JP2016530522A - 基板検査方法及びそれを用いた基板検査システム - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (20)
- マウンターで部品を装着する以前の基板をワークステージに移送する段階と、
前記基板の反りを検査する段階と、
前記検査の結果、前記基板が良好と判断された場合、前記基板を前記マウンターで移送する段階と、
前記検査の結果、前記基板が不良と判断された場合、前記基板を前記マウンターで移送しないで不良と確定する段階と、を含むことを特徴とする基板検査方法。 - 前記基板の返りを検査する段階は、
前記基板に反りが存在するかの可否を判断する段階と、
前記基板の反りが存在しない場合、前記基板を良好と判断する段階と、
前記基板に反りが存在する場合、前記基板の反りの程度をチェックする段階と、
前記基板の反りの程度が許容範囲以内の場合、前記基板を良好と判断する段階と、
前記基板の反りの程度が許容範囲を外れた場合、前記基板を不良と判断する段階と、を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記基板に反りが存在する場合、前記基板の反りの程度をチェックする段階以前に、
前記基板の反りを3次元画像でディスプレーする段階をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の基板検査方法。 - 前記検査の結果、前記基板が良好と判断された場合、前記基板の反り情報を前記マウンターで伝送する段階をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の基板検査方法。
- 前記反り情報は反り座標情報、反り形状情報、領域別反り情報、反り程度情報のうち少なくとも一つを含むことを特徴とする請求項4に記載の基板検査方法。
- 前記マウンターから前記反り情報による対応結果情報をフィードバック受ける段階と、
前記対応結果情報に対する通計分析及び追加対応方案導出を遂行する段階をさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の基板検査方法。 - 前記基板の一部領域に反りが存在するが残りの領域には反りが存在しないか前記許容範囲以内で良好である場合、前記基板を一部良好と判断する段階と、
前記検査の結果、前記基板が一部良好と判断された場合、前記基板を前記マウンターで移送する段階をさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の基板検査方法。 - 前記検査の結果、前記基板が一部良好と判断された場合、前記基板の反り情報を前記マウンターで伝送する段階をさらに含み、
前記反り情報は領域別実装または未実装の命令を含むことを特徴とする請求項7に記載の基板検査方法。 - 前記基板の反りを検査する段階以前に、
前記基板の高さ情報を獲得する段階をさらに含み、
前記基板の反りを検査する段階は、
前記獲得された基板の高さ情報に基いて遂行されることを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - 前記基板の高さ情報を獲得する段階は、
前記基板に格子パターン光を照射する段階と、
前記基板によって反射された前記格子パターン光のパターン画像を獲得する段階と、
前記獲得されたパターン画像を用いて前記基板の高さ情報を算出する段階と、を含むことを特徴とする請求項9に記載の基板検査方法。 - 前記基板の反りを検査する段階以前に、
前記基板の上に形成された少なくとも2つ以上の認識マークの間の距離を測定する段階をさらに含み、
前記基板の反りを検査する段階は、
前記認識マークの間の距離を基準距離と比較する段階を含むことを特徴とする請求項1に記載の基板検査方法。 - マウンターで部品を装着する以前の基板をワークステージに移送するワークステージ移送部と、
前記基板の反りを検査して前記基板の不良可否を判断する反り検査部と、
前記反り検査部の検査の結果、前記基板が良好と判断された場合、前記基板を前記マウンターで移送するマウンター移送部と、を含むことを特徴とする基板検査システム。 - 前記反り検査部は、
前記基板に反りが存在するかの可否を判断する反り判断部と、
前記基板に反りが存在する場合、前記基板の反りの程度をチェックする反りチェック部と、
前記基板の反りが存在しない場合及び前記基板の反りの程度が許容範囲以内である場合前記基板を良好と判断し、前記基板の反りの程度が許容範囲を外れた場合前記基板を不良と判断する基板良否判断部と、を含むことを特徴とする請求項12に記載の基板検査システム。 - 前記基板良否判断部は、前記基板の一部領域に反りが存在するが残りの領域には反りが存在しないか前記許容範囲以内で良好である場合、前記基板を一部良好と判断し、前記基板の領域別実装または未実装の命令を含む反り情報を前記マウンターで伝送する伝送部をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の基板検査システム。
- 前記反り検査部は、
前記基板の反りを3次元画像でディスプレーするディスプレー部をさらに含むことを特徴とする請求項13に記載の基板検査システム。 - 前記ディスプレー部は、
前記基板の3次元形状をディスプレーする形状表示部と、
ディスプレーされる前記基板の3次元形状を調節する表示形状調節部と、
前記基板の反りに関する情報をディスプレーする反り情報表示部と、を含むことを特徴とする請求項15に記載の基板検査システム。 - 前記基板の高さ情報を獲得する高さ情報獲得部をさらに含み、
前記反り検査部は、
前記高さ情報獲得部によって獲得された基板の高さ情報に基いて前記基板の反りを検査することを特徴とする請求項12に記載の基板検査システム。 - 前記高さ情報獲得部は、
前記基板に格子パターン光を照射する投影部と、
前記基板によって反射された前記格子パターン光のパターン画像を獲得するカメラー部と、
前記獲得されたパターン画像を用いて前記基板の高さ情報を算出する制御部と、を含むことを特徴とする請求項17に記載の基板検査システム。 - 前記基板の上に形成された少なくとも2つ以上の認識マークの間の距離を測定する距離測定部をさらに含み、
前記反り検査部は、
前記認識マークの間の距離を基準距離と比較して前記基板の反りを検査することを特徴とする請求項12に記載の基板検査システム。 - 前記反り検査部は、
前記マウンターから反り情報による対応結果情報をフィードバック受ける場合、前記対応結果情報に対する通計分析及び追加対応方案導出を遂行することを特徴とする請求項12に記載の基板検査システム。
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