JP2017083303A - 半導体装置およびセル電圧の測定方法 - Google Patents
半導体装置およびセル電圧の測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017083303A JP2017083303A JP2015212065A JP2015212065A JP2017083303A JP 2017083303 A JP2017083303 A JP 2017083303A JP 2015212065 A JP2015212065 A JP 2015212065A JP 2015212065 A JP2015212065 A JP 2015212065A JP 2017083303 A JP2017083303 A JP 2017083303A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- input terminal
- voltage
- cell
- battery cell
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/396—Acquisition or processing of data for testing or for monitoring individual cells or groups of cells within a battery
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/36—Arrangements for testing, measuring or monitoring the electrical condition of accumulators or electric batteries, e.g. capacity or state of charge [SoC]
- G01R31/3644—Constructional arrangements
- G01R31/3648—Constructional arrangements comprising digital calculation means, e.g. for performing an algorithm
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Tests Of Electric Status Of Batteries (AREA)
- Charge And Discharge Circuits For Batteries Or The Like (AREA)
- Secondary Cells (AREA)
Abstract
Description
図1は、本発明の実施形態に係る半導体装置100の構成を示す回路ブロック図である。半導体装置100は、組電池を構成する直列接続された複数の電池セルの各々のセル電圧を測定する機能を有する電池監視IC(integrated circuit)を構成する。なお、セル電圧とは、1つの電池セルの陽極と陰極との間の電圧である。図1には、一例として、直列接続された12個の電池セルs1〜s12を備える組電池200が、半導体装置100と共に示されている。組電池200は、最も低電位の電池セルs1の陰極が、例えば、接地電位(GND)に接続される。
Vout=V1−V0+Vof ・・・(1)
Vout=V1−V0−Vof ・・・(2)
Vout=V2−V1−Vof ・・・(3)
Vout=V2−V1+Vof ・・・(4)
図5は、本発明の第2の実施形態に係る半導体装置101の構成を示す回路ブロック図である。半導体装置101は、第1のバッファ回路71および第2のバッファ回路81を更に含む点が、上記した第1の実施形態に係る半導体装置100と異なる。
図7は、本発明の第3の実施形態に係る半導体装置102の構成を示す回路ブロック図である。半導体装置102は、第1の実施形態に係る半導体装置100に対して入力電圧切り換え部20が削除され、接続切り換え部90が追加された構成を有する。
20 入力電圧切り換え部
30、72、82 演算増幅器
40 AD変換器
60 制御部
71、81 バッファ回路
73、83 第1のバッファ入力端子
74、84 第2のバッファ入力端子
75、85 バッファ出力端子
100、101、102 半導体装置
a1〜a26 スイッチ
b1〜b4 スイッチ
c1、c2 スイッチ
d1〜d8 スイッチ
e1〜e4 スイッチ
s1〜s12 電池セル
x0〜x12 セル電圧入力端子
Claims (9)
- 直列に接続された複数の電池セルを含む組電池の両端および前記電池セル同士の接続点の各々に接続される複数のセル電圧入力端子と、
第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を有し、前記第1の入力端子および前記第2の入力端子の各々に入力される電圧の差分に応じた差分電圧を前記出力端子から出力する差分電圧出力部と、
前記複数のセル電圧入力端子の各々と、前記第1の入力端子および前記第2の入力端子とを切り換え可能に接続する接続部と、
前記複数の電池セルのうちの1の電池セルの陽極に接続されるセル電圧入力端子が前記第1の入力端子に接続され、当該1の電池セルの陰極に接続されるセル電圧入力端子が前記第2の入力端子に接続された第1の接続状態、および当該1の電池セルの陰極に接続されるセル電圧入力端子が前記第1の入力端子に接続され、当該1の電池セルの陽極に接続されるセル電圧入力端子が前記第2の入力端子に接続された第2の接続状態を順次形成するように前記接続部を制御するセル電圧測定制御を前記複数の電池セルの各々について行う場合に、前記第1の接続状態および前記第2の接続状態のうち、当該1の電池セルについて最初に形成される接続状態が、直前に前記セル電圧測定制御が行われる他の電池セルについて最後に形成される接続状態と同じとなるように前記接続部を制御する制御部と、
を含む半導体装置。 - 前記第1の接続状態の下で前記差分電圧出力部の前記出力端子から出力された前記複数の電池セルのうちの1の電池セルのセル電圧に応じた差分電圧と、前記第2の接続状態の下で前記差分電圧出力部の前記出力端子から出力された当該1の電池セルのセル電圧に応じた差分電圧と、の平均値に相当する値を当該1の電池セルのセル電圧の測定値として算出する算出部を更に含む請求項1に記載の半導体装置。
- 前記差分電圧出力部は、前記第1の入力端子に入力される電圧が前記第2の入力端子に入力される電圧よりも高い場合に前記差分電圧を出力する第1の回路接続と、前記第2の入力端子に入力される電圧が前記第1の入力端子に入力される電圧よりも高い場合に前記差分電圧を出力する第2の回路接続と、に切り換え可能に構成され、
前記制御部は、前記第1の接続状態を形成する場合に前記差分電圧出力部において前記第1の回路接続を形成し、前記第2の接続状態を形成する場合に前記差分電圧出力部において前記第2の回路接続を形成する
請求項1または請求項2に記載の半導体装置。 - 前記接続部は、前記複数のセル電圧入力端子の各々を、前記第1の入力端子および前記第2の入力端子に対応する第1のノードおよび第2のノードに選択的に接続する複数のスイッチを含む第1のスイッチ群を含み、
前記制御部は、前記第1のスイッチ群における複数のスイッチのオンオフを制御する
請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記接続部は、前記第1のノードおよび前記第2のノードに対応する第3のノードおよび第4のノードを選択的に前記第1の入力端子および前記第2の入力端子に接続する複数のスイッチを含む第2のスイッチ群を含み、
前記制御部は、前記第2のスイッチ群における複数のスイッチのオンオフを制御する
請求項4に記載の半導体装置。 - 前記複数のセル電圧入力端子と前記第1の入力端子および前記第2の入力端子との間に設けられ、入力される前記電池セルからの電圧をインピーダンス変換して出力する一対のバッファ回路を更に含む
請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 前記一対のバッファ回路の各々は、第1のバッファ入力端子、第2のバッファ入力端子およびバッファ出力端子を有し、前記第1のバッファ入力端子に前記電池セルからの電圧が入力され且つ前記第2のバッファ入力端子が前記バッファ出力端子に接続された第1の状態と、前記第2のバッファ入力端子に前記電池セルからの電圧が入力され且つ前記第1のバッファ入力端子が前記バッファ出力端子に接続された第2の状態と、に切り換え可能に構成され、
前記制御部は、前記第1の接続状態と前記第2の接続状態の切り換えに応じて、前記一対のバッファ回路の各々において、前記第1の状態と前記第2の状態との切り換えを行う
請求項6に記載の半導体装置。 - 前記差分電圧出力部は、一端に前記電池セルからの電圧が入力され、他端が前記第1の入力端子に接続された第1の抵抗素子と、一端が前記第1の入力端子に接続された第2の抵抗素子と、一端に前記電池セルからの電圧が入力され、他端が前記第2の入力端子に接続された第3の抵抗素子と、一端が前記第2の入力端子に接続された第4の抵抗素子と、を含み、
前記第2の抵抗素子の他端と固定電位との間に設けられた第1のスイッチと、前記第2の抵抗素子の他端と前記差分電圧出力部の前記出力端子との間に設けられた第2のスイッチと、前記第4の抵抗素子の他端と前記差分電圧出力部の前記出力端子との間に設けられた第3のスイッチと、前記第4の抵抗素子の他端と前記固定電位との間に設けられた第4のスイッチと、を更に含み、
前記制御部は、前記第1の接続状態を形成する場合に、前記第1のスイッチおよび前記第3のスイッチをオン状態とすると共に前記第2のスイッチおよび前記第4のスイッチをオフ状態とし、前記第2の接続状態を形成する場合に、前記第2のスイッチおよび前記第4のスイッチをオン状態とすると共に前記第1のスイッチおよび前記第3のスイッチをオフ状態とする
請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の半導体装置。 - 第1の入力端子、第2の入力端子および出力端子を有し、前記第1の入力端子および前記第2の入力端子の各々に入力される電圧の差分に応じた差分電圧を前記出力端子から出力する差分電圧出力部の前記第1の入力端子および前記第2の入力端子に、直列に接続された複数の電池セルを含む組電池の両端および前記電池セル同士の接続点の各々を順次接続して前記複数の電池セルの各々のセル電圧を測定するセル電圧の測定方法であって、
前記複数の電池セルのうちの1の電池セルの陽極が前記第1の入力端子に接続され、当該1の電池セルの陰極が前記第2の入力端子に接続された第1の接続状態、および当該1の電池セルの陰極が前記第1の入力端子に接続され、当該1の電池セルの陽極が前記第2の入力端子に接続された第2の接続状態を順次形成するセル電圧測定制御を前記複数の電池セルの各々について行う場合に、前記第1の接続状態および前記第2の接続状態のうち、当該1の電池セルについて最初に形成される接続状態が、直前に前記セル電圧測定制御が行われる他の電池セルについて最後に形成される接続状態と同じとなるように、前記複数の電池セルの各々の陰極および陽極と、前記第1の入力端子および前記第2の入力端子との間の接続を切り換える
セル電圧の測定方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015212065A JP6628552B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 半導体装置およびセル電圧の測定方法 |
US15/334,442 US10060988B2 (en) | 2015-10-28 | 2016-10-26 | Semiconductor device and a method for measuring a cell voltage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015212065A JP6628552B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 半導体装置およびセル電圧の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017083303A true JP2017083303A (ja) | 2017-05-18 |
JP6628552B2 JP6628552B2 (ja) | 2020-01-08 |
Family
ID=58634531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015212065A Active JP6628552B2 (ja) | 2015-10-28 | 2015-10-28 | 半導体装置およびセル電圧の測定方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10060988B2 (ja) |
JP (1) | JP6628552B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20180076638A1 (en) * | 2016-09-13 | 2018-03-15 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Battery control circuit |
WO2019117487A1 (ko) * | 2017-12-14 | 2019-06-20 | 주식회사 엘지화학 | 전압 측정 장치 및 방법 |
JP2020165846A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置及び電池電圧の測定方法 |
JP2021064801A (ja) * | 2017-06-29 | 2021-04-22 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置、及び電池監視システム |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3373407B1 (de) * | 2017-03-10 | 2020-02-12 | VARTA Microbattery GmbH | Verfahren zum betreiben eines modularen batteriespeichersystems, modulares batteriespeichersystem und batteriemanagementsystem hierfür |
JP2019090703A (ja) * | 2017-11-15 | 2019-06-13 | 株式会社デンソー | 電圧検出装置 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003304128A (ja) * | 2002-02-06 | 2003-10-24 | Nec Corp | 増幅回路及びその制御方法 |
JP2008111875A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Nec Electronics Corp | 演算増幅器及び表示装置 |
JP2009135738A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
JP2010085170A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Mazda Motor Corp | 電池セルの電圧測定方法及び電圧測定装置 |
JP2011232161A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Oki Semiconductor Co Ltd | 半導体装置及び電池電圧の監視方法 |
WO2012143422A1 (en) * | 2011-04-19 | 2012-10-26 | 4Esys | Measurement system and method for a series connection of energy storage devices |
JP2013123083A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Fuji Electric Co Ltd | オートゼロアンプ及び該アンプを使用した帰還増幅回路 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4770894B2 (ja) | 2008-09-03 | 2011-09-14 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 電圧検出装置 |
JP5638311B2 (ja) * | 2010-08-18 | 2014-12-10 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 組電池システム、電圧監視システム、電圧監視装置及び半導体装置 |
JP5606871B2 (ja) * | 2010-10-26 | 2014-10-15 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体回路、半導体装置、配線の異常診断方法、及び異常診断プログラム |
CN103941189A (zh) * | 2013-01-18 | 2014-07-23 | 拉碧斯半导体株式会社 | 电池监视系统、半导体装置、电池组系统及电池监视ic |
-
2015
- 2015-10-28 JP JP2015212065A patent/JP6628552B2/ja active Active
-
2016
- 2016-10-26 US US15/334,442 patent/US10060988B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003304128A (ja) * | 2002-02-06 | 2003-10-24 | Nec Corp | 増幅回路及びその制御方法 |
JP2008111875A (ja) * | 2006-10-27 | 2008-05-15 | Nec Electronics Corp | 演算増幅器及び表示装置 |
JP2009135738A (ja) * | 2007-11-30 | 2009-06-18 | Renesas Technology Corp | 半導体集積回路 |
JP2010085170A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Mazda Motor Corp | 電池セルの電圧測定方法及び電圧測定装置 |
JP2011232161A (ja) * | 2010-04-27 | 2011-11-17 | Oki Semiconductor Co Ltd | 半導体装置及び電池電圧の監視方法 |
WO2012143422A1 (en) * | 2011-04-19 | 2012-10-26 | 4Esys | Measurement system and method for a series connection of energy storage devices |
JP2013123083A (ja) * | 2011-12-09 | 2013-06-20 | Fuji Electric Co Ltd | オートゼロアンプ及び該アンプを使用した帰還増幅回路 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20180076638A1 (en) * | 2016-09-13 | 2018-03-15 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Battery control circuit |
US10594146B2 (en) * | 2016-09-13 | 2020-03-17 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Battery control circuit for multiple cells employing level shift circuits to avoid fault |
JP2021064801A (ja) * | 2017-06-29 | 2021-04-22 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置、及び電池監視システム |
WO2019117487A1 (ko) * | 2017-12-14 | 2019-06-20 | 주식회사 엘지화학 | 전압 측정 장치 및 방법 |
US11215669B2 (en) | 2017-12-14 | 2022-01-04 | Lg Chem, Ltd. | Apparatus and method for measuring voltage |
JP2020165846A (ja) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | ラピスセミコンダクタ株式会社 | 半導体装置及び電池電圧の測定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10060988B2 (en) | 2018-08-28 |
JP6628552B2 (ja) | 2020-01-08 |
US20170123010A1 (en) | 2017-05-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6628552B2 (ja) | 半導体装置およびセル電圧の測定方法 | |
JP6379578B2 (ja) | 温度測定装置、集積回路および温度測定方法 | |
CN207198220U (zh) | 电压比较器 | |
JP4803228B2 (ja) | 電圧検出装置 | |
US9209822B2 (en) | A/D converter and semiconductor integrated circuit | |
JP2008104197A (ja) | 容量素子バラツキ依存性のないスイッチドキャパシタ増幅器およびその動作方法 | |
JP6413715B2 (ja) | 増幅装置およびオフセット電圧補正方法 | |
JP2014020827A (ja) | 静電容量型センサの検出回路 | |
JP2014020828A (ja) | 静電容量型センサの検出回路 | |
US10985721B2 (en) | Switched capacitor amplifier circuit, voltage amplification method, and infrared sensor device | |
JP5281556B2 (ja) | 物理量センサ | |
JP5965825B2 (ja) | コンパレータ及びその補正方法 | |
US8957799B1 (en) | Current memory cell and a current mode digital-to-analog converter including the same | |
WO2009096192A1 (ja) | バッファ回路及びそれを備えたイメージセンサチップ並びに撮像装置 | |
JP5891811B2 (ja) | 全差動増幅回路、コンパレーター回路、a/d変換回路、及び電子機器 | |
JP5108850B2 (ja) | スイッチトキャパシタ回路 | |
JP4966265B2 (ja) | 電流ドライバ回路 | |
EP3070845B1 (en) | Comparison circuit | |
JP2016090379A (ja) | 測定装置 | |
US8981816B2 (en) | Multi-input voltage-to-frequency conversion circuit | |
JP2015035761A (ja) | スイッチトキャパシタ回路 | |
JP2014167731A (ja) | 電源回路 | |
CN110392219B (zh) | 图像感测装置 | |
JP2007333536A (ja) | 差動信号出力回路のdc特性テスト回路 | |
JP5161909B2 (ja) | スイッチトキャパシタ回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180920 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190719 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190730 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190927 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191105 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191203 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6628552 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |