JP6699620B2 - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
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Description
このBMDが、半導体デバイスが形成されるウェーハの表層部にある場合、リーク電流の増大や酸化膜の絶縁性低下の原因となるなど、デバイスの特性に大きな影響を及ぼす。
このため、チョクラルスキー法によりシリコン単結晶を引き上げる場合、シリコン単結晶中にある程度の密度で酸素析出核を形成させることが要望されている。
このため、特許文献1には、シリコン単結晶の直胴部の育成過程で有転位化が発生した場合、ヒータの出力パワーを高めたり、引き上げ速度を逐次上昇させることにより、直ちにテール部の形成に移行し、テール部を短く形成して切り離す技術が開示されている。
本発明では、前記酸素析出核形成温度帯は、800℃以下、600℃以上であることが考えられる。
この発明によれば、600℃以下、400℃以上の温度帯は、析出した酸素析出核が成長する温度帯であるため、酸素析出核密度が低減することがない。
300mm径のシリコンウェーハ用のシリコン単結晶を引き上げる場合、シリコン融液の液面から597mm以上、1160mm以下の範囲において、800℃以下、400℃以上の温度帯となる。したがって、このような範囲において、シリコン単結晶の引き上げ速度を維持することにより、酸素析出核密度が低減することがない。
図1には、本発明の実施形態に係るシリコン単結晶の製造方法を適用できるシリコン単結晶の引き上げ装置1の構造の一例を表す模式図が示されている。引き上げ装置1は、チョクラルスキー法によりシリコン単結晶10の引き上げを行うものであり、外郭を構成するチャンバ2と、チャンバ2の中心部に配置されるルツボ3とを備える。
ルツボ3は、内側の石英ルツボ3Aと、外側の黒鉛ルツボ3Bとから構成される二重構造であり、回転および昇降が可能な支持軸4の上端部に固定されている。
ルツボ3の上方には、支持軸4と同軸上で逆方向または同一方向に所定の速度で回転するワイヤなどの引き上げ軸7が設けられている。この引き上げ軸7の下端には種結晶8が取り付けられている。
熱遮蔽体12は、育成中のシリコン単結晶10に対して、ルツボ3内のシリコン融液9やヒータ5やルツボ3の側壁からの高温の輻射熱を遮断するとともに、結晶成長界面である固液界面の近傍に対しては、外部への熱の拡散を抑制し、単結晶中心部および単結晶外周部の引き上げ軸方向の温度勾配を制御する役割を担う。
また、熱遮蔽体12は、シリコン融液9からの蒸発部を炉上方から導入した不活性ガスにより、炉外に排気する整流筒としての機能もある。
ガス導入口13からチャンバ2内に導入された不活性ガスは、育成中のシリコン単結晶10と熱遮蔽体12との間を下降し、熱遮蔽体12の下端とシリコン融液9の液面との隙間(液面Gap)を経た後、熱遮蔽体12の外側、さらにルツボ3の外側に向けて流れ、その後にルツボ3の外側を下降し、排気口14から排出される。
次に、前述したシリコン単結晶の引き上げ装置1を用いて、本実施形態のシリコン単結晶10を製造する方法について説明する。
シリコン単結晶10の引き上げ中に有転位化が発生した場合、図2に示すように、有転位化開始位置101が、酸素析出核形成温度帯TBMDを通過するまで、引き上げ速度、ヒータ5による加熱温度等の引き上げ条件を変更することなく、そのままシリコン単結晶10の引き上げを続行する。
有転位化発生の後、引き上げ速度を上昇させ、シリコン単結晶10の引き上げを行うと、シリコン単結晶10の有転位化が発生していない部分が、800℃以下、600℃以上の温度帯に滞在する時間が短くなり、熱履歴が変化してしまう。したがって、シリコン単結晶10の有転位化が発生していない部分の酸素析出核の密度が低減してしまう。
次に、酸素析出核形成温度帯TBMD以下の600℃以下、400℃以上の温度帯においても、引き上げ条件を変更せずに引き上げる根拠について説明する。
図4および図5には、有転位化発生後、直ちにシリコン単結晶10の切り離しを行い、引き上げ速度を変更して引き上げを行った場合、有転位化発生後、3hまでは引き上げを続行し、その後切り離しを行い、引き上げ速度を変更して引き上げた場合、引き上げをそのまま続行した場合(6.5h)について、シリコン単結晶10の温度を計測した結晶冷却曲線が示されている。なお、図4は、シリコン融液9の液面から600mmにおける結晶冷却線である。図5は、シリコン融液9の液面から400mmにおける結晶冷却線である。
3h引き上げ続行後、切り離しを行った場合と、引き上げをそのまま続行した場合について、酸素析出核の数と、BMD密度の関係を調べると、図6に示すように、引き上げを続行した場合の方が、BMD密度が大きくなっており、酸素析出核の数も多くなっていることが確認された。
したがって、酸素析出核形成温度帯TBMDにおける引き上げ条件を維持することに加え、600℃以下、400℃以上の温度帯においても引き上げ条件を維持することにより、シリコン単結晶10内のBMD密度を向上させることができることが確認された。
従来のように、シリコン単結晶10の引き上げ中に有転位化が発生したものについて、有転位化発生後、引き上げ速度を上昇させ、800℃以下、400℃以上の温度帯の滞在時間を短くした場合(従来例)、有転位化発生後、引き上げ速度をそのまま維持して800℃以下、400℃以上の温度帯の滞在時間を長くした場合(実施例)について、BMD密度がどのように変化するかを比較した。
従来例および実施例における滞在時間の違いを表2および図7に示す。
図8からわかるように、従来例では、固化率50%のところからBMD密度が低下しているのがわかる。
一方、実施例は、有転位化が発生した後であっても、引き上げ速度を有転位化が発生する前の引き上げ速度を維持して引き上げているため、BMD密度が無転位の場合と変わらない値を維持し、BMD密度が低下しないことが確認された。なお、図8において、固化率90%におけるBMD密度のプロットがないのは、固化率80%以上の部分で有転位化が発生しており、BMD密度を測定できなかったためである。
Claims (4)
- シリコン融液から、チョクラルスキー法によりシリコン単結晶を引き上げて成長させるシリコン単結晶の製造方法であって、
前記シリコン単結晶の引き上げ中に有転位化が生じたときに、有転位化開始位置が、酸素析出核形成温度帯を通過するまで、引き上げ速度を維持して前記シリコン単結晶の引き上げを行うことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
前記酸素析出核形成温度帯は、800℃以下、600℃以上であることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項2に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
さらに、600℃以下、400℃以上の温度帯で前記シリコン単結晶の引き上げ速度を維持することを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 請求項1から請求項3のいずれか一項に記載のシリコン単結晶の製造方法において、
前記シリコン単結晶は、300mm径のシリコンウェーハ用であり、
前記酸素析出核形成温度帯は、前記シリコン融液の液面から597mm以上、1160mm以下の範囲であることを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。
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