JP2015215882A - 入出力装置 - Google Patents
入出力装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015215882A JP2015215882A JP2015084961A JP2015084961A JP2015215882A JP 2015215882 A JP2015215882 A JP 2015215882A JP 2015084961 A JP2015084961 A JP 2015084961A JP 2015084961 A JP2015084961 A JP 2015084961A JP 2015215882 A JP2015215882 A JP 2015215882A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- oxide
- substrate
- film
- transistor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 204
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 99
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 67
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 67
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 59
- 230000001629 suppression Effects 0.000 claims description 44
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 28
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 claims description 15
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 14
- 150000002894 organic compounds Chemical class 0.000 claims description 7
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 7
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 abstract 4
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 681
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 160
- 239000010408 film Substances 0.000 description 156
- 238000000034 method Methods 0.000 description 143
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 121
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 38
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 38
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 37
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 36
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 36
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 36
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 34
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 34
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 33
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 31
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 29
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 28
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 27
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 25
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 24
- 230000006870 function Effects 0.000 description 20
- 230000008569 process Effects 0.000 description 20
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 20
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 19
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 19
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 17
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 16
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 16
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 16
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 16
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 16
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 16
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 15
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 14
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 14
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 14
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 14
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 14
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 12
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 12
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 12
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 12
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 12
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 11
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 11
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 11
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 description 10
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 10
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 10
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 9
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 9
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 9
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 9
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 9
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 9
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 9
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 9
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 9
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 8
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 8
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 8
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 8
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 8
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 7
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 7
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 6
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 6
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 6
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 6
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 6
- 230000035882 stress Effects 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 6
- 229910001316 Ag alloy Inorganic materials 0.000 description 5
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 5
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 5
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 5
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 5
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 5
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 4
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 4
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 206010021143 Hypoxia Diseases 0.000 description 4
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 4
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 4
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 4
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 4
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 4
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 4
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 4
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 4
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 4
- 238000004549 pulsed laser deposition Methods 0.000 description 4
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 4
- 229910052684 Cerium Inorganic materials 0.000 description 3
- HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N Lithium ion Chemical compound [Li+] HBBGRARXTFLTSG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 3
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000011256 inorganic filler Substances 0.000 description 3
- 229910003475 inorganic filler Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910001416 lithium ion Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 3
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 3
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 3
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 description 3
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 3
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 3
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 3
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 3
- 238000005477 sputtering target Methods 0.000 description 3
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 3
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 3
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 3
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000881 Cu alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N Orthosilicate Chemical compound [O-][Si]([O-])([O-])[O-] BPQQTUXANYXVAA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004962 Polyamide-imide Substances 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N Titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N hafnium atom Chemical compound [Hf] VBJZVLUMGGDVMO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N lanthanum(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[La+3].[La+3] MRELNEQAGSRDBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 description 2
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N neodymium atom Chemical compound [Nd] QEFYFXOXNSNQGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N neodymium(3+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Nd+3].[Nd+3] PLDDOISOJJCEMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 2
- 239000000049 pigment Substances 0.000 description 2
- 229920002037 poly(vinyl butyral) polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920002312 polyamide-imide Polymers 0.000 description 2
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 229920005672 polyolefin resin Polymers 0.000 description 2
- 239000004800 polyvinyl chloride Substances 0.000 description 2
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005001 rutherford backscattering spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N Ammonium hydroxide Chemical compound [NH4+].[OH-] VHUUQVKOLVNVRT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000049 Carbon (fiber) Polymers 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M Fluoride anion Chemical compound [F-] KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910004129 HfSiO Inorganic materials 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000583 Nd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920012266 Poly(ether sulfone) PES Polymers 0.000 description 1
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001069 Ti alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000011114 ammonium hydroxide Nutrition 0.000 description 1
- 229920006231 aramid fiber Polymers 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N cadmium nickel Chemical compound [Ni].[Cd] OJIJEKBXJYRIBZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004917 carbon fiber Substances 0.000 description 1
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 1
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 150000001925 cycloalkenes Chemical class 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N digallium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Ga+3].[Ga+3] AJNVQOSZGJRYEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000005038 ethylene vinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 230000006355 external stress Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 229910001195 gallium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 1
- 239000011245 gel electrolyte Substances 0.000 description 1
- YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N germanium oxide Inorganic materials O=[Ge]=O YBMRDBCBODYGJE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 1
- 229910021480 group 4 element Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000449 hafnium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N hafnium(4+);oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[O-2].[Hf+4] WIHZLLGSGQNAGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 description 1
- QOSATHPSBFQAML-UHFFFAOYSA-N hydrogen peroxide;hydrate Chemical compound O.OO QOSATHPSBFQAML-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- 238000001659 ion-beam spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005355 lead glass Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000395 magnesium oxide Substances 0.000 description 1
- CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N magnesium oxide Inorganic materials [Mg]=O CPLXHLVBOLITMK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N magnesium;oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Mg+2] AXZKOIWUVFPNLO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 229910001092 metal group alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052987 metal hydride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021424 microcrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011259 mixed solution Substances 0.000 description 1
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N nickel zinc Chemical compound [Ni].[Zn] QELJHCBNGDEXLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960001730 nitrous oxide Drugs 0.000 description 1
- 235000013842 nitrous oxide Nutrition 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 238000001579 optical reflectometry Methods 0.000 description 1
- SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoyttriooxy)yttrium Chemical compound O=[Y]O[Y]=O SIWVEOZUMHYXCS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N oxogermanium Chemical compound [Ge]=O PVADDRMAFCOOPC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 239000005011 phenolic resin Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 1
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920006350 polyacrylonitrile resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 1
- 239000011112 polyethylene naphthalate Substances 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920005990 polystyrene resin Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 229920000915 polyvinyl chloride Polymers 0.000 description 1
- 229940072033 potash Drugs 0.000 description 1
- BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L potassium carbonate Substances [K+].[K+].[O-]C([O-])=O BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 235000015320 potassium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000003870 refractory metal Substances 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N scandium atom Chemical compound [Sc] SIXSYDAISGFNSX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 229910002027 silica gel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000741 silica gel Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N silver zinc Chemical compound [Zn].[Ag] BSWGGJHLVUUXTL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000005236 sound signal Effects 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/40—OLEDs integrated with touch screens
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0445—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using two or more layers of sensing electrodes, e.g. using two layers of electrodes separated by a dielectric layer
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/84—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K50/844—Encapsulations
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F15/00—Digital computers in general; Data processing equipment in general
- G06F15/02—Digital computers in general; Data processing equipment in general manually operated with input through keyboard and computation using a built-in program, e.g. pocket calculators
- G06F15/0216—Constructional details or arrangements
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
- G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/045—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means using resistive elements, e.g. a single continuous surface or two parallel surfaces put in contact
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/311—Flexible OLED
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/86—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light
- H10K50/865—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light comprising light absorbing layers, e.g. light-blocking layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/30—Devices specially adapted for multicolour light emission
- H10K59/38—Devices specially adapted for multicolour light emission comprising colour filters or colour changing media [CCM]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/87—Passivation; Containers; Encapsulations
- H10K59/873—Encapsulations
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/80—Constructional details
- H10K59/8791—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light
- H10K59/8792—Arrangements for improving contrast, e.g. preventing reflection of ambient light comprising light absorbing layers, e.g. black layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
- H10K77/111—Flexible substrates
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Human Computer Interaction (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Optical Filters (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
Description
本実施の形態では、本発明の一態様の入出力装置の例として、画像表示装置に入力装置を組み合わせたタッチパネルの構成例とその作製方法例について図面を参照して説明する。以下では、画像表示装置の一例として、有機EL(Electro Luminescence)素子を備えるタッチパネルについて説明する。
図1に、本発明の一態様であるタッチパネル100の構成を説明する投影図を示す。また図2に、図1に示すタッチパネル100の一点鎖線A1―A2における断面図を示す。なお、図1及び図2は明瞭化のため、構成要素の一部を省略して示している。
以下では、上述した各要素に用いることのできる材料及び形成方法について説明する。
可撓性基板の材料としては、有機樹脂や可撓性を有する程度に薄いガラス材料などを用いることができる。
発光素子としては、自発光が可能な素子を用いることができ、電流又は電圧によって輝度が制御される素子をその範疇に含む。例えば、発光ダイオード(LED)、有機EL素子、無機EL素子等を用いることができる。
封止層153としては、例えば、二液混合型樹脂、熱硬化性樹脂、光硬化性樹脂などの硬化性材料や、ゲルなどを用いることができる。例えば、エポキシ樹脂やアクリル樹脂、シリコーン樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド、ポリビニルクロライド(PVC)、ポリビニルブチラル(PVB)、エチレンビニルアセテート(EVA)などを用いることができる。特に、エポキシ樹脂等の透湿性が低い材料が好ましい。
トランジスタ112、113、119、116、117、129の構造は特に限定されない。例えば、トランジスタの構成は、スタガ型のトランジスタ、逆スタガ型のトランジスタなどを用いてもよい。また、トップゲート型またはボトムゲート型のいずれのトランジスタ構造としてもよい。また、チャネルエッチ型のトランジスタ、または、チャネル保護型のトランジスタを用いてもよい。チャネル保護型の場合、チャネル領域の上にのみ、チャネル保護膜を設けてもよい。または、ソースドレイン電極と半導体層とを接触させる部分のみ開口し、その開口以外の場所にも、チャネル保護膜を設けてもよい。
バッファ層120は、第1の基板121や接着層125を透過した不純物が拡散することを抑制する機能を有する。第2のバッファ層132は、第2の基板101や接着層131を透過した不純物が拡散することを抑制する機能を有する。また、トランジスタの半導体層に接する絶縁層134、絶縁層172及びトランジスタを覆う絶縁層141、絶縁層175は、半導体層への不純物の拡散を抑制することが好ましい。これらの層には、例えばシリコンなどの半導体の酸化物または窒化物、アルミニウムなどの金属の酸化物または窒化物を用いることができる。また、このような無機絶縁材料の積層膜、または無機絶縁材料と有機絶縁材料の積層膜を用いてもよい。
クラック抑止層122は、導電性材料を用いて形成することができる。また、クラック抑止層122をトランジスタ116等のゲート電極171と同一の材料で形成することで、工程を簡略化できるため好ましい。
検知素子118において、一対の電極として機能する導電層176及び導電層178には、透光性を有する材料を用いる。
接続体156としては、熱硬化性の樹脂に金属粒子を混ぜ合わせたペースト状又はシート状の材料を用い、熱圧着によって異方性の導電性を示す材料を用いることができる。金属粒子としては、例えばニッケル粒子を金で被覆したものなど、2種類以上の金属が層状となった粒子を用いることが好ましい。
カラーフィルタ127は、発光素子114からの発光色を調色し、色純度を高める目的で設けられている。例えば、白色発光の発光素子を用いてフルカラーの画像表示装置180とする場合には、異なる色のカラーフィルタを設けた複数の画素を用いる。その場合、赤色(R)、緑色(G)、青色(B)の3色のカラーフィルタを用いてもよいし、これに黄色(Y)を加えた4色とすることもできる。また、R、G、B、(及びY)に加えて白色(W)の画素を用い、4色(または5色)としてもよい。
以下では、上記タッチパネル100の作製方法の一例について、図面を参照して説明する。
まず、支持基板161上に剥離層162を形成する。
続いて、剥離層162の上にバッファ層120を形成する(図3(A)参照)。
続いて、加熱処理を行い、酸化物層を変質させる。加熱処理を行うことにより、バッファ層120から水素が放出され、酸化物層に供給される。
続いて、バッファ層120上に導電膜を成膜する。その後、導電膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、ゲート電極171及び複数のクラック抑止層122からなるクラック抑止領域110を形成する。
続いて、ゲート電極171を覆って絶縁層172を形成する。このとき、外部接続端子109となる配線、及び該配線の走査線駆動回路用のトランジスタ129の一方の電極174と接続する箇所のそれぞれに達する開口部を絶縁層172に形成する(図3(B)参照)。
続いて、絶縁層172上に半導体層を成膜する。その後、半導体膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、半導体膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタを構成する半導体層173を形成する。
続いて、絶縁層172及び半導体層173上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタのソース電極またはドレイン電極として機能する電極174を形成する。
続いて、絶縁層172、半導体層173及び電極174を覆う絶縁層175を成膜する。このとき、トランジスタ117の一方の電極174及び外部接続端子となる配線のそれぞれに達する開口部を絶縁層175に形成する(図3(C)参照)。
続いて、絶縁層175上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、検知素子118の一方の電極として機能する導電層176を形成する。
続いて、絶縁層179上にブラックマトリクス126及びカラーフィルタ127を形成する(図4(B)参照)。ブラックマトリクス126及びカラーフィルタ127は、印刷法、インクジェット法、フォトリソグラフィ法などでそれぞれ形成する。
次に、剥離層164及び第2のバッファ層132を形成した支持基板163を準備する。剥離層164及び第2のバッファ層132の形成方法は前述の剥離層162及びバッファ層120と同様である。
続いて、ゲート電極133を覆って絶縁層134を形成する。
続いて、絶縁層134上に半導体膜を成膜する。その後、半導体膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、半導体膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタを構成する半導体層135を形成する。
続いて、絶縁層134及び半導体層135上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタのソース電極またはドレイン電極として機能する電極136を形成する。
続いて、絶縁層134、半導体層135及び電極136を覆う絶縁層141を成膜する。このとき、電流制御用のトランジスタ112の一方の電極136及び外部接続端子105となる配線のそれぞれに達する開口部を絶縁層141に形成する。
続いて、平坦化層として機能する絶縁層142を形成する。このとき、電流制御用のトランジスタ112の一方の電極136及び外部接続端子105となる配線のそれぞれに達する開口部を絶縁層142に形成する。
続いて、絶縁層142上に導電膜を成膜する。その後導電膜上にフォトリソグラフィ法等を用いてレジストマスクを形成し、導電膜の不要な部分をエッチングにより除去する。その後レジストマスクを除去することにより、トランジスタ112の一方の電極136と電気的に接続する第1の電極143を形成する。
続いて、第1の電極143の端部を覆う絶縁層144を形成する。このとき外部接続端子105に達する開口部を絶縁層144に形成する。
続いて、第1の電極143上にEL層151、第2の電極152を順次形成することにより、発光素子114を形成する(図5(B)参照)。
続いて、支持基板161の検知素子118が設けられた面または支持基板163の発光素子114が設けられた面に、封止層153を形成する。
続いて、支持基板163を剥離し、露出した第2のバッファ層132と第2の基板101を、接着層131を介して貼り合わせる。また、支持基板161を剥離し、露出したバッファ層120と第1の基板121を、接着層125を介して貼り合わせる(図7参照)。図7では、第2の基板101が外部接続端子109と重なる構成としたが、外部接続端子109と第2の基板101が重ならない構成としてもよい。また、図7では、第1の基板121が外部接続端子105と重ならない構成としたが、外部接続端子105と第1の基板121が重なる構成としてもよい。
以下では、タッチパネル100の変形例について説明する。
図9は、本発明の一態様である、検知素子118を構成する一方の電極を、半導体層と同一の工程で形成した場合のタッチパネル100の断面概略図である。図2とは主に、以下の2つの層に酸化物半導体を用いている点、絶縁層175aを形成している点において異なる。2つの層とは、入力装置190の各トランジスタにおいてチャネルとして機能する領域を含む酸化物半導体層173a、及び検知素子118を構成する一方の電極としての機能を有する酸化物導電体層173bである。以下に、図2と異なる点についてのみ説明する。
図10は、本発明の一態様である、検知素子118を構成する一方の電極を、半導体層と同一の工程で形成した場合のタッチパネル100の断面概略図である。図9とは主に、検知素子を構成する他方の電極である導電層178を、カラーフィルタ127よりも発光素子114に近い側に形成している点において異なる。以下に、図9と異なる点についてのみ説明する。
本実施の形態では、本発明の一態様の入出力装置の例として、画像表示装置に入力装置を組み合わせたタッチパネルの構成例と、タッチパネルが備える検知回路の駆動方法について説明する。
図11は本発明の一態様のタッチパネルの構成を説明する投影図である。図11(A)は本発明の一態様のタッチパネル500の投影図であり、図11(B)はタッチパネル500が備える検知ユニット10Uの構成を説明する投影図である。
検知素子Cについて、図9に示す検知素子118を例に挙げて説明する。検知素子118は、一対の電極として酸化物導電体層173b及び導電層178を有する。一対の電極間には、誘電体層として絶縁層175、177を有する。
図12は本発明の一態様の検知回路19及び変換器CONVの構成及び駆動方法を説明する図である。
以下では、検知回路19の駆動方法について説明する。
第1のステップにおいて、第3のトランジスタM3を導通状態にした後に非導通状態にするリセット信号をゲートに供給し、検知素子Cの第1の電極の電位を所定の電位にする(図12(B−1)期間T1参照)。
第2のステップにおいて、第2のトランジスタM2を導通状態にする選択信号をゲートに供給し、第1のトランジスタM1の第2の電極を信号線DLに電気的に接続する。
第3のステップにおいて、制御信号を検知素子Cの第2の電極に供給し、制御信号及び検知素子Cの容量に基づいて変化する電位を第1のトランジスタM1のゲートに供給する。
第4のステップにおいて、第1のトランジスタM1のゲートの電位の変化がもたらす信号を信号線DLに供給する。
第5のステップにおいて、第2のトランジスタM2を非導通状態にする選択信号をゲートに供給する。
本実施の形態では、本発明の一態様を適用して作製できる電子機器及び照明装置について、図14及び図15を用いて説明する。
10U 検知ユニット
14 窓部
16 基材
17 保護基材
17p 保護層
19 検知回路
100 タッチパネル
101 基板
102 表示部
104 走査線駆動回路
105 外部接続端子
106 検知部
107 走査線駆動回路
108 変換器
109 外部接続端子
110 クラック抑止領域
112 トランジスタ
113 トランジスタ
114 発光素子
116 トランジスタ
117 トランジスタ
118 検知素子
119 トランジスタ
120 バッファ層
121 基板
122 クラック抑止層
125 接着層
126 ブラックマトリクス
127 カラーフィルタ
128 FPC
129 トランジスタ
131 接着層
132 バッファ層
133 ゲート電極
134 絶縁層
135 半導体層
136 電極
141 絶縁層
142 絶縁層
143 電極
144 絶縁層
150 領域
151 EL層
152 電極
153 封止層
154 接着層
155 FPC
156 接続体
157 接続体
161 支持基板
162 剥離層
163 支持基板
164 剥離層
171 ゲート電極
172 絶縁層
173 半導体層
173a 酸化物半導体層
173b 酸化物導電体層
174 電極
175 絶縁層
175a 絶縁層
176 導電層
177 絶縁層
178 導電層
179 絶縁層
180 画像表示装置
190 入力装置
300 入力装置
310 携帯情報端末
313 ヒンジ
315 筐体
316 表示パネル
320 携帯情報端末
322 表示部
325 非表示部
330 携帯情報端末
333 表示部
335 筐体
336 筐体
337 情報
339 操作ボタン
340 携帯情報端末
345 携帯情報端末
354 筐体
355 情報
356 情報
357 情報
358 表示部
500 タッチパネル
501 表示装置
502 画素
502B 副画素
502G 副画素
502R 副画素
503g 走査線駆動回路
510 基材
511 配線
519 端子
567p 反射防止層
7100 携帯情報端末
7101 筐体
7102 表示部
7103 バンド
7104 バックル
7105 操作ボタン
7106 入出力端子
7107 アイコン
7200 照明装置
7201 台部
7202 発光部
7203 操作スイッチ
7210 照明装置
7212 発光部
7220 照明装置
7222 発光部
7300 タッチパネル
7301 筐体
7302 表示部
7303 操作ボタン
7304 部材
7305 制御部
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
Claims (9)
- 第1の可撓性基板と、第2の可撓性基板と、を有する入出力装置であって、
第1のバッファ層と、第1のクラック抑止層と、入力装置と、発光素子と、を有し、
前記第1の可撓性基板の第1の面は、前記第2の可撓性基板の第2の面と対向するように設けられ、
前記第1のバッファ層と、前記第1のクラック抑止層と、前記入力装置とは、前記第1の可撓性基板の第1の面側に設けられ、
前記第1のバッファ層と前記第1のクラック抑止層とは、互いに重なる領域を有し、
前記入力装置はトランジスタ及び検知素子を有し、
前記検知素子は一対の電極と誘電体層とを有し、
前記誘電体層は前記一対の電極の間に設けられ、
前記トランジスタ及び前記検知素子は、互いに電気的に接続され、
前記発光素子は、前記第2の可撓性基板の第2の面側に設けられている、
入出力装置。 - 請求項1において、
前記第1のバッファ層は、無機材料を含み、
前記発光素子は、発光性の有機化合物を含み、
前記第1のクラック抑止層は、導電性材料または樹脂材料のいずれか一方を含み、
前記第1のクラック抑止層は、前記第1の面に垂直な方向から見て、前記検知素子と前記第1の可撓性基板の端部との間に位置する、
入出力装置。 - 請求項1または2のいずれか一項において、
第2のバッファ層と、第2のクラック抑止層とは、前記第2の可撓性基板の第2の面側に設けられ、
前記第2のバッファ層と前記第2のクラック抑止層とは、互いに重なる領域を有する、
入出力装置。 - 請求項3において、
前記第2のクラック抑止層は、導電性材料または樹脂材料のいずれか一方を含み、
前記第2のクラック抑止層は、前記第2の面に垂直な方向から見て、前記発光素子と前記第2の可撓性基板の端部との間に位置する、
入出力装置。 - 請求項1乃至4のいずれか一項において、
前記一対の電極のいずれか一方は酸化物導電体を含む、
入出力装置。 - 請求項1乃至5のいずれか一項において、
カラーフィルタは、前記第1の可撓性基板の第1の面側に設けられ、
前記一対の電極のいずれか一方は、前記第1の面に平行な方向から見て、前記カラーフィルタと前記第2の可撓性基板との間に位置する、
入出力装置。 - 請求項1乃至6のいずれか一項において、
封止層を有する入出力装置であって、
前記封止層は、前記第1の面と前記第2の面とを接着し、
前記一対の電極のいずれか一方は、前記封止層と接する、
入出力装置。 - 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の入出力装置と、
FPCと、
を有するモジュール。 - 請求項1乃至7のいずれか一項に記載の入出力装置、または、請求項8に記載のモジュールと、
スピーカ、マイク、または、操作ボタンと、
を有する電子機器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015084961A JP6468686B2 (ja) | 2014-04-25 | 2015-04-17 | 入出力装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014091825 | 2014-04-25 | ||
JP2014091825 | 2014-04-25 | ||
JP2015084961A JP6468686B2 (ja) | 2014-04-25 | 2015-04-17 | 入出力装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019003974A Division JP2019109517A (ja) | 2014-04-25 | 2019-01-14 | 半導体装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015215882A true JP2015215882A (ja) | 2015-12-03 |
JP2015215882A5 JP2015215882A5 (ja) | 2018-05-31 |
JP6468686B2 JP6468686B2 (ja) | 2019-02-13 |
Family
ID=54335517
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015084961A Active JP6468686B2 (ja) | 2014-04-25 | 2015-04-17 | 入出力装置 |
JP2019003974A Withdrawn JP2019109517A (ja) | 2014-04-25 | 2019-01-14 | 半導体装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2019003974A Withdrawn JP2019109517A (ja) | 2014-04-25 | 2019-01-14 | 半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9960213B2 (ja) |
JP (2) | JP6468686B2 (ja) |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2018022322A (ja) * | 2016-08-03 | 2018-02-08 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP2018087906A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP2018109995A (ja) * | 2016-12-30 | 2018-07-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | ストレッチャブルタッチスクリーン、ストレッチャブルタッチスクリーンの製造方法及び表示装置 |
JP2018109962A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 表示装置 |
JP2018124501A (ja) * | 2017-02-03 | 2018-08-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP2019087267A (ja) * | 2016-12-28 | 2019-06-06 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 表示装置 |
JP2019117917A (ja) * | 2016-10-07 | 2019-07-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 積層体 |
KR20200041824A (ko) * | 2018-10-10 | 2020-04-22 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 디스플레이 기판, 디스플레이 장치, 디스플레이 기판을 제조하는 방법 |
JP2022070953A (ja) * | 2016-05-11 | 2022-05-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI687143B (zh) * | 2014-04-25 | 2020-03-01 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 顯示裝置及電子裝置 |
KR102193091B1 (ko) * | 2014-05-22 | 2020-12-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 낮은 반사율을 갖는 블랙 매트릭스를 구비한 평판 표시장치 및 그 제조 방법 |
US9455281B2 (en) | 2014-06-19 | 2016-09-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Touch sensor, touch panel, touch panel module, and display device |
KR102317525B1 (ko) * | 2014-09-05 | 2021-10-26 | 엘지전자 주식회사 | 휴대 전자기기 및 그것의 제어방법 |
KR102338003B1 (ko) * | 2014-10-07 | 2021-12-10 | 삼성전자 주식회사 | 플렉서블 디스플레이를 포함하는 전자 장치 |
KR102246296B1 (ko) * | 2014-12-19 | 2021-04-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102325187B1 (ko) * | 2015-01-09 | 2021-11-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치용 커버 윈도우, 이를 포함하는 표시 장치, 및 표시 장치용 커버 윈도우의 제조 방법 |
US10372274B2 (en) | 2015-04-13 | 2019-08-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and touch panel |
US10002970B2 (en) | 2015-04-30 | 2018-06-19 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, manufacturing method of the same, or display device including the same |
JP6807683B2 (ja) | 2015-09-11 | 2021-01-06 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 入出力パネル |
US9852926B2 (en) | 2015-10-20 | 2017-12-26 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Manufacturing method for semiconductor device |
KR102517446B1 (ko) * | 2015-12-02 | 2023-04-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 그 제조방법 |
US10558265B2 (en) | 2015-12-11 | 2020-02-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Input device and system of input device |
KR102665790B1 (ko) * | 2016-01-14 | 2024-05-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 및 이의 제조 방법 |
CN105702697B (zh) * | 2016-04-06 | 2018-10-23 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 石墨烯显示器 |
US10345977B2 (en) | 2016-10-14 | 2019-07-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Input/output panel and semiconductor device having a current sensing circuit |
CN107479754B (zh) * | 2017-08-22 | 2020-07-28 | 武汉天马微电子有限公司 | 一种柔性触摸传感器和柔性触摸显示面板 |
JP7127802B2 (ja) * | 2018-04-18 | 2022-08-30 | 三国電子有限会社 | タッチ検出機能付き表示装置及びその製造方法 |
CN109103234A (zh) | 2018-08-31 | 2018-12-28 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示基板及其制作方法、显示装置 |
KR102667402B1 (ko) | 2018-11-30 | 2024-05-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
TWI710820B (zh) | 2019-03-28 | 2020-11-21 | 友達光電股份有限公司 | 顯示裝置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010024192A1 (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | 日本写真印刷株式会社 | タッチインプットデバイス及び電子機器 |
JP2010049463A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | Unon Giken:Kk | 透明タッチパネル |
JP2010224426A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置 |
JP2012028761A (ja) * | 2010-06-25 | 2012-02-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
JP2013224977A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-31 | Toshiba Corp | 表示パネル及び表示装置 |
JP2014056566A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-03-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
Family Cites Families (131)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60198861A (ja) | 1984-03-23 | 1985-10-08 | Fujitsu Ltd | 薄膜トランジスタ |
JPH0244256B2 (ja) | 1987-01-28 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn2o5deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPS63210023A (ja) | 1987-02-24 | 1988-08-31 | Natl Inst For Res In Inorg Mater | InGaZn↓4O↓7で示される六方晶系の層状構造を有する化合物およびその製造法 |
JPH0244260B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn5o8deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244258B2 (ja) | 1987-02-24 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn3o6deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244262B2 (ja) | 1987-02-27 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn6o9deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH0244263B2 (ja) | 1987-04-22 | 1990-10-03 | Kagaku Gijutsucho Mukizaishitsu Kenkyushocho | Ingazn7o10deshimesarerurotsuhoshokeinosojokozoojusurukagobutsuoyobisonoseizoho |
JPH05251705A (ja) | 1992-03-04 | 1993-09-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
JP3479375B2 (ja) | 1995-03-27 | 2003-12-15 | 科学技術振興事業団 | 亜酸化銅等の金属酸化物半導体による薄膜トランジスタとpn接合を形成した金属酸化物半導体装置およびそれらの製造方法 |
JPH11505377A (ja) | 1995-08-03 | 1999-05-18 | フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ | 半導体装置 |
JP3625598B2 (ja) | 1995-12-30 | 2005-03-02 | 三星電子株式会社 | 液晶表示装置の製造方法 |
JP4619462B2 (ja) | 1996-08-27 | 2011-01-26 | セイコーエプソン株式会社 | 薄膜素子の転写方法 |
EP1744365B1 (en) | 1996-08-27 | 2009-04-15 | Seiko Epson Corporation | Exfoliating method and transferring method of thin film device |
JP4170454B2 (ja) | 1998-07-24 | 2008-10-22 | Hoya株式会社 | 透明導電性酸化物薄膜を有する物品及びその製造方法 |
JP2000150861A (ja) | 1998-11-16 | 2000-05-30 | Tdk Corp | 酸化物薄膜 |
JP3276930B2 (ja) | 1998-11-17 | 2002-04-22 | 科学技術振興事業団 | トランジスタ及び半導体装置 |
TW460731B (en) | 1999-09-03 | 2001-10-21 | Ind Tech Res Inst | Electrode structure and production method of wide viewing angle LCD |
JP4089858B2 (ja) | 2000-09-01 | 2008-05-28 | 国立大学法人東北大学 | 半導体デバイス |
KR20020038482A (ko) | 2000-11-15 | 2002-05-23 | 모리시타 요이찌 | 박막 트랜지스터 어레이, 그 제조방법 및 그것을 이용한표시패널 |
JP3997731B2 (ja) | 2001-03-19 | 2007-10-24 | 富士ゼロックス株式会社 | 基材上に結晶性半導体薄膜を形成する方法 |
JP2002289859A (ja) | 2001-03-23 | 2002-10-04 | Minolta Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
TW564471B (en) | 2001-07-16 | 2003-12-01 | Semiconductor Energy Lab | Semiconductor device and peeling off method and method of manufacturing semiconductor device |
JP4027740B2 (ja) | 2001-07-16 | 2007-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2003109773A (ja) | 2001-07-27 | 2003-04-11 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光装置、半導体装置およびそれらの作製方法 |
JP3925839B2 (ja) | 2001-09-10 | 2007-06-06 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置およびその試験方法 |
JP4090716B2 (ja) | 2001-09-10 | 2008-05-28 | 雅司 川崎 | 薄膜トランジスタおよびマトリクス表示装置 |
JP4164562B2 (ja) | 2002-09-11 | 2008-10-15 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ホモロガス薄膜を活性層として用いる透明薄膜電界効果型トランジスタ |
US7061014B2 (en) | 2001-11-05 | 2006-06-13 | Japan Science And Technology Agency | Natural-superlattice homologous single crystal thin film, method for preparation thereof, and device using said single crystal thin film |
JP2003233326A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-08-22 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | アクティブマトリクス型表示装置及びその作製方法 |
JP4083486B2 (ja) | 2002-02-21 | 2008-04-30 | 独立行政法人科学技術振興機構 | LnCuO(S,Se,Te)単結晶薄膜の製造方法 |
US7049190B2 (en) | 2002-03-15 | 2006-05-23 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method for forming ZnO film, method for forming ZnO semiconductor layer, method for fabricating semiconductor device, and semiconductor device |
JP3875130B2 (ja) * | 2002-03-26 | 2007-01-31 | 株式会社東芝 | 表示装置及びその製造方法 |
JP3933591B2 (ja) | 2002-03-26 | 2007-06-20 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
US7339187B2 (en) | 2002-05-21 | 2008-03-04 | State Of Oregon Acting By And Through The Oregon State Board Of Higher Education On Behalf Of Oregon State University | Transistor structures |
JP2004022625A (ja) | 2002-06-13 | 2004-01-22 | Murata Mfg Co Ltd | 半導体デバイス及び該半導体デバイスの製造方法 |
US7105868B2 (en) | 2002-06-24 | 2006-09-12 | Cermet, Inc. | High-electron mobility transistor with zinc oxide |
US7067843B2 (en) | 2002-10-11 | 2006-06-27 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Transparent oxide semiconductor thin film transistors |
JP4166105B2 (ja) | 2003-03-06 | 2008-10-15 | シャープ株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2004273732A (ja) | 2003-03-07 | 2004-09-30 | Sharp Corp | アクティブマトリクス基板およびその製造方法 |
JP4108633B2 (ja) | 2003-06-20 | 2008-06-25 | シャープ株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法ならびに電子デバイス |
US7262463B2 (en) | 2003-07-25 | 2007-08-28 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Transistor including a deposited channel region having a doped portion |
WO2005055309A1 (en) | 2003-12-02 | 2005-06-16 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Thin film transistor, display device and liquid crystal display device and method for manufacturing the same |
US7538488B2 (en) * | 2004-02-14 | 2009-05-26 | Samsung Mobile Display Co., Ltd. | Flat panel display |
US20070194379A1 (en) | 2004-03-12 | 2007-08-23 | Japan Science And Technology Agency | Amorphous Oxide And Thin Film Transistor |
US7282782B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-10-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Combined binary oxide semiconductor device |
US7297977B2 (en) | 2004-03-12 | 2007-11-20 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Semiconductor device |
US7145174B2 (en) | 2004-03-12 | 2006-12-05 | Hewlett-Packard Development Company, Lp. | Semiconductor device |
US7211825B2 (en) | 2004-06-14 | 2007-05-01 | Yi-Chi Shih | Indium oxide-based thin film transistors and circuits |
JP2006100760A (ja) | 2004-09-02 | 2006-04-13 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US7285501B2 (en) | 2004-09-17 | 2007-10-23 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of forming a solution processed device |
US7298084B2 (en) | 2004-11-02 | 2007-11-20 | 3M Innovative Properties Company | Methods and displays utilizing integrated zinc oxide row and column drivers in conjunction with organic light emitting diodes |
US7863611B2 (en) | 2004-11-10 | 2011-01-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Integrated circuits utilizing amorphous oxides |
US7829444B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-11-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor manufacturing method |
US7872259B2 (en) | 2004-11-10 | 2011-01-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Light-emitting device |
WO2006051995A1 (en) | 2004-11-10 | 2006-05-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Field effect transistor employing an amorphous oxide |
EP2453480A2 (en) | 2004-11-10 | 2012-05-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Amorphous oxide and field effect transistor |
US7791072B2 (en) | 2004-11-10 | 2010-09-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Display |
US7453065B2 (en) | 2004-11-10 | 2008-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Sensor and image pickup device |
US7579224B2 (en) | 2005-01-21 | 2009-08-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a thin film semiconductor device |
TWI390735B (zh) | 2005-01-28 | 2013-03-21 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置,電子裝置,和半導體裝置的製造方法 |
TWI412138B (zh) | 2005-01-28 | 2013-10-11 | Semiconductor Energy Lab | 半導體裝置,電子裝置,和半導體裝置的製造方法 |
US7858451B2 (en) | 2005-02-03 | 2010-12-28 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Electronic device, semiconductor device and manufacturing method thereof |
US7948171B2 (en) | 2005-02-18 | 2011-05-24 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device |
US20060197092A1 (en) | 2005-03-03 | 2006-09-07 | Randy Hoffman | System and method for forming conductive material on a substrate |
US8681077B2 (en) | 2005-03-18 | 2014-03-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device, and display device, driving method and electronic apparatus thereof |
WO2006105077A2 (en) | 2005-03-28 | 2006-10-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Low voltage thin film transistor with high-k dielectric material |
US7645478B2 (en) | 2005-03-31 | 2010-01-12 | 3M Innovative Properties Company | Methods of making displays |
US8300031B2 (en) | 2005-04-20 | 2012-10-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device comprising transistor having gate and drain connected through a current-voltage conversion element |
KR101245539B1 (ko) | 2005-05-31 | 2013-03-21 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 |
JP2006344849A (ja) | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Casio Comput Co Ltd | 薄膜トランジスタ |
US7691666B2 (en) | 2005-06-16 | 2010-04-06 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7402506B2 (en) | 2005-06-16 | 2008-07-22 | Eastman Kodak Company | Methods of making thin film transistors comprising zinc-oxide-based semiconductor materials and transistors made thereby |
US7507618B2 (en) | 2005-06-27 | 2009-03-24 | 3M Innovative Properties Company | Method for making electronic devices using metal oxide nanoparticles |
KR100711890B1 (ko) | 2005-07-28 | 2007-04-25 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광표시장치 및 그의 제조방법 |
JP2007059128A (ja) | 2005-08-23 | 2007-03-08 | Canon Inc | 有機el表示装置およびその製造方法 |
JP2007073705A (ja) | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Canon Inc | 酸化物半導体チャネル薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP5116225B2 (ja) | 2005-09-06 | 2013-01-09 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体デバイスの製造方法 |
JP4850457B2 (ja) | 2005-09-06 | 2012-01-11 | キヤノン株式会社 | 薄膜トランジスタ及び薄膜ダイオード |
JP4280736B2 (ja) | 2005-09-06 | 2009-06-17 | キヤノン株式会社 | 半導体素子 |
EP1998373A3 (en) | 2005-09-29 | 2012-10-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co, Ltd. | Semiconductor device having oxide semiconductor layer and manufacturing method thereof |
JP5037808B2 (ja) | 2005-10-20 | 2012-10-03 | キヤノン株式会社 | アモルファス酸化物を用いた電界効果型トランジスタ、及び該トランジスタを用いた表示装置 |
KR101103374B1 (ko) | 2005-11-15 | 2012-01-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치 |
TWI292281B (en) | 2005-12-29 | 2008-01-01 | Ind Tech Res Inst | Pixel structure of active organic light emitting diode and method of fabricating the same |
US7867636B2 (en) | 2006-01-11 | 2011-01-11 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Transparent conductive film and method for manufacturing the same |
JP4977478B2 (ja) | 2006-01-21 | 2012-07-18 | 三星電子株式会社 | ZnOフィルム及びこれを用いたTFTの製造方法 |
US7576394B2 (en) | 2006-02-02 | 2009-08-18 | Kochi Industrial Promotion Center | Thin film transistor including low resistance conductive thin films and manufacturing method thereof |
US7977169B2 (en) | 2006-02-15 | 2011-07-12 | Kochi Industrial Promotion Center | Semiconductor device including active layer made of zinc oxide with controlled orientations and manufacturing method thereof |
KR20070101595A (ko) | 2006-04-11 | 2007-10-17 | 삼성전자주식회사 | ZnO TFT |
US20070252928A1 (en) | 2006-04-28 | 2007-11-01 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure, transmission type liquid crystal display, reflection type display and manufacturing method thereof |
JP5028033B2 (ja) | 2006-06-13 | 2012-09-19 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP4609797B2 (ja) | 2006-08-09 | 2011-01-12 | Nec液晶テクノロジー株式会社 | 薄膜デバイス及びその製造方法 |
JP4999400B2 (ja) | 2006-08-09 | 2012-08-15 | キヤノン株式会社 | 酸化物半導体膜のドライエッチング方法 |
JP2008052111A (ja) * | 2006-08-25 | 2008-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | Tftアレイ基板、その検査方法および表示装置 |
JP4332545B2 (ja) | 2006-09-15 | 2009-09-16 | キヤノン株式会社 | 電界効果型トランジスタ及びその製造方法 |
JP4274219B2 (ja) | 2006-09-27 | 2009-06-03 | セイコーエプソン株式会社 | 電子デバイス、有機エレクトロルミネッセンス装置、有機薄膜半導体装置 |
JP5164357B2 (ja) | 2006-09-27 | 2013-03-21 | キヤノン株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
US7622371B2 (en) | 2006-10-10 | 2009-11-24 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Fused nanocrystal thin film semiconductor and method |
US7772021B2 (en) | 2006-11-29 | 2010-08-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flat panel displays comprising a thin-film transistor having a semiconductive oxide in its channel and methods of fabricating the same for use in flat panel displays |
JP2008140684A (ja) | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Toppan Printing Co Ltd | カラーelディスプレイおよびその製造方法 |
KR101303578B1 (ko) | 2007-01-05 | 2013-09-09 | 삼성전자주식회사 | 박막 식각 방법 |
US8207063B2 (en) | 2007-01-26 | 2012-06-26 | Eastman Kodak Company | Process for atomic layer deposition |
KR100851215B1 (ko) | 2007-03-14 | 2008-08-07 | 삼성에스디아이 주식회사 | 박막 트랜지스터 및 이를 이용한 유기 전계 발광표시장치 |
JP2008242249A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Kyodo Printing Co Ltd | フレキシブルディスプレイ |
US7795613B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-09-14 | Toppan Printing Co., Ltd. | Structure with transistor |
KR101325053B1 (ko) | 2007-04-18 | 2013-11-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 기판 및 이의 제조 방법 |
KR20080094300A (ko) | 2007-04-19 | 2008-10-23 | 삼성전자주식회사 | 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법과 박막 트랜지스터를포함하는 평판 디스플레이 |
KR101334181B1 (ko) | 2007-04-20 | 2013-11-28 | 삼성전자주식회사 | 선택적으로 결정화된 채널층을 갖는 박막 트랜지스터 및 그제조 방법 |
WO2008133345A1 (en) | 2007-04-25 | 2008-11-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Oxynitride semiconductor |
KR101345376B1 (ko) | 2007-05-29 | 2013-12-24 | 삼성전자주식회사 | ZnO 계 박막 트랜지스터 및 그 제조방법 |
US8047442B2 (en) | 2007-12-03 | 2011-11-01 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP5215158B2 (ja) | 2007-12-17 | 2013-06-19 | 富士フイルム株式会社 | 無機結晶性配向膜及びその製造方法、半導体デバイス |
JP4332577B1 (ja) | 2008-03-03 | 2009-09-16 | 西山ステンレスケミカル株式会社 | フラットパネルディスプレイの製造方法。 |
KR100953655B1 (ko) * | 2008-07-08 | 2010-04-20 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기발광 표시장치 |
US8736587B2 (en) * | 2008-07-10 | 2014-05-27 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device |
JP4623179B2 (ja) | 2008-09-18 | 2011-02-02 | ソニー株式会社 | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
JP5451280B2 (ja) | 2008-10-09 | 2014-03-26 | キヤノン株式会社 | ウルツ鉱型結晶成長用基板およびその製造方法ならびに半導体装置 |
JP5099060B2 (ja) * | 2009-03-26 | 2012-12-12 | セイコーエプソン株式会社 | 有機el装置、有機el装置の製造方法、電子機器 |
JP5471035B2 (ja) | 2009-05-26 | 2014-04-16 | ソニー株式会社 | 表示装置、表示装置の製造方法、および電子機器 |
JP2011107556A (ja) | 2009-11-20 | 2011-06-02 | Technology Research Association For Advanced Display Materials | 表示装置の製造方法及び表示装置 |
KR101717232B1 (ko) * | 2010-08-19 | 2017-03-17 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
JP2013025015A (ja) * | 2011-07-20 | 2013-02-04 | Mitsubishi Electric Corp | 液晶パネル及び液晶パネルの製造方法 |
WO2013046545A1 (ja) | 2011-09-26 | 2013-04-04 | パナソニック株式会社 | 発光装置の製造方法および発光装置 |
US9099560B2 (en) * | 2012-01-20 | 2015-08-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
KR102079188B1 (ko) | 2012-05-09 | 2020-02-19 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 장치 및 전자 기기 |
US9184211B2 (en) * | 2012-07-05 | 2015-11-10 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device and method for fabricating the same |
TWI692108B (zh) | 2013-04-10 | 2020-04-21 | 日商半導體能源研究所股份有限公司 | 半導體裝置及其製造方法 |
KR102100374B1 (ko) * | 2013-10-11 | 2020-04-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법 |
KR102124906B1 (ko) * | 2013-12-26 | 2020-07-07 | 엘지디스플레이 주식회사 | 터치스크린을 구비한 유기전계 발광소자 및 이의 제조 방법 |
KR102178796B1 (ko) * | 2014-01-22 | 2020-11-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102197935B1 (ko) * | 2014-02-21 | 2021-01-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 및 이의 제조 방법 |
US9899626B2 (en) | 2014-03-06 | 2018-02-20 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting device |
-
2015
- 2015-04-17 JP JP2015084961A patent/JP6468686B2/ja active Active
- 2015-04-20 US US14/690,834 patent/US9960213B2/en active Active
-
2019
- 2019-01-14 JP JP2019003974A patent/JP2019109517A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010049463A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | Unon Giken:Kk | 透明タッチパネル |
WO2010024192A1 (ja) * | 2008-08-25 | 2010-03-04 | 日本写真印刷株式会社 | タッチインプットデバイス及び電子機器 |
JP2010224426A (ja) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Hitachi Displays Ltd | 表示装置 |
JP2012028761A (ja) * | 2010-06-25 | 2012-02-09 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
JP2013224977A (ja) * | 2012-04-19 | 2013-10-31 | Toshiba Corp | 表示パネル及び表示装置 |
JP2014056566A (ja) * | 2012-08-10 | 2014-03-27 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022070953A (ja) * | 2016-05-11 | 2022-05-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP7252385B2 (ja) | 2016-05-11 | 2023-04-04 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 表示装置 |
JP2018022322A (ja) * | 2016-08-03 | 2018-02-08 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP2019117918A (ja) * | 2016-10-07 | 2019-07-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 積層体 |
US11637009B2 (en) | 2016-10-07 | 2023-04-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Cleaning method of glass substrate, manufacturing method of semiconductor device, and glass substrate |
JP2019117917A (ja) * | 2016-10-07 | 2019-07-18 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 積層体 |
JP2018087906A (ja) * | 2016-11-29 | 2018-06-07 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
JP2018109962A (ja) * | 2016-12-28 | 2018-07-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 表示装置 |
US10490610B2 (en) | 2016-12-28 | 2019-11-26 | Lg Display Co., Ltd. | Display device |
JP2019087267A (ja) * | 2016-12-28 | 2019-06-06 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 表示装置 |
JP2019212333A (ja) * | 2016-12-30 | 2019-12-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | ストレッチャブルタッチスクリーン、ストレッチャブルタッチスクリーンの製造方法及び表示装置 |
US11287935B2 (en) | 2016-12-30 | 2022-03-29 | Lg Display Co., Ltd. | Stretchable touchscreen, method for manufacturing the same, and display device using the same |
JP2018109995A (ja) * | 2016-12-30 | 2018-07-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | ストレッチャブルタッチスクリーン、ストレッチャブルタッチスクリーンの製造方法及び表示装置 |
JP7030086B2 (ja) | 2016-12-30 | 2022-03-04 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | ストレッチャブルタッチスクリーン、ストレッチャブルタッチスクリーンの製造方法及び表示装置 |
JP2018124501A (ja) * | 2017-02-03 | 2018-08-09 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
US11251399B2 (en) | 2018-10-10 | 2022-02-15 | Boe Technology Group Co., Ltd. | Display substrate, display apparatus, method of fabricating display substrate |
KR102208826B1 (ko) | 2018-10-10 | 2021-01-28 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 디스플레이 기판, 디스플레이 장치, 디스플레이 기판을 제조하는 방법 |
KR20200041824A (ko) * | 2018-10-10 | 2020-04-22 | 보에 테크놀로지 그룹 컴퍼니 리미티드 | 디스플레이 기판, 디스플레이 장치, 디스플레이 기판을 제조하는 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019109517A (ja) | 2019-07-04 |
JP6468686B2 (ja) | 2019-02-13 |
US20150311260A1 (en) | 2015-10-29 |
US9960213B2 (en) | 2018-05-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6468686B2 (ja) | 入出力装置 | |
JP7203182B2 (ja) | 表示装置 | |
JP6915012B2 (ja) | 入出力装置 | |
JP6781286B2 (ja) | 剥離方法 | |
JP6781799B2 (ja) | 発光装置 | |
US9977524B2 (en) | Flexible touch panel including a bonding layer | |
JP6513929B2 (ja) | 剥離方法 | |
TWI618460B (zh) | 顯示裝置 | |
JP2020160452A (ja) | 入出力装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180410 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180410 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20181218 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20181219 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190114 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6468686 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |