JP2021148653A - 半導体装置、検査用部品、および検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
<1.検査に関する全体構成>
図1は、第1の実施形態の半導体装置1および検査装置200を示す断面図である。半導体装置1は、いわゆる半導体パッケージであり、半導体部品を内蔵した本体部5と、半導体装置1の外部に露出した複数の外部接続端子20とを有する。半導体装置1の詳細については後述する。
<2.1 第1半導体装置の構成>
図2は、第1半導体装置1Aaおよび検査用部品220Aを示す図である。まず、第1および第2の半導体装置1Aa,1Abで共通する構成について説明する。半導体装置1Aは、例えば、本体部5と、複数の外部接続端子20とを有する。本体部5は、例えば、基板10、複数の半導体メモリチップ30、および封止樹脂部40を含む。
図3は、第2半導体装置1Abおよび検査用部品220Aを示す図である。第2半導体装置1Abは、例えば4枚の半導体メモリチップ30を有する。第2半導体装置1Abに搭載される半導体メモリチップ30の数は、第1半導体装置1Aaに搭載される半導体メモリチップ30の数よりも多い。第2半導体装置1Abは、第1半導体装置1Aaと比べて、半導体メモリチップ30の数が多いことで大きな記憶容量を有する。ただし、第2半導体装置1Abに搭載される半導体メモリチップ30の数は、3枚以下でもよく、5枚以上でもよい。
次に、図2および図3を参照し、検査用部品220Aについて説明する。検査用部品220Aは、例えば、基部221と、突出部222とを有する。基部221は、移動機構230に取り付けられて移動機構230によって支持される。基部221は、+Z方向側から見た場合、半導体装置1Aの第1領域41を覆う矩形状に形成されている。基部221は、検査装置200の受け部211に半導体装置1Aが載置された場合、半導体装置1Aの第1領域41に面する。
以上を纏めると、次のように言うことができる。例えば、外部接続端子20の配置が同じ場合、半導体装置1の厚さによらずに共通の検査用部品を使用したい。しかしながら、例えば任意の高さ位置へ検査用部品を移動させることが難しい検査装置の場合、半導体装置1の厚さに応じて検査用部品を交換する必要がある。この場合、半導体装置1の種類に応じて複数の検査用部品を準備する必要があり、検査に関するコストが高くなる。
図4は、第1変形例の半導体装置1A(例えば第1半導体装置1Aa)を示す断面図である。第1変形例では、半導体装置1Aは、第1の実施形態の構成に加えて、コントローラチップ55および電子部品56を有する。
図5は、第2変形例の半導体装置1Aを示す平面図である。第2変形例では、半導体装置1Aは、上記第1の実施形態の構成に対して、封止樹脂部40の第2領域42の位置が異なる。
図6は、第3変形例の半導体装置1Aを示す平面図である。第3変形例では、半導体装置1Aは、上記第1の実施形態の構成に対して、第2領域42の位置が異なる。
図7は、第4変形例の半導体装置1Aを示す平面図である。第4変形例では、半導体装置1Aは、上記第1の実施形態の構成に対して、第2領域42の位置が異なる。
図8は、第5変形例の半導体装置1Aを示す断面図である。図8中の上部は、検査用部品220Aに対して半導体装置1Aの位置ずれが生じている状態を示す。図8中の下部は、検査用部品220Aに対して半導体装置1Aの位置ずれが修正された状態を示す。
図9は、第6変形例の半導体装置1Aを示す断面図である。図9中の上部は、検査用部品200Aに対して半導体装置1Aの位置ずれが生じている状態を示す。図9中の下部は、検査用部品220Aに対して半導体装置1Aの位置ずれが修正された状態を示す。
図10は、第7変形例の半導体装置1Aを示す図である。第7変形例では、半導体装置1Aは、放熱用の金属部品71を有する。金属部品71は、基板10とは反対側から封止樹脂部40の第2領域42と重なり、第2領域42の表面42aに接着などで取り付けられている。金属部品71のZ方向の厚さは、封止樹脂部40の第1領域41の厚さT3と第2領域42の厚さT4との差(または厚さT1と厚さT2との差)と同じである。金属部品71のX方向およびY方向の形状は、封止樹脂部40の第2領域42のX方向およびY方向の形状と同じである。
次に、図11から図14を参照し、第2の実施形態について説明する。第2の実施形態は、検査用部品220が回転されることで複数種類の半導体装置1に対して利用可能である点で、第1の実施形態とは異なる。第2の実施形態において以下に説明する以外の構成は、第1の実施形態の構成と同様である。
次に、図15および図16を参照し、第3の実施形態について説明する。第3の実施形態は、検査用部品220が半導体装置1を下方から引っ張ることで半導体装置1に力を加える点で、第1の実施形態とは異なる。第3の実施形態において以下に説明する以外の構成は、第1の実施形態の構成と同様である。
次に、図17および図18を参照し、第4の実施形態について説明する。第4の実施形態は、検査用部品220が半導体装置1を下方から引っ張ることで半導体装置1に力を加える点で、第1の実施形態とは異なる。第4の実施形態において以下に説明する以外の構成は、第3の実施形態の構成と同様である。
図19は、第4の実施形態の変形例の半導体装置1Dを示す。図19に示すように、上述した半導体装置1Dは、検査後に、貫通部81が絶縁材料M2によって埋められ、第2部分92が絶縁材料M4によって埋められてもよい。絶縁材料M2および絶縁材料M4は、例えば、熱可塑性または熱硬化性の合成樹脂である。絶縁材料M2は、「第2絶縁材料」の一例である。絶縁材料M2は、例えば、絶縁材料M1とは異なる材料である。絶縁材料M4は、「第4絶縁材料」の一例である。絶縁材料M4は、例えば、絶縁材料M3とは異なる材料である。ただし、絶縁材料M4は、絶縁材料M3と同じ材料でもよい。絶縁材料M2および絶縁材料M4は、互いに同じ材料でもよい。
[1]第1面と、前記第1面とは反対側に位置した第2面とを含む基板と、
前記第1面に設けられた複数の外部接続端子と、
前記基板に対して前記複数の外部接続端子とは反対側に位置した第1半導体部品と、
前記基板の厚さ方向で第1厚さを有した第1領域と、前記第1領域よりも外周側に位置し、前記厚さ方向で前記第1厚さよりも薄い第2厚さを有した第2領域とを含み、前記基板とは反対側から前記第1半導体部品を覆う絶縁部と、
を備えた半導体装置。
[2]:[1]に記載の半導体装置において、
前記第2領域は、前記第1半導体部品と前記厚さ方向で重ならない位置に設けられた。
[3]:[1]または[2]に記載の半導体装置において、
前記第1厚さと前記第2厚さとの差は、前記第2厚さよりも小さい。
[4]:[1]から[3]のうちいずれか1つに記載の半導体装置において、
前記第2厚さは、前記厚さ方向における前記第1半導体部品の厚さよりも厚い。
[5]:[1]から[4]のうちいずれか1つに記載の半導体装置において、
前記第1半導体部品に対して前記基板とは反対側に位置した第2半導体部品と、
前記第2半導体部品に接続されたボンディングワイヤと、
をさらに備え、
前記第2領域は、前記基板と平行な表面を有し、前記表面は、前記厚さ方向で、前記ボンディングワイヤの少なくとも一部よりも前記基板の近くに位置する。
[6]:[1]から[5]のうちいずれか1つに記載の半導体装置において、
前記基板と前記第1半導体部品との間に位置したコントローラ部品をさらに備え、
前記第2厚さは、前記厚さ方向における前記第1半導体部品の厚さと、前記厚さ方向における前記コントローラ部品の厚さとの合計よりも厚い。
[7]:[1]から[6]のうちいずれか1つに記載の半導体装置において、
前記基板の第2面に設けられたコントローラ部品をさらに備え、
前記厚さ方向で見た場合、前記コントローラ部品と前記第2領域との間の最短距離は、前記第1半導体部品と前記第2領域との間の最短距離よりも短い。
[8]半導体装置の内部に設けられた空洞部に挿入されて前記半導体装置に係合し、前記半導体装置に検査装置の受け部に向かう力を加える係合部、
を備えた検査用部品。
[9]:[8]に記載の検査用部品と、
前記半導体装置が載置される受け部を含むベースと、
前記検査用部品を前記受け部に向けて移動させる移動機構と、
を備えた検査装置。
Claims (8)
- 第1面と、前記第1面とは反対側に位置した第2面とを含む基板と、
前記第1面に設けられた複数の外部接続端子と、
前記基板に対して前記複数の外部接続端子とは反対側に位置した半導体部品と、
前記基板の厚さ方向で第1厚さを有した第1領域と、前記第1領域よりも外周側に位置し、前記厚さ方向で前記第1厚さよりも薄い第2厚さを有した第2領域とを含み、前記基板とは反対側から前記半導体部品を覆う絶縁部と、
を備えた半導体装置。 - 前記絶縁部は、前記厚さ方向で見た場合に、矩形状の外形を有し、
前記第2領域は、前記外形の互いに離れた2辺それぞれに沿って設けられた、
請求項1に記載の半導体装置。 - 前記絶縁部は、前記厚さ方向で見た場合に、矩形状の外形を有し、
前記第2領域は、前記外形の4辺に沿う枠状に設けられた、
請求項1に記載の半導体装置。 - 第1絶縁材料を含み第1面と前記第1面とは反対側に位置した第2面とを有した本体部と、空洞または第2絶縁材料を含み前記第1面から前記第2面に達した貫通部とを有した基板と、
前記第1面に設けられた複数の外部接続端子と、
前記基板に対して前記複数の外部接続端子とは反対側に位置した半導体部品と、
第3絶縁材料を含み前記半導体部品を覆う第1部分と、前記第1部分の内部で前記貫通部と隣接して設けられ、空洞または第4絶縁材料を含む第2部分とを有した絶縁部と、
を備えた半導体装置。 - 半導体装置の検査に用いられる検査用部品であって、
前記半導体装置は、第1部分と、前記第1部分よりも外周側に位置し、前記半導体装置の厚さ方向で前記第1部分よりも薄い第2部分とを有し、
前記検査用部品は、
前記検査用部品が前記半導体装置の前記第1部分から離間した状態で、前記半導体装置の前記第2部分に接触可能な押圧部、
を備えた検査用部品。 - 前記検査用部品は、
前記半導体装置の前記第1部分に面する基部を有し、
前記押圧部は、前記基部から突出して設けられ、
前記基部に対する前記押圧部の突出量は、前記半導体装置の前記第1部分と前記半導体装置の前記第2部分との厚さの差よりも大きい、
請求項5に記載の検査用部品。 - 半導体装置の検査に用いられる検査用部品であって、
前記半導体装置は、前記半導体装置の厚さ方向とは交差した第1方向で第1幅を有し、前記厚さ方向および前記第1方向とは交差した第2方向で前記第1幅よりも小さな第2幅を有し、
前記検査用部品は、
基部と、
前記基部から突出するとともに、前記第1幅よりも小さく、且つ、前記第2幅よりも大きな距離で互いに離れた一対の突出部と、
を備えた検査用部品。 - 請求項5から請求項7のうちいずれか1項に記載の検査用部品と、
前記半導体装置が載置される受け部を含むベースと、
前記検査用部品を前記受け部に向けて移動させる移動機構と、
を備えた検査装置。
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