JP2018004541A5 - 情報処理装置、情報処理装置の制御方法及びプログラム - Google Patents

情報処理装置、情報処理装置の制御方法及びプログラム Download PDF

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本発明は、情報処理装置、情報処理装置の制御方法及びプログラムに関する。
本発明の情報処理装置は、1以上の対象を含む第1の画像と、前記第1の画像における前記1以上の対象のそれぞれの位置と形状に係る情報と、を取得する取得手段と、前記1以上の対象を示す第2の画像を前記第1の画像に対して、前記第1の画像における前記1以上の対象の位置と形状に基づく方向にずらして表示する際の位置を決定する決定手段と、を備えることを特徴とする。

Claims (17)

  1. 1以上の対象を含む第1の画像と、前記第1の画像における前記1以上の対象のそれぞれの位置と形状に係る情報と、を取得する取得手段と、
    前記1以上の対象を示す第2の画像を前記第1の画像に対して、前記第1の画像における前記1以上の対象の位置と形状に基づく方向にずらして表示する際の位置を決定する決定手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置。
  2. 前記決定した位置と形状に基づいて、前記第1の画像と前記第2の画像とを表示部に表示する表示手段を更に備えることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  3. 前記1以上の対象の形状は線状であって、前記方向とは、前記1以上の対象の少なくとも1つの主線方向に対応することを特徴とする請求項1または2に記載の情報処理装置。
  4. 前記第1の画像において定義される複数の方向に沿った、前記第1の画像に含まれる前記1以上の対象と、前記第2の画像が示す前記1以上の対象との位置関係に係るスコアを算出する算出手段を更に備え、
    前記決定手段は、前記算出手段により算出されたスコアに基づいて、前記第1の画像に対する前記第2の画像の位置を決定することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  5. 前記スコアは、前記複数の方向のそれぞれに前記第1の画像と前記第2の画像とをずらした場合の、前記第1の画像に含まれる1以上の対象と前記第2の画像が示す1以上の対象との重なりに係る値と、前記第1の画像のエッジと前記第2の画像が示す1以上の対象との重なりに係る値と、前記第1の画像に含まれる対象と前記対象に対応する前記第2の画像が示す変状との距離に係る値と、のうちの少なくとも1つに基づいて算出されることを特徴とする請求項4に記載の情報処理装置。
  6. 前記第1の画像のうちの所定の領域を特定する特定手段を更に備え、
    前記決定手段は、前記特定手段により特定された所定の領域に含まれる1以上の対象のそれぞれの位置と形状に基づいて、前記1以上の対象を示す第2の画像を前記第1の画像に対してずらして表示する位置を決定することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  7. 前記特定手段は、ユーザが前記第1の画像において指定した前記対象に基づいて、前記所定の領域を特定することを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。
  8. 前記特定手段は、前記第1の画像に含まれる前記対象の属性に基づいて、前記所定の領域を特定することを特徴とする請求項6に記載の情報処理装置。
  9. 前記表示手段は、
    前記決定手段が決定した位置と形状に基づいて、前記第1の画像と前記第2の画像とをずらして表示する第1の表示状態、または、
    前記第1の画像に含まれる1以上の対象と前記第2の画像が示す1以上の対象とが重畳するように表示する第2の表示状態、により、
    前記第1の画像と第2の画像とを前記表示部に表示することを特徴とする請求項2に記載の情報処理装置。
  10. 前記表示手段は、ユーザの指示に基づいて、前記第1の表示状態と、前記第2の表示状態と、を切り替えることを特徴とする請求項9に記載の情報処理装置。
  11. 前記決定手段は、更に、前記第2の画像の透明度またはぼかしの強さの少なくとも一方を決定することを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  12. 前記第1の画像とは、構造物を撮影することで得られた画像であって、前記対象は、前記構造物に生じた所定の種類の変状であることを特徴とする請求項1に記載の情報処理装置。
  13. 前記所定の種類の変状は、前記構造物の壁面に生じたひび割れを含むことを特徴とする請求項12に記載の情報処理装置。
  14. 取得手段により、1以上の対象を含む第1の画像と、前記第1の画像における前記1以上の対象のそれぞれの位置と形状に係る情報と、を取得し、
    決定手段により、前記1以上の対象を示す第2の画像を前記第1の画像に対して、前記第1の画像における前記1以上の対象の位置と形状に基づく方向にずらして表示する際の位置を決定する、ことを特徴とする情報処理装置の制御方法。
  15. 構造物を撮影することで得られる第1の画像と、前記第1の画像から検出された前記構造物に生じる1以上の変状それぞれの位置に係る情報と、を取得する取得手段と、
    前記取得した1以上の変状のそれぞれの位置に基づいて、前記1以上の変状を示す第2の画像を、前記第1の画像に対してずらして表示する際の位置を決定する決定手段と、を備えることを特徴とする情報処理装置。
  16. 取得手段により、構造物を撮影することで得られる第1の画像と、前記第1の画像から検出された前記構造物に生じる1以上の変状それぞれの位置に係る情報と、を取得し、
    決定手段により、前記取得した1以上の変状のそれぞれの位置に基づいて、前記1以上の変状を示す第2の画像を、前記第1の画像に対してずらして表示する際の位置を決定する、ことを特徴とする情報処理装置の制御方法。
  17. コンピュータを、請求項1乃至13および15のいずれか1項に記載された情報処理装置の各手段として機能させるためのプログラム。
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CN202210449427.4A CN114792309A (zh) 2016-07-06 2017-06-19 信息处理装置和信息处理装置的控制方法
EP17823977.8A EP3483594A4 (en) 2016-07-06 2017-06-19 INFORMATION PROCESSING DEVICE, INFORMATION PROCESSING PROCESS AND PROGRAM
US16/240,352 US11105749B2 (en) 2016-07-06 2019-01-04 Information processing apparatus, information processing method and program
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7305509B2 (ja) 2018-12-07 2023-07-10 キヤノン株式会社 情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記憶媒体

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6833366B2 (ja) 2016-07-06 2021-02-24 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法及びプログラム
JP6936957B2 (ja) * 2017-11-07 2021-09-22 オムロン株式会社 検査装置、データ生成装置、データ生成方法及びデータ生成プログラム
JP7050824B2 (ja) * 2018-02-02 2022-04-08 富士フイルム株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP7330710B2 (ja) * 2018-04-26 2023-08-22 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
JP7095418B2 (ja) * 2018-06-08 2022-07-05 株式会社リコー 描画装置、診断システム、描画方法、及びプログラム
JP7187830B2 (ja) * 2018-06-13 2022-12-13 富士通株式会社 画像処理プログラム、画像処理装置、及び画像処理方法
CN109493331B (zh) * 2018-11-06 2021-09-28 中国林业科学研究院资源信息研究所 一种基于并行计算算法的两景图像重叠区域快速获取方法
JP2020085546A (ja) * 2018-11-19 2020-06-04 国立研究開発法人産業技術総合研究所 構造物の点検・補修支援システム
JP7282551B2 (ja) * 2019-03-01 2023-05-29 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム
WO2021200675A1 (ja) * 2020-04-01 2021-10-07 富士フイルム株式会社 3次元表示装置、3次元表示方法、及びプログラム
JP2022056085A (ja) * 2020-09-29 2022-04-08 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム
JP2023168950A (ja) * 2022-05-16 2023-11-29 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム
CN116385434B (zh) * 2023-06-02 2023-08-08 同济检测(济宁)有限公司 一种用于预制梁裂缝的智能检测方法

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5766345A (en) * 1980-10-09 1982-04-22 Hitachi Ltd Inspection device for defect
JPH05242178A (ja) * 1992-02-27 1993-09-21 Meidensha Corp 図面自動入力装置の認識結果表示修正方式
US5389789A (en) * 1992-05-20 1995-02-14 Union Camp Corporation Portable edge crack detector for detecting size and shape of a crack and a portable edge detector
US5517861A (en) * 1994-10-11 1996-05-21 United Technologies Corporation High temperature crack monitoring apparatus
JPH10105678A (ja) 1996-09-26 1998-04-24 Toshiba Corp 画像処理装置及び画像処理方法
JPH11132961A (ja) * 1997-10-29 1999-05-21 Nikon Corp 構造物用検査装置
US6427024B1 (en) * 1999-04-02 2002-07-30 Beltronics, Inc. Apparatus for and method of automatic optical inspection of electronic circuit boards, wafers and the like for defects, using skeletal reference inspection and separately programmable alignment tolerance and detection parameters
US7050087B2 (en) * 2000-12-06 2006-05-23 Bioview Ltd. Data acquisition and display system and method
JP4588901B2 (ja) * 2001-03-02 2010-12-01 株式会社竹中工務店 コンクリートの欠陥検査方法およびコンクリートの欠陥検査装置
JP3759110B2 (ja) * 2003-01-16 2006-03-22 川崎重工業株式会社 超音波探傷方法とその装置
JP4695508B2 (ja) * 2005-12-28 2011-06-08 三星電子株式会社 撮像装置および撮影方法
US8102522B2 (en) * 2006-06-30 2012-01-24 Hitachi High-Technologies Corporation Inspection apparatus and inspection method
JP4848532B2 (ja) * 2006-08-21 2011-12-28 名古屋市 路面画像作成方法および路面画像作成装置
US8134554B1 (en) * 2007-05-04 2012-03-13 Topcon Medical Systems, Inc. Method and apparatus for spatially mapping three-dimensional optical coherence tomography data with two-dimensional images
JP5523681B2 (ja) * 2007-07-05 2014-06-18 株式会社東芝 医用画像処理装置
JP5324181B2 (ja) * 2008-10-07 2013-10-23 日清紡ホールディングス株式会社 太陽電池の検査装置、太陽電池の検査方法、プログラム、太陽電池の検査システム
JP5479782B2 (ja) * 2009-06-02 2014-04-23 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥画像処理装置、欠陥画像処理方法、半導体欠陥分類装置および半導体欠陥分類方法
JP2011232110A (ja) * 2010-04-26 2011-11-17 Olympus Corp 検査装置及び検査装置を用いた欠陥検出方法
JP5324537B2 (ja) * 2010-09-06 2013-10-23 富士フイルム株式会社 立体画像表示制御装置ならびにその動作制御方法およびその動作制御プログラム
KR101806964B1 (ko) * 2011-12-02 2017-12-11 삼성전자주식회사 포토 마스크 제조 방법 및 이를 이용하여 제작한 포토 마스크
JP6080379B2 (ja) * 2012-04-23 2017-02-15 株式会社日立ハイテクノロジーズ 半導体欠陥分類装置及び半導体欠陥分類装置用のプログラム
JP6029870B2 (ja) * 2012-06-27 2016-11-24 公益財団法人鉄道総合技術研究所 コンクリート表面の変状検出方法及び装置
JP5957357B2 (ja) * 2012-10-15 2016-07-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン検査・計測装置及びプログラム
JP5948262B2 (ja) * 2013-01-30 2016-07-06 株式会社日立ハイテクノロジーズ 欠陥観察方法および欠陥観察装置
JP5919212B2 (ja) * 2013-03-26 2016-05-18 富士フイルム株式会社 目視照合支援装置およびその制御方法
JP2014207110A (ja) * 2013-04-12 2014-10-30 株式会社日立ハイテクノロジーズ 観察装置および観察方法
JP6099479B2 (ja) 2013-05-21 2017-03-22 大成建設株式会社 ひび割れ検出方法
CN103364408B (zh) * 2013-07-10 2015-09-09 三峡大学 一种采用水下机器人系统对水工混凝土结构水下表面裂缝检测的方法
JP6022423B2 (ja) * 2013-07-31 2016-11-09 Toa株式会社 監視装置及び監視装置の制御プログラム
JP6264834B2 (ja) * 2013-10-24 2018-01-24 富士通株式会社 ガイド方法、情報処理装置およびガイドプログラム
JP6485454B2 (ja) * 2014-04-16 2019-03-20 日本電気株式会社 情報処理装置
JP2016058637A (ja) * 2014-09-11 2016-04-21 株式会社日立ハイテクノロジーズ オーバーレイ計測方法、装置、および表示装置
WO2016189764A1 (ja) * 2015-05-26 2016-12-01 三菱電機株式会社 検出装置および検出方法
CN105606030B (zh) * 2015-12-30 2018-08-24 浙江建设职业技术学院 一种基于嵌入式的建筑物表面裂缝检测装置
JP6833366B2 (ja) 2016-07-06 2021-02-24 キヤノン株式会社 情報処理装置、情報処理装置の制御方法及びプログラム

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7305509B2 (ja) 2018-12-07 2023-07-10 キヤノン株式会社 情報処理装置、その制御方法、プログラム、及び記憶媒体

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