JP2017508632A - 層状構造を備えるTiAlCN層 - Google Patents

層状構造を備えるTiAlCN層 Download PDF

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Abstract

本発明は、カーバイド、サーメット、セラミック、鋼、又は高速度鋼の本体と、CVD法により適用され、3〜25μmの厚みの単層又は多層摩耗コーティングとを有する工具に関する。多層摩耗コーティングは、0.70≦x<1、0≦y<0.25、及び0.75≦z<1.15の化学量論係数を有し、1.5μm〜17μmの範囲内の厚みの少なくとも1つのTi1-xAlxCyNz層を有する。本発明は、Ti1-xAlxCyNz層が、150nm以下、好ましくは100nm以下、特に好ましくは50nm以下の厚みの複数の層を備える層状構造を備え、前記複数の層が、同じ結晶構造(結晶相)を有し、Ti及びAlの化学量論的割合が交互に異なる、Ti1-xAlxCyNz層の周期的に交番する領域で形成されていること、及び、Ti1-xAlxCyNz層が、少なくとも90vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有すること、を特徴とする。【選択図】図2

Description

本発明は、カーバイド、サーメット、セラミック、鋼又は高速度鋼のベース本体と、CVDプロセスにより適用され、3μm〜25μmの範囲内の厚みの単層又は多層摩耗保護コーティングとを有する工具において、摩耗保護コーティングが、0.70≦x<1、0≦y<0.25、及び0.75≦z<1.15の化学量論係数を有し、1.5μm〜17μmの範囲内の厚みの少なくとも1つのTi1-xAlxyz層を備える工具に関する。本発明はさらに、このような工具の製造方法に関する。
材料の機械加工、詳細には金属切削加工用の切削インサートには、多くの場合、切断及び/又は摩耗特性を改善するための単層又は多層カーバイドコーティングが具備されているカーバイド、サーメット、セラミック、鋼又は高速度鋼の基材本体を有する。カーバイドコーティングは、単金属又は混合金属カーバイド相の互いに重畳された層を有する。単金属カーバイド相の例としては、TiN、TiC、TiCN、及びAl23がある。結晶中で1つの金属が部分的に別の金属で置換されている混合金属相の例としては、TiAlN、及びTiAlCNがある。上述のタイプのコーティングは、CVDプロセス(化学気相堆積法)、PCVDプロセス(プラズマCVDプロセス)、又はPVDプロセス(物理的気相堆積法)によって適用される。
PVD又はCVDプロセスによる堆積物中で、結晶成長の一定の優先方位が特定の利点を有し、これに関連して、コーティングの特定の層の異なる優先方位が、同様に、切削インサートの異なる用途のために特に有利であり得ることが発見された。成長優先方位は概して、ミラー指数により定義される結晶格子の面との関係において規定され、結晶学的テクスチャ(例えば繊維テクスチャ)と呼ばれる。
国際公開第2013/134796号(WO2013/134796)は、1つ以上のコーティング層で形成されたコーティングを少なくとも領域的に有する切削インサートにおいて、少なくとも1つのコーティング層が、アルミニウム、チタン、及び窒素を含み、100mm未満の層の厚みの複数の層を少なくとも部分的に有する、切削インサートを開示している。複数の層が、異なる相を備える交互の第1及び第2の部分を有し、第1の部分が主に又は排他的に硬質立方相を備え、第2の部分が主に又は排他的に軟質六方相を備えている。この場合、一続きの硬質立方相と軟質六方相の間の相互作用は、より軟質の六方晶系構成成分が支配的である、ナノメートル範囲の構造の特異的立体配置により、強度を促進するように意図されている。しかし、六方相の構成成分を備える層は、特に鋼及び鋳造材料のフライス加工又は旋削加工における耐摩耗性が不適切であることがわかっている。
国際公開第2012/126030号(WO2012/126030)は、x≧0.7であるAlxTi1-xNを備える少なくとも1つのコーティング層を有する多層コーティングを有する切削インサートにおいて、立方晶系AlxTi1-xN相の割合が好ましくは70〜80mol%であり、残部の割合が六方晶系AlN及び立方晶系TiNである切削インサートを開示している。六方晶AlNの割合は好ましくは12.5mol%超である。このようなコーティングの耐摩耗性は、六方晶系AlNの割合によるため、同様に不適切である。記載された3つの相の存在が、熱力学的に安定した六方晶系AlNと立方晶系TiN相への立方晶系AlxTi1-xN相の部分的分解に基づくものであり、立方晶系AlxTi1-xN相の残部の割合が、熱力学的のみならず速度論的にも不安定であり、これがさらなる分解を導き、その結果、層の機械的脆弱化をもたらすとされている。
J Keckesら、「Self−organized periodic soft−hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films」、Thin Solid Films 545(2013)29〜32頁は、個別の結晶子の内部に周期的に交番する立方晶系TiN及び六方晶系AlNのナノレベルの複数の層を備え、CVDを用いて堆積する多結晶Ti0.05Al0.95N層について記載している。分離表面における速度論的に制御された振動反応が、複数の層の形成に関与すると考えられる1つの機序として提案されている。Ti0.05Al0.95N層は、とりわけカーバイド基材上に、800℃でのMT−CVDにプロセスで堆積する。層の特徴づけは、X線回析(XRD)及び従来の高分解能透過電子顕微鏡法(TEM及びHR−TEM)を用いて達成された。堆積されたTi0.05Al0.95N層のXRDデータは、立方晶系と同様六方晶系の両方のTi−Al−N相の存在を示した。Ti0.05Al0.95N材料の粉末X線回析分析及び定量的リートベルト分析が、約53、26及び21%という六方晶系AlN(w−AlN)、立方晶系AlN(c−AlN)及び立方晶系TiN(c−TiN)の体積割合を提供した。層の硬度は、約28GPaであった。カーバイド上のTi0.05Al0.95N層の横断面のTEM分析は、複数の層の周期構造の存在を明らかにした。HR−TEM及びフーリエ変換(FFT)を用いて、複数の層が周期的に交番するc−TiN及びw−AlNを有し、ここでw−AlNを含有する複数の層の厚みが約10nmであり、c−TiNを含有する複数の層の厚みが約3nmであることを示すことができた。これらの層では、六方晶系w−AlN相の割合が高いことから、同様に、不適切な耐摩耗性に遭遇した。
独国特許第10 2005032 860号(DE10 2005032 860)は、0.75<x<0.93のAl含有率を有する面心立方晶系Ti1−xAlNの層を用いたカーバイドコーティング及びその製造方法を開示している。
独国特許第10 2007 000 512号(DE10 2007 000512)は、相勾配を伴って、基材上に直接堆積されたTiN、TiCN又はTiCの第1層の上に、さらに堆積されたTiAlN層、及び2層の間の接着層を用いたカーバイドコーティングを開示している。TiAlN層は、結晶格子の(200)面との関係における1つの結晶成長優先方位を有する。
公開明細書、国際公開第2009/112115号(WO2009/112115)、同第2009/112116号(WO2009/112116)及び同第2009/112117A1号(WO2009/112117A1)は、高いAl割合及び面心立方格子を有する、CVDプロセスを用いて堆積されたTiAlN及びTiAlCN層を開示しているが、結晶成長の結晶学的優先方位は全く記載されていない。
PVDプロセスを用いて製造されたTiAlNは、結晶成長のさまざまな結晶学的優先方位を備え、公知であるが、TiAlNコーティングの面心立方格子を伴うPVDコーティングは、CVDコーティングとは対照的に、67%未満のAl含有率に制限されている。結晶子の成長方向との関係において{200}面の結晶学的優先方位を備えるTiAlNコーティングが、金属機械加工のために有利であるものとして、記載されている(例えば米国特許第2009/0274899号(US2009/0274899)、同第2009/0074521号(US2009/0074521)、及び国際公開第2009/127344号(WO2009/127344))。
本発明の目的は、当該技術分野の技術的現状に比べて改善された耐摩耗性及び改善された熱クラック形成耐性を有する、金属切削加工、詳細には鋼又は鋳造材料の旋削及びフライス加工用の切削インサートを提供することにあった。
この目的は、
カーバイド、サーメット、セラミック、鋼又は高速度鋼のベース本体と、
CVDプロセスにより適用され、3μm〜25μmの範囲の厚みの単層又は多層摩耗保護コーティングと、
を有する工具において、
摩耗保護コーティングが、0.70≦x<1、0≦y<0.25、及び0.75≦z<1.15の化学量論係数を有する1.5μm〜17μmの範囲内の厚みの少なくとも1つのTi1-xAlxyz層を有する工具であって、
Ti1-xAlxyz層が、150nm以下、好ましくは100nm以下、特に好ましくは50nm以下の厚みの複数の層を備える層状構造を有すること、
複数の層が、同じ結晶構造(結晶相)を有し、Ti及びAlの化学量論的割合が交互に異なるTi1-xAlxyz層の周期的に交番する領域で形成されていること、及び
Ti1-xAlxyz層が、少なくとも90vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有すること、
を特徴とする工具により達成される。
交互に異なるTi及びAlの割合を有する本発明に係るTi1-xAlxyz層の周期的に交番する領域の複数の層は、同じ面心立方(fcc)結晶構造を有する。意外にも、このような層状構造は、例えば複数の層の結晶構造が面心立方晶と六方晶で交番する技術的現状から公知の層状構造などのような、交番する結晶構造を備える複数の層のTiAlN又はTiAlCN構造に比べて著しく長い、切削作業における工具の耐用寿命を付与することが発見された。
本発明に係るTi1-xAlxyz層は、少なくとも90vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有する。面心立方(fcc)格子を有するTi1-xAlxyz相の割合が過度に低い場合、耐摩耗性のレベル低下が見られる。
耐摩耗性に関しては、さらに高い割合の面心立方(fcc)結晶構造を有するTi1-xAlxyz層が有利であることが判明している。したがって、本発明の好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は少なくとも95vol%、好ましくは少なくとも98vol%、特に好ましくは約100vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有する。
多結晶Ti1-xAlxyz層の結晶形態は、柱状(円柱形状)又は等軸であることができ、等軸形態に比べて、第一逃げ面摩耗に対するより高い耐性が認められるという利点を概して有することから、柱状形態が好まれる。層表面に対して平行な柱状構造内には、機械的荷重の発生と共に、層内の結晶子がそれに沿って滑動又は離脱するため、利用可能な粒界の数がより少ない。柱状結晶は、その長手方向軸が基材の表面に対して実質的に直交する状態で成長する。柱状結晶の幅は、基材表面に対し平行な方向、すなわち結晶成長方向に直交する方向で測定される。結晶の幅は、必ずしも一軸性ではないが、基材表面に対して平行なさまざまな方向で変動し得る。結晶の長さ及び幅の測定は、調査すべき層の研磨された横断面において走査型電子顕微鏡記録(SEM)を用いて行なうことが望ましい。結晶の幅は、基材表面に対して平行なラインに沿った2つの隣接する粒界の離隔距離として定義付けされ、このラインは、別段の記載のないかぎり、層の厚みの50%に対応する高さで延在する。本発明の目的のためには、結晶長は、基材表面に直交する方向における結晶の最大の延長として定義付けされるが、結晶成長の方向はつねに基材表面に完璧に直交して延在するわけではない。統計学的には、これは、実際の平均結晶長との関係における測定上の平均結晶長の未決定性(underdetermination)を導く。
Ti及びAlの化学量論的割合が交互に異なる周期的に交番する領域を含む複数の層を備える本発明に係るTi1-xAlxyz層のさらなる好ましい実施形態において、層成長方向で複数の層の1つの領域と下方及び上方でそれぞれ隣接する他のTi及びAlの割合を伴う領域は、同じ結晶方位を有している。このようなシーケンスでは、本発明に係る層は、わずかな割合の粒界又は非晶質層成分を伴う充分顕著な結晶性を有し、その結果、より高レベルの耐摩耗性が得られる。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、前述の通り、Ti1-xAlxyz層は柱状微細構造を有し、柱状結晶子は、Ti1-xAlxyz層の厚みの少なくとも0.35倍、好ましくは少なくとも0.5倍、特に好ましくは少なくとも0.7倍の平均長を有する。
Ti1-xAlxyz層の厚みとの関係における結晶子の平均長が過度に短いと、結果として、第1逃げ面の摩擦に対する過度に低い耐性をもたらす。
Ti1-xAlxyz層の厚みの50%のところで測定した柱状結晶子の平均長対平均幅の比率が、少なくとも2.5、好ましくは少なくとも5、好ましくは少なくとも7であることがさらに好ましい。
結晶子の平均幅に対する平均長の比率が上述のものより低い場合、それには、機械加工における第一逃げ面耐摩耗性の低下という不利益も関与する。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は、1.5超、好ましくは2超、特に好ましくは3超のテクスチャ係数TC(hkl)により特徴付けされる、結晶学的{hkl}面との関係における結晶成長優先方位を有し、テクスチャ係数TC(hkl)は、
Figure 2017508632
として定義され、式中、
−I(hkl)は、X線回析により測定される回析反射の強度であり、
−I0(hkl)は、PDFチャート00−046−1200に準じた純粋な面心立方相の回析反射の標準強度であり、
−nは、計算に用いられる反射回数であり、
−反射(111)、(200)、(220)及び(311)は、TC(hkl)の計算に使用され、
Ti1-xAlxyz層の結晶成長の優先方位は、結晶学的{111}、{200}、{220}又は{311}面、特に好ましくは結晶学的{111}面との関係において存在する。
結晶学的{111}面との関係における結晶成長の優先方位が、特に鋳造材料の旋削加工において有利であることが判明している。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は、X線回析法(XRD)及び/又は電子後方散乱回析(EBSD)により測定される結晶学的{hkl}面のX線回析ピークの最大値が、ベース本体の表面に対する垂線との関係において、角度α=±20度以内、好ましくは角度α=±10度以内、特に好ましくは角度α=±5度、極めて特に好ましくは角度α=±1度以内で測定されることを特徴とする結晶学的{hkl}面との関係における結晶成長の優先方位を有しており、Ti1-xAlxyz層の結晶成長優先方位は、結晶学的{111}、{200}、{220}又は{311}面、特に好ましくは結晶学的{111}面との関係において存在する。
この点に関して極めて重要であるのは、方位角β(試料表面法線を中心とした回転角度)全体にわたる強度の積分の後のfcc Ti1-xAlxyz層の{hkl}面の極点図を通る断面である。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、結晶学的{111}、{200}、{220}又は{311}面のX線回析ピークのうちの少なくとも1つ、好ましくは結晶学的{111}面のX線回析ピークの半値幅(FWHM)は、1°2θ未満、好ましくは0.6°2θ未満、特に好ましくは0.45°2θ未満である。
Ti1-xAlxyz層の{111}面のX線回析ピークの過度に高い半値幅(FWHM)が、面心立方(fcc)相のより小さい結晶粒度又は実際には非晶質相の割合を指し示す。このことは、これまでの試験において耐摩耗性の観点から見て不利であることが判明している。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は、結晶学的{111}面及び{200}面のX線回析ピークの強度I{111}及びI{200}の比率により特徴付けされ、I{111}/I{200}>1+h(Inh)2、好ましくはI{111}/I{200}>1+(h+3)×(Inh)2(hは「μm」単位のTi1-xAlxyz層の厚み)である、結晶学的{111}面との関係における結晶成長優先方位を有している。
1+h(In h)2より大きいか、さらには1+(h+3)×(In h)22より大きい比率I{111}/I{200}が、極めて顕著な{111}結晶学的優先方位を特徴付けし、これは、鋳造材料の機械加工において極めて有利であることが判明した。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は、化学量論係数0.70≦x<1、y=0、及び0.95≦z<1.15を有する。すなわちこれには純粋なTiAlN層が関与する。これには、バッチ毎のコーティングそして特に層特性の均一な設定によって、より単純なプロセスの実施が概して可能となり、コーティングバッチ内部の層の組成決定が容易になるという、TiAlCN層に比べた利点がある。さらに、TiAlCN層の場合、立方相の格子の中には制限された量の炭素しか溶解しておらず、余剰の炭素は非晶質形態で存在し得るということが仮定されなければならない。このような組成では、それぞれの使用部域に応じて、工具の耐用寿命の観点から見て、層のより低レベルの硬度又は有利なトライボロジー特性が決定的に重要であり得る。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、Ti1-xAlxyz層は、2300HV超、好ましくは2750HV超、特に好ましくは3000HV超のビッカース硬度(HV)を有する。
過度に低いビッカース硬度には、過度に低レベルの耐摩耗性という不利点がある。本発明に係る層の高いビッカース硬度は、六方晶系AINのようなより軟質の異質な相の検出可能な割合が低いか、好ましくは全く存在しない立方晶系Ti1-xAlxyz層を提供する本発明に係るプロセスの実施によって達成される。
本発明のさらなる好ましい実施形態において、ベース本体とTi1-xAlxyz層との間には、TiN層、高温CVD(CVD)又は中温CVD(MT−CVD)を用いて堆積されたTiCN層、Al23層及びそれらの組合せの中から選択された0.05μm〜7μm、好ましくは0.1μm〜5μm、特に好ましくは0.2μm〜3μmの厚みの少なくとも1つのさらなるカーバイド層が配置されている。さらにTi1-xAlxyz層全体にわたり、少なくとも1つのさらなるカーバイド層、好ましくはγ−Al23、κ−Al、又はα−Al23という少なくとも1つの修正Al23層、特に好ましくはα−Al23層が配置され、ここでAl23層は、高温CVD(CVD)又は中温CVD(MT−CVD)を用いて堆積されることが好ましい。
本発明は同様に、本明細書中に記載の本発明に係る工具の製造方法において、層状構造を備えるTi1-xAlxyz層を製造するため、
a)コーティングすべき本体は、反応装置の長手方向軸に対して実質的に半径方向に流れるプロセスガスでコーティングすべき本体の流入フロー用に設計された実質的に筒形のCVD反応装置の中に設置され、
b)2つの前躯体ガス混合物(VG1)及び(VG2)が提供され、第1の前躯体ガス混合物(VG1)が、0.005%〜0.2vol%のTiCl4、0.025%〜0.5vol%のAlCl3、そしてキャリヤガスとしての水素(H2)又は水素と窒素の混合物(H2/N2)を含有しており、第2の前駆体ガス混合物(VG2)が、0.1〜3.0vol%のアンモニア(NH3)及びヒドラジン(N24)から選択された少なくとも1つのN−ドナーと、キャリヤガスとしての水素(H2)又は水素と窒素の混合物(H2/N2)とを含有し、第1の前駆体ガス混合物(VG1)及び/又は第2の前駆体ガス混合物(VG2)は、任意には、アセトニトリル(CH3CN)、エタン(C26)、エテン(C24)及びエチン(C22)、及びそれらの混合物の中から選択されたCドナーを含み、ここで、前駆体ガス混合物(VG1、VG2)内のNドナー及びCドナーの合計vol%割合が0.1〜3.0vol%の範囲内にあり、
c)2つの前駆体ガス混合物(VG1、VG2)は、反応ゾーン内に移行する前は別個に保たれ、600℃〜850℃の範囲内のCVD反応装置内プロセス温度及び0.05〜18kPaの範囲内のCVD反応装置内のプロセス圧力で、反応装置の長手方向軸に対して実質的に半径方向に導入され、
前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)は、CVD反応装置内の平均滞留時間(Τ)が1秒未満となるように選択されている、方法をも含む。
Ti1-xAlxyz層の本発明に係る構造を達成するために不可欠なプロセスは、CVD反応装置内の平均滞留時間(Τ)が1秒未満となるように、前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)を設定することである。好ましくは、前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)は、CVD反応装置内の平均滞留時間(Τ)が0.5秒未満、好ましくは0.35秒未満となるように選択されている。
ガス体積流量(V´)の平均滞留時間が過度に長い場合、本発明に係る層状構造の達成は確実でなく、かつ/又は、層は過度に高い割合の六方晶系AlNを含有する。
本発明に係る方法は、好ましくは、625℃〜800℃の範囲内、好ましくは650℃〜725℃の範囲内のCVD反応装置内のプロセス温度、及び/又は0.05〜8kPaの範囲内、好ましくは0.1〜7kPaの範囲内のCVD反応装置内のプロセス圧力で実施される。
CVD反応装置内のプロセス温度が過度に高い場合には、層内の六方晶系AlNの含有率が高くなり、これにより、とりわけ層の硬度は低下する。対照的に、CVD反応装置内のプロセス温度が過度に低い場合、堆積速度は非経済的な範囲内に降下し得る。さらに、低い温度では、1at%超の塩素含有率及び低い硬度を有する層が生成される。
CVD反応装置内のプロセス圧力が過度に高い場合、それは、エッジにおける層厚みの増大を伴う工具上の不規則な層厚み分布(いわゆるドッグボーン効果)を導く。さらに、六方晶系AlNの高い割合が頻繁に得られる。0.05kPaより低いCVD反応装置内のプロセス圧力は、対照的に、技術的に達成が困難である。さらに、過度に低いプロセス圧力では、もはや工具の均一なコーティングは保証されない。
本発明に係る方法のさらに好ましい実施形態において、前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)の比率V´(VG1)/V´(VG2)は、1.5未満、好ましくは1.25未満、特に好ましくは1.15未満である。
意外にも、ガス体積流量(V´)の比率が低く、1.5未満又はさらに一層小さいものである場合、結晶成長における極めて顕著な{111}優先方位の達成が可能になることが発見された。前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量の比率が過度に高い場合には、概して、本発明に係る特に好ましい{111}優先方位以外の優越方位が生成される。
本発明によると、前駆体ガス混合物のvol%単位の割合は、反応ゾーン内に導入される第1及び第2の前駆体ガス混合物を含むガス混合物の合計体積に関する。
意外にも、本発明に係るプロセスの実行が、同じ結晶構造を有し、交互に異なるTi及びAlの化学量論的割合から形成された周期的に交番する領域を含む層状構造を有する、0.75≦x≦1、0≦y<0.25及び0.75≦z<1.15の化学量論係数及び面心立方格子を有するTi1-xAlxyz層及びTi1-xAlxz層の生成を可能にすることが発見された。TiAlCN及びTiAlN層を備える公知のコーティング、詳細には、複数の層の面心立方晶系及び六方晶系が交番する結晶構造を含むコーティングと比較して、本発明に係るコーティングは、金属機械加工における卓越した特性を有する。さらに意外にも、本明細書中に記載の種類のコーティングを伴う切削インサートの場合、金属切削加工、詳細には鋼又は鋳造材料の旋削及びフライス加工において、公知の切削インサートに比べて改善された耐摩耗性及びさらに広い範囲の利用分野を達成することが可能である。
本発明に係るCVDプロセスにおいては、2種類の前駆体ガス混合物(VG1)及び(VG2)が調製され、第1の前駆体ガス混合物(VG1)は、塩化物の形の金属Ti及びAl及びキャリヤガスを含有し、第2の前駆体ガス混合物(VG2)は、少なくとも1つのNドナーを含有する。概して、純粋TiAlN層の生成のためには、Nドナーとしてアンモニア(NH3)又はヒドラジン(N24)のみが使用される。TiAlCN層の生成のためには、Nドナー及びCドナー、例えばエテン(C24)と混合したアンモニア(NH3)が使用される。本発明に係る方法においては、アセトニトリル(CH3CN)が主にCドナーとして作用し、したがってNドナーとの混合物中で使用される。それぞれに所望される化学量論に応じて、さらなるNドナー及びCドナーとの混合物を使用することが可能である。本発明に係る方法のためには、Nドナーが金属Ti及びAlの塩化物から別個に供給される必要があるが、対照的に、Cドナーは、第1の前駆体ガス混合物(VG1)経由と同様第2の前駆体ガス混合物(VG2)経由の両方の形で供給され得る。本発明のさらなる好ましい実施形態において、Nドナーはアンモニア(NH3)である。
本発明によって使用されるCVDプロセスは、600℃〜850℃の範囲内のCVD反応装置内のプロセス温度、及び0.2〜8kPaの範囲内のプロセス圧力でのMT−CVDプロセスである。CVD反応装置は実質的に、反応装置の長手方向軸に対して実質的に半径方向、すなわち筒形反応装置の中心軸からシリンダケーシングにより形成されている反応装置の外壁への方向でのプロセスガスを用いてコーティングすべき本体に向う流入フロー用に設計された筒形反応装置である。このような筒形反応装置は公知で市販されており、例えばIonbond AG、OHen Switzerlad製のBernex(登録商標)BPXpro型のCVDシステムである。
本発明に係る方法における不可欠の方法ステップは、反応ゾーン内を通過する前に2つの前駆体ガス混合物(VG1)及び(VG2)を別個に保つことである。それを行なわなかった場合、前躯体ガス流は、尚早に、例えば供給ライン内などで事前に反応する可能性があり、所望のコーティングは達成されない。
本発明に係る層の走査型電子顕微鏡画像(SEM)を示す。 より高い倍率での図1に示された本発明に係る層のさらなる走査型電子顕微鏡画像(SEM)を示す。InLEns−SE検出器を用いると画像の中で、層状構造が実質的に層全体にわたり延在していることを見ることができる。 図1及び2に示されている本発明に係る層のSTEM画像を示す。図3Aは明視野像であり、図3BはHAADF(高角環状暗視野)画像である。2つの検出器信号間で変更した場合のコントラスト反転は、複数の層の明領域と暗領域の間の化学的組成の差異の兆候である。 図1及び2に示されたとおりの本発明に係る層の層状構造の高分解能HRTEM画像を示す。 図4の画像全体(図5(A))及び図4からの一部分(図5(B)、5(C)及び5(D))のフーリエ変換を示す。
(定義と方法)
(平均滞留時間)
本発明に係るCVD反応装置の反応ゾーン内の平均滞留時間Tは、反応装置体積VRを、反応装置出口において測定されたプロセス圧力pでの発出するガス体積流量Vで割ったときの商として定義される。
Figure 2017508632
なお式中V´Nは、標準条件下でのガス体積流量を表わし、pNは標準圧力=101.325Paである。本出願に係る平均滞留時間を計算するためには、合計反応装置体積の代りに、反応装置内のバッチ構成の体積のみが体積VRとして使用される。
(X線回折法(XRD))
X線回折測定は、GE Sensing & InspecTion Technologies PTS3003タイプのX線回折計上において、CuKα放射線を用いて実施された。θ〜2θの残留応力及び極点図測定については、平行ビーム光学系が使用され、この光学系は一次側に、ポリキャピラリ手段及びコリメータとしての2mmのピンホールを有していた。二次側には、0.4°の発散を有する平行板コリメータとニッケルKβフィルタが使用された。
ピーク強度及び半値幅は、θ〜2θの測定ベースで決定された。バックグラウンドの演繹後、擬似フォークト関数が測定データにフィットされ、ここでKα2の演繹は、Kα1/Kα2二重線マッチングを用いてもたらされた。表4に記されている強度と半値幅に関する値は、このようにしてフィットされたKα1干渉に関するものである。格子定数は、それぞれPDFチャート38−1420及び00−46−1200からのTiN及びAlNの格子定数の仮定に基づき、ヴェガード則にしたがって計算される。
(Ti1-xAlxyz層における層状構造の特徴付け)
X線回折(XRD)及び従来型の及び高分解能の透過型電子顕微鏡法(TEM及びHR−TEM)を用いた本発明に係るTi1-xAlxyz層内の層状構造の存在の検出及び特徴付けは、J Keckesら、「Self−organized periodic soft−hard nanolamellae in polycrystalline TiAlN thin films」、Thin Solid Films 545(2013)、29〜32頁中に記載された事項に従って行われた。300kVの加速電圧を有する電界放出陰極を備える透過型電子顕微鏡FEI Titan80−300を使用した。走査型透過電子顕微鏡画像が、明視野(BF)及び高角環状暗視野(HAADF)検出器を用いて記録された。透過型電子顕微鏡法用の試料調製のためには、液体ガリウムイオン源及び電子源としての電界放出陰極ならびにPtのイオン及び電子支援型堆積用システムを備えた組合せ型FIB/SEMシステムが使用された(FIB=集束イオンビーム)。このシステムを用いて、研磨済み横断面が、層からのインサイチュリフトアウトにより複数の層として調製され、適切な電子透明度まで希釈された。
極点図
{111}反射の極点図は、測定点を円形に配置した状態で、0°<α<75°(増分5°)及び0°<β<360°(増分5°)の角度範囲にわたり2θ=38.0°で実装された。測定され逆算された全ての極点図の強度分布は、おおよそ回転対称であった。すなわち調査された層は、繊維テクスチャを示した。優先方位を検査するため、{200}及び{220}反射での{111}極点図に加えて、優先方位極点図が測定された。方位密度分布関数(ODF)は、Labo Soft、Poland製のソフトウェアLaboTex3.0を用いて計算され、優先方位が、逆極点図として表わされた。本発明に係る層の場合、強度最大値は、設定した優先方位に対応する結晶学的方向、<hkl>又は<hkl>から20°以下の偏向にあり、<hkl>は、<111>、<200>、<220>又は<311>に等しく、好ましくは<111>である。
(EDX測定(エネルギー分散型X線分光分析))
EDX測定は、Oxford Instrument、UK製のINCAx−actタイプのEDX分光計を用いて、15kVの加速電圧を有するCarlZeiss製の走査型電子顕微鏡Supra 40VP上で実施された。
(微小硬度の決定)
微小硬度の測定は、コーティング済み本体の研磨された断面上で、Helmut Fischer GmbH、Sindelfingen、Germany製のFischerscope H100タイプの汎用硬度テスターを用いて、DIN EN ISO 14577−1、−4に準拠して、行った。
(実施例1:コーティングされたカーバイド割出し可能切削ビットの製造)
これらの実施例において、使用される基材本体は、90.5wt%のWC、8wt%のCo、及び1.5wt%の(NbC+TaC)の組成を有し、かつ混合型カーバイドを含まないエッジゾーンを備える、幾何形状SEHW1204AFNのカーバイド割出し可能切削ビットである。
カーバイド割出し可能切削ビットのコーティングのためには、反応装置高さが1250mmで、反応装置直径が325mmで、投入物構成体積が40リットルであるBernex BPX325SタイプのCVDコーティング装置を使用した。ガス流の向きは、反応装置の長手方向軸に対し半径方向であった。
本発明に係るTi1-xAlxyz層と比較層を接着するために、厚み約0.3μmのTiN層を最初に、表1に記載の堆積条件下でCVDを用いてカーバイド基材に直接適用した。
表1:接着層の生成における反応条件
Figure 2017508632
本発明に係るTi1-xAlxyz層を生成するため、出発化合物TiCl4及びAlCl3を有する第1の前駆体ガス混合物(VG1)、及び反応性窒素化合物としての出発化合物NH3を有する第2の前駆体ガス混合物(VG2)を、互いに別個に反応装置内に導入して、2つのガス流の混合が、反応ゾーン内に移行した時点で初めて発生するようにした。前駆体ガス混合物(VG1)及び(VG2)のガス体積流量は、反応装置内の反応ガスの平均滞留時間Τ及び標準条件下での全体的体積流量V´が達成されるように設定した。本発明に係るTi1-xAlxyzコーティング1)と比較コーティング2)の生成における諸条件を、表2に示す。
表2:Ti1-xAlxyzコーティングの生産における反応条件
Figure 2017508632
本発明に係るTi1-xAlxyz層を特徴付けするために、X線回折(XRD)、電子回析、詳細にはEBSD、走査型電子顕微鏡法(SEM)、走査型透過電子顕微鏡法(STEM)及び透過型電子顕微鏡法(TEM)ならびに微小硬度測定を行った。
本発明に係るTi1-xAlxyz層1)の層厚みは4.5μmであり、比較層2)の層厚みは6.25μmであった。本発明に係る層1)の微小硬度は、3070HV0.05であり、一方比較コーティング2)の微小硬度は2300HV0.05と測定された。
XRD分析は、本発明に係る層1)が実質的に純粋面心立方(fcc)相を含み、結晶成長の強い{111}優先方位を有していることを示した。{111}反射の半値幅は、0.64°2θであり、層の組成は、およそTi0.195Al0.8051.05として決定することができた。
比較コーティング2)は、XRD分析において、2つのピーク(2θ=36.98°、FWHM=1.28°及び2θ=37.83°、FWHM=0.94°)として使用されるソフトウェアによりフィットされた30°≦2θ≦40°の範囲で広い信号を示した。大きいピーク幅は、微細結晶構造を指し示している。層の組成は、およそTi0.3Al0.171.0であった。XRD信号が、六方晶系AlNの{101}干渉及び立方晶系Ti1-xAlxzの{111}反射に起因するものであるとすべき構成成分を、ディフラクトグラムのみに基づいて決定することは不可能であった。しかしながら、層内には六方晶系AlNの有意な割合が存在することを仮定すべきである。最高強度と層との干渉は、30°≦2θ≦40°の角度範囲内で発生することから、Ti1-xAlxyz層の立方晶系構成成分の{111}優先方位が存在すると結論付けることができる。
六方晶系AlNの{101}及び{202}干渉ならびに立方晶系Ti1-xAlxyz層の{111}及び{222}反射は、それぞれの化学的組成に応じて、多少の差こそあれ大幅に重畳させることができる。立方晶系Ti1-xAlxyz層の{200}面の干渉だけであれば、例えば基材本体又はその上全体又はその下側に配置された層に起因して、さらに干渉して重畳されることはなく、ランダム方位について最高の強度を有する。
したがって、測定(θ−2θ走査)は、測定体積内の六方晶系AlNの体積割合を評価し、立方晶系Ti1-xAlxyz層の{111}及び{200}強度に関する誤った判断を回避するために、2つの異なる傾斜角ψ(ψ=0°及びψ=54.74°)で実施された。{111}及び{201}の法線間の角度は約54.74°であることから、このとき、強い{111}繊維テクスチャでは、傾斜角ψ=54.74°で{200}反射の強度最大値が存在し、一方{111}反射の強度はゼロに向かう傾向をもつ。反対に、傾斜角ψ=4.74°の場合では、強い{200}繊維テクスチャで{111}反射の強い強度最大値が得られ、一方{200}反射の強度は、ゼロに向かう傾向にある。
このようにして、生成されたTi1-xAlxyz層については、およそ38.1°の2θでの測定上の強度が主に面心立方Ti1-xAlxyz相に結びつけられるか否か、あるいは、層中のより大きい割合の六方晶系AINが含まれているか否かを解明するために、検査を行なった。X線回折測定及びEBSD測定の両方について、結果が一致して、本発明に係る層内には、非常に小さい割合の六方晶系AIN相の存在しか認められなかった。本発明に係るTi1-xAlxyz層1)の化学的組成は、おおよそTi0.19Al0.81Nであり、これは、ヴェガード則にしたがって{111}ピークの位置に基づいて、かつPDFチャート38−1420に準じた純粋fccTiN、そしてPDFチャート46−1200に準じた純粋fccAINについての対応する{111}ピーク位置を用いて、基準値として計算されたものである。
走査型電子顕微鏡法(SEM)、走査型透過電子顕微鏡法(STEM)及び透過型電子顕微鏡法(TEM)を用いて、本発明に係るTi1-xAlxyz層の横断面を調査した。本発明に係る層1)は、柱状結晶子で構成されており、その長さは層厚みに近く約3〜4μmで、Ti1-xAlxyz層の厚みの50%で測定された平均幅は約200nmであった。こうして長さ対幅の比率は約17.5であった。比較層2)の研磨済み横断面の走査型電子顕微鏡画像(SEM)は、いかなる離散的結晶子も内部に見ることのできない微細構造を明らかにした。層内には、いかなる層状構造も見出すことができなかった。
図1及び図2は、本発明に係る層1)の走査型電子顕微鏡画像(SEM)を示す。
図3は、明視野モード(BF)(図3A)及び高角環状暗視野(HAADF)暗視野モード(図3B)における、本発明に係る層1)のSTEM画像を示す。本発明に係る層状構造は、全ての結晶子内に明確に見られるはずであり、コントラストの鮮明度は、電子ビームとの関係における結晶子の方位によって左右される。複数の層の厚みは約30nmである。図3内の画像は、層のほぼ中心で撮影されたものであるが、層状構造を備える柱状結晶子は、層全体の中に観察された。層成長の方向は、図3の画像中で左から右である。最高のコントラストを示す結晶子内で、異なる厚みの領域が層状構造の内部に見られるはずである。EDS分析により、BF内で暗く見えHAADF内で明るく見える複数の層の領域が狭くなればなるほど、より広幅の領域に比べて、Tiの割合が高く、Alの割合が低くなることを示すことができた。しかしながら、窒素の割合は、さまざまな領域内で、測定精度内の等しい大きさのものであった。EDSを用いて決定された全体的組成は、XRDにより決定された全体的組成と同じである。
図4は、本発明に係る層1)の層状構造の高解像度HRTEM画像を示す。より高いTi含有率を有するより狭い領域が図4内の上部及び下部領域内で暗帯として見える、2つの複数の層の領域を見ることができる。図4で矩形の輪郭線で印付けされている、図4中に示された画像の3つの領域(B、C、D)に関して、フーリエ変換演算を行なった。これらは、図5中に、図5(B)、図5(C)、及び図5(D)として再現されている。(図5(B)及び5(D)に対応する)図4中の矩形B及びDは、より高いTi含有率を有するより狭い領域を網羅し、一方(図5(C)に対応する)図4中の矩形Cは、より高いAl含有率を有するより広い領域を網羅する。図5(A)は、図4全体のフーリエ交換を示す。
図5のフーリエ変換は、構造全体が面心立方(fcc)相を含むことを示している。方法の精度内で、4.04Åのフーリエ変換のパターンに基づいて決定された格子定数は、4.08ÅのXRDにより決定された格子定数と適合している。さらに、図5(B)、5(C)及び5(D)は、これらの図が網羅している層状構造の3つの異なる領域内で、同じ結晶構造(fcc)及び同じ方位が優勢であることを示している。
実施例2:切削試験
本発明に係るTiAlN層1)及び比較層2)をそれぞれ伴う実施例1にしたがって製造されたカーバイド割出し可能切削ビット、ならびに競合会社から市販されているタイプのカーバイド割出し可能切削ビットを用いて、鋳造材料のフライス加工を行なった。競合会社の工具は、TiN(0.5μm)−TiCN(2μm)−TiAlN(3μm)の層シーケンスが関与する多層コーティングを有している。XRD分析によると、TiAlN層は、六方晶系AlN及び立方晶系Ti1-xAlxzの相混合物のみで構成されていた。SEM画像中には、国際公開第2013/134796号(WO2013/134796)中に記載の構造と同様に、複数の層の部分的形成物を伴う2相構造を見ることができた。
切削インサートを用いて以下の切削条件下で、フライス作業を実施した:
ワーク材料: ねずみ鋳鉄GGG70
同方向乾式機械加工
歯の送り fZ=0.2mm
切削深さ aP=3mm
切削速度 VC=283m/分
取り付け角 κ=45°
ワーク係合 ae=98mm
突起 Ue=5mm
次に、4000mのフライス加工の後、主切り刃における最大摩耗幅VB.maxを測定した。
Figure 2017508632

Claims (15)

  1. カーバイド、サーメット、セラミック、鋼又は高速度鋼のベース本体と、
    CVDプロセスにより適用され3μm〜25μmの範囲内の厚みの単層又は多層摩耗保護コーティングと、
    を有する工具において、
    摩耗保護コーティングが、0.70≦x<1、0≦y<0.25、及び0.75≦z<1.15の化学量論係数を有し、1.5μm〜17μmの範囲内の厚みの少なくとも1つのTi1-xAlxyz層を有する工具であって、
    −Ti1-xAlxyz層が、150nm以下、好ましくは100nm以下、特に好ましくは50nm以下の厚みの複数の層を備える層状構造を有すること、
    −前記複数の層が、同じ結晶構造(結晶相)を有し、Ti及びAlの化学量論的割合が交互に異なる、Ti1-xAlxyz層の周期的に交番する領域で形成されていること、及び
    −Ti1-xAlxyz層が、少なくとも90vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有すること、
    を特徴とする工具。
  2. Ti1-xAlxyz層が、少なくとも95vol%、好ましくは少なくとも98vol%、特に好ましくは約100vol%の面心立方(fcc)結晶構造を有することを特徴とする、請求項1に記載の工具。
  3. Ti及びAlの化学量論的割合が交互に異なり、周期的に交番する領域を有する複数の層を備えるTi1-xAlxyz層内で、層成長方向で複数の層の1つの領域と下方及び上方でそれぞれ隣接する他のTi及びAlの割合を伴う領域が、同じ結晶方位を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の工具。
  4. Ti1-xAlxyz層が柱状微細構造を有し、柱状結晶子が、Ti1-xAlxyz層の厚みの少なくとも0.35倍、好ましくは少なくとも0.5倍、特に好ましくは少なくとも0.7倍の平均長を有すること、及び/又は、
    Ti1-xAlxyz層の厚みの50%のところで測定した柱状結晶子の平均長対平均幅の比率が、少なくとも2.5、好ましくは少なくとも5、好ましくは少なくとも7であることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか一項に記載の工具。
  5. Ti1-xAlxyz層が、1.5超、好ましくは2超、特に好ましくは3超のテクスチャ係数TC(hkl)により特徴付けされる、結晶学的{hkl}面との関係における結晶成長優先方位を有し、
    テクスチャ係数TC(hkl)は、
    Figure 2017508632
    で定義され、式中、
    −I(hkl)は、X線回析により測定される回析反射の強度であり、
    −I0(hkl)は、PDFチャート00−046−1200に準じた回析反射の標準強度であり、
    −nは、計算に用いられる反射回数であり、
    −反射(111)、(200)、(220)及び(311)は、TC(hkl)の計算に使用され、
    Ti1-xAlxyz層の結晶成長の優先方位は、結晶学的{111}、{200}、{220}、又は{311}面、特に好ましくは結晶学的{111}面との関係において存在すること、
    を特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の工具。
  6. Ti1-xAlxyz層は、X線回析法(XRD)及び/又は電子後方散乱回析(EBSD)により測定される結晶学的{hkl}面のX線回析ピークの最大値が、ベース本体の表面に対する垂線との関係において、角度α=±20度以内、好ましくは角度α=±10度以内、特に好ましくは角度α=±5度、極めて特に好ましくは角度α=±1度以内で測定されることを特徴とする結晶学的{hkl}面との関係における結晶成長の優先方位を有しており、
    Ti1-xAlxyz層の結晶成長優越方位が、結晶学的{111}、{200}、{220}又は{311}面、特に好ましくは結晶学的{111}面との関係において存在することを特徴とする、請求項1〜5のいずれか一項に記載の工具。
  7. 結晶学的{111}、{200}、{220}又は{311}面のX線回析ピークのうちの少なくとも1つ、好ましくは結晶学的{111}面のX線回析ピークの半値幅(FWHM)が1°2θ未満、好ましくは0.6°2θ未満、特に好ましくは0.45°2θ未満であることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載の工具。
  8. Ti1-xAlxyz層が、結晶学的{111}面及び{200}面のX線回析ピークの強度I{111}及びI{200}の比率により特徴付けされ、I{111}/I{200}>1+h(Inh)2、好ましくはI{111}/I{200}>1+(h+3)×(Inh)2(hは「μm」単位でのTi1-xAlxyz層の厚み)である、結晶学的{111}面との関係における結晶成長優先方位を有することを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一項に記載の工具。
  9. Ti1-xAlxyz層が、化学量論係数0.70≦x<1、y=0及び0.95≦z<1.15を有することを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一項に記載の工具。
  10. Ti1-xAlxyz層が、2300HV超、好ましくは2750HV超、特に好ましくは3000HV超のビッカース硬度(HV)を有することを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一項に記載の工具。
  11. ベース本体とTi1-xAlxyz層との間には、TiN層、高温CVD(CVD)又は中温CVD(MT−CVD)を用いて堆積されたTiCN層、Al23層及びそれらの組合せの中から選択された0.05μm〜7μm、好ましくは0.1μm〜5μm、特に好ましくは0.2μm〜3μmの厚みの少なくとも1つのさらなるカーバイド層が配置されていること、及び/又はTi1-xAlxyz層全体にわたり、少なくとも1つのさらなるカーバイド層、好ましくはγ−Al23、κ−Al22又はα−Al23という少なくとも1つの修正Al23層、特に好ましくはα−Al23層が配置され、Al23層は、高温CVD(CVD)又は中温CVD(MT−CVD)を用いて被着されることを特徴とする、請求項1〜10のいずれか一項に記載の工具。
  12. 請求項1〜11の一項に記載の工具の製造方法であって、層状構造を備えるTi1-xAlxyz層を製造するため、
    a)コーティングすべき本体を、反応装置の長手方向軸に対して実質的に半径方向に流れるプロセスガスでコーティングすべき本体の流入フロー用に設計された実質的に筒形のCVD反応装置の中に設置し、
    b)2つの前躯体ガス混合物(VG1)及び(VG2)を提供し、第1の前躯体ガス混合物(VG1)が、0.005%〜0.2vol%のTiCl4、0.025%〜0.5vol%のAlCl3、及びキャリヤガスとしての水素(H2)若しくは水素と窒素の混合物(H2/N2)を含有しており、第2の前駆体ガス混合物(VG2)が、0.1〜3.0vol%のアンモニア(NH3)及びヒドラジン(N24)から選択された少なくとも1つのNドナーと、キャリヤガスとしての水素(H2)又は水素と窒素の混合物(H2/N2)とを含有しており、第1の前駆体ガス混合物(VG1)及び/又は第2の前駆体ガス混合物(VG2)は、任意には、アセトニトリル(CH3CN)、エタン(C26)、エテン(C24)及びエチン(C22)及びそれらの混合物の中から選択されたCドナーを含み、前駆体ガス混合物(VG1、VG2)中のNドナー及びCドナーの合計vol%割合が0.1〜3.0vol%の範囲内にあり、
    c)2つの前駆体ガス混合物(VG1、VG2)を、反応ゾーン内に移行する前は別個に保たれ、600℃〜850℃の範囲のCVD反応装置内プロセス温度、及び0.05〜18kPaの範囲のCVD反応装置内のプロセス圧力で、反応装置の長手方向軸に対して実質的に半径方向に導入し、
    前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)は、CVD反応装置内の平均滞留時間(Τ)が1秒未満となるように選択されている、方法。
  13. 前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)は、CVD反応装置内の平均滞留時間(Τ)が0.5秒未満、好ましくは0.35秒未満となるように選択されていることを特徴とする、請求項12に記載の方法。
  14. CVD反応装置内のプロセス温度が、625℃〜800℃の範囲内、好ましくは650℃〜725℃の範囲内にあり、かつ/又はCVD反応装置内のプロセス圧力が、0.05〜8kPaの範囲内、好ましくは0.1〜7kPaの範囲内にあることを特徴とする、請求項12又は13に記載の方法。
  15. 前駆体ガス混合物(VG1、VG2)のガス体積流量(V´)の比率V´(VG1)/V´(VG2)が、1.5未満、好ましくは1.25未満、特に好ましくは1.15未満であることを特徴とする、請求項12〜14のいずれか一項に記載の方法。
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