度透過する。点p1,点p2を通る光路で入射した測定光は、頂点A1に点対称な点p4,点p3を通る光路からそれぞれ出射する。コーナーキューブミラー13aを出射した測定光は、点p3,p4を通る光路で被検体を再び透過し、2つの透過位置における被検体の厚みの合計分に応じた位相遅れが生じる。
【0020】
図4(c)に示すように、被検体を二回透過した測定光は、参照光に対し、p1−p2間の被検体の厚みによる位相差分布(φ1’)と、p3−p4間の厚みによる位相差分布(φ2)との和(φ1’+φ2)で表わされる位相差が生じる。このとき、コーナーキューブミラー13aによって測定光が180度偏向しているため、p1−p2間における位相差分布は、実際のp1−p2間の位相差分布(φ1)(図5参照)と鏡像関係にある。よって、コーナーキューブミラー13aのみを用いた反射系では、その頂点A1と点対称の位置にある測定光の位相差が重ね合わされるため、図示するような被検体の厚み分布によっては、大きな誤差を含む結果となる。
【0021】
一方、図5に示す正立ポロプリズム12aとコーナーキューブミラー13aとを併用した反射系においては、被検体を透過する測定光の向きが揃えられ、p1−p2間の位相差分布とp5−p6間の位相差分布とが正しく平均化され、被検体の厚み分布をより正確に反映した干渉縞を得ることができる。なお、図5においては、説明の便宜上、p5−p6間の厚み分布とp3−p4間の厚み分布とを同じにしている。
【0022】
図6において、干渉縞解析装置20には、CCDカメラ14a,14bから干渉縞の静止画像信号がそれぞれ出力される。干渉縞解析装置20は、干渉縞画像蓄積部21a,21b、干渉縞画像接続部22a,22b、厚みパターン変換部23a,23b、厚みムラ分布解析部24の各機能を有するコンピュータで構成される。
【0023】
干渉縞画像蓄積部21a,21bは、CCDカメラ14a,14bで連続撮影されたそれぞれの干渉縞画像を取り込んで、複数の静止画像データとして記憶する。このとき、被検体の搬送に伴って、撮影もれが生じないカメラ視野と画像ブレが生じない撮影速度とを求めておく必要がある。
【0024】
被検体の搬送に伴う撮影画像の取りこぼしが発生しないように、被検体の搬送方向に対して最低必要なカメラ視野D(mm)を算出する。CCDカメラ14a,14bの撮像速度をf(フレーム/秒)、被検体の搬送速度をV(mm/秒)、後述する画像接続のために必要となる撮影画像の搬送方向のオーバーラップ率をK(%)、搬送方向に並べるカメラ台数をn(台)とすると、
D=V/(1−K/100)/f/n
と表わされる。例えば、毎秒30フレームでフルフレーム画像の連続取り込みが可能なプログレッシブスキャンカメラを1台使い、被検体を毎秒3000mmで搬送し、画像オーバーラップ率を20%確保するときのカメラ視野は、上式に各値を代入するとD=125(mm)となる。撮像速度の異なるカメラを使用する時や、被検体の搬送速度が異なる時は上式よりカメラ視野を算出し、場合によってはカメラ台数を増やして1台あたりのカメラ視野が狭くされる。
【0025】
被検体の搬送に伴う画像ブレの発生をなくすためには、画像の取り込み速度を上げるか、露光時間を短くする必要がある。画像の取り込み速度は上述したfであるから、ここでは撮影1回あたりの露光時間について説明する。CCDカメラの被検体搬送方向における撮影画素数をx(画素)とし、鮮明な静止画像を得るために画像ブレを10分の1画素以下に抑えるための露光時間t(秒)は、
t=1/f/x/10
となる。例えば、撮像速度が毎秒30フレームであり、搬送方向の撮影画素数が512画素のCCDカメラを使用した場合(カメラ視野125mmの時に1画素の空間分解能は0.24mm)、t=6.5×10-6(秒)となる。この瞬間的な露光時間tを実現するためには、パルス発光が可能なするレーザー光源を用いるのがよい。また、レーザー光源の前面にシャッタとなる羽根車を配置する方法もある。また、瞬間的な露光時間でも、撮影に支障をきたすことがないように、CCD感度やレーザー光量などが感光材料3の感度とともに適宜考慮される。
【0026】
図6において、干渉縞画像接続部22a,22bは、1/f秒ごとに撮影された複数の干渉縞静止画像を干渉縞画像蓄積部21a,21bから読み出し、被検体の搬送方向に接続する。ここでは、精密な一連の干渉縞画像を得るために、2つの干渉縞画像のオーバーラップ範囲を1画素以下の分解能で一致させる画像接続処理が行われる。具体的には、周知の正規化相関サーチ法が用いられ、1つの干渉縞登録画像と、時間的に隣り合う他の干渉縞画像とが、そのオーバーラップパターンの範囲内で一致するように接続処理される。この画像接続処理においては、被検体の搬送中における蛇行やバタツキなどによる2次元的な小さな画素ズレなども補正される。
【0027】
厚みパターン変換部23a,23bでは、干渉縞画像接続部22a,22bで接続計算されたされた一連の干渉縞画像を元に、フーリエ変換縞パターン解析法(FTP法)を用いて被検体の厚み情報が割り出される。FTP法は、フリンジスキャン法(縞走査法)のように縞の周期変化を測定するために圧電素子を用いた参照面の走査機構が必要なく、1枚の干渉縞画像から厚み情報が得られるので、本実施形態のように高速搬送される被検体の厚み算出に適している。干渉縞画像からは、ノイズを含む高い空間周波数成分が除去され、位相接続や逆フーリエ変換を経て被検体の厚み分布が得られる。
【0028】
厚みムラ分布解析部24は、厚みパターン変換部23a,23bでそれぞれ得られたフイルムベース2の厚み分布と、写真フイルム4の厚み分布とを比較し、その差分から感光材料3の塗布厚み分布を割り出す。割り出された感光材料3の塗布厚み分布は、予め登録された正常な塗布厚み分布と比較され、塗布異常の認められた範囲が塗布ムラとして検出される。
【0029】
例えば、フイルムベース2が200μmの厚みで形成され、感光材料3がフイルムベース2上で20μmの厚みとなるように塗布される場合、それぞれ±10%の範囲で厚みにバラツキが生じることが統計的に確かめられている。すなわち、フイルムベース2の厚みムラは±20μm程度であり、感光材料3の厚みムラは±2μmとなる。フイルムベース2の厚みムラは、感光材料3の塗布厚みムラの約10倍となるため、写真フイルム4の厚み分布を測定するだけでは、フイルムベース2の厚み分布を求めることと大差がなく、感光材料3の厚みムラを検出することは不可能である。よって、フイルムベース2の厚み分布と写真フイルム4の厚み分布との差分をとることで、感光材料3の塗布厚み分布を測定でき、その厚みムラを有効に検出することが可能となる。
【0030】
図7において、透過型干渉計5,6は、感光材料3の塗布過程前後において、幅広で長尺の被検体の全面を測定するために、被検体の幅方向及び搬送方向にそれぞれ複数配置される。また、反射光学系の大きさに対して干渉縞の得られる参照面の有効面積が小さいことから、各干渉計の物理的干渉を避けるために各干渉計を千鳥状に少しずつずらして配置している。各干渉計は搬送方向に6列、幅方向に2列の合計12台配置され、1台の干渉計で被検体搬送方向の厚み分布測定をカバーする。
【0031】
上述した被検体搬送方向のカメラ視野Dに基づいて、被検体幅方向に必要な干渉計台数Aを求める算出式は、幅方向のカメラ視野オーバーラップ率をM(%)、被検体の幅をW(mm)、被検体の搬送に伴う蛇行許容幅をJ(mm)としたとき、
A=(W+J)/D/(1−M/100)
となる(端数は繰り上げ)。例えば、幅方向の縞画像オーバーラップ率を20%とし、カメラ視野を125mmとし、(W+J)を1200mmとすれば、A=12(台)となる。
【0032】
以上の構成の膜厚測定システム1は、幅広で長尺のフイルムベース2上に塗布された感光材料3の塗布厚みムラをその全面に渡って高精度に検出することが可能となる。また、透過型干渉計を用いているので、反射型干渉計のように搬送に伴う被検体のバタツキによる検出誤差が生じることはない。
【0033】
なお、上記実施形態は、被検体を透過する測定光の入射光路と反射光路とが異なった光路不一致型の反射光学系について述べているが、図8に示すように、正立光学系として、偏向膜を施した偏向膜付きポロプリズム30と、光束の均一性を高めるために位相板31とを設け、被検体を透過する測定光の透過点を一致させるようにしてもよい。この場合、光路不一致型の反射光学系に比べて正確な膜厚測定が可能となる。また、コーナーキューブリフレクタを用いているので、被検体を正反射した測定光による干渉縞の乱れを防止するために、被検体を例えば10度±5度の範囲で干渉計光軸から傾けるのも有効である。
【0034】
また、上記実施形態のように、被検体に感光性物質を用いる場合には、光カブリを生じない短時間露光に頼る以外にも、発光波長が0.9μm〜1.3μmの近赤外線を放出するレーザー源を用いてもよい。レーザー源としては、YAGレーザー、チタン・サファイアレーザー、エキシマレーザー、炭酸ガスレーザー、半導体レーザーなど、被検体の光学物性に応じて発光強度、波長、光源種を適宜選択することができる。
【0035】
さらに、反射光学系として、コーナーキューブリフレクタとしては、キュービックコーナーの形状に組み合わせた板状の鏡を用いてもよい。正立光学系としてはポロプリズムを用いる以外にも、4枚以上の鏡を組み合わせて、180度の偏角光学系を構成すればよい。
【0036】
そして、本発明は、写真フイルムの製造工程などの成層工程に限られず、蒸着膜やスパッタリング膜の膜厚ムラ測定や、薄膜を剥離する減層工程や加工深さ測定などに利用することもできる。
【0037】
【発明の効果】
以上のように、本発明の透過型干渉計によれば、コーナーキューブリフレクタの再帰性反射を利用することで、干渉計の光軸調整が容易になり、干渉計全体の剛性を高める必要がない。また、コーナーキューブリフレクタの反射による倒立光束を正立させているので、厚み検出誤差を小さくすることができる。さらに、被検体を透過した測定波の位相差を利用して干渉縞を形成するので、高速搬送される被検体のバタツキによる測定誤差が生じない。
【0038】
また、本発明の膜厚測定システムによれば、シート基材の厚み分布と、シート基材上に薄膜を形成した薄膜シートの厚み分布との差から薄膜の厚みを求めているので、シート基材の厚みムラと薄膜の厚みムラとを区別して検出することができる。さらに、二層間あるいは複数層間で屈折率差のない被検体の厚みムラ検出が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】膜厚測定システムの概略構成図である。
【図2】反射光学系の斜視図である。
【図3】測定光の倒立・正立変換を示す説明図である。
【図4】コーナーキューブミラーのみによる膜厚測定の原理を示す説明図である。
【図5】コーナーキューブミラーと正立光学系を併用した場合の膜厚測定の原理を示す説明図である。
【図6】干渉縞解析装置の機能構成を示すブロック図である。
【図7】被検体の幅全域の厚み分布を測定するための干渉計配置図である。
【図8】反射光学系の他の実施形態を示す斜視図である。
【符号の説明】
1 膜厚測定システム
5,6 透過型干渉計
11a,11b 参照用ハーフミラー
12a 正立ポロプリズム
13a コーナーキューブミラー
20 干渉縞解析装置
21a,21b 干渉縞画像蓄積部
22a,22b 干渉縞画像解析部
23a,23b 厚みパターン変換部
24 厚みムラ分布解析部
Claims (1)
- 可干渉性の光から参照光と測定光を得るためのビームスプリッタと、測定対象物を透過した前記測定光をその入射方向と平行な方向に反射する反射手段とを備え、前記測定対象物を再度透過した前記測定光と前記参照光とを重ね合わせることにより干渉縞を形成する透過型干渉計において、
前記反射手段を、コーナーキューブリフレクタと、前記コーナーキューブリフレクタ及び前記測定対象物の間に設けられ、前記コーナーキューブリフレクタにより反射されて倒立した前記測定光を正立させて、前記測定対象物を2回透過する前記測定光の像の向きを揃える光学系とで構成したことを特徴とする透過型干渉計。
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