JP2017039629A - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】マルチプリング法においてシリコン単結晶のピンホール不良を防止しつつ、2本目以降のシリコン単結晶中のカーボン濃度を低減する。
【解決手段】チャンバー10内の石英ルツボ12内に充填されたシリコン原料をヒータ15で加熱して融解する工程と、石英ルツボ12内のシリコン融液3からシリコン単結晶2を引き上げる工程とを繰り返することにより、同一の石英ルツボ12を用いて複数本のシリコン単結晶2を製造する。2本目以降のシリコン単結晶2を引き上げるために石英ルツボ12内に追加供給されたシリコン原料を融解する際のチャンバー10内の炉内圧は、1本目のシリコン単結晶2を引き上げるために石英ルツボ12内に供給されたシリコン原料を融解する際のチャンバー10の炉内圧よりも高く設定される。
【選択図】図1

Description

本発明は、チョクラルスキー法(以下、「CZ法」という)によるシリコン単結晶の製造方法に関し、特に、同一の石英ルツボを用いて複数本のシリコン単結晶を連続的に製造する、いわゆるマルチプリング法に関するものである。
CZ法によるシリコン単結晶の製造方法としてマルチプリング法が知られている(例えば、特許文献1参照)。マルチプリング法では、シリコン単結晶を引き上げた後、同一の石英ルツボ内にシリコン原料を追加供給して融解し、得られたシリコン融液からシリコン単結晶の引き上げを行い、このような原料供給工程と単結晶引き上げ工程を繰り返すことにより、一つの石英ルツボから複数本のシリコン単結晶を製造する。マルチプリング法によれば、シリコン単結晶一本当たりの石英ルツボの原価コストを低減することが可能である。またチャンバーを解体して石英ルツボを交換する頻度を低減できるため、操業効率を向上させることが可能である。
CZ法によるシリコン単結晶の製造では、石英ルツボ内に多結晶シリコンなどのシリコン原料を充填し、チャンバー内でシリコン原料を加熱して融解する。次に、引き上げ軸の下端に取り付けられた種結晶を石英ルツボの上方から降下させてシリコン融液に浸漬し、種結晶および石英ルツボを所定の方向に回転させながら種結晶を徐々に上昇させることにより、種結晶の下方に単結晶を成長させる。
シリコン単結晶の育成中、チャンバー内は減圧状態に維持される。シリコン融液には石英ルツボから溶出した酸素が過飽和に含まれているが、チャンバー内の気圧(炉内圧)が高いとガス流速が遅くなるため、蒸発したSiOが大量にチャンバー内に付着し、このチャンバー内に付着したSiO粉がシリコン融液中に落下することで有転位化の原因となる。しかし、炉内圧を低くした場合には発生ガスを効率よく炉外へ排出させることができ、有転位化の発生を抑えることができる。
SiOの蒸発やピンホールの発生に起因する単結晶の有転位化の問題を解決するため、特許文献2には、原料溶解工程における炉内圧を65〜400mbarとし、単結晶引き上げ工程における炉内圧をそれよりも低く且つ95mbar以下とする炉内圧の制御方法が記載されている。また特許文献3には、原料溶解工程の前半における炉内圧を高圧(60〜400mbar)とし、原料溶解工程の後半における炉内圧を低圧(60mbar以下)とする炉内圧の制御方法が記載されている。さらに、特許文献4には、原料融解時の炉内圧を60hPa以下の低圧にすることにより、融液中に溶け込んだガスの揮発を促進させてシリコン単結晶のピンホール不良を防止する方法が記載されている。
特開2010−18506号公報 特開2000−169287号公報 特開2002−362996号公報 特開2000−159596号公報
上記のように、マルチプリング法はシリコン単結晶の製造効率やコスト面で非常に有利である。マルチプリング法においても、原料融解時の炉内圧を低くすることによりシリコン単結晶のピンホール不良を防止する方法は有効である。
しかしながら、チャンバー内にはカーボン製のヒータをはじめ様々なカーボン製の部材があり、単結晶育成工程中の高温下でこれらが消耗することによりCOガスが発生しているため、マルチプリング法では引き上げ本数が増えるほどシリコン融液のカーボン汚染が進み、シリコン単結晶中のカーボン濃度が高くなるという問題がある。すなわち、2本目以降のシリコン単結晶の引き上げではCOガスが未溶融のシリコン原料に付着し、融解中のシリコン融液に溶け込み、育成中のシリコン単結晶に取り込まれるため、2本目以降のシリコン単結晶中の炭素濃度は1本目よりも高くなる。このような現象は、シリコン単結晶のピンホール不良を防止するために原料融解時の炉内圧を低くした場合に特に問題となる。
したがって、本発明の目的は、マルチプリング法においてシリコン単結晶のピンホール不良を防止しつつ、2本目以降のシリコン単結晶中のカーボン濃度を低減することが可能なシリコン単結晶の製造方法を提供することにある。
上記課題を解決するため、本発明によるシリコン単結晶の製造方法は、チャンバー内の石英ルツボ内に充填されたシリコン原料をヒータで加熱して融解する工程と、前記石英ルツボ内のシリコン融液からシリコン単結晶を引き上げる工程とを繰り返すことにより、同一の石英ルツボを用いて複数本のシリコン単結晶を製造する方法であって、1本目のシリコン単結晶の引き上げに用いられる前記石英ルツボ内に供給されたシリコン原料を融解する第1の原料融解工程と、2本目以降のシリコン単結晶の引き上げに用いられる前記石英ルツボ内に追加供給されたシリコン原料を融解する第2の原料融解工程とを備え、前記第1の原料融解工程では前記チャンバー内を第1の炉内圧に設定し、前記第2の原料融解工程では前記チャンバー内を前記第1の炉内圧よりも高い第2の炉内圧に設定することを特徴とする。
本発明によれば、シリコン単結晶のピンホール不良を防止しつつ、2本目以降のシリコン単結晶を引き上げるために追加供給されたシリコン原料(リチャージ原料)を融解して生成されるシリコン融液中のカーボン濃度の上昇を抑制することができる。したがって、カーボン濃度が低い高品質なシリコン単結晶を製造することができる。
本発明において、前記第2の炉内圧は、前記第1の炉内圧よりも40Torr以上高いことが好ましく、前記第1の炉内圧の2倍以上であることもまた好ましい。このように、第2の炉内圧が第1の炉内圧よりも高い場合には、シリコン融液中のカーボン濃度の上昇を十分に抑えることができ、育成されるシリコン単結晶中のカーボン濃度を抑制することができる。
本発明において、前記第1の原料融解工程では前記チャンバー内に供給する不活性ガスの流量を第1の流量に設定し、前記第2の原料融解工程では前記チャンバー内に供給する不活性ガスの流量を前記第1の流量よりも少ない第2の流量に設定することが好ましい。この場合において、前記不活性ガスはアルゴンガスであることが好ましく、前記第2の流量は前記第1の流量よりも50L/min以上少ないことが好ましい。第2の流量を第1の流量よりも少なくすることにより、第2の炉内圧を安定的に制御することができる。また、不活性ガスがチャンバー内に多く流入することによりシリコン原料が冷えて原料の融解が長期化し、生産性が低下することを防止することができる。
このように、本発明によれば、マルチプリング法においてシリコン単結晶のピンホール不良を防止しつつ、2本目以降のシリコン単結晶中のカーボン濃度を低減することが可能なシリコン単結晶の製造方法を提供することができる。
本発明の実施の形態によるシリコン単結晶引き上げ装置の構成を示す縦断面図である。 本発明の実施の形態によるシリコン単結晶の製造方法を説明するためのフローチャートである。
以下、添付図面を参照しながら、本発明の好ましい実施の形態について詳細に説明する。
図1は、本発明の実施の形態によるシリコン単結晶引き上げ装置の構成を示す縦断面図である。
図1に示すように、シリコン単結晶引き上げ装置1は、チャンバー10と、チャンバー10の内面に沿って配置された断熱材11と、チャンバー10内の中心部に配置された石英ルツボ12と、石英ルツボ12を支持するカーボン製のサセプタ13と、サセプタ13を昇降可能に支持する回転支持軸14と、サセプタ13の周囲に配置されたヒータ15と、サセプタ13の上方に配置された略逆円錐台形状の熱遮蔽体16と、サセプタ13の上方であって回転支持軸14と同軸上に配置された単結晶引き上げ用ワイヤー17と、チャンバー10の上方に配置されたワイヤー巻き取り機構18とを備えている。
チャンバー10は、メインチャンバー10Aと、メインチャンバー10Aの上部開口に連結された細長い円筒状のプルチャンバー10Bとで構成されており、上述の石英ルツボ12、サセプタ13、回転支持軸14、ヒータ15及び熱遮蔽体16はメインチャンバー10A内に設けられている。ヒータ15は、石英ルツボ12内に充填されたシリコン原料を融解してシリコン融液を生成するために用いられる。ヒータ15はカーボン製の抵抗加熱式ヒータであり、サセプタ13内の石英ルツボ12を取り囲むように設けられている。
熱遮蔽体16はカーボン製であり、シリコン融液3の上方において育成中のシリコン単結晶2を取り囲むように設けられている。ワイヤー巻き取り機構18はプルチャンバー10Bの上方に配置されており、ワイヤー17はワイヤー巻き取り機構18からプルチャンバー10B内を通って下方に延びており、ワイヤー17の先端部はメインチャンバー10Aの内部空間まで達している。図1には、育成途中のシリコン単結晶2がワイヤー17に吊設された状態が示されている。
以上の構成において、シリコン単結晶の製造では、シリコン原料が充填された石英ルツボ12をサセプタ13内にセットし、ワイヤー17の先端部に種結晶を取り付ける。次に石英ルツボ12内のシリコン原料をヒータ15で加熱してシリコン融液3を生成する。
シリコン単結晶の引き上げ工程では、種結晶を降下させてシリコン融液3に浸漬した後、種結晶及び石英ルツボ12をそれぞれ回転さながら、種結晶をゆっくり上昇させることにより、種結晶の下方に略円柱状のシリコン単結晶2を成長させる。その際、シリコン単結晶2の直径は、その引き上げ速度やヒータ15のパワーを制御することにより制御される。
プルチャンバー10Bの上部には、チャンバー10内にアルゴンガスを導入するためのガス吸気口19Aが設けられており、メインチャンバー10Aの底部には、チャンバー10内のアルゴンガスを排気するためのガス排気口19Bが設けられている。アルゴンガスはガス吸気口19Aからチャンバー10内に導入され、その導入量はバタフライバルブ20Aにより制御される。また密閉されたチャンバー10内のアルゴンガスはガス排気口19Bからチャンバーの外部へ排気されるので、チャンバー10内のSiOガスやCOガスを回収してチャンバー10内を清浄に保つことが可能となる。ガス排気口19Bに接続された配管の途中にはバタフライバルブ20B及び真空ポンプ21が設置されており、真空ポンプ21でチャンバー10内のアルゴンガスを吸引しながらバタフライバルブ20Bでその流量を制御することでチャンバー10内は一定の減圧状態に保たれている。
図2は、本発明の実施の形態によるシリコン単結晶の製造方法を説明するためのフローチャートである。
図2に示すように、マルチプリング法における1本目のシリコン単結晶の育成では、石英ルツボ12内に初期チャージとして充填された多結晶シリコンなどの固体のシリコン原料(初期チャージ原料)を融解してシリコン融液3を生成する(ステップS1)。このとき、チャンバー10内の炉内圧P(第1の炉内圧)は例えば40Torrに設定され、またチャンバー10内に供給するアルゴンガスの流量F(第1の流量)は例えば250L/minに設定される。
その後、シリコン融液3から1本目のシリコン単結晶2を引き上げる(ステップS2)。単結晶引き上げ工程中の炉内圧は、原料融解工程中の炉内圧(P)よりも低いことが好ましい。
続いて、2本目のシリコン単結晶2の育成では、石英ルツボ12内にシリコン原料を追加供給して融解し、シリコン融液3を生成する(ステップS3)。このとき、チャンバー10内の炉内圧P(第2の炉内圧)は、1本目のシリコン単結晶の育成するための初期チャージ原料の融解時における炉内圧Pよりも高く設定される。またチャンバー10内に供給されるアルゴンガスの流量F(第2の流量)は、1本目のシリコン単結晶を育成するための初期チャージ原料の融解時におけるアルゴンガスの流量Fよりも少なく設定される。具体的には、チャンバー10内の炉内圧Pは80Torr以上に設定され、アルゴンガスの流量Fは200L/min以下に設定される。このように、炉内圧Pは、炉内圧Pよりも40Torr以上高いことが好ましく、あるいは炉内圧Pの2倍以上であることが好ましい。また流量Fは、流量Fよりも50L/min以上少ないことが好ましい。
その後、シリコン融液3から2本目のシリコン単結晶2を引き上げる(ステップS4)。上記のように、単結晶引き上げ工程中の炉内圧は、原料融解工程中の炉内圧(P)よりも低いことが好ましい。
2本目のシリコン単結晶を引き上げるために追加供給されたシリコン原料(リチャージ原料)を融解する際の炉内圧Pを1本目のときの炉内圧Pよりも高くする理由は、チャンバー10内に存在するCOガスがシリコン融液3に溶け込み、これによりシリコン単結晶中のカーボン濃度が高くなることを防止するためである。チャンバー10内にはカーボン製のヒータ15、熱遮蔽体16、サセプタ13等の消耗に起因するCOガスが発生しており、このCOガスが固体のリチャージ原料に付着し、その融解時にシリコン融液中に溶け込み、シリコン融液中のカーボン濃度が上昇する。しかし、リチャージ原料の融解工程中の炉内圧を高くした場合には、COガスの融液面への拡散が抑えられるので、COガスがシリコン融液中に取り込まれることを抑制することができる。したがって、シリコン融液から育成されるシリコン単結晶中のカーボン濃度の上昇を抑えることができる。
一方、1本目のシリコン単結晶を引き上げるために供給されたシリコン原料(初期チャージ原料)の融解工程(第1の原料融解工程)において炉内圧Pを低くする理由は、シリコン単結晶のピンホール不良を防止するためである。ピンホール不良とは、原料融解時に石英ルツボ12の底部に付着しているガスが底部から離脱してシリコン融液中を浮上し、育成中のシリコン単結晶に取り込まれることによって発生する。原料融解時の炉内圧が高いとシリコン融液中の気泡が放出されにくくなるため、その後の単結晶引き上げ工程中に気泡が放出される可能性が高くなり、ピンホール不良が増加する。そのため、初期チャージ原料の融解時には炉内圧を低くすることが好ましい。
リチャージ原料の追加供給時には石英ルツボ12内にシリコン融液が残っている状態であるため、石英ルツボ12の底部に気泡は発生しない。よって、リチャージ原料の融解工程(第2の原料融解工程)において炉内圧を高くしてもピンホール不良が発生することはない。逆に、リチャージ原料融解時の炉内圧が低いとチャンバー内のCOガスがシリコン融液に溶け込み易くなり、シリコン融液中のカーボン濃度が高くなる。よって、本実施形態によるマルチプリング法ではリチャージ原料の融解時のみ炉内圧を高くし、初期チャージ原料の融解時には炉内圧を低くする炉内圧の制御が行われる。
また上記のように、追加チャージ原料の融解工程におけるアルゴンガスの流量Fは、初期チャージ原料の融解工程におけるアルゴンガスの流量Fよりも少なく設定される。初期チャージ原料の融解工程におけるアルゴンガスの流量Fを高く維持したままで炉内圧をPに変更した場合には、アルゴンガス流量を制御するバタフライバルブ20A,20Bの制御性が悪化し、炉内圧が安定しない場合がある。また、チャンバー10内でアルゴンガスの流れが速くなることで渦流が発生し、これによりCOガスの融液面への拡散が進行するおそれがある。さらにまた、アルゴンガスがチャンバー10内に多く流入することによりシリコン原料が冷え、原料融解工程が長期化し、生産性も低下するという問題がある。しかしアルゴンガス流量Fをこのように少なくすることで炉内圧を安定させることができ、COガスの融液面への拡散を抑えることができ、生産性を向上させることができる。
3本目以降のシリコン単結晶の育成も2本目と同様に原料融解工程(第2の原料融解工程;2本目以降の溶解工程の総称である)と単結晶引き上げ工程を繰り返せばよい。すなわち、3本目以降のシリコン単結晶の育成でも、リチャージ原料融解時の炉内圧(P)を初期チャージ原料融解時の炉内圧(P)よりも高くし、アルゴンガス流量(F)を初期チャージ原料融解時のアルゴンガス流量(F)よりも低くする。この場合、シリコン単結晶の引き上げ本数の増加に合わせてリチャージ原料融解時の炉内圧を徐々に高くしてもよい(P<P<P・・・<P)。
以上説明したように、本実施形態によるシリコン単結晶の製造方法は、2本目以降のシリコン単結晶を引き上げるために追加供給されたシリコン原料(リチャージ原料)を融解する際の炉内圧を、1本目のシリコン単結晶を引き上げるために供給されたシリコン原料(初期チャージ原料)を原料融解する際の炉内圧よりも高くするので、シリコン融液中のカーボン濃度の上昇を抑制することができる。したがって、カーボン濃度が低い高品質なシリコン単結晶を製造することができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明は、上記の実施形態に限定されることなく、本発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能であり、それらも本発明の範囲内に包含されるものであることはいうまでもない。
例えば、上記実施形態ではチャンバー10内に供給する不活性ガスとしてアルゴンガスを挙げているが、その他の不活性ガスを用いてもよい。
1 シリコン単結晶引き上げ委装置
2 シリコン単結晶
3 シリコン融液
10 チャンバー
10A メインチャンバー
10B プルチャンバー
11 断熱材
12 石英ルツボ
13 サセプタ
14 回転支持軸
15 ヒータ
16 熱遮蔽体
17 ワイヤー
18 ワイヤー巻き取り機構
19A ガス吸気口
19B ガス排気口
20A,20B バタフライバルブ
21 真空ポンプ
,F アルゴンガス流量
,P 炉内圧

Claims (6)

  1. チャンバー内の石英ルツボ内に充填されたシリコン原料をヒータで加熱して融解する工程と、前記石英ルツボ内のシリコン融液からシリコン単結晶を引き上げる工程とを繰り返すことにより、同一の石英ルツボを用いて複数本のシリコン単結晶を製造する方法であって、
    1本目のシリコン単結晶の引き上げに用いられる前記石英ルツボ内に供給されたシリコン原料を融解する第1の原料融解工程と、
    2本目以降のシリコン単結晶の引き上げに用いられる前記石英ルツボ内に追加供給されたシリコン原料を融解する第2の原料融解工程とを備え、
    前記第1の原料融解工程では前記チャンバー内を第1の炉内圧に設定し、
    前記第2の原料融解工程では前記チャンバー内を前記第1の炉内圧よりも高い第2の炉内圧に設定することを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
  2. 前記第2の炉内圧は、前記第1の炉内圧よりも40Torr以上高い、請求項1に記載のシリコン単結晶の製造方法。
  3. 前記第2の炉内圧は、前記第1の炉内圧の2倍以上である、請求項1または2に記載のシリコン単結晶の製造方法。
  4. 前記第1の原料融解工程では前記チャンバー内に供給する不活性ガスの流量を第1の流量に設定し、
    前記第2の原料融解工程では前記チャンバー内に供給する不活性ガスの流量を前記第1の流量よりも少ない第2の流量に設定する、請求項1ないし3のいずれか一項に記載のシリコン単結晶の製造方法。
  5. 前記第2の流量は、前記第1の流量よりも50L/min以上少ない、請求項4に記載のシリコン単結晶の製造方法。
  6. 前記不活性ガスがアルゴンガスである、請求項4または5に記載のシリコン単結晶の製造方法。
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