JP2017212361A - プラズマ処理装置及びパーティクル付着抑制方法 - Google Patents
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Abstract
Description
まず、プラズマ処理装置1の一例について、図1を参照しながら説明する。本実施形態にかかるプラズマ処理装置1は、容量結合型の平行平板プラズマ処理装置であり、略円筒形の処理容器10を有している。処理容器10の内面には、アルマイト処理(陽極酸化処理)が施されている。処理容器10(処理室)では、プラズマによりエッチング処理や成膜処理等のプラズマ処理が行われる。
次に、本実施形態に係るパーティクル付着抑制方法1について、図2を参照しながら説明する。図2の上部に示すパターン1−1のタイムチャートを参照すると、本実施形態に係るパーティクル付着抑制方法1では、ウェハWに対するプラズマ処理の終了後、時刻t1において可変直流電源70から出力されるDC(以下、「Top DC」という。)の印加が停止される。その後、時刻t2において第1高周波電源32から出力される第1高周波電力(以下、「HF RF」という。)と、第2高周波電源34から出力される第2高周波電力(以下、「LF RF」という。)の印加が同時に停止される。
次に、本実施形態に係るパーティクル付着抑制方法2について、図3を参照しながら説明する。図3の上部には、パターン1−2及びパターン2のタイムチャートが示されている。
次に、本実施形態に係るパーティクル付着抑制方法3について、図4を参照しながら説明する。図4の上部には、パターン1−3及びパターン1−4のタイムチャートが示されている。
以上に説明したパーティクル付着抑制の理由について、図5を参照しながら説明する。図5(a)〜図5(c)は、静電チャック106とフォーカスリング108との間の断面の一例を示す。図5(a)は、ウェハWへのプラズマ処理が終了したときの、ウェハWのエッジの近傍の状態をモデル化して示したものである。静電チャック106とフォーカスリング108との間には、プラズマ処理中に発生した反応生成物やプラズマにより削られた処理容器10の内壁を構成する物質等が付着する。
以上の説明から、本実施形態に係るパーティクル付着抑制方法1〜3のまとめを、図6を参照しながら行う。図6の表に示すパターン1−3及びパターン1−4(パターンのシーケンスは図4参照)に示すように、Top DCの印加をランプダウンさせて停止する場合、ウェハWへのパーティクルの付着を抑制することができる。
10 処理容器
15 ガス供給源
20 載置台
25 ガスシャワーヘッド
32 第1高周波電源
34 第2高周波電源
65 排気装置
70 可変直流電源
100 制御部
104 支持体
104a 冷媒流路
106 静電チャック
108 フォーカスリング
Claims (6)
- 基板を収容し、内部にてプラズマ処理が行われる処理室と、
基板を載置する載置台と、
前記載置台に対向する対向電極と、
前記載置台又は前記対向電極にプラズマ生成用の第1の高周波電力を印加する第1の高周波電源と、
前記載置台に前記第1の高周波電源よりも周波数が低い、バイアス電圧発生用の第2の高周波電力を印加する第2の高周波電源と、
前記対向電極に直流電圧を印加する直流電源と、
前記第1の高周波電源、前記第2の高周波電源及び直流電源を制御する制御部と、
を有し、
前記制御部は、プラズマ処理時又はプラズマ処理後であって前記第1の高周波電力及び前記第2の高周波電力の印加を停止させる前に、前記直流電圧をランプダウンさせる、プラズマ処理装置。 - 前記制御部は、プラズマ処理時又はプラズマ処理後であって前記第1の高周波電力及び前記第2の高周波電力の印加を停止させる前又は停止させるときに、前記ランプダウンさせた直流電圧を停止させる、
請求項1に記載のプラズマ処理装置。 - 前記制御部は、前記第1の高周波電力の印加を停止させた後に前記第2の高周波電力の印加を停止させる、
請求項1又は2に記載のプラズマ処理装置。 - 前記載置台の外縁部に配される環状部材を有し、
前記環状部材の最上部の高さは、基板より高い、
請求項1〜3のいずれか一項に記載のプラズマ処理装置。 - 基板を収容し、内部にてプラズマ処理が行われる処理室と、
基板を載置する載置台と、
前記載置台に対向する対向電極と、
前記載置台又は前記対向電極にプラズマ生成用の第1の高周波電力を印加する第1の高周波電源と、
前記載置台に前記第1の高周波電源よりも周波数が低い、バイアス電圧発生用の第2の高周波電力を印加する第2の高周波電源と、
前記第1の高周波電源及び前記第2の高周波電源を制御する制御部と、
を有し、
前記制御部は、プラズマ処理時又はプラズマ処理後であって前記第1の高周波電力の印加を停止させた後に前記第2の高周波電力の印加を停止させる、プラズマ処理装置。 - 基板を収容し、内部にてプラズマ処理が行われる処理室と、
基板を載置する載置台と、
前記載置台に対向する対向電極と、
前記載置台又は前記対向電極にプラズマ生成用の第1の高周波電力を印加する第1の高周波電源と、
前記載置台に前記第1の高周波電源よりも周波数が低い、バイアス電圧発生用の第2の高周波電力を印加する第2の高周波電源と、
前記対向電極に直流電圧を印加する直流電源と、
前記第1の高周波電源、前記第2の高周波電源及び直流電源を制御する制御部と、
を有するプラズマ処理装置にてプラズマ処理が施される基板へのパーティクル付着抑制方法であって、
プラズマ処理時又はその後に、前記直流電圧をランプダウンさせ、
前記直流電圧をランプダウンさせた後に、前記第1の高周波電力及び前記第2の高周波電力の印加を停止させる、
パーティクル付着抑制方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016105281A JP2017212361A (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | プラズマ処理装置及びパーティクル付着抑制方法 |
TW106116813A TW201806450A (zh) | 2016-05-26 | 2017-05-22 | 電漿處理裝置及顆粒附著抑制方法 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016105281A JP2017212361A (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | プラズマ処理装置及びパーティクル付着抑制方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017212361A true JP2017212361A (ja) | 2017-11-30 |
Family
ID=60420666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016105281A Pending JP2017212361A (ja) | 2016-05-26 | 2016-05-26 | プラズマ処理装置及びパーティクル付着抑制方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10043637B2 (ja) |
JP (1) | JP2017212361A (ja) |
KR (1) | KR20170134261A (ja) |
TW (1) | TW201806450A (ja) |
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Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
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