JP2015149513A5 - - Google Patents
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Description
薄膜積層10が、光源15によって、過渡的に(すなわち、パルス放射を介して)照射されると、吸収トレース11は、超薄膜12の前に、選択的に加熱される。光源15は、閃光灯、指向性プラズマアーク(DPA)、レーザ、マイクロ波発生器、誘導加熱器、または電子ビームであることができる。その結果、吸収トレース11の真下およびそれに隣接して位置する、超薄膜12および基板14内の領域(陰影領域)は、図1bに示されるように、加熱された吸収トレース11によって熱的に処理される。熱的に処理さされる超薄膜12内の距離d1は、数十ミクロンであり得る。
光源25からのパルス放射への暴露に応じて、吸収トレース21、22は、超薄膜23にわたって、選択的に加熱される。吸収トレース21、22からの熱は、次いで、図2bに示されるように、吸収トレース21、22の真下および/またはそれに隣接する超薄膜23の領域に伝導される。図2bでは、吸収トレース21、22間に位置する超薄膜23内の領域d2が、熱的に処理されることになる。吸収トレース21と22との間(すなわち、領域d2)で熱的に処理することができる間隙距離は、概して、2つの吸収トレース21、22によって伝導される熱の重複があるため、図1bからのd1より大きく、好ましくは、100ミクロン未満である。さらに、吸収トレース21と22との間に位置する超薄膜23内の領域は、2つの吸収トレース21、22から伝導される熱の重複によって、熱的に処理されるため、超薄膜23は、1つのみの吸収トレース(図1bにおけるように)に隣接する薄膜の領域よりも均一に処理される傾向となる。
光源35からのパルス放射への暴露に応じて、吸収トレース31、32は、超薄膜33および熱拡散膜35にわたって、選択的に加熱される。吸収トレース31、32からの熱は、次いで、図3bに示されるように、吸収トレース31、32の真下および/またはそれに隣接する超薄膜33および熱拡散膜35の領域に伝導される。図3bでは、吸収トレース31、32間に位置する超薄膜33および熱拡散膜35内の領域d3が、熱的に処理されることになる。吸収トレース31と32との間で熱的に処理することができる間隙距離は、好ましくは、100ミクロン未満である。
次に、図4を参照すると、前述のパルス放射熱処理技法によって製造されたTFT40が、描写される。示されるように、薄誘電層44が、超薄膜43に隣接して位置する、2つの吸収トレース41および42の上部に載置される。伝導性トレース45は、誘電層44ならびに吸収トレース41および42の上部に位置する。吸収トレース41、42は、電気的に伝導性であって、それぞれ、TFTのソースおよびドレインを形成する。伝導性トレース45は、TFTのゲートを形成する。熱的に処理された超薄膜43内の吸収トレース41と42との間に位置する領域は、TFTの活性チャネルを形成する、半導体である。図4に示されるように、硬化領域(陰影領域)は、ゲート酸化物およびゲートを含む。しかしながら、ゲート酸化物およびゲートは両方とも、超薄膜43の硬化後に適用される。
超薄膜43は、主に、吸収トレース41と42との間に硬化される。したがって、ソースおよびドレインは、非常に大きな領域上に、パターン化(または、印刷)することができ、超薄膜43はさらに、基板46全体にわたって、コーティングすることができる。硬化半導体は、概して、非硬化物より高い伝導性を有する、すなわち、半導体が、主に、TFTのチャネル内に硬化されることになるという事実のため、半導体の寄生容量は、低減される。位置合わせおよび限界寸法に対する必要性の低減は、ひとまとめにして、前述のTFTを完全に印刷することができることを意味する。
Claims (14)
- 超薄膜を硬化させるための方法であって、
前記方法は、
超薄膜に隣接する2つの吸収トレースをパターン化することであって、前記2つの吸収トレースは、金属から作製されており、前記薄膜は、基板の上部に位置する、ことと、
少なくとも1つの電磁パルスで前記2つの吸収トレースを照射し、前記2つの吸収トレースを加熱することであって、前記少なくとも1つの電磁パルスのパルス長は、前記基板の熱平衡時間よりも短い、ことと、
前記2つの吸収トレースからの熱によって、前記超薄膜を硬化させることと
を含み、
ここで、前記超薄膜の、前記2つの吸収トレースのうちのいずれか1つに隣接する領域のみが、硬化させられる、
方法。 - 前記基板は、450℃未満の最大作業温度を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記2つの吸収トレースは、前記超薄膜よりも前記電磁パルスに吸収性である材料から作製されている、請求項1に記載の方法。
- 前記方法は、前記超薄膜に隣接して熱拡散層を提供することをさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記方法は、前記熱拡散層と前記基板との間に、高温低熱伝導性膜を提供することをさらに含む、請求項4に記載の方法。
- 前記電磁パルスは、閃光灯によって提供される、請求項1に記載の方法。
- 前記電磁パルスは、指向性プラズマアークによって提供される、請求項1に記載の方法。
- 薄膜トランジスタを加工するための方法であって、
前記方法は、
超薄膜に隣接する2つの吸収トレースをパターン化することであって、前記2つの吸収トレースは、金属から作製されており、前記薄膜は、基板の上部に位置する、ことと、
少なくとも1つの電磁パルスで前記2つの吸収トレースを照射し、前記2つの吸収トレースを加熱し、前記2つの吸収トレースからの熱によって、前記超薄膜を硬化させることであって、前記少なくとも1つの電磁パルスのパルス長は、前記基板の熱平衡時間よりも短く、そしてここで、前記超薄膜の、前記2つの吸収トレースのうちのいずれか1つに隣接する領域のみが、硬化させられる、ことと、
前記2つの吸収トレースおよび前記超薄膜上に誘電層を堆積させることと、
前記誘電層の上部に伝導性トレースを堆積させることによって、ゲートを形成することと
を含み、そして
ここで、前記超薄膜に隣接する前記2つの吸収トレースの間に位置する領域が、前記薄膜トランジスタの活性チャネルを形成する、
方法。 - 前記基板は、450℃未満の最大作業温度を有する、請求項8に記載の方法。
- 前記2つの吸収トレースは、前記超薄膜よりも前記電磁パルスに吸収性である材料から作製されている、請求項8に記載の方法。
- 前記方法は、前記超薄膜に隣接して熱拡散層を提供することをさらに含む、請求項8に記載の方法。
- 前記方法は、前記熱拡散層と前記基板との間に、高温低熱伝導性膜を提供することをさらに含む、請求項11に記載の方法。
- 前記電磁パルスは、閃光灯によって提供される、請求項8に記載の方法。
- 前記電磁パルスは、指向性プラズマアークによって提供される、請求項8に記載の方法。
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