JP2015029041A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2015029041A5
JP2015029041A5 JP2014028314A JP2014028314A JP2015029041A5 JP 2015029041 A5 JP2015029041 A5 JP 2015029041A5 JP 2014028314 A JP2014028314 A JP 2014028314A JP 2014028314 A JP2014028314 A JP 2014028314A JP 2015029041 A5 JP2015029041 A5 JP 2015029041A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
volatile solvent
supply
unit
solvent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014028314A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6400919B2 (ja
JP2015029041A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2014028314A external-priority patent/JP6400919B2/ja
Priority to JP2014028314A priority Critical patent/JP6400919B2/ja
Priority to EP14760514.1A priority patent/EP2966673B1/en
Priority to KR1020157025984A priority patent/KR101759414B1/ko
Priority to US14/773,055 priority patent/US10281210B2/en
Priority to PCT/JP2014/055054 priority patent/WO2014136670A1/ja
Priority to CN201480010842.3A priority patent/CN105027268B/zh
Priority to TW103107697A priority patent/TWI590318B/zh
Publication of JP2015029041A publication Critical patent/JP2015029041A/ja
Publication of JP2015029041A5 publication Critical patent/JP2015029041A5/ja
Publication of JP6400919B2 publication Critical patent/JP6400919B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Description

実施形態に係る基板処理装置は、
基板を水平状態で支持するテーブルと、
このテーブルを水平面内で回転させる回転機構と、
回転している前記基板の表面に処理液を供給する処理液供給部と、
前記処理液が供給され回転している前記基板の表面に揮発性溶媒を供給する溶媒供給部と、
前記揮発性溶媒が供給され回転している前記基板の表面に気層を生じさせて前記揮発性溶媒を液玉化させるように前記基板を加熱する加熱部と、
制御部とを有し、
前記制御部は、前記処理液供給部による前記基板への前記処理液の供給が終了する前から、前記溶媒供給部による前記基板への前記揮発性溶媒の供給が開始されるように前記溶媒供給部を制御するとともに、前記加熱部による前記基板の加熱は、前記溶媒供給部による前記基板に対する前記揮発性溶媒の供給完了後、または供給中に開始されるように制御することを特徴とする。
実施形態に係る基板処理方法は、
水平面内で回転している基板の表面に処理液を供給する工程と、
前記処理液が供給され回転している前記基板の表面に揮発性溶媒を供給する工程と、
前記揮発性溶媒が供給され回転している前記基板の表面に気層を生じさせて前記揮発性溶媒を液玉化させるように前記基板を加熱する工程と、
を有し、
前記揮発性溶媒を供給する工程では、前記処理液を供給する工程が終了する前から、前記記基板への前記揮発性溶媒の供給が開始され
前記加熱する工程では、前記基板の加熱が、前記基板に対する前記揮発性溶媒の供給完了後、または供給中に開始されることを特徴とする。

Claims (10)

  1. 基板を水平状態で支持するテーブルと、
    このテーブルを水平面内で回転させる回転機構と、
    回転している前記基板の表面に処理液を供給する処理液供給部と、
    前記処理液が供給され回転している前記基板の表面に揮発性溶媒を供給する溶媒供給部と、
    前記揮発性溶媒が供給され回転している前記基板の表面に気層を生じさせて前記揮発性溶媒を液玉化させるように前記基板を加熱する加熱部と、
    制御部とを有し、
    前記制御部は、前記処理液供給部による前記基板への前記処理液の供給が終了する前から、前記溶媒供給部による前記基板への前記揮発性溶媒の供給が開始されるように前記溶媒供給部を制御するとともに、前記加熱部による前記基板の加熱は、前記溶媒供給部による前記基板に対する前記揮発性溶媒の供給完了後、または供給中に開始されるように制御することを特徴とする基板処理装置。
  2. 前記処理液は純水で、前記揮発性溶媒はIPAであることを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
  3. 前記基板の表面に対して不活性ガスを供給するガス供給部を有し、
    前記制御部は、前記溶媒供給部による前記揮発性溶媒の供給が開始される前に、前記ガス供給部による前記不活性ガスの供給が開始されるように前記ガス供給部を制御することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の基板処理装置。
  4. 前記加熱部を前記基板の表面に対して上下方向に移動させる移動機構をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  5. 前記加熱部を前記基板の表面に沿って移動させる移動機構をさらに備えることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  6. 前記加熱部は、前記揮発性溶媒が供給された前記基板に対して電磁波を照射する照射部であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  7. 前記処理液供給部は前記処理液を吐出する第1ノズル、前記溶媒供給部は前記揮発性溶媒を吐出する第2のノズル、前記加熱部は前記基板を加熱する照射部をそれぞれ有し、前記第1のノズルと前記第2のノズルは、いずれも前記照射部内に設けられることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  8. 前記加熱部は、前記基板を加熱する照射部を有し、この照射部は、前記テーブルと、このテーブルに支持される前記基板との間に、前記基板の前記テーブル側の面に対して光を照射するように設けられていることを特徴とする請求項1乃至請求項のいずれか一項に記載の基板処理装置。
  9. 水平面内で回転している基板の表面に処理液を供給する工程と、
    前記処理液が供給され回転している前記基板の表面に揮発性溶媒を供給する工程と、
    前記揮発性溶媒が供給され回転している前記基板の表面に気層を生じさせて前記揮発性溶媒を液玉化させるように前記基板を加熱する工程と、
    を有し、
    前記揮発性溶媒を供給する工程では、前記処理液を供給する工程が終了する前から、前記基板への前記揮発性溶媒の供給が開始され
    前記加熱する工程では、前記基板の加熱が、前記基板に対する前記揮発性溶媒の供給完了後、または供給中に開始されることを特徴とする基板処理方法。
  10. 前記基板を加熱する工程では、前記揮発性溶媒が供給された前記基板に対して電磁波を照射することを特徴とする請求項9に記載の基板処理方法。
JP2014028314A 2013-03-07 2014-02-18 基板処理装置及び基板処理方法 Active JP6400919B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014028314A JP6400919B2 (ja) 2013-03-07 2014-02-18 基板処理装置及び基板処理方法
PCT/JP2014/055054 WO2014136670A1 (ja) 2013-03-07 2014-02-28 基板処理装置及び基板処理方法
KR1020157025984A KR101759414B1 (ko) 2013-03-07 2014-02-28 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
US14/773,055 US10281210B2 (en) 2013-03-07 2014-02-28 Substrate processing apparatus and substrate processing method
EP14760514.1A EP2966673B1 (en) 2013-03-07 2014-02-28 Substrate processing device and substrate processing method
CN201480010842.3A CN105027268B (zh) 2013-03-07 2014-02-28 基板处理装置以及基板处理方法
TW103107697A TWI590318B (zh) 2013-03-07 2014-03-06 基板處理裝置及基板處理方法

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013045532 2013-03-07
JP2013045532 2013-03-07
JP2013140416 2013-07-04
JP2013140416 2013-07-04
JP2014028314A JP6400919B2 (ja) 2013-03-07 2014-02-18 基板処理装置及び基板処理方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015029041A JP2015029041A (ja) 2015-02-12
JP2015029041A5 true JP2015029041A5 (ja) 2017-04-20
JP6400919B2 JP6400919B2 (ja) 2018-10-03

Family

ID=51491189

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014028314A Active JP6400919B2 (ja) 2013-03-07 2014-02-18 基板処理装置及び基板処理方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US10281210B2 (ja)
EP (1) EP2966673B1 (ja)
JP (1) JP6400919B2 (ja)
KR (1) KR101759414B1 (ja)
CN (1) CN105027268B (ja)
TW (1) TWI590318B (ja)
WO (1) WO2014136670A1 (ja)

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6131162B2 (ja) 2012-11-08 2017-05-17 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP6317837B2 (ja) * 2012-11-08 2018-04-25 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP6286024B2 (ja) * 2014-03-07 2018-02-28 富士フイルム株式会社 トランジスタの製造方法
JP6304592B2 (ja) * 2014-03-25 2018-04-04 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
US10249487B2 (en) * 2015-01-23 2019-04-02 SCREEN Holdings Co., Ltd. Substrate processing method
KR101860631B1 (ko) 2015-04-30 2018-05-23 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
JP6687436B2 (ja) * 2015-04-30 2020-04-22 芝浦メカトロニクス株式会社 基板処理装置及び基板処理方法
JP6418554B2 (ja) * 2015-06-10 2018-11-07 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP6742708B2 (ja) * 2015-09-29 2020-08-19 芝浦メカトロニクス株式会社 基板処理方法
CN113611636A (zh) * 2016-02-25 2021-11-05 芝浦机械电子株式会社 基板处理装置及基板的制造方法
JP6742124B2 (ja) * 2016-03-30 2020-08-19 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置
JP6722551B2 (ja) * 2016-08-31 2020-07-15 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法
JP6728009B2 (ja) * 2016-09-26 2020-07-22 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
KR102030068B1 (ko) * 2017-10-12 2019-10-08 세메스 주식회사 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR102249802B1 (ko) * 2018-07-13 2021-05-10 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JP7175119B2 (ja) * 2018-07-25 2022-11-18 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、および基板処理方法
JP7077184B2 (ja) * 2018-08-30 2022-05-30 キオクシア株式会社 基板処理方法及び半導体装置の製造方法
JP7336306B2 (ja) * 2018-10-23 2023-08-31 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板処理方法および記憶媒体
CN109489363A (zh) * 2018-12-24 2019-03-19 国兴(东莞)新能源科技有限公司 一种软包电池除水装置
CN111380331A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 中国科学院微电子研究所 一种微波干燥装置
JP7194645B2 (ja) * 2019-05-31 2022-12-22 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
CN110631342A (zh) * 2019-10-15 2019-12-31 东海县牡丹手套有限公司 一种手套加工用手套存放设备
KR102391973B1 (ko) * 2019-10-21 2022-04-27 세메스 주식회사 기판 처리 장치
JP7406404B2 (ja) 2020-02-28 2023-12-27 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
JP6886546B2 (ja) * 2020-05-12 2021-06-16 芝浦メカトロニクス株式会社 基板処理装置
TWI793744B (zh) * 2020-09-09 2023-02-21 日商國際電氣股份有限公司 基板處理裝置、半導體裝置之製造方法及程式
CN112503894A (zh) * 2020-12-07 2021-03-16 安徽海洋药业有限公司 一种药瓶干燥机
CN114674120A (zh) * 2020-12-24 2022-06-28 中国科学院微电子研究所 半导体干燥装置及方法
CN112856981A (zh) * 2021-01-13 2021-05-28 东莞理工学院 一种用于mems器件圆片的自动干燥设备
CN112902616A (zh) * 2021-01-22 2021-06-04 徐州中辉光伏科技有限公司 一种高效率的太阳能光伏板组件加工用烘干装置
JP2022155713A (ja) * 2021-03-31 2022-10-14 芝浦メカトロニクス株式会社 基板乾燥装置及び基板処理装置に関する。
CN112944856B (zh) * 2021-04-18 2022-08-16 黄韶平 试剂盒烘干装置
CN112944831A (zh) * 2021-04-23 2021-06-11 江西省优斯特能源有限公司 一种具有转动结构的电池加工用烘干设备
JP2024033671A (ja) * 2022-08-31 2024-03-13 株式会社Screenホールディングス 基板処理方法および基板処理装置
CN116147309B (zh) * 2023-02-21 2023-09-22 闽海家居(江苏)有限公司 一种木地板生产原木干燥装置及其干燥方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW386235B (en) 1995-05-23 2000-04-01 Tokyo Electron Ltd Method for spin rinsing
JP3402932B2 (ja) * 1995-05-23 2003-05-06 東京エレクトロン株式会社 洗浄方法及びその装置
AT408287B (de) 1996-10-01 2001-10-25 Sez Semiconduct Equip Zubehoer Verfahren und vorrichtung zum trocknen von scheibenförmigen substraten der halbleitertechnik
US6248168B1 (en) * 1997-12-15 2001-06-19 Tokyo Electron Limited Spin coating apparatus including aging unit and solvent replacement unit
JP3558127B2 (ja) * 2001-04-09 2004-08-25 エコー技研株式会社 ウエハの乾燥装置および乾燥方法
JP4333866B2 (ja) * 2002-09-26 2009-09-16 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理方法および基板処理装置
US7708751B2 (en) * 2004-05-21 2010-05-04 Ethicon Endo-Surgery, Inc. MRI biopsy device
US20070029536A1 (en) * 2005-08-04 2007-02-08 Garvin Goode Picket assembly
JP2008034779A (ja) 2006-06-27 2008-02-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理方法および基板処理装置
JP2008034428A (ja) * 2006-07-26 2008-02-14 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理装置および基板処理方法
US7838425B2 (en) * 2008-06-16 2010-11-23 Kabushiki Kaisha Toshiba Method of treating surface of semiconductor substrate
JP5413016B2 (ja) * 2008-07-31 2014-02-12 東京エレクトロン株式会社 基板の洗浄方法、基板の洗浄装置及び記憶媒体
US8153533B2 (en) * 2008-09-24 2012-04-10 Lam Research Methods and systems for preventing feature collapse during microelectronic topography fabrication
JP5359286B2 (ja) * 2009-01-07 2013-12-04 東京エレクトロン株式会社 超臨界処理装置、基板処理システム及び超臨界処理方法
JP5234985B2 (ja) * 2009-03-31 2013-07-10 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置及び基板処理方法
US20120016027A1 (en) * 2010-07-15 2012-01-19 Brien Holden Vision Institute Composition and Method for Improved Lens Comfort
US20120103371A1 (en) 2010-10-28 2012-05-03 Lam Research Ag Method and apparatus for drying a semiconductor wafer
JP5254308B2 (ja) 2010-12-27 2013-08-07 東京エレクトロン株式会社 液処理装置、液処理方法及びその液処理方法を実行させるためのプログラムを記録した記録媒体
JP5611884B2 (ja) * 2011-04-14 2014-10-22 東京エレクトロン株式会社 エッチング方法、エッチング装置および記憶媒体

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2015029041A5 (ja)
TW201613772A (en) Three dimensional printing apparatus and printing method thereof
JP2016072613A5 (ja)
JP2014027016A5 (ja) インプリント装置、インプリント方法、および、物品製造方法
KR102215502B1 (ko) 도포 장치 및 도포 방법
JP2016509962A5 (ja)
JP2016051864A5 (ja)
TW201613016A (en) Substrate treatment apparatus, and substrate treatment method
JP2012146951A5 (ja)
JP2014011357A5 (ja)
JP2014223671A5 (ja) レーザ加工方法及びレーザ加工装置
JP2015529161A5 (ja)
JP2018062169A5 (ja) 積層造形された物体の表面を処理するための方法
JP2012044204A5 (ja) メンテナンス方法、露光装置、及びデバイス製造方法
MX2017011245A (es) Metodo para producir una estructura tridimensional mediante el uso de dos materiales de soporte preliminares.
JP2015109419A5 (ja)
JP2015092537A5 (ja)
JP2015062259A5 (ja) 基板洗浄システムおよび基板洗浄方法
JP2014093449A5 (ja)
JP2012152677A5 (ja)
JP2019063852A5 (ja)
JP2015226464A5 (ja)
JP2019080047A5 (ja)
JP2018182300A5 (ja)
TW201613740A (en) Imprint apparatus, imprint method and article manufacturing method