JP2022062213A - 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法 - Google Patents
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Abstract
Description
二次元レーザー変位計と、
前記二次元レーザー変位計をX軸方向に移動させる移動機構と、
前記二次元レーザー変位計のX軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、
前記二次元レーザー変位計により取得された変位データと、前記移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置と、
を備える三次元表面粗度評価装置であって、
前記移動機構が、車輪またはクローラーであり、
前記二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にY軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がY軸方向と一致するように配置され、
前記演算装置は、
前記二次元レーザー変位計によりX軸方向の一定間隔毎に取得された前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてY軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、
各X-Y平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成され、
前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するY軸方向の長さであり、
該平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上であることを特徴とする。
測定対象の三次元表面粗度データを生成する三次元表面粗度評価方法であって、
二次元レーザー変位計によって、X軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得し、
前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてY軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、
各X-Y平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するものであり、
前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するY軸方向の長さであり、
該平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上であることを特徴とする。
図1は、本実施例における三次元表面粗度評価装置の構成を説明するための概略構成図であり、図1(a)は側面から見た概略構成図、図1(b)は正面から見た概略構成図である。
また、二次元レーザー変位計12は、一定間隔毎にY軸方向の座標の変位データを一度に読み取れるように、二次元レーザー変位計12の幅方向が、移動機構14の移動方向(X軸方向)と垂直、すなわち、Y軸方向と一致するように配置されている。
このように構成される本実施例の三次元表面粗度評価装置10による測定対象22の表面粗度評価の具体例を以下に示す。
まず、三次元表面粗度評価装置10を移動機構14により測定対象22の表面上で移動させることにより、一定間隔毎に移動距離読取装置16により得られる移動距離に基づく移動距離データと、二次元レーザー変位計12により得られる変位データを演算装置18に記録する。
なお、図3に示す変位データは、本実施例の三次元表面粗度評価装置10により、塗装板1の30mm×30mmの測定範囲を250μmピッチで121×121(X軸方向、Y軸方向ともに121点)データを取得したものである。本実施例では、このような計測が1秒以内に完了した。
図7は、図6に示す三次元表面粗度データより、表面粗度パラメーターであるRz(最大高さ粗さ)、RSm(要素の平均長さ)、Rzjis(十点平均粗さ)、Ra(算術平均粗さ)、Rq(二乗平均平方根粗さ)、Rc(粗さ曲線の平均高さ)、Rsk(スキューネス)、Rku(クルトシス)を算出し、変位の最小点をゼロとしてグラフ化したものである。
本実施例の三次元表面粗度評価装置10により得られた表面粗度パラメーターの妥当性を検証するため、X-Yステージに取り付けたレーザー変位計(点状レーザー型変位計)により、実施例1における塗装板1の測定範囲と同一の範囲の表面粗度パラメーターを測定した。
二次元レーザー変位計12として、レーザー幅7.5mmの二次元レーザー変位計を用いたケースをシミュレーションするため、実施例1における塗装板1の測定範囲の内、Y軸方向の端から7.5mmの範囲の表面粗度パラメーターを測定した。なお、二次元レーザー変位計12のレーザー幅以外の構成は、実施例1の三次元表面粗度評価装置10と同様のものを使用した。
表1は、測定対象22として金属板の表面を塗料により塗装した状態の塗装板2について測定し、二次元レーザー変位計12の計測幅を0.5mm、1mm、2mm、4mm、16mm、32mmと変化させて、各計測幅で二次元レーザーの幅方向(Y軸方向)に平均化した基準面データにより補正して得た各表面粗度パラメーターである。
表2は、計測幅32mmでのRSm(3325μm)に対する表1における各計測幅の倍率と、計測幅32mmでの各表面粗度パラメーターに対する表1における各計測幅での各表面粗度パラメーターの割合を示している。
三次元表面粗度データ取得装置30と外部端末である演算装置18を用いて、測定対象22として船体の三次元表面粗度を測定した。なお、実施例3の三次元表面粗度データ取得装置30の構成は、実施例1の三次元表面粗度評価装置10から演算装置18を省いたものと同様である。
図15(a)は、三次元表面粗度データ取得装置30を用いて測定した船体の表面粗度パラメーターであるRz(最大高さ粗さ)、RSm(要素の平均長さ)の分布を示す三次元ヒストグラム、図15(b)は、図15(a)のRSm成分の分布を示すヒストグラム、図15(c)は、図15(a)のRz成分の分布を示すヒストグラムである。
12 二次元レーザー変位計
14 移動機構
16 移動距離読取装置
18 演算装置
20 可搬型バッテリー
22 測定対象
30 三次元表面粗度データ取得装置
32 記憶装置
34 通信手段
Claims (6)
- 二次元レーザー変位計と、
前記二次元レーザー変位計をX軸方向に移動させる移動機構と、
前記二次元レーザー変位計のX軸方向の移動距離を読み取る移動距離読取装置と、
前記二次元レーザー変位計により取得された変位データと、前記移動距離読取装置により取得された移動距離データとに基づき、測定対象の三次元表面粗度データを生成する演算装置と、
を備える三次元表面粗度評価装置であって、
前記移動機構が、車輪またはクローラーであり、
前記二次元レーザー変位計は、一定間隔毎にY軸方向の座標の変位データを読み取り可能となるように、該二次元レーザー変位計の幅方向がY軸方向と一致するように配置され、
前記演算装置は、
前記二次元レーザー変位計によりX軸方向の一定間隔毎に取得された前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてY軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、
各X-Y平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するように構成され、
前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するY軸方向の長さであり、
該平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上であることを特徴とする三次元表面粗度評価装置。 - 前記平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上17.6倍以下であることを特徴とする請求項1に記載の三次元表面粗度評価装置。
- 前記移動距離読取装置が、前記移動機構と連動した円形スケールにより移動距離をスケールセンサーで読み取る装置、または、ロータリーエンコーダーにより回転数を読み取り移動距離を算出する装置であることを特徴とする請求項1または2に記載の三次元表面粗度評価装置。
- 可搬型バッテリーをさらに備えることを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の三次元表面粗度評価装置。
- 測定対象の三次元表面粗度データを生成する三次元表面粗度評価方法であって、
二次元レーザー変位計によって、X軸方向の一定間隔毎に変位を測定することにより変位データを取得し、
前記変位データを、前記二次元レーザー変位計のレーザー幅以下である所定の計測幅においてY軸方向に平均化して、各座標の基準面データを生成し、
各X-Y平面座標の前記変位データから、前記各座標の基準面データを減算して、前記測定対象の三次元表面粗度データを生成するものであり、
前記二次元レーザー変位計の計測幅が、平均化するY軸方向の長さであり、
該平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上であることを特徴とする三次元表面粗度評価方法。 - 前記平均化するY軸方向の長さが、測定対象の要素の平均長さRSmの2倍以上17.6倍以下であることを特徴とする請求項5に記載の三次元表面粗度評価方法。
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