JPS62231110A - レ−ルの波状摩耗検測装置 - Google Patents
レ−ルの波状摩耗検測装置Info
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- JPS62231110A JPS62231110A JP7527586A JP7527586A JPS62231110A JP S62231110 A JPS62231110 A JP S62231110A JP 7527586 A JP7527586 A JP 7527586A JP 7527586 A JP7527586 A JP 7527586A JP S62231110 A JPS62231110 A JP S62231110A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- WYROLENTHWJFLR-ACLDMZEESA-N queuine Chemical compound C1=2C(=O)NC(N)=NC=2NC=C1CN[C@H]1C=C[C@H](O)[C@@H]1O WYROLENTHWJFLR-ACLDMZEESA-N 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、鉄道線路のレール上を走行しながら、レール
頭部の波状摩耗、変形等の凹凸状態を連続的に検測する
レールの検測装置に関する。
頭部の波状摩耗、変形等の凹凸状態を連続的に検測する
レールの検測装置に関する。
[従来の技術]
鉄道線路のレール頭部には、レール上を走行する車両の
車輪との間の摩擦等により、レールの長手方向に波状に
凹凸を呈する波状摩耗が発生したり、変形が生じたりす
る。これらの波状摩耗、変形等が進行すると、車両が通
過するごとに、車両、軌道および路盤に激しい@肋や衝
撃を与え、乗客の乗り心地を悪くするともに、軌道や路
盤の破壊を促進し、また騒音を発生して、鉄道沿線に騒
音公害をもたらす等の不都合を生ずる。したがって、上
記のような事態が発生する前に、レール頭部に発生した
波状摩耗、変形等の凹凸状態を検測して、必要な場合に
はレール頭部削正中等を使用して、それらの波状摩耗等
を除去しなければならない。
車輪との間の摩擦等により、レールの長手方向に波状に
凹凸を呈する波状摩耗が発生したり、変形が生じたりす
る。これらの波状摩耗、変形等が進行すると、車両が通
過するごとに、車両、軌道および路盤に激しい@肋や衝
撃を与え、乗客の乗り心地を悪くするともに、軌道や路
盤の破壊を促進し、また騒音を発生して、鉄道沿線に騒
音公害をもたらす等の不都合を生ずる。したがって、上
記のような事態が発生する前に、レール頭部に発生した
波状摩耗、変形等の凹凸状態を検測して、必要な場合に
はレール頭部削正中等を使用して、それらの波状摩耗等
を除去しなければならない。
このレールの上面に発生した波状摩耗、変形等を検測す
る従来の装置としては、鉄道線路のレール上を走行可能
な検測台車の前車輪と後車輪との略中間に検測器が設け
られたものがある。
る従来の装置としては、鉄道線路のレール上を走行可能
な検測台車の前車輪と後車輪との略中間に検測器が設け
られたものがある。
[発明が解決しようとする問題点]
一般にレールの波状摩耗の場合は、その振幅がQ、1m
m以下になるように削正しなければ短時間に再び波状摩
耗が進行するので、10um以下の高精度な測定が必要
となる。
m以下になるように削正しなければ短時間に再び波状摩
耗が進行するので、10um以下の高精度な測定が必要
となる。
しかしながら、上記の前後の車輪の略中間に検測器が取
付けられたものでは、車輪の偏心によって車軸が上下に
変動し、これによって検測器も上下に移動するため、測
定誤差を生じる。
付けられたものでは、車輪の偏心によって車軸が上下に
変動し、これによって検測器も上下に移動するため、測
定誤差を生じる。
前記の高精度検測を行なうためには、車輪の偏心を10
μm以下におさえるか、または、第5図に示ずように、
車輪のかわりに、レール頭部R゛の長手方向の前後に摺
動自在に圧接させられたシュー20を用い、その略中間
に検測器5を取付けることが考えられる。ところが、車
輪の偏心を10am以下に製作することは困難であり、
また、上記のようなシューを使用した場合には、シュー
がレール頭部に接触した状態で測定するため、8速での
測定ができないという問題点があった。
μm以下におさえるか、または、第5図に示ずように、
車輪のかわりに、レール頭部R゛の長手方向の前後に摺
動自在に圧接させられたシュー20を用い、その略中間
に検測器5を取付けることが考えられる。ところが、車
輪の偏心を10am以下に製作することは困難であり、
また、上記のようなシューを使用した場合には、シュー
がレール頭部に接触した状態で測定するため、8速での
測定ができないという問題点があった。
そこで本発明の目的は、検測台車の車輪の偏心による測
定誤差を補正して高精度な検測ができるレールの検測装
置を提供することにある。
定誤差を補正して高精度な検測ができるレールの検測装
置を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は上記問題点を解決するために、レール上を走行
可能な検測台車に取付けられた検測器によりレール頭部
の波状摩耗、変形等の凹凸状態を検出する検測装置にお
いて、検測器による検測量から、検測台車の車輪の偏心
による検測量の変動に対応する周波数成分を除去するフ
ィルタ回路を設けたものである。
可能な検測台車に取付けられた検測器によりレール頭部
の波状摩耗、変形等の凹凸状態を検出する検測装置にお
いて、検測器による検測量から、検測台車の車輪の偏心
による検測量の変動に対応する周波数成分を除去するフ
ィルタ回路を設けたものである。
また、好ましい実施態様は、検測台車の速度を検出する
速度検出器により前記フィルタ回路のノツチ周波数また
はカッ1−オフ周波数を制御する制御回路を備えたもの
である。
速度検出器により前記フィルタ回路のノツチ周波数また
はカッ1−オフ周波数を制御する制御回路を備えたもの
である。
[作 用1
上記のような車輪を有する検測装置の検出器の出力波形
は、第4図に示すように、車輪の偏心による変動の特有
の波形aにレールの波状摩耗m、変形■等の波形が重な
ったものとなる。
は、第4図に示すように、車輪の偏心による変動の特有
の波形aにレールの波状摩耗m、変形■等の波形が重な
ったものとなる。
本発明の検測装置においては、検測器によって検出され
た検測量から、フィルタ回路を用いて、車輪の偏心によ
る基準高さの変動に対応する周波数分を除去することに
より実際の波状摩耗等の凹凸状態が検出される。
た検測量から、フィルタ回路を用いて、車輪の偏心によ
る基準高さの変動に対応する周波数分を除去することに
より実際の波状摩耗等の凹凸状態が検出される。
また、検測速度が一定であれば車輪の偏心による変動周
波数も一定で、フィルタ回路のカットオフ周波数、ノツ
チ周波数は固定でよいが、検測速度が一定でない場合に
はカットオフ周波数、ノツチ周波数は速度信号で制御す
る必要がある。
波数も一定で、フィルタ回路のカットオフ周波数、ノツ
チ周波数は固定でよいが、検測速度が一定でない場合に
はカットオフ周波数、ノツチ周波数は速度信号で制御す
る必要がある。
したがって、速度検出器により検出された速度によりフ
ィルタ回路のノツチ周波数またはカットオフ周波数を制
御する制御回路を備えると、検測台車の速度に応じて、
車輪の偏心による波形が、検測された波形から自動的に
除去される。
ィルタ回路のノツチ周波数またはカットオフ周波数を制
御する制御回路を備えると、検測台車の速度に応じて、
車輪の偏心による波形が、検測された波形から自動的に
除去される。
[実施例]
以下、図面を用いて本発明の実施例について説明する。
第1図は、レール頭部R°の波状摩耗、変形等の凹凸状
態を検出する検測装置の一実施例を示すブロック図であ
り、第2図は、この装置の正面図である。この検測装置
は、第2図に示すように、検測台車1が前車輪2及び後
車輪3により鉄道線路のレールR上を走行可能になされ
ており、この検測台車1下方の前車輪2と後車輪3との
略中間には、接触型または非接触型の検測器5が設けら
れている。接触型の検測器としては、レール頭部R°と
接触するスライドシャフトの上下変量を電圧または電流
に変換するポテンショメータまたは差動トランス等を利
用したセンサ、非接触型の検測器としては、光を利用し
た光学式センサ、レール頭部R゛とのギャップの静電容
量を検出する静電容量式センサ、コイルにより磁界を発
生させ、電磁誘導によりレールに誘11流が流れて生ず
るコイルのインダクタンス損失を検出する磁気式センサ
等が用いられる。この検測器5は、第1図に示すように
、後述するフィルタ回路7に接続されている。
態を検出する検測装置の一実施例を示すブロック図であ
り、第2図は、この装置の正面図である。この検測装置
は、第2図に示すように、検測台車1が前車輪2及び後
車輪3により鉄道線路のレールR上を走行可能になされ
ており、この検測台車1下方の前車輪2と後車輪3との
略中間には、接触型または非接触型の検測器5が設けら
れている。接触型の検測器としては、レール頭部R°と
接触するスライドシャフトの上下変量を電圧または電流
に変換するポテンショメータまたは差動トランス等を利
用したセンサ、非接触型の検測器としては、光を利用し
た光学式センサ、レール頭部R゛とのギャップの静電容
量を検出する静電容量式センサ、コイルにより磁界を発
生させ、電磁誘導によりレールに誘11流が流れて生ず
るコイルのインダクタンス損失を検出する磁気式センサ
等が用いられる。この検測器5は、第1図に示すように
、後述するフィルタ回路7に接続されている。
検測台車1の前車輪2または後車輪3には速度検出器6
が取付けられており、これによって検測台車1の走行速
度が検出される。この速度検出器6は、第1図に示すよ
うに、制御回路9に接続され、このtiIlIK1回路
9はフィルタ回路7に接続されている。
が取付けられており、これによって検測台車1の走行速
度が検出される。この速度検出器6は、第1図に示すよ
うに、制御回路9に接続され、このtiIlIK1回路
9はフィルタ回路7に接続されている。
この検測台車1は、油圧シリンダ8を介して削正中等の
作業車(図示せず)に連結されており、この油圧シリン
ダ8により、検測作業時には、レールR上に降ろされて
作業車とともにレールR上を走行し、回送時には、レー
ルR上より引ぎ上げられて作業車に収納される。
作業車(図示せず)に連結されており、この油圧シリン
ダ8により、検測作業時には、レールR上に降ろされて
作業車とともにレールR上を走行し、回送時には、レー
ルR上より引ぎ上げられて作業車に収納される。
検測作業の際には、検測台車1が作業車と共に所定速度
でレールR上を走行し、検測器5によりレール頭部R°
の凹凸状態が検測されるが、検測台車1の車輪2,3に
偏心があると、検測器5が上下に変動し、すなわち、検
測器5の基準高さが変動する。検測器5による検測器は
、レール頭部R゛の実際の凹凸状態に、車輪2゜3の偏
心による検測器5の基準高さの変動が重なった量となる
。検測台車1の車輪2,3の半径をR(mlll)とし
、検測台車1の走行速度をS(km/h)とすると、検
測器5の基準高さの変動の波長はλ=2πR(mm)と
なり、検測器5の基準高さの変動の周波数は f=sx106/ (3600・λ) となる。
でレールR上を走行し、検測器5によりレール頭部R°
の凹凸状態が検測されるが、検測台車1の車輪2,3に
偏心があると、検測器5が上下に変動し、すなわち、検
測器5の基準高さが変動する。検測器5による検測器は
、レール頭部R゛の実際の凹凸状態に、車輪2゜3の偏
心による検測器5の基準高さの変動が重なった量となる
。検測台車1の車輪2,3の半径をR(mlll)とし
、検測台車1の走行速度をS(km/h)とすると、検
測器5の基準高さの変動の波長はλ=2πR(mm)と
なり、検測器5の基準高さの変動の周波数は f=sx106/ (3600・λ) となる。
本発明においては、第1図に示ずように、検測器5にフ
ィルタ回路7が接続されており、検測器5による検測値
から、上記の車輪2.3の偏心による基準高さの変動の
周波数fの成分が除去される。このフィルタ回路7は、
波状摩耗等のレールRの凹凸状態の波長が、基準高さの
変動の波長λよりも短い場合は、カットオフ周波数fc
がfのローパスフィルタを用いてもよいが、基準高さの
変動の波長λよりも長い波長のものを含む場合は、ノツ
チ周波数fOがfの帯域阻止フィルタを用いる。
ィルタ回路7が接続されており、検測器5による検測値
から、上記の車輪2.3の偏心による基準高さの変動の
周波数fの成分が除去される。このフィルタ回路7は、
波状摩耗等のレールRの凹凸状態の波長が、基準高さの
変動の波長λよりも短い場合は、カットオフ周波数fc
がfのローパスフィルタを用いてもよいが、基準高さの
変動の波長λよりも長い波長のものを含む場合は、ノツ
チ周波数fOがfの帯域阻止フィルタを用いる。
特にこの実施例においては、前記フィルタ回路7として
、カットオフ周波数fcまたはノツチ周波数fOが可変
のものを用い、速度検出器6からの検出信号によってこ
のフィルタ回路7のカットオフ周波数fcまたはノツチ
周波数fOを $制御する制御回路9が備えられている。すなわちフィ
ルタ回路7は、この制御回路9によって、カットオフ周
波数が、 fC=f=SX106/(3600・2πR)となるか
、またはノツチ周波数が fO=f=sx106/(3600・2πR)となるよ
うに制御される。
、カットオフ周波数fcまたはノツチ周波数fOが可変
のものを用い、速度検出器6からの検出信号によってこ
のフィルタ回路7のカットオフ周波数fcまたはノツチ
周波数fOを $制御する制御回路9が備えられている。すなわちフィ
ルタ回路7は、この制御回路9によって、カットオフ周
波数が、 fC=f=SX106/(3600・2πR)となるか
、またはノツチ周波数が fO=f=sx106/(3600・2πR)となるよ
うに制御される。
この速度検出器6として【ユ、DCタコジェネレータや
、第3図に示すように、検測台車1の車輪2または3に
取付けられたパルス発生器10のパルスの周波数をF/
V変換器11によって電圧に変換してフィルタ回路7の
カットオフ周波数fC、ノツチ周波数fOを制御するも
の等が用いられる。
、第3図に示すように、検測台車1の車輪2または3に
取付けられたパルス発生器10のパルスの周波数をF/
V変換器11によって電圧に変換してフィルタ回路7の
カットオフ周波数fC、ノツチ周波数fOを制御するも
の等が用いられる。
作業車を用いて検測台車1をレールR上を走行させなが
ら、検1lIII器5によって検測された検測信号は、
第1図のAのように、レールRの波状摩耗等の凹凸に車
輪2.3の偏心による基準高さの変動aが重なった信号
となり、この信号からフィルタ回路7によって基準高さ
の変vIaの周波数成分が除去されるため、車輪の偏心
による基Q高さの変動分aを含まない第1図の8のよう
な信号となる。この信号をレコーダ等に記録する。
ら、検1lIII器5によって検測された検測信号は、
第1図のAのように、レールRの波状摩耗等の凹凸に車
輪2.3の偏心による基準高さの変動aが重なった信号
となり、この信号からフィルタ回路7によって基準高さ
の変vIaの周波数成分が除去されるため、車輪の偏心
による基Q高さの変動分aを含まない第1図の8のよう
な信号となる。この信号をレコーダ等に記録する。
[発明の効果]
本発明の検測装置によると、検測器によって検出された
検測器から、車輪の偏心による検測器の基準高さの変動
に対応する周波数分を除去することによって、レール頭
部の波状摩耗、変形等の凹凸状態を高精度に検測ができ
る。
検測器から、車輪の偏心による検測器の基準高さの変動
に対応する周波数分を除去することによって、レール頭
部の波状摩耗、変形等の凹凸状態を高精度に検測ができ
る。
また速度検出器の速度信号でフィルタ回路のカットオフ
周波数またはノツチ周波数を1.制御すると、走行速度
を常に一定に保つ必要はなく、走行速度の変化によって
測定誤差が生じるということもない。
周波数またはノツチ周波数を1.制御すると、走行速度
を常に一定に保つ必要はなく、走行速度の変化によって
測定誤差が生じるということもない。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図は
レールの検測装置を示す正面図、第3図は速度検出器及
び制器回路を示すブロック図、第4図は検測器による検
測けを示す波形図、第5図は従来例を示す正面図である
。 符号の説明 1・・・検測台車 2・・・前車輪3・・・後車輪
5・・・検測器6・・・速度検出器 7・・
・フィルタ回路9・・・制御回路
レールの検測装置を示す正面図、第3図は速度検出器及
び制器回路を示すブロック図、第4図は検測器による検
測けを示す波形図、第5図は従来例を示す正面図である
。 符号の説明 1・・・検測台車 2・・・前車輪3・・・後車輪
5・・・検測器6・・・速度検出器 7・・
・フィルタ回路9・・・制御回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、レール上を走行可能な検測台車に取付けられた検測
器によりレール頭部の波状摩耗、変形等の凹凸状態を検
出する検測装置において、検測器による検測量から、検
測台車の車輪の偏心による検測量の変動に対応する周波
数成分を除去するフィルタ回路を設けたことを特徴とす
るレールの波状摩耗検測装置。 2、検測台車の速度を検出する速度検出器により、フィ
ルタ回路のノッチ周波数またはカットオフ周波数を制御
する制御回路を備えたことを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載のレールの波状摩耗検測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7527586A JPS62231110A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | レ−ルの波状摩耗検測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7527586A JPS62231110A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | レ−ルの波状摩耗検測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62231110A true JPS62231110A (ja) | 1987-10-09 |
Family
ID=13571513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7527586A Pending JPS62231110A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | レ−ルの波状摩耗検測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62231110A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0534139A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Nissan Motor Co Ltd | コンベアフリーレールの磨耗測定装置 |
JP2007145270A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Univ Nihon | 軌道状態解析方法及び軌道状態解析装置並びに軌道状態解析プログラム |
JP2017227583A (ja) * | 2016-06-24 | 2017-12-28 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 軌道情報収集装置及びレール軸力測定装置 |
WO2018021210A1 (ja) * | 2016-07-27 | 2018-02-01 | 中国塗料株式会社 | 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法 |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP7527586A patent/JPS62231110A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0534139A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-09 | Nissan Motor Co Ltd | コンベアフリーレールの磨耗測定装置 |
JP2007145270A (ja) * | 2005-11-30 | 2007-06-14 | Univ Nihon | 軌道状態解析方法及び軌道状態解析装置並びに軌道状態解析プログラム |
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WO2018021210A1 (ja) * | 2016-07-27 | 2018-02-01 | 中国塗料株式会社 | 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法 |
CN109477712A (zh) * | 2016-07-27 | 2019-03-15 | 中国涂料株式会社 | 三维表面粗糙度评价装置、三维表面粗糙度评价方法、三维表面粗糙度数据获取装置和三维表面粗糙度数据获取方法 |
JPWO2018021210A1 (ja) * | 2016-07-27 | 2019-04-04 | 中国塗料株式会社 | 三次元表面粗度評価装置及び三次元表面粗度評価方法並びに三次元表面粗度データ取得装置及び三次元表面粗度データ取得方法 |
US11162786B2 (en) | 2016-07-27 | 2021-11-02 | Chugoku Marine Paints, Ltd. | Three-dimensional surface roughness evaluating device, three-dimensional surface roughness evaluating method, three-dimensional surface roughness data acquiring device, and three-dimensional surface roughness data acquiring method |
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