JP2580933B2 - ジッター量測定手段を有した光走査装置 - Google Patents
ジッター量測定手段を有した光走査装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はジッター量測定手段を有
した光走査装置に関し、特に走査光学系の一要素を構成
する光偏向器の製造誤差や該光偏向器を駆動させるモー
タの駆動誤差等によって被走査面を光走査する際の走査
ムラを高精度に測定することのできるジッター量測定手
段を用いることにより、その走査ムラを補正し、高精度
な光走査を可能とした例えばレーザービームプリンタや
画像読取装置等の走査光学系に好適なものである。
した光走査装置に関し、特に走査光学系の一要素を構成
する光偏向器の製造誤差や該光偏向器を駆動させるモー
タの駆動誤差等によって被走査面を光走査する際の走査
ムラを高精度に測定することのできるジッター量測定手
段を用いることにより、その走査ムラを補正し、高精度
な光走査を可能とした例えばレーザービームプリンタや
画像読取装置等の走査光学系に好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より例えばＬＢＰ等で用いている走
査光学系においては画像信号に応じてレーザ光源から射
出される光ビーム（光束ともいう）を光変調している。
そして該光変調した光ビームをコリメーターレンズやシ
リンドリカルレンズ等を介して回転多面鏡より成る光偏
向器により偏向させ、ｆ−θレンズによって感光性の記
録媒体面上にスポット状に集束させて光走査している。
これにより画像記録を行なっている。
査光学系においては画像信号に応じてレーザ光源から射
出される光ビーム（光束ともいう）を光変調している。
そして該光変調した光ビームをコリメーターレンズやシ
リンドリカルレンズ等を介して回転多面鏡より成る光偏
向器により偏向させ、ｆ−θレンズによって感光性の記
録媒体面上にスポット状に集束させて光走査している。
これにより画像記録を行なっている。
【０００３】一般に走査光学系においては、例えばその
一要素を構成する光偏向器の製造誤差や該光偏向器を駆
動させるモータの駆動誤差等により被走査面を光走査す
る際の各走査ライン毎の走査時間が異なる走査ムラや走
査位置ずれ（以下これらを「ジッター」と称する）が生
じてきて、これが画像の品質を劣化させる原因となって
いた。
一要素を構成する光偏向器の製造誤差や該光偏向器を駆
動させるモータの駆動誤差等により被走査面を光走査す
る際の各走査ライン毎の走査時間が異なる走査ムラや走
査位置ずれ（以下これらを「ジッター」と称する）が生
じてきて、これが画像の品質を劣化させる原因となって
いた。
【０００４】従来はこのときのジッター量（走査ムラの
量）をジッター量測定手段を測定することにより被走査
面を高精度に光走査するようにした走査光学系が種々と
提案されている。
量）をジッター量測定手段を測定することにより被走査
面を高精度に光走査するようにした走査光学系が種々と
提案されている。
【０００５】例えば「Ｇ．Ｔｏｙｅｎ；”Ｇｅｎｅｒａ
ｔｉｏｉｎ ｏｆ Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ Ｐｉｘｅｌ
Ｃｌｏｃｋ ｉｎ Ｌａｓｅｒ Ｐｒｉｎｔｅｒｓ ａ
ｎｄＳｃａｎｎｅｒｓ”．ＳＰＩＥ，ｖｏｌ ８４（１
９７６）」では２つの光ビームを用い、一方の光ビーム
を被走査面上を光走査する為の走査用光ビームとして用
い、他方の光ビームをジッター量検出用の光ビーム（検
出用光ビーム）として用いている。
ｔｉｏｉｎ ｏｆ Ｐｒｅｃｉｓｉｏｎ Ｐｉｘｅｌ
Ｃｌｏｃｋ ｉｎ Ｌａｓｅｒ Ｐｒｉｎｔｅｒｓ ａ
ｎｄＳｃａｎｎｅｒｓ”．ＳＰＩＥ，ｖｏｌ ８４（１
９７６）」では２つの光ビームを用い、一方の光ビーム
を被走査面上を光走査する為の走査用光ビームとして用
い、他方の光ビームをジッター量検出用の光ビーム（検
出用光ビーム）として用いている。
【０００６】このときの検出用光ビームは被走査面と光
学的に等価な面に配置した複数の格子を所定の周期で配
列した格子板に入射させている。そして該格子板を光走
査し、該格子板を介したパルス状の光信号を集光手段を
介して光検出器に導き同期信号を生成している。そして
該同期信号に基づいて画像記録用の光源手段から射出す
る光ビームの発光タイミングを制御して光走査を行なっ
ている。
学的に等価な面に配置した複数の格子を所定の周期で配
列した格子板に入射させている。そして該格子板を光走
査し、該格子板を介したパルス状の光信号を集光手段を
介して光検出器に導き同期信号を生成している。そして
該同期信号に基づいて画像記録用の光源手段から射出す
る光ビームの発光タイミングを制御して光走査を行なっ
ている。
【０００７】又、特開平２−２７７０１８号公報では検
出用の光ビームを被走査面と光学的に等価な位置に配置
した基準格子板に沿って走査しパルス状の光信号を得、
この光信号を光ファイバ束及び光導波部材を介して光検
出器に導光して同期信号を生成し、該同期信号に基づい
て被走査面を走査し画像等の読取りや記録を行なってい
る。
出用の光ビームを被走査面と光学的に等価な位置に配置
した基準格子板に沿って走査しパルス状の光信号を得、
この光信号を光ファイバ束及び光導波部材を介して光検
出器に導光して同期信号を生成し、該同期信号に基づい
て被走査面を走査し画像等の読取りや記録を行なってい
る。
【０００８】この他、特開平２−１０６７１５号公報で
は光ビームを被走査面と光学的に等価な面に配置したグ
レーティングに沿って走査しパルス状の光信号を得、こ
の光信号をレンズアレイと複数の受光素子より成る光検
出手段に導いて同期信号を生成し、該同期信号に基づい
て被走査面を走査して画像記録を行なっている。
は光ビームを被走査面と光学的に等価な面に配置したグ
レーティングに沿って走査しパルス状の光信号を得、こ
の光信号をレンズアレイと複数の受光素子より成る光検
出手段に導いて同期信号を生成し、該同期信号に基づい
て被走査面を走査して画像記録を行なっている。
【０００９】特に同公報においてはＰＬＬ（フェーズ・
ロックド・ループ）回路に入力される基準パルス信号を
生成する同期検出用の半導体レーザからの光ビームの発
光パワーを検出して、該半導体レーザからの光ビームの
発光パワーを制御手段により制御して良好なる同期信号
を得ている。
ロックド・ループ）回路に入力される基準パルス信号を
生成する同期検出用の半導体レーザからの光ビームの発
光パワーを検出して、該半導体レーザからの光ビームの
発光パワーを制御手段により制御して良好なる同期信号
を得ている。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のこ
れらの光走査装置において、同期信号を生成する光検出
手段は走査幅全域にわたって格子板を透過した光ビーム
をもれなく拾うように多数のレンズや受光素子を必要と
していた。この為、部品点数が多く装置全体が複雑にな
り、低コスト化を図るのが難しくなってくるという問題
点があった。
れらの光走査装置において、同期信号を生成する光検出
手段は走査幅全域にわたって格子板を透過した光ビーム
をもれなく拾うように多数のレンズや受光素子を必要と
していた。この為、部品点数が多く装置全体が複雑にな
り、低コスト化を図るのが難しくなってくるという問題
点があった。
【００１１】又、これらの光学部材の配置調整は大変難
しく、又装置全体が大型化及び複雑化してくるという問
題点もあった。
しく、又装置全体が大型化及び複雑化してくるという問
題点もあった。
【００１２】本発明はジッター量測定手段を構成する同
期検出用の光源手段、光偏向器、光学部材そして光検出
手段等を適切に構成することにより、従来の走査光学系
を大幅に改良することなく装置全体を複雑にすることな
くジッター量を高精度に測定し、被走査面上を高精度に
光走査することができるジッター量測定手段を有した光
走査装置の提供を目的とする。
期検出用の光源手段、光偏向器、光学部材そして光検出
手段等を適切に構成することにより、従来の走査光学系
を大幅に改良することなく装置全体を複雑にすることな
くジッター量を高精度に測定し、被走査面上を高精度に
光走査することができるジッター量測定手段を有した光
走査装置の提供を目的とする。
【００１３】
【課題を解決するための手段】本発明のジッター量測定
手段を有した光走査装置は、画像信号に基づいて光変調
された第１光ビームを第１導光手段を用いて光偏向器の
偏向面に導光し該偏向面で偏向させた後、結像手段を経
て被走査面に入射させて光走査する際、第２光ビームを
第２導光手段を用いて該光偏向器の偏向面に導光し該偏
向面で偏向させた後、該結像手段を経て被走査面近傍、
もしくは該被走査面と光学的に略等価な位置に設けた主
走査方向に複数のコーナーキューブを配列したコーナー
キューブアレイを介して再び該結像手段を経て該光偏向
器の偏向面に入射させ、該偏向面で反射偏向させた後、
該第２導光手段の一部を構成するハーフミラーを介して
光検出手段に入射させ、該光検出手段で得られる信号に
基づいてジッター量を検出するようにしたことを特徴と
している。
手段を有した光走査装置は、画像信号に基づいて光変調
された第１光ビームを第１導光手段を用いて光偏向器の
偏向面に導光し該偏向面で偏向させた後、結像手段を経
て被走査面に入射させて光走査する際、第２光ビームを
第２導光手段を用いて該光偏向器の偏向面に導光し該偏
向面で偏向させた後、該結像手段を経て被走査面近傍、
もしくは該被走査面と光学的に略等価な位置に設けた主
走査方向に複数のコーナーキューブを配列したコーナー
キューブアレイを介して再び該結像手段を経て該光偏向
器の偏向面に入射させ、該偏向面で反射偏向させた後、
該第２導光手段の一部を構成するハーフミラーを介して
光検出手段に入射させ、該光検出手段で得られる信号に
基づいてジッター量を検出するようにしたことを特徴と
している。
【００１４】
【００１５】
【００１６】
【実施例】図１は本発明の実施例１の光学系の要部概略
図である。同図において１は画像記録用の光源手段であ
り、半導体レーザより成っており、画像記録用の走査用
光ビーム（第１光ビーム）を射出している。
図である。同図において１は画像記録用の光源手段であ
り、半導体レーザより成っており、画像記録用の走査用
光ビーム（第１光ビーム）を射出している。
【００１７】２はコリメーターレンズであり、半導体レ
ーザ１から射出された走査用光ビームを略平行光ビーム
としている。３はシリンドリカルレンズであり、副走査
断面のみ所定の屈折力を有している。尚、コリメーター
レンズ２とシリンドリカルレンズ３とで半導体レーザ１
から射出した走査用光ビームを光偏向器４へ導く為の画
像記録用の導光手段３１を構成している。
ーザ１から射出された走査用光ビームを略平行光ビーム
としている。３はシリンドリカルレンズであり、副走査
断面のみ所定の屈折力を有している。尚、コリメーター
レンズ２とシリンドリカルレンズ３とで半導体レーザ１
から射出した走査用光ビームを光偏向器４へ導く為の画
像記録用の導光手段３１を構成している。
【００１８】４は光偏向器であり、回転多面鏡より成っ
ており、モータ等の駆動手段（不図示）により矢印Ａ方
向に一定の速度で回転している。５は結像手段であり、
直交する２方向で屈折力が異なるｆ−θレンズより成っ
ており、走査用光ビームを感光体ドラム６面上に結像さ
せ、又後述する同期検出用の検出用光ビーム（第２光ビ
ーム）を反射型格子１０面上に結像させている。又後述
するように反射型格子１０の反射部１０ａで反射された
検出用光ビーム（パルス状の光信号）の一部を現在光走
査に使われている偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに入射
させている。
ており、モータ等の駆動手段（不図示）により矢印Ａ方
向に一定の速度で回転している。５は結像手段であり、
直交する２方向で屈折力が異なるｆ−θレンズより成っ
ており、走査用光ビームを感光体ドラム６面上に結像さ
せ、又後述する同期検出用の検出用光ビーム（第２光ビ
ーム）を反射型格子１０面上に結像させている。又後述
するように反射型格子１０の反射部１０ａで反射された
検出用光ビーム（パルス状の光信号）の一部を現在光走
査に使われている偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに入射
させている。
【００１９】６は記録媒体としての感光体ドラムであ
る、７は同期検出用の光源手段であり、半導体レーザ１
より成っており、検出用光ビーム（第２光ビーム）を射
出しており、走査用光ビームの感光体ドラム６面上での
走査位置を検出している。８はコリメーターレンズであ
り、半導体レーザ７から射出された検出用光ビームを略
平行光ビームとしている。９はシリンドリカルレンズで
あり、副走査断面のみ所定の屈折力を有している。尚、
コリメーターレンズ８とシリンドリカルレンズ９とで半
導体レーザ７から射出した検出用光ビームを光偏向器４
へ導く為の同期検出用の導光手段３２を構成している。
る、７は同期検出用の光源手段であり、半導体レーザ１
より成っており、検出用光ビーム（第２光ビーム）を射
出しており、走査用光ビームの感光体ドラム６面上での
走査位置を検出している。８はコリメーターレンズであ
り、半導体レーザ７から射出された検出用光ビームを略
平行光ビームとしている。９はシリンドリカルレンズで
あり、副走査断面のみ所定の屈折力を有している。尚、
コリメーターレンズ８とシリンドリカルレンズ９とで半
導体レーザ７から射出した検出用光ビームを光偏向器４
へ導く為の同期検出用の導光手段３２を構成している。
【００２０】本実施例においての同期検出用の半導体レ
ーザ（光源手段）７は画像記録用の半導体レーザ（光源
手段）１に対して僅かに副走査方向に傾けて配置してい
る。これにより同期検出用の半導体レーザ７から射出し
た検出用光ビームが感光体ドラム６面の近傍に設けた後
述する反射型格子１０面上を走査するようにしている。
ーザ（光源手段）７は画像記録用の半導体レーザ（光源
手段）１に対して僅かに副走査方向に傾けて配置してい
る。これにより同期検出用の半導体レーザ７から射出し
た検出用光ビームが感光体ドラム６面の近傍に設けた後
述する反射型格子１０面上を走査するようにしている。
【００２１】１０は光学部材であり、反射型格子より成
っており、被走査面近傍もしくは感光体ドラム６面と光
学的に略等価な位置に設けている。本実施例においての
反射型格子１０は図２に示すように主走査方向に拡散反
射面より成る反射部１０ａと非反射部（格子）１０ｂと
が所定の周期で繰り返されて配列されており、ｆ−θレ
ンズ５を通過した検出用光ビームを該反射部１０ａで拡
散反射させている。そして該拡散反射した光束の一部を
ｆ−θレンズ５により現在光走査に使われている偏向面
４ａの隣りの偏向面４ｂに入射させている。
っており、被走査面近傍もしくは感光体ドラム６面と光
学的に略等価な位置に設けている。本実施例においての
反射型格子１０は図２に示すように主走査方向に拡散反
射面より成る反射部１０ａと非反射部（格子）１０ｂと
が所定の周期で繰り返されて配列されており、ｆ−θレ
ンズ５を通過した検出用光ビームを該反射部１０ａで拡
散反射させている。そして該拡散反射した光束の一部を
ｆ−θレンズ５により現在光走査に使われている偏向面
４ａの隣りの偏向面４ｂに入射させている。
【００２２】１１はアパーチャであり、通過光束（光
量）を必要に応じて制限している。１２は光検出器であ
り、反射型格子１０によって拡散反射しｆ−θレンズ
５、偏向面４ｂ、アパーチャ１１を介した光信号（光パ
ルス列）を検出している。尚、アパーチャ１１とｆ−θ
レンズ５、そして光検出器１２とで光検出手段３０を構
成している。ｆ−θレンズ５は画像記録用及び同期検出
用の手段も兼ねている。
量）を必要に応じて制限している。１２は光検出器であ
り、反射型格子１０によって拡散反射しｆ−θレンズ
５、偏向面４ｂ、アパーチャ１１を介した光信号（光パ
ルス列）を検出している。尚、アパーチャ１１とｆ−θ
レンズ５、そして光検出器１２とで光検出手段３０を構
成している。ｆ−θレンズ５は画像記録用及び同期検出
用の手段も兼ねている。
【００２３】本実施例では検出用光ビームで反射型格子
１０の反射部１０ａ上を走査するときには、該検出用光
ビームの入射角によらず、あらゆる角度に略等強度に拡
散反射させ、非反射部１０ｂ上を走査するときには透過
又は吸収するようにしている。そして反射型格子１０で
反射された検出用光ビームが光偏向器４の現在光走査に
使われている偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに入射した
結果生じる光偏向器４による偏向によって動かない静止
ゴースト光の強度（パルス状の光信号）を光検出器１２
により検出し、その検出された信号の時間的変化からジ
ッター量を求めている。
１０の反射部１０ａ上を走査するときには、該検出用光
ビームの入射角によらず、あらゆる角度に略等強度に拡
散反射させ、非反射部１０ｂ上を走査するときには透過
又は吸収するようにしている。そして反射型格子１０で
反射された検出用光ビームが光偏向器４の現在光走査に
使われている偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに入射した
結果生じる光偏向器４による偏向によって動かない静止
ゴースト光の強度（パルス状の光信号）を光検出器１２
により検出し、その検出された信号の時間的変化からジ
ッター量を求めている。
【００２４】次に本実施例の動作について説明する。半
導体レーザ１から射出された走査用光ビームはコリメー
ターレンズ２により略平行光ビームとされ、シリンドリ
カルレンズ３を経て光偏向器４の偏向面４ａに入射す
る。そして該偏向面４ａで偏向された走査用光ビームは
ｆ−θレンズ５を経て感光体ドラム６面上に導光され
る。本実施例においては半導体レーザ１から射出される
走査用光ビームは画像信号により光変調されており、主
走査方向は光ビーム４の回転（図中矢印Ａ方向）によ
り、副走査方向は感光体ドラム６が回転（図中矢印Ｂ方
向）することにより光走査され、これによって感光体ド
ラム６面上に画像記録を行なっている。
導体レーザ１から射出された走査用光ビームはコリメー
ターレンズ２により略平行光ビームとされ、シリンドリ
カルレンズ３を経て光偏向器４の偏向面４ａに入射す
る。そして該偏向面４ａで偏向された走査用光ビームは
ｆ−θレンズ５を経て感光体ドラム６面上に導光され
る。本実施例においては半導体レーザ１から射出される
走査用光ビームは画像信号により光変調されており、主
走査方向は光ビーム４の回転（図中矢印Ａ方向）によ
り、副走査方向は感光体ドラム６が回転（図中矢印Ｂ方
向）することにより光走査され、これによって感光体ド
ラム６面上に画像記録を行なっている。
【００２５】一方、同期検出用の半導体レーザ７から射
出された検出用光ビームはコリメーターレンズ８により
略平行光ビームとされ、シリンドリカルレンズ９を経て
光偏向器４の偏向面４ａに入射する。このとき検出用光
ビームは走査用光ビームに対して副走査方向にある間隔
離れた位置に入射している。そして該偏向面４ａで偏向
された検出用光ビームはｆ−θレンズ５を経て反射型格
子１０上を主走査方向に走査する。このとき反射型格子
１０の反射部１０ａで拡散反射された光ビームの一部を
再度ｆ−θレンズ５に入射させ、現在光走査に使われて
いる偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに主走査平面内で略
平行光ビームとなるようにして入射させている。そして
該偏向面４ｂで偏向された検出用光ビームはアパーチャ
１１で通過光束が制限され再度ｆ−θレンズ５を経て光
検出器１２に入射し、その面上に静止ゴーストスポット
（静止ゴースト像）を形成している。
出された検出用光ビームはコリメーターレンズ８により
略平行光ビームとされ、シリンドリカルレンズ９を経て
光偏向器４の偏向面４ａに入射する。このとき検出用光
ビームは走査用光ビームに対して副走査方向にある間隔
離れた位置に入射している。そして該偏向面４ａで偏向
された検出用光ビームはｆ−θレンズ５を経て反射型格
子１０上を主走査方向に走査する。このとき反射型格子
１０の反射部１０ａで拡散反射された光ビームの一部を
再度ｆ−θレンズ５に入射させ、現在光走査に使われて
いる偏向面４ａの隣りの偏向面４ｂに主走査平面内で略
平行光ビームとなるようにして入射させている。そして
該偏向面４ｂで偏向された検出用光ビームはアパーチャ
１１で通過光束が制限され再度ｆ−θレンズ５を経て光
検出器１２に入射し、その面上に静止ゴーストスポット
（静止ゴースト像）を形成している。
【００２６】この静止ゴーストスポットは光偏向器４の
偏向角によらず常に一定の位置に形成している為、反射
型格子１０を走査することによって生成された光信号
（光パルス列）は全て静止ゴーストスポット位置におか
れた光検出器１２によって検出され光電変換され電気信
号が得られる。
偏向角によらず常に一定の位置に形成している為、反射
型格子１０を走査することによって生成された光信号
（光パルス列）は全て静止ゴーストスポット位置におか
れた光検出器１２によって検出され光電変換され電気信
号が得られる。
【００２７】この電気信号（光パルス列）は光走査装置
のジッターの情報を含んでおり、この電気信号の時間的
変化、即ちパルス幅やパルス間隔や一定時間内のパルス
数等の時間的変化がジッターに対応している。そしてこ
れらのジッターに相当する量を光検出器１２により検出
し同期信号を生成し、該同期信号に基づいて画像記録用
の半導体レーザ１から射出する走査用光ビームの発光タ
イミングを制御し、ジッターを補正した光走査装置を得
ている。
のジッターの情報を含んでおり、この電気信号の時間的
変化、即ちパルス幅やパルス間隔や一定時間内のパルス
数等の時間的変化がジッターに対応している。そしてこ
れらのジッターに相当する量を光検出器１２により検出
し同期信号を生成し、該同期信号に基づいて画像記録用
の半導体レーザ１から射出する走査用光ビームの発光タ
イミングを制御し、ジッターを補正した光走査装置を得
ている。
【００２８】このように本実施例においては同期信号を
生成する為の光検出手段３０は従来の光検出手段に比べ
て小型化及び低コスト化を図ることができ、例えばフォ
トダイオード１個で光検出器１２を構成してもジッター
（走査時間のムラ）の情報を持つ光信号（光パルス列）
を高精度に検出することができる。
生成する為の光検出手段３０は従来の光検出手段に比べ
て小型化及び低コスト化を図ることができ、例えばフォ
トダイオード１個で光検出器１２を構成してもジッター
（走査時間のムラ）の情報を持つ光信号（光パルス列）
を高精度に検出することができる。
【００２９】又、本実施例においては静止ゴーストスポ
ットを形成する為にｆ−θレンズ５を用いたが、図３に
示す如くｆ−θレンズ５とは別に結像レンズ１３を新た
に設けて光検出手段３３を構成し、該静止ゴーストスポ
ットを形成するようにしても良い。これによればｆ−θ
レンズ５を大型化させることなく光学系を構成すること
ができる。
ットを形成する為にｆ−θレンズ５を用いたが、図３に
示す如くｆ−θレンズ５とは別に結像レンズ１３を新た
に設けて光検出手段３３を構成し、該静止ゴーストスポ
ットを形成するようにしても良い。これによればｆ−θ
レンズ５を大型化させることなく光学系を構成すること
ができる。
【００３０】又、本実施例においては光検出器１２から
の信号を利用して感光体ドラム６面上の走査開始位置の
タイミングも同時に制御している。
の信号を利用して感光体ドラム６面上の走査開始位置の
タイミングも同時に制御している。
【００３１】即ち、走査用光ビームで感光体ドラム６面
上を光走査する前に検出用光ビームで反射型格子１０を
走査し、該反射型格子１０で得られる光信号（光パルス
列）を光偏向器４の現在光走査に使われている偏向面４
ａの隣りの偏向面４ｂを介して光検出器１２に導光しタ
イミング量を求めている。
上を光走査する前に検出用光ビームで反射型格子１０を
走査し、該反射型格子１０で得られる光信号（光パルス
列）を光偏向器４の現在光走査に使われている偏向面４
ａの隣りの偏向面４ｂを介して光検出器１２に導光しタ
イミング量を求めている。
【００３２】例えば光検出器１２で得られたその光パル
ス列のパルスの数をカウンター回路でカウントし、該カ
ウンター回路からの情報に基づいて検出用光ビームが走
査開始位置と等価な位置まで走査されたときには、その
パルス数の値が格子の端部から走査開始位置までの長さ
に相当する特定の値となる。
ス列のパルスの数をカウンター回路でカウントし、該カ
ウンター回路からの情報に基づいて検出用光ビームが走
査開始位置と等価な位置まで走査されたときには、その
パルス数の値が格子の端部から走査開始位置までの長さ
に相当する特定の値となる。
【００３３】よって、そのパルス数をカウンター回路で
特定の値までカウントしたときに感光体ドラム６面上を
走査すれば走査開始位置はズレることなく画像記録を行
なうことができる。
特定の値までカウントしたときに感光体ドラム６面上を
走査すれば走査開始位置はズレることなく画像記録を行
なうことができる。
【００３４】又、本実施例においての同期検出用の半導
体レーザ７は検出用光ビームが感光体ドラム６面に入射
しないように画像記録用の半導体レーザ１に対して副走
査方向に僅かに傾けて配置している。
体レーザ７は検出用光ビームが感光体ドラム６面に入射
しないように画像記録用の半導体レーザ１に対して副走
査方向に僅かに傾けて配置している。
【００３５】この為、画像記録用の半導体レーザ１から
射出される走査用光ビームは主走査面に対して平行に進
み感光体ドラム６面上を走査するが、同期検出用の半導
体レーザ７から射出される検出用光ビームは反射型格子
１０面上において走査線曲がりが発生する。
射出される走査用光ビームは主走査面に対して平行に進
み感光体ドラム６面上を走査するが、同期検出用の半導
体レーザ７から射出される検出用光ビームは反射型格子
１０面上において走査線曲がりが発生する。
【００３６】よって反射型格子１０は走査線曲がりによ
って生ずる副走査方向の走査位置ズレよりも副走査方向
に長くなくてはならない。
って生ずる副走査方向の走査位置ズレよりも副走査方向
に長くなくてはならない。
【００３７】この走査線曲がりによって本実施例におい
ては反射型格子１０上で副走査方向に走査位置ズレを生
じるが、静止ゴーストスポット（ゴースト像）の位置は
変化しない為、ジッターを検出する際には何ら支障を起
こすことはない。
ては反射型格子１０上で副走査方向に走査位置ズレを生
じるが、静止ゴーストスポット（ゴースト像）の位置は
変化しない為、ジッターを検出する際には何ら支障を起
こすことはない。
【００３８】尚、本実施例において各々の光源手段（半
導体レーザ）１，７から射出した光ビームを光偏向器４
の偏向面４ａへ導光する為の導光手段として画像記録用
と同期検出用と別々に設けて構成したが、各々の光源手
段１，７から射出される光ビームを同一の導光手段（１
つのシリンドリカルレンズと１つのコリメーターレンズ
より成る）を通過させるように構成しても良い。
導体レーザ）１，７から射出した光ビームを光偏向器４
の偏向面４ａへ導光する為の導光手段として画像記録用
と同期検出用と別々に設けて構成したが、各々の光源手
段１，７から射出される光ビームを同一の導光手段（１
つのシリンドリカルレンズと１つのコリメーターレンズ
より成る）を通過させるように構成しても良い。
【００３９】図４は本発明の実施例２の光学系の要部概
略図である。同図において図１に示した要素と同一要素
には同符番を付している。
略図である。同図において図１に示した要素と同一要素
には同符番を付している。
【００４０】本実施例において前述の実施例１と異なる
点はｆ−θレンズ５や光偏向器４等の光学部品の振動等
によって発生する副走査方向の走査開始位置ズレ量もジ
ッター量と同時に検出できるように光検出手段３４を構
成したことである。
点はｆ−θレンズ５や光偏向器４等の光学部品の振動等
によって発生する副走査方向の走査開始位置ズレ量もジ
ッター量と同時に検出できるように光検出手段３４を構
成したことである。
【００４１】例えばｆ−θレンズ５や光偏向器４等が振
動する等の原因から副走査方向に走査開始位置（描画位
置）が所望の位置より微小にズレ、所謂ピッチムラが生
じた場合、それに伴なって静止ゴーストスポットの形成
位置も副走査方向に微小にズレてくる。
動する等の原因から副走査方向に走査開始位置（描画位
置）が所望の位置より微小にズレ、所謂ピッチムラが生
じた場合、それに伴なって静止ゴーストスポットの形成
位置も副走査方向に微小にズレてくる。
【００４２】そこで本実施例においてはそのピッチムラ
の量とジッター量とを共に検出できるように光検出器１
４を図５に示すように光ファイバ列１４ａとフォトディ
テクタ列１４ｂとから構成している。
の量とジッター量とを共に検出できるように光検出器１
４を図５に示すように光ファイバ列１４ａとフォトディ
テクタ列１４ｂとから構成している。
【００４３】同図においての光検出器１４は副走査方向
に並べた複数の光ファイバａ，ｂ‥‥とその各々の光フ
ァイバに入射する光量を検出する複数のフォトディテク
タｈ，ｉ‥‥とを組み合わせ、該フォトディテクタから
の出力信号を利用してジッター量及びピッチムラの量を
検出している。
に並べた複数の光ファイバａ，ｂ‥‥とその各々の光フ
ァイバに入射する光量を検出する複数のフォトディテク
タｈ，ｉ‥‥とを組み合わせ、該フォトディテクタから
の出力信号を利用してジッター量及びピッチムラの量を
検出している。
【００４４】ここで例えば副走査方向にピッチムラが無
い場合には図５に示す如く予め静止ゴースト光Ｌ１が光
ファイバｃに集束（入射）すうように調整しておく。こ
のとき対応するフォトディテクタｊから出力される信号
値を基準値とする。
い場合には図５に示す如く予め静止ゴースト光Ｌ１が光
ファイバｃに集束（入射）すうように調整しておく。こ
のとき対応するフォトディテクタｊから出力される信号
値を基準値とする。
【００４５】例えばこのときピッチムラが生じ、その結
果静止ゴースト光Ｌ１がゴースト光Ｌ２へと変化した場
合、該静止ゴースト光Ｌ２は光ファイバ列ａ，ｂにまた
がって集束し、これにより光ファイバ列ａ，ｂに接続さ
れた各フォトディテクタｈ，ｉに光が入射する。そして
フォトディテクタｊからの出力値は基準値より低下す
る。このとき本実施例においてはフォトディテクタｈ，
ｉからの出力値と基準値とを比較回路で比較することに
より、ピッチムラの量を検出し、該検出結果に基づいて
補正手段により副走査方向のピッチムラを補正してい
る。
果静止ゴースト光Ｌ１がゴースト光Ｌ２へと変化した場
合、該静止ゴースト光Ｌ２は光ファイバ列ａ，ｂにまた
がって集束し、これにより光ファイバ列ａ，ｂに接続さ
れた各フォトディテクタｈ，ｉに光が入射する。そして
フォトディテクタｊからの出力値は基準値より低下す
る。このとき本実施例においてはフォトディテクタｈ，
ｉからの出力値と基準値とを比較回路で比較することに
より、ピッチムラの量を検出し、該検出結果に基づいて
補正手段により副走査方向のピッチムラを補正してい
る。
【００４６】又、ジッター量を測定する際には各々のフ
ォトディテクタから検出された反射型格子に基づく電気
信号（光パルス列）を利用して検出するようにすれば良
い。
ォトディテクタから検出された反射型格子に基づく電気
信号（光パルス列）を利用して検出するようにすれば良
い。
【００４７】このように本実施例においてはｆ−θレン
ズや光偏向器等の光学部品の振動等により発生するピッ
チムラを上記の如く光ファイバ列１４ａとフォトディテ
クタ列１４ｂ等より成る光検出器１４を用いることによ
り高精度に検出することができる。
ズや光偏向器等の光学部品の振動等により発生するピッ
チムラを上記の如く光ファイバ列１４ａとフォトディテ
クタ列１４ｂ等より成る光検出器１４を用いることによ
り高精度に検出することができる。
【００４８】尚、本実施例において光ファイバ列１４ａ
を用いずに直接フォトディテクタ列１４ｂを静止ゴース
トスポット位置に配置しても前述の実施例２と同様な効
果を得ることができる。これにより光検出器の簡素化及
び低コスト化を図ることができる。
を用いずに直接フォトディテクタ列１４ｂを静止ゴース
トスポット位置に配置しても前述の実施例２と同様な効
果を得ることができる。これにより光検出器の簡素化及
び低コスト化を図ることができる。
【００４９】図６は本発明の実施例３の光学系の要部概
略図である。同図において図１に示した要素と同一要素
には同符番を付している。
略図である。同図において図１に示した要素と同一要素
には同符番を付している。
【００５０】本実施例において前述の実施例１と異なる
点はパルス状の光信号を生成する為の光学部材として後
述する図７に示すように複数の微小コーナーキューブ
（反射部）２０ａ，２０ｂ，‥‥を主走査方向に所定の
ピッチで配列しているコーナーキューブアレイ２０を用
い、該コーナーキューブアレイ２０で反射された検出用
光ビーム（光信号）を現在光走査に使われている偏向面
４ａと同一の偏向面４ａを介して同期検出用の導光手段
３２に戻し、該導光手段３２の一部を構成するハーフミ
ラー２１を介して集光レンズ２２と光検出器１２とから
成る光検出手段４０に導き同期信号を生成していること
である。その他の構成は前記実施例１と略同様である。
点はパルス状の光信号を生成する為の光学部材として後
述する図７に示すように複数の微小コーナーキューブ
（反射部）２０ａ，２０ｂ，‥‥を主走査方向に所定の
ピッチで配列しているコーナーキューブアレイ２０を用
い、該コーナーキューブアレイ２０で反射された検出用
光ビーム（光信号）を現在光走査に使われている偏向面
４ａと同一の偏向面４ａを介して同期検出用の導光手段
３２に戻し、該導光手段３２の一部を構成するハーフミ
ラー２１を介して集光レンズ２２と光検出器１２とから
成る光検出手段４０に導き同期信号を生成していること
である。その他の構成は前記実施例１と略同様である。
【００５１】図７は本実施例のコーナーキューブアレイ
２０の構成を示した一部分の拡大説明図である。
２０の構成を示した一部分の拡大説明図である。
【００５２】同図において２０はコーナーキューブアレ
イであり、主走査方向に微小コーナーキューブ（反射
部）２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥が配列されており、
該コーナーキューブ２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥の前
方に開口部２４ａと遮光部（非反射部）２４ｂとが繰り
返して成るアパーチャーアレイ２４を配置している。こ
の微小コーナーキューブ２０ａ，２０ｂ，２０ｃ等は光
学ガラスやプラスチック等を用いて直交する３つの面を
有するプリズムとして製作している。
イであり、主走査方向に微小コーナーキューブ（反射
部）２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥が配列されており、
該コーナーキューブ２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥の前
方に開口部２４ａと遮光部（非反射部）２４ｂとが繰り
返して成るアパーチャーアレイ２４を配置している。こ
の微小コーナーキューブ２０ａ，２０ｂ，２０ｃ等は光
学ガラスやプラスチック等を用いて直交する３つの面を
有するプリズムとして製作している。
【００５３】本実施例においては同期検出用の半導体レ
ーザ７から射出した検出用光ビームをコリメーターレン
ズ８、ハーフミラー２１そしてシリンドリカルレンズ９
を経て光偏向器４の偏向面４ａで偏向させ、ｆ−θレン
ズ５を通過させてコーナーキューブアレイ２０面上を主
走査方向に走査している。
ーザ７から射出した検出用光ビームをコリメーターレン
ズ８、ハーフミラー２１そしてシリンドリカルレンズ９
を経て光偏向器４の偏向面４ａで偏向させ、ｆ−θレン
ズ５を通過させてコーナーキューブアレイ２０面上を主
走査方向に走査している。
【００５４】同図においてｆ−θレンズ（不図示）を通
過した検出用光ビームＬはアパーチャーアレイ２４の開
口部２４ａを通過し、例えば微小コーナーキューブ２４
ｂに入射したとすると同図に示す如く、該微小コーナー
キューブ２０ｂの反射面で３回反射し、入射してきた元
の方向へと３枚鏡の原理に基づいてプリズムの偏角の２
倍の角度で反射される。
過した検出用光ビームＬはアパーチャーアレイ２４の開
口部２４ａを通過し、例えば微小コーナーキューブ２４
ｂに入射したとすると同図に示す如く、該微小コーナー
キューブ２０ｂの反射面で３回反射し、入射してきた元
の方向へと３枚鏡の原理に基づいてプリズムの偏角の２
倍の角度で反射される。
【００５５】そして該コーナーキューブアレイ２０の反
射部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥で反射された検出用
光ビーム（パルス状の光信号）を再びｆ−θレンズ５に
入射させ、現在光走査に使われている偏向面４ａを介し
て同期検出用の半導体レーザ７方向へ反射させている。
そして検出用光ビームはシリンドリカルレンズ９を経て
略平行光ビームとなり、ハーフミラー２１により光路を
折り曲げられ集光レンズ２２によって光検出器１２面上
にスポット状に集束している。
射部２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，‥‥で反射された検出用
光ビーム（パルス状の光信号）を再びｆ−θレンズ５に
入射させ、現在光走査に使われている偏向面４ａを介し
て同期検出用の半導体レーザ７方向へ反射させている。
そして検出用光ビームはシリンドリカルレンズ９を経て
略平行光ビームとなり、ハーフミラー２１により光路を
折り曲げられ集光レンズ２２によって光検出器１２面上
にスポット状に集束している。
【００５６】検出用光ビームＬがアパーチャーアレイ２
４の遮光部の２４ｂを走査しているときには反射光は生
じない。これによりコーナーキューブアレイ２０を検出
用光ビームで走査することでパルス状の光信号を得てい
る。そして該コーナーキューブアレイ２０を走査するこ
とで得られたパルス状の光信号（検出用光ビーム）は光
検出器１２に導光され光電変換され、このとき光検出器
１２からは図８に示す電気信号（光パルス列）が得られ
る。
４の遮光部の２４ｂを走査しているときには反射光は生
じない。これによりコーナーキューブアレイ２０を検出
用光ビームで走査することでパルス状の光信号を得てい
る。そして該コーナーキューブアレイ２０を走査するこ
とで得られたパルス状の光信号（検出用光ビーム）は光
検出器１２に導光され光電変換され、このとき光検出器
１２からは図８に示す電気信号（光パルス列）が得られ
る。
【００５７】ここでジッターが無いときには同図（Ａ）
に示すようにパルス幅やパルス間隔にズレのない出力信
号（出力波形）が得られる。又ジッターがあると同図
（Ｂ）の実線で示すようにパルス幅やパルス間隔が変化
した出力信号となる。尚、同図（Ｂ）においてジッター
のない場合の出力信号を破線で示している。
に示すようにパルス幅やパルス間隔にズレのない出力信
号（出力波形）が得られる。又ジッターがあると同図
（Ｂ）の実線で示すようにパルス幅やパルス間隔が変化
した出力信号となる。尚、同図（Ｂ）においてジッター
のない場合の出力信号を破線で示している。
【００５８】本実施例においてはこのときの同図（Ｂ）
に示す出力信号のパルス幅やパルス間隔あるいはそれら
がいくつか加え合わせられた時間等の情報を検出するこ
とによりジッター量を検出し、そのジッター量の情報に
基づいて同期信号を生成している。そして該同期信号に
基づいて画像記録用の半導体レーザ１から射出する走査
用光ビームの発光タイミングを制御することによりジッ
ターのない光走査装置を得ている。
に示す出力信号のパルス幅やパルス間隔あるいはそれら
がいくつか加え合わせられた時間等の情報を検出するこ
とによりジッター量を検出し、そのジッター量の情報に
基づいて同期信号を生成している。そして該同期信号に
基づいて画像記録用の半導体レーザ１から射出する走査
用光ビームの発光タイミングを制御することによりジッ
ターのない光走査装置を得ている。
【００５９】本実施例において光検出器１２面上に集束
される検出用光ビームの集束スポットは光偏向器４の偏
向角に依らず常に一定の位置に形成する為、コーナーキ
ューブアレイ２０を走査することによって生成された光
信号（光パルス列）は全て集束スポットの位置におかれ
た光検出器１２によって検出され光電変換され、この変
換された電気信号から同期信号を生成することができ
る。
される検出用光ビームの集束スポットは光偏向器４の偏
向角に依らず常に一定の位置に形成する為、コーナーキ
ューブアレイ２０を走査することによって生成された光
信号（光パルス列）は全て集束スポットの位置におかれ
た光検出器１２によって検出され光電変換され、この変
換された電気信号から同期信号を生成することができ
る。
【００６０】これにより光検出手段４０は従来の光検出
手段と比べて小型にすることができ、例えば光検出器１
２をフォトダイオード１個で構成してもジッター（走査
時間のムラ）の情報を持つ光信号（光パルス列）の光検
出が可能となる。
手段と比べて小型にすることができ、例えば光検出器１
２をフォトダイオード１個で構成してもジッター（走査
時間のムラ）の情報を持つ光信号（光パルス列）の光検
出が可能となる。
【００６１】尚、本実施例においてはプリズムを用いて
光学部材２０を構成しているが、該プリズムの代わりに
例えば直交する３つの反射面より成るミラーより構成し
ても良い。このような場合でも本実施例においては、こ
の光学部材２０をコーナーキューブと称している。
光学部材２０を構成しているが、該プリズムの代わりに
例えば直交する３つの反射面より成るミラーより構成し
ても良い。このような場合でも本実施例においては、こ
の光学部材２０をコーナーキューブと称している。
【００６２】又、光学部材２０をミラーより構成する場
合には基板上に直交する３つの反射面で構成されるくぼ
みの列を形成し、その列にアルミニウムや銅等の金属を
蒸着すれば良い。
合には基板上に直交する３つの反射面で構成されるくぼ
みの列を形成し、その列にアルミニウムや銅等の金属を
蒸着すれば良い。
【００６３】本実施例においても前述の実施例１と同様
に感光体ドラム６面上の走査開始位置のタイミングも制
御することができる。
に感光体ドラム６面上の走査開始位置のタイミングも制
御することができる。
【００６４】即ち、走査用光ビームで感光体ドラム６面
上を光走査する前に検出用光ビームでコーナーキューブ
アレイ２０を走査し、該コーナーキューブアレイ２０で
得られる光信号（光パルス列）を光検出器１２に導光
し、ジッター量を検出し、そのジッター量を補正する分
だけ感光体ドラム６面上の走査開始位置のタイミングを
調整している。これにより感光体ドラム６面上における
走査開始位置がズレることなく画像記録を行なうことが
できる。
上を光走査する前に検出用光ビームでコーナーキューブ
アレイ２０を走査し、該コーナーキューブアレイ２０で
得られる光信号（光パルス列）を光検出器１２に導光
し、ジッター量を検出し、そのジッター量を補正する分
だけ感光体ドラム６面上の走査開始位置のタイミングを
調整している。これにより感光体ドラム６面上における
走査開始位置がズレることなく画像記録を行なうことが
できる。
【００６５】又、本実施例においては光検出器１２から
の出力信号を利用して上述したジッター量を検出すると
共に合焦状態も同時に検出し、ピントの合った出力画像
を得ている。
の出力信号を利用して上述したジッター量を検出すると
共に合焦状態も同時に検出し、ピントの合った出力画像
を得ている。
【００６６】例えばピントがズレていると感光体ドラム
６面上における走査スポット径は大きくなり、即ち光検
出器１２からの出力信号の立上り、立下り時間に、より
多くの時間を費やすことになる。例えばこのときの光検
出器１２からの出力信号を見てみると図８（Ｃ）に示す
ように立上りと立下りの信号はなまった波形となって出
力される。
６面上における走査スポット径は大きくなり、即ち光検
出器１２からの出力信号の立上り、立下り時間に、より
多くの時間を費やすことになる。例えばこのときの光検
出器１２からの出力信号を見てみると図８（Ｃ）に示す
ように立上りと立下りの信号はなまった波形となって出
力される。
【００６７】そこで本実施例においてはこのときの光検
出器１２からの出力信号を用いて、該出力信号の立上り
及び立下りの波形が常に鋭く保つように、即ち立上り、
立下り時間が短くなるように該光検出器１２で得られた
情報を基にして焦点調節機構（不図示）にフィードバッ
クさせることによりオートフォーカスを可能としてい
る。これにより常にピントの合った出力画像を得てい
る。
出器１２からの出力信号を用いて、該出力信号の立上り
及び立下りの波形が常に鋭く保つように、即ち立上り、
立下り時間が短くなるように該光検出器１２で得られた
情報を基にして焦点調節機構（不図示）にフィードバッ
クさせることによりオートフォーカスを可能としてい
る。これにより常にピントの合った出力画像を得てい
る。
【００６８】尚、本実施例においては各々の光源手段
（半導体レーザ）１，７から射出した光ビームを光偏向
器４へ導く為の光学部材としてコリメーターレンズとシ
リンドリカルレンズを画像記録用と同期検出用とに別々
に設けて構成したが、各々の光ビームを前述の実施例１
と同様に同一のコリメーターレンズ及びシリンドリカル
レンズを通過させるように構成しても良い。これによれ
ば部品点数の減少化が図れる。
（半導体レーザ）１，７から射出した光ビームを光偏向
器４へ導く為の光学部材としてコリメーターレンズとシ
リンドリカルレンズを画像記録用と同期検出用とに別々
に設けて構成したが、各々の光ビームを前述の実施例１
と同様に同一のコリメーターレンズ及びシリンドリカル
レンズを通過させるように構成しても良い。これによれ
ば部品点数の減少化が図れる。
【００６９】又、このように導光手段を構成した場合に
は感光体ドラム６面で反射した走査用光ビームも光検出
器１２にノイズ光として入射する可能性が高くなるが、
該走査用光ビームの光量はコーナーキューブアレイ２０
によって反射される検出用光ビームの光量に比べてかな
り低いのでジッターを測定する際には大きな問題とはな
らない。
は感光体ドラム６面で反射した走査用光ビームも光検出
器１２にノイズ光として入射する可能性が高くなるが、
該走査用光ビームの光量はコーナーキューブアレイ２０
によって反射される検出用光ビームの光量に比べてかな
り低いのでジッターを測定する際には大きな問題とはな
らない。
【００７０】
【発明の効果】本発明によれば前述の如く被走査面近
傍、もしくは被走査面と光学的に略等価な位置に反射部
と非反射部とを有する光学部材を設け、該光学部材を検
出用光ビームで走査することで得られるパルス状の光信
号を光偏向器の偏向面を介して光検出手段へ導光するこ
とにより、該光検出手段の小型化が図ることができ、か
つジッター量を高精度に検出しジッターのない光走査装
置を得ると共に被走査面の走査開始位置のタイミングも
調整することができ、更には合焦状態の検出も可能なジ
ッター量測定手段を有した光走査装置を達成することが
できる。
傍、もしくは被走査面と光学的に略等価な位置に反射部
と非反射部とを有する光学部材を設け、該光学部材を検
出用光ビームで走査することで得られるパルス状の光信
号を光偏向器の偏向面を介して光検出手段へ導光するこ
とにより、該光検出手段の小型化が図ることができ、か
つジッター量を高精度に検出しジッターのない光走査装
置を得ると共に被走査面の走査開始位置のタイミングも
調整することができ、更には合焦状態の検出も可能なジ
ッター量測定手段を有した光走査装置を達成することが
できる。
【図１】 本発明の実施例１の光学系の要部概略図
【図２】 本発明の実施例１の反射型格子の光学的作用
を示す説明図
を示す説明図
【図３】 本発明の実施例１のゴーストスポットを得る
為に結像レンズを付加したときの光学系の要部概略図
為に結像レンズを付加したときの光学系の要部概略図
【図４】 本発明の実施例２の光学系の要部概略図
【図５】 本発明の実施例２の光検出器の説明図
【図６】 本発明の実施例３の光学系の要部概略図
【図７】 本発明の実施例３のコーナーキューブアレイ
の構成を示す説明図
の構成を示す説明図
【図８】 本発明の実施例３の光検出器からの出力信号
を示す説明図
を示す説明図
１，７ 光源手段 ２，８ コリメーターレンズ ３，９ シリンドリカルレンズ ４ 光偏向器 ４ａ，４ｂ 偏向面 ５ 結像手段 ６ 感光体ドラム １０ 反射型格子 １１ アパーチャ １２，１４ 光検出器 １４ａ 光ファイバ列 １４ｂ フォトディテクタ列 ２０ コーナーキューブアレイ １０ａ，１０ｂ，１０ｃ 微小コーナーキューブ ２４ アパーチャーアレイ １３ 結像レンズ ３０，４０ 光検出手段 ３１，３２，４１，４２ 導光手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−106715（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−147220（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−80213（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−51119（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】 画像信号に基づいて光変調された第１光
ビームを第１導光手段を用いて光偏向器の偏向面に導光
し該偏向面で偏向させた後、結像手段を経て被走査面に
入射させて光走査する際、第２光ビームを第２導光手段
を用いて該光偏向器の偏向面に導光し該偏向面で偏向さ
せた後、該結像手段を経て被走査面近傍、もしくは該被
走査面と光学的に略等価な位置に設けた主走査方向に複
数のコーナーキューブを配列したコーナーキューブアレ
イを介して再び該結像手段を経て該光偏向器の偏向面に
入射させ、該偏向面で反射偏向させた後、該第２導光手
段の一部を構成するハーフミラーを介して光検出手段に
入射させ、該光検出手段で得られる信号に基づいてジッ
ター量を検出するようにしたことを特徴とするジッター
量測定手段を有した光走査装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4118395A JP2580933B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | ジッター量測定手段を有した光走査装置 |
| US08/043,931 US5371608A (en) | 1992-04-10 | 1993-04-08 | Optical scan apparatus having jitter amount measuring means |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4118395A JP2580933B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | ジッター量測定手段を有した光走査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0627400A JPH0627400A (ja) | 1994-02-04 |
| JP2580933B2 true JP2580933B2 (ja) | 1997-02-12 |
Family
ID=14735614
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4118395A Expired - Fee Related JP2580933B2 (ja) | 1992-04-10 | 1992-04-10 | ジッター量測定手段を有した光走査装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5371608A (ja) |
| JP (1) | JP2580933B2 (ja) |
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| US5753907A (en) * | 1995-05-24 | 1998-05-19 | Ricoh Company, Ltd. | Multiple beam scanning apparatus |
| JP3496171B2 (ja) * | 1995-08-08 | 2004-02-09 | コニカミノルタホールディングス株式会社 | 光ビームを回転多面鏡によって偏向して記録体上を走査する装置の周期的ムラ補正パターンの決定方法及び装置 |
| US5786594A (en) * | 1996-01-18 | 1998-07-28 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-beam pitch adjustment system and method |
| US6323890B1 (en) | 1997-05-13 | 2001-11-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Print head and image formation apparatus |
| US6461003B1 (en) | 1997-06-12 | 2002-10-08 | Purdue Research Foundation | Corner cube arrays and manufacture thereof |
| JP4063922B2 (ja) * | 1997-08-25 | 2008-03-19 | 富士フイルム株式会社 | 光ビーム走査装置 |
| DE19829986C1 (de) * | 1998-07-04 | 2000-03-30 | Lis Laser Imaging Systems Gmbh | Verfahren zur Direktbelichtung von Leiterplattensubstraten |
| US7003241B1 (en) * | 1998-07-31 | 2006-02-21 | Ricoh Printing Systems, Ltd. | Image recording device and an image recording system |
| JP2001142016A (ja) * | 1999-11-15 | 2001-05-25 | Brother Ind Ltd | マルチビームスキャナ |
| JP4123714B2 (ja) * | 2000-12-11 | 2008-07-23 | コニカミノルタビジネステクノロジーズ株式会社 | 画像形成装置 |
| US7045773B2 (en) * | 2003-07-18 | 2006-05-16 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning apparatus for accurately detecting and correcting position of optical beam in subscanning direction, and the method |
| US8004724B2 (en) * | 2005-12-05 | 2011-08-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Method and apparatus for image reading with synchronized readout and lighting control |
| US7760392B2 (en) * | 2006-08-22 | 2010-07-20 | Lexmark International, Inc. | Variation of synchronization gain based upon laser power |
| JP4934498B2 (ja) * | 2007-05-17 | 2012-05-16 | キヤノン株式会社 | 走査式光学装置、画像形成装置及びジッター補正方法 |
| JP5309514B2 (ja) * | 2007-09-21 | 2013-10-09 | 株式会社リコー | 光走査装置、および画像形成装置 |
| JP2012083559A (ja) * | 2010-10-12 | 2012-04-26 | Konica Minolta Business Technologies Inc | 画像形成装置及び画像形成装置制御方法 |
| JP5976495B2 (ja) * | 2012-10-17 | 2016-08-23 | シャープ株式会社 | 光走査装置、及びそれを備えた画像形成装置 |
| JP6464715B2 (ja) * | 2014-12-15 | 2019-02-06 | コニカミノルタ株式会社 | 走査光学装置及び画像形成装置 |
| US10429183B2 (en) * | 2016-09-21 | 2019-10-01 | Philip M. Johnson | Non-contact coordinate measuring machine using hybrid cyclic binary code structured light |
| WO2019236821A1 (en) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | Johnson Philip M | Linear and rotary multitrack absolute position encoder and methods using the same |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4616132A (en) * | 1984-05-29 | 1986-10-07 | Eastman Kodak Company | Synchronization apparatus for scanner |
| JPS61147220A (ja) * | 1984-12-20 | 1986-07-04 | Fujitsu Ltd | 光ビ−ム走査装置 |
| JPH077152B2 (ja) * | 1986-02-03 | 1995-01-30 | 富士写真フイルム株式会社 | 光ビーム走査装置 |
| US4940310A (en) * | 1986-03-19 | 1990-07-10 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Optical scanning device using plural sources of differing wavelengths |
| US4761660A (en) * | 1986-12-15 | 1988-08-02 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Laser scanning apparatus using a fan style grating plate |
| JPH0251119A (ja) * | 1988-08-12 | 1990-02-21 | Canon Inc | 走査光学装置 |
| JPH02106715A (ja) * | 1988-10-17 | 1990-04-18 | Ricoh Co Ltd | 多点同期方式の光走査装置 |
| JPH02277018A (ja) * | 1989-04-19 | 1990-11-13 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光ビーム走査装置 |
| JPH0380213A (ja) * | 1989-08-23 | 1991-04-05 | Ricoh Co Ltd | レーザ書込装置 |
| US5115121A (en) * | 1990-01-05 | 1992-05-19 | Control Module Inc. | Variable-sweep bar code reader |
-
1992
- 1992-04-10 JP JP4118395A patent/JP2580933B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-04-08 US US08/043,931 patent/US5371608A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0627400A (ja) | 1994-02-04 |
| US5371608A (en) | 1994-12-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |