CN114396897A - 一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置及其测绘方法 - Google Patents

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周新
巨能攀
解明礼
张成强
王珏
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Abstract

本发明公开了一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置及其测绘方法,其装置包括岩石结构面数据提取设备和图像处理系统;岩石结构面数据提取设备利用激光位移传感器,用于提取岩石结构面的实时数据;图像处理系统用于对岩石结构面数据提取设备提取的实时数据进行分析处理,得到岩石结构面的粗糙度。本发明公开一种运用在地质领域,能够准确获取岩体结构面起伏曲线的装置。本发明装置具有体积小、野外携带方便、处理速度快和操作简易等优势。

Description

一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置及其测绘方法
技术领域
本发明属于岩体结构面轮廓线提取技术领域,具体涉及一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置及其测绘方法。
背景技术
传统获取结构面轮廓线的方法主要分为物理接触式、野外三维激光扫描后进行室内数据分析处理以及野外岩石取样进行室内摄影测量等3种,存在步骤繁琐、工作量繁重和操作不便等弊端,传统的机械结构设备获取方法存在精度较大,而室内激光扫描装置则存在野外无法使用和设备成本过高等问题。
发明内容
本发明为了解决上述问题,提出了一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置及其测绘方法。
本发明的技术方案是:一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置包括岩石结构面数据提取设备和图像处理系统;
岩石结构面数据提取设备利用激光位移传感器,用于提取岩石结构面的实时数据;图像处理系统用于对岩石结构面数据提取设备提取的实时数据进行分析处理,得到岩石结构面的粗糙度。
进一步地,岩石结构面数据提取设备包括带滚珠轴承底片、滑块、滚珠丝杆、光轴、稳定轴承片、联轴器、电机法兰片、电机、保护壳、二维激光位移传感器、透明树脂玻璃、端部定位装置、12V可充电电源、数据存储控制模块和USB接口;
带滚珠轴承底片设置于滚珠丝杆的一端;滚珠丝杆和电机的齿轮啮合;二维激光位移传感器通过滑块活动设置于滚珠丝杆上;光轴设置于滚珠丝杆内;稳定轴承片设置于滚珠丝杆的另一端;二维激光位移传感器外部设置有保护壳;保护壳上设置有透明树脂玻璃;端部定位装置设置于保护壳的底部;电机通过联轴器和电机法兰片与滚珠丝杆连接;电机、12V可充电电源、数据存储控制模块和USB接口依次连接。
本发明的有益效果是:本发明公开一种运用在地质领域,能够准确获取岩体结构面起伏曲线的装置。本发明装置具有体积小、野外携带方便、处理速度快和操作简易等优势。
基于以上系统,本发明还提出一种岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,包括以下步骤:
S1:利用岩石结构面粗糙度测绘装置的二维激光位移传感器采集时间值以及激光头与岩石结构面之间的距离值,得到二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标;
S2:根据二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标,生成基于二维坐标系的二维轮廓线;
S3:对二维轮廓线依次进行优化和拟合,得到岩石结构面的趋势直线;
S4:对趋势直线进行二次优化,得到岩石结构面的最优轮廓线;
S5:基于岩石结构面的最优轮廓线,计算岩石结构面的相对起伏度和剖面线长度,并根据相对起伏度和剖面线长度计算岩石结构面的粗糙度。
进一步地,步骤S1中,获取二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标的具体方法为:将时间值乘以速度值,得到横坐标值X,将50mm与距离值的差值作为纵坐标值Y。
进一步地,步骤S3中,对二维轮廓线进行优化的具体方法为:在二维坐标系的Y轴数据中,在Yn+1和Yn的差值大于0.5mm时利用插值法对进行优化,直至Yn+1和Yn的差值大于0.5mm,完成优化,其中,Yn+1表示第n+1时刻的纵坐标值,Yn表示第n时刻的纵坐标值。
进一步地,步骤S4中,获取岩石结构面的最优轮廓线的具体方法为:利用趋势直线与二维坐标系的X轴的夹角θ构建旋转矩阵
Figure BDA0003477931250000031
并利用旋转矩阵对点云数据进行数据变换,得到最优轮廓线,其数据变换的计算公式为:
Figure BDA0003477931250000032
其中,x和y分别表示点云数据的横纵坐标,x′和y′分别表示数据变换后点云数据的横纵坐标。
进一步地,步骤S5包括以下子步骤:
S51:识别步骤S4中进行数据变换后的数据最大值Kmax和数据最小值Kmin,并根据数据最大值Kmax和数据最小值Kmin计算岩石结构面的相对起伏度Ra
S52:计算岩石结构面的剖面线长度Lx
S53:根据岩石结构面的相对起伏度Ra和剖面线长度Lx,计算岩石结构面的粗糙度JRC。
进一步地,步骤S51中,岩石结构面的相对起伏度Ra的计算公式为:
Ra=(Kmax-Kmin)/100
其中,Kmax表示数据最大值,Kmin表示数据最小值;100mm为仪器测量量程;
步骤S52中,岩石结构面的剖面线长度Lx的计算公式为:
Lx=L/L0
其中,L表示优化后的轮廓线曲线长度,L0表示所测剖面线长度;为固定值100mm;
步骤S53中,岩石结构面的粗糙度JRC的计算公式为:
Figure BDA0003477931250000041
本发明的有益效果是:本发明的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法在实用性和成本方面达到较好的平衡,能够实现在野外现场快速和高效的获取结构面轮廓线,从而为室内分析提供准确的第一手资料。
附图说明
图1为岩石结构面粗糙度高精度测绘装置的结构图;
图2为带丝杆的步进电动机套装的结构图;
图3为岩石结构面粗糙度高精度测绘方法的流程图;
图中,1-1、带滚珠轴承底片;1-2、滑块;1-3、滚珠丝杆;1-4、光轴;1-5、稳定轴承片;1-6、联轴器;1-7、电机法兰片;1-8、电机;2-1、保护壳;2-2、二维激光位移传感器;2-3、透明树脂玻璃;2-4、端部定位装置;2-5、12V可充电电源;2-6、数据存储控制模块;2-7、USB接口。
具体实施方式
下面结合附图对本发明的实施例作进一步的说明。
如图1所示,本发明提供了一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置,包括岩石结构面数据提取设备和图像处理系统;
岩石结构面数据提取设备利用激光位移传感器,用于提取岩石结构面的实时数据;图像处理系统用于对岩石结构面数据提取设备提取的实时数据进行分析处理,得到岩石结构面的粗糙度。
在本发明实施例中,如图1和图2所示,岩石结构面数据提取设备包括带滚珠轴承底片1-1、滑块1-2、滚珠丝杆1-3、光轴1-4、稳定轴承片1-5、联轴器1-6、电机法兰片1-7、电机1-8、保护壳2-1、二维激光位移传感器2-2、透明树脂玻璃2-3、端部定位装置2-4、12V可充电电源2-5、数据存储控制模块2-6和USB接口2-7;
带滚珠轴承底片1-1设置于滚珠丝杆1-3的一端;滚珠丝杆1-3和电机1-8的齿轮啮合;二维激光位移传感器2-2通过滑块1-2活动设置于滚珠丝杆1-3上;光轴1-4设置于滚珠丝杆1-3内;稳定轴承片1-5设置于滚珠丝杆1-3的另一端;二维激光位移传感器2-2外部设置有保护壳2-1;保护壳2-1上设置有透明树脂玻璃2-3;端部定位装置2-4设置于保护壳2-1的底部;电机1-8通过联轴器1-6和电机法兰片1-7与滚珠丝杆1-3连接;电机1-8、12V可充电电源2-5、数据存储控制模块2-6和USB接口2-7依次连接。
岩石结构面数据提取设备包括激光位移传感器、保护壳、带丝杆的步进电动机控制套装,12V直流电源,数据存储输出设备、数据输出线、端部定位装置。带丝杆的步进电动机套装包括:带滚珠轴承底片、滑块、滚珠丝杆、光轴、稳定轴承片、联轴器等。
高精度激光二维位移传感器利用运用激光三角反射法进行测量的小型传感器,在激光位移传感器工作过程中,激光位移发射器会将镜头发射出红色激光射向物体的表面,而物体的表面会出现一系列反射情况,其中一束光芒会以反射的光线回到激光位移传感器当中,这时候根据光线反射的角度和激光位移传感器的距离来侦测。
丝杠水平放置,构成X轴,丝杆与步进电机齿轮相连,通过步进电机控制丝杆沿X方向正负移动,步进电机通过控制器、步进驱动器综合控制,根据预设的速度控制丝杠移动。步进电动机套装两端下部与端部定位装置相连,夹角呈90°。
12V直流电源是一种常规的标准电源规格,该设备是移动设备,因此12伏特的移动电源方便为设备提供安全和高效的能源供给方式。
数据存储输出设备:用于存贮传感器录入的数据,同时带USB的数据输出线,用于和电脑设备连接并输出数据。
端部定位装置为设备两端的锥形固定设备,用于设备与岩石面定位和固定作用。
激光位移传感器固定在丝杠上,外置传感器保护壳防护传感器,保护壳上部设置玻璃口,保证激光传感器传输路径畅通。传感器读取的位移数据传输至存储系统。
在室外数据存储的基础上,将数据拷贝纸电脑,由处理软件自动化处理生成高精度岩体结构面轮廓线。
基于以上系统,本发明还提出一种岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,如图3所示,包括以下步骤:
S1:利用岩石结构面粗糙度测绘装置的二维激光位移传感器采集时间值以及激光头与岩石结构面之间的距离值,得到二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标;
S2:根据二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标,生成基于二维坐标系的二维轮廓线;因为激光传感器的高精度,测得距离数据精度误差最大值维0.1mm,满足技术要求,二维该生成的轮廓线即为岩石结构面高精度二维轮廓线;
S3:对二维轮廓线依次进行优化和拟合,得到岩石结构面的趋势直线;
S4:对趋势直线进行二次优化,得到岩石结构面的最优轮廓线;
S5:基于岩石结构面的最优轮廓线,计算岩石结构面的相对起伏度和剖面线长度,并根据相对起伏度和剖面线长度计算岩石结构面的粗糙度。
该处理过程为内嵌式自动计算过程,通过设备内置运算程序即可自动计算出该结构面的粗糙度JRC值,该粗糙度JRC值和优化后的轮廓线自动储存在设备中。将设计得到的处理文件拷贝至电脑,即可查询该结构面的JRC值,同事得到的最优结构面轮廓线。
在本发明实施例中,步骤S1中,获取二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标的具体方法为:将时间值乘以速度值,得到横坐标值X,将50mm与距离值的差值作为纵坐标值Y。
在本发明实施例中,步骤S3中,对二维轮廓线进行优化的具体方法为:在二维坐标系的Y轴数据中,在Yn+1和Yn的差值大于0.5mm时利用插值法对进行优化,直至Yn+1和Yn的差值大于0.5mm,完成优化,其中,Yn+1表示第n+1时刻的纵坐标值,Yn表示第n时刻的纵坐标值。
根据插值法得到完整曲线,通过线性数据集的最佳拟合得到趋势直线,然后计算得到最优趋势中线。
在本发明实施例中,步骤S4中,获取岩石结构面的最优轮廓线的具体方法为:利用趋势直线与二维坐标系的X轴的夹角θ构建旋转矩阵
Figure BDA0003477931250000071
并利用旋转矩阵对点云数据进行数据变换,得到最优轮廓线,其数据变换的计算公式为:
Figure BDA0003477931250000072
其中,x和y分别表示点云数据的横纵坐标,x′和y′分别表示数据变换后点云数据的横纵坐标。
在本发明实施例中,步骤S5包括以下子步骤:
S51:识别步骤S4中进行数据变换后的数据最大值Kmax和数据最小值Kmin,并根据数据最大值Kmax和数据最小值Kmin计算岩石结构面的相对起伏度Ra
S52:计算岩石结构面的剖面线长度Lx
S53:根据岩石结构面的相对起伏度Ra和剖面线长度Lx,计算岩石结构面的粗糙度JRC。
在本发明实施例中,步骤S51中,岩石结构面的相对起伏度Ra的计算公式为:
Ra=(Kmax-Kmin)/100
其中,Kmax表示数据最大值,Kmin表示数据最小值;100mm为仪器测量量程;
步骤S52中,岩石结构面的剖面线长度Lx的计算公式为:
Lx=L/L0
其中,L表示优化后的轮廓线曲线长度,L0表示所测剖面线长度;为固定值100mm;
步骤S53中,岩石结构面的粗糙度JRC的计算公式为:
Figure BDA0003477931250000081
在本发明实施例中,该岩石结构面粗糙度高精度测绘装置的操作步骤如下:
A1:选择拟测试的岩体结构面轮廓线位置线段A-B(长度20cm)。
A2:将设备两端的定位装置紧密贴合在拟测试的结构面轮廓线位置的两端点A/B处,两端点之间的直线距离所对应的轮廓线即为拟测试的结构面轮廓线。
A3:将激光传感器复位,位于0刻度处,接通电源并开机。
A4:点击启动按钮,激光位移传感器即由0刻度处按预设速度匀速位移至100mm处,传感器以1mm/s的速度匀速运动,在传感器运行过程中,传感器按照预设的输出数据频率向存储器输出时间值t和距离值h(激光头与结构面之间的垂直距离)。
A5:激光位移传感器在运动过程中保持设备紧密贴合并静止不动。
A6:传感器输出的时间值t和距离值h存储在设备中,并自动生成text文件,生成的自动文件可以用于自动化处理生成得到结构面JRC值,同时也可以将出接口的USB结构与电脑连接即可拷贝text文件至电脑。
本发明的有益效果为:
(1)本发明公开一种运用在地质领域,能够准确获取岩体结构面起伏曲线的装置。本发明装置具有体积小、野外携带方便、处理速度快和操作简易等优势;
(2)本发明的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法在实用性和成本方面达到较好的平衡,能够实现在野外现场快速和高效的获取结构面轮廓线,从而为室内分析提供准确的第一手资料。
本领域的普通技术人员将会意识到,这里所述的实施例是为了帮助读者理解本发明的原理,应被理解为本发明的保护范围并不局限于这样的特别陈述和实施例。本领域的普通技术人员可以根据本发明公开的这些技术启示做出各种不脱离本发明实质的其它各种具体变形和组合,这些变形和组合仍然在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种岩石结构面粗糙度高精度测绘装置,其特征在于,包括岩石结构面数据提取设备和图像处理系统;
所述岩石结构面数据提取设备利用激光位移传感器,用于提取岩石结构面的实时数据;所述图像处理系统用于对岩石结构面数据提取设备提取的实时数据进行分析处理,得到岩石结构面的粗糙度。
2.根据权利要求1所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘装置,其特征在于,所述岩石结构面数据提取设备包括带滚珠轴承底片(1-1)、滑块(1-2)、滚珠丝杆(1-3)、光轴(1-4)、稳定轴承片(1-5)、联轴器(1-6)、电机法兰片(1-7)、电机(1-8)、保护壳(2-1)、二维激光位移传感器(2-2)、透明树脂玻璃(2-3)、端部定位装置(2-4)、12V可充电电源(2-5)、数据存储控制模块(2-6)和USB接口(2-7);
所述带滚珠轴承底片(1-1)设置于滚珠丝杆(1-3)的一端;所述滚珠丝杆(1-3)和电机(1-8)的齿轮啮合;所述二维激光位移传感器(2-2)通过滑块(1-2)活动设置于滚珠丝杆(1-3)上;所述光轴(1-4)设置于滚珠丝杆(1-3)内;所述稳定轴承片(1-5)设置于滚珠丝杆(1-3)的另一端;所述二维激光位移传感器(2-2)外部设置有保护壳(2-1);所述保护壳(2-1)上设置有透明树脂玻璃(2-3);所述端部定位装置(2-4)设置于保护壳(2-1)的底部;所述电机(1-8)通过联轴器(1-6)和电机法兰片(1-7)与滚珠丝杆(1-3)连接;所述电机(1-8)、12V可充电电源(2-5)、数据存储控制模块(2-6)和USB接口(2-7)依次连接。
3.一种岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1:利用岩石结构面粗糙度测绘装置的二维激光位移传感器采集时间值以及激光头与岩石结构面之间的距离值,得到二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标;
S2:根据二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标,生成基于二维坐标系的二维轮廓线;
S3:对二维轮廓线依次进行优化和拟合,得到岩石结构面的趋势直线;
S4:对趋势直线进行二次优化,得到岩石结构面的最优轮廓线;
S5:基于岩石结构面的最优轮廓线,计算岩石结构面的相对起伏度和剖面线长度,并根据相对起伏度和剖面线长度计算岩石结构面的粗糙度。
4.根据权利要求3所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,所述步骤S1中,获取二维激光位移传感器的距离起始零刻度的横纵坐标的具体方法为:将时间值乘以速度值,得到横坐标值X,将50mm与距离值的差值作为纵坐标值Y。
5.根据权利要求3所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,所述步骤S3中,对二维轮廓线进行优化的具体方法为:在二维坐标系的Y轴数据中,在Yn+1和Yn的差值大于0.5mm时利用插值法对进行优化,直至Yn+1和Yn的差值大于0.5mm,完成优化,其中,Yn+1表示第n+1时刻的纵坐标值,Yn表示第n时刻的纵坐标值。
6.根据权利要求3所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,所述步骤S4中,获取岩石结构面的最优轮廓线的具体方法为:利用趋势直线与二维坐标系的X轴的夹角θ构建旋转矩阵
Figure FDA0003477931240000021
并利用旋转矩阵对点云数据进行数据变换,得到最优轮廓线,其数据变换的计算公式为:
Figure FDA0003477931240000022
其中,x和y分别表示点云数据的横纵坐标,x′和y′分别表示数据变换后点云数据的横纵坐标。
7.根据权利要求3所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,所述步骤S5包括以下子步骤:
S51:识别步骤S4中进行数据变换后的数据最大值Kmax和数据最小值Kmin,并根据数据最大值Kmax和数据最小值Kmin计算岩石结构面的相对起伏度Ra
S52:计算岩石结构面的剖面线长度Lx
S53:根据岩石结构面的相对起伏度Ra和剖面线长度Lx,计算岩石结构面的粗糙度JRC。
8.根据权利要求7所述的岩石结构面粗糙度高精度测绘方法,其特征在于,所述步骤S51中,岩石结构面的相对起伏度Ra的计算公式为:
Ra=(Kmax-Kmin)/100
其中,Kmax表示数据最大值,Kmin表示数据最小值;
所述步骤S52中,岩石结构面的剖面线长度Lx的计算公式为:
Lx=L/L0
其中,L表示优化后的轮廓线曲线长度,L0表示所测剖面线长度;
所述步骤S53中,岩石结构面的粗糙度JRC的计算公式为:
Figure FDA0003477931240000031
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04194704A (ja) * 1990-11-28 1992-07-14 Tatsunoshin Yoshinaka 表面粗さの計測装置
JP2002303514A (ja) * 2001-04-04 2002-10-18 Sumitomo Rubber Ind Ltd 路面粗さの測定方法
DE60035197D1 (de) * 2000-04-20 2007-07-26 Nippo Sangyo Fahrbahnoberfläche-rauheitsmessvorrichtung
CN102706295A (zh) * 2012-06-29 2012-10-03 中国科学院遥感应用研究所 一种地表粗糙度测量系统及测量方法
JP2013221856A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Sumitomo Rubber Ind Ltd 路面粗さの分析方法
CN107144234A (zh) * 2017-04-21 2017-09-08 南京理工大学 一种城轨车辆轮对踏面轮廓拟合方法
US20190162530A1 (en) * 2016-07-27 2019-05-30 Chugoku Marine Paints, Ltd. Three-dimensional surface roughness evaluating device, three-dimensional surface roughness evaluating method, three-dimensional surface roughness data acquiring device, and three-dimensional surface roughness data acquiring method
CN110595399A (zh) * 2019-08-30 2019-12-20 赤峰山金红岭有色矿业有限责任公司 基于激光测距的节理表面起伏特征快速扫描设备及方法
JP2020134356A (ja) * 2019-02-21 2020-08-31 中国塗料株式会社 粗度断面曲線評価方法、粗度解析装置及び粗度解析プログラム並びに粗度計測方法及び粗度計測装置
JP2021024460A (ja) * 2019-08-07 2021-02-22 川崎重工業株式会社 レール踏頂面粗さ測定装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04194704A (ja) * 1990-11-28 1992-07-14 Tatsunoshin Yoshinaka 表面粗さの計測装置
DE60035197D1 (de) * 2000-04-20 2007-07-26 Nippo Sangyo Fahrbahnoberfläche-rauheitsmessvorrichtung
JP2002303514A (ja) * 2001-04-04 2002-10-18 Sumitomo Rubber Ind Ltd 路面粗さの測定方法
JP2013221856A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Sumitomo Rubber Ind Ltd 路面粗さの分析方法
CN102706295A (zh) * 2012-06-29 2012-10-03 中国科学院遥感应用研究所 一种地表粗糙度测量系统及测量方法
US20190162530A1 (en) * 2016-07-27 2019-05-30 Chugoku Marine Paints, Ltd. Three-dimensional surface roughness evaluating device, three-dimensional surface roughness evaluating method, three-dimensional surface roughness data acquiring device, and three-dimensional surface roughness data acquiring method
CN107144234A (zh) * 2017-04-21 2017-09-08 南京理工大学 一种城轨车辆轮对踏面轮廓拟合方法
JP2020134356A (ja) * 2019-02-21 2020-08-31 中国塗料株式会社 粗度断面曲線評価方法、粗度解析装置及び粗度解析プログラム並びに粗度計測方法及び粗度計測装置
JP2021024460A (ja) * 2019-08-07 2021-02-22 川崎重工業株式会社 レール踏頂面粗さ測定装置
CN110595399A (zh) * 2019-08-30 2019-12-20 赤峰山金红岭有色矿业有限责任公司 基于激光测距的节理表面起伏特征快速扫描设备及方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
杜时贵等: "岩体结构面粗糙度系数 JRC 的研究现状", 《水文地质工程地质增刊》 *

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