JP2014209565A - 封止シート、封止シートの製造方法及び電子部品パッケージの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明は、エラストマーのドメインが分散しており、該ドメインの最大径が20μm以下の封止シートである。
【選択図】 図2B
Description
前記混練物をシート状に成形して封止シートを得る成形工程
を含み、
前記混練工程において、前記封止シートのエラストマーがドメイン状に分散し、該ドメインの最大径が20μm以下となるように混練する封止シートの製造方法も含まれる。
前記封止シートを硬化させて封止体を形成する封止体形成工程
を含む電子部品パッケージの製造方法も含まれる。
[封止シート]
本実施形態に係る封止シートについて図1を参照しつつ説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る封止シートを模式的に示す断面図である。封止シート11は、代表的に、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム等の支持体11a上に積層された状態で提供される。なお、支持体11aには封止シート11の剥離を容易に行うために離型処理が施されていてもよい。
A成分:エポキシ樹脂
B成分:フェノール樹脂
C成分:エラストマー
D成分:無機充填剤
E成分:硬化促進剤
熱硬化性樹脂としてのエポキシ樹脂(A成分)としては、特に限定されるものではない。例えば、トリフェニルメタン型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、変性ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、変性ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂等の各種のエポキシ樹脂を用いることができる。これらエポキシ樹脂は単独で用いてもよいし2種以上併用してもよい。
フェノール樹脂(B成分)は、熱硬化性樹脂として用いることができるとともに、エポキシ樹脂(A成分)との間で硬化反応を生起するものであれば特に限定されるものではない。例えば、フェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂、ビフェニルアラルキル樹脂、ジシクロペンタジエン型フェノール樹脂、クレゾールノボラック樹脂、レゾール樹脂、等が用いられる。これらフェノール樹脂は単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。
エポキシ樹脂(A成分)及びフェノール樹脂(B成分)とともに用いられるエラストマー(C成分)は、上述の所定のドメインを形成可能であれば特に限定するものではなく、例えば、各種アクリル系共重合体やゴム成分等を用いることができる。エポキシ樹脂(A成分)への分散性や、得られる封止シートの耐熱性、可撓性、強度を向上させることができるという観点から、ゴム成分を含むことが好ましい。このようなゴム成分としては、ブタジエン系ゴム、スチレン系ゴム、アクリル系ゴム、シリコーン系ゴムからなる群より選択される少なくとも1種であることが好ましい。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併せて用いてもよい。
無機質充填剤(D成分)は、特に限定されるものではなく、従来公知の各種充填剤を用いることができ、例えば、石英ガラス、タルク、シリカ(溶融シリカや結晶性シリカ等)、アルミナ、窒化アルミニウム、窒化珪素、窒化ホウ素の粉末が挙げられる。これらは単独で用いてもよいし、2種以上併用してもよい。
硬化促進剤(E成分)は、エポキシ樹脂とフェノール樹脂の硬化を進行させるものであれば特に限定されるものではないが、硬化性と保存性の観点から、トリフェニルホスフィンやテトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート等の有機リン系化合物や、イミダゾール系化合物が好適に用いられる。これら硬化促進剤は、単独で用いても良いし、他の硬化促進剤と併用しても構わない。
また、エポキシ樹脂組成物には、A成分からE成分に加えて、難燃剤成分を加えてもよい。難燃剤組成分としては、例えば水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、水酸化鉄、水酸化カルシウム、水酸化スズ、複合化金属水酸化物等の各種金属水酸化物を用いることができる。
(式(1)中、nは3〜25の整数であり、R1及びR2は同一又は異なって、アルコキシ基、フェノキシ基、アミノ基、水酸基及びアリル基からなる群より選択される官能基を有する1価の有機基である。)
(式(2)中、n及びmは、それぞれ独立して3〜25の整数である。R3及びR5は同一又は異なって、アルコキシ基、フェノキシ基、アミノ基、水酸基及びアリル基からなる群より選択される官能基を有する1価の有機基である。R4は、アルコキシ基、フェノキシ基、アミノ基、水酸基及びアリル基からなる群より選択される官能基を有する2価の有機基である。)
(式(3)中、nは3〜25の整数であり、R6及びR7は同一又は異なって、水素、水酸基、アルキル基、アルコキシ基又はグリシジル基である。)
封止シートの作製方法を以下に説明する。本実施形態の封止シートの製造方法は、エラストマーを含む混練物を調製する混練工程、及び前記混練物をシート状に成形して封止シートを得る成形工程を含み、前記混練工程において、前記封止シートのエラストマーがドメイン状に分散し、該ドメインの最大径が20μm以下となるように混練する。
まず、上述の各成分を混合することによりエポキシ樹脂組成物を調製する。混合方法は、各成分が均一に分散混合される方法であれば特に限定するものではない。その後、エラストマーを含む各配合成分を直接ニーダー等で混練することにより混練物を調製する。この際、封止シートのエラストマーがドメイン状に分散し、該ドメインの最大径が20μm以下となるように混練する。
得られる混練物をシート状に押出成形により成形することにより、封止シート11を得ることができる。具体的には、溶融混練後の混練物を冷却することなく高温状態のままで、押出成形することで、封止シート11を形成することができる。このような押出方法としては、特に制限されず、Tダイ押出法、ロール圧延法、ロール混練法、共押出法、カレンダー成形法などが挙げられる。押出温度としては、上記した各成分の軟化点以上であれば、特に制限されないが、エポキシ樹脂の熱硬化性および成形性を考慮すると、例えば40〜150℃、好ましくは、50〜140℃、さらに好ましくは70〜120℃である。以上により、封止シート11を形成することができる。
次に、上記封止シートを用いる本実施形態に係る電子部品パッケージの製造方法について図2A〜2Cを参照しつつ説明する。図2A〜2Cはそれぞれ、本発明の一実施形態に係る電子部品パッケージの製造方法の一工程を模式的に示す断面図である。本実施形態では、基板上に搭載された電子部品を封止シートにより中空封止して電子部品パッケージを作製する。なお、本実施形態では、電子部品としてSAWフィルタを用い、被着体としてプリント配線基板を用いているが、これら以外の要素を用いてもよい。例えば、電子部品としてコンデンサやセンサデバイス、発光素子、振動素子等、被着体としてリードフレーム、テープキャリア等を用いることができる。また、被着体を用いずに、仮固定材上に電子部品を仮固定しておき、これらを樹脂封止することもできる。いずれの要素を用いても、電子部品の樹脂封止による高度な保護を達成することができる。また、中空封止しているが、封止対象によってはアンダーフィル材等を用いて中空部分を含まないよう中実封止してもよい。
SAWチップ搭載基板準備工程では、複数のSAWチップ13が搭載されたプリント配線基板12を準備する(図2A参照)。SAWチップ13は、所定の櫛形電極が形成された圧電結晶を公知の方法でダイシングして個片化することにより形成することができる。SAWチップ13のプリント配線基板12への搭載には、フリップチップボンダーやダイボンダーなどの公知の装置を用いることができる。SAWチップ13とプリント配線基板12とはバンプ等の突起電極13aを介して電気的に接続されている。また、SAWチップ13とプリント配線基板12との間は、SAWチップ表面での表面弾性波の伝播を阻害しないように中空部分14を維持するようになっている。SAWチップ13とプリント配線基板12との間の距離は各要素の仕様によって決定され、一般的には15〜50μm程度である。
封止工程では、SAWチップ13を覆うようにプリント配線基板12へ封止シート11を積層し、SAWチップ13を上記封止シートで樹脂封止する(図2B参照)。この封止シート11は、SAWチップ13及びそれに付随する要素を外部環境から保護するための封止樹脂として機能する。
封止体形成工程では、上記封止シートを熱硬化処理して封止体15を形成する(図2B参照)。封止シートの熱硬化処理の条件は、加熱温度として好ましくは100℃から200℃、より好ましくは120℃から180℃、加熱時間として好ましくは10分から180分、より好ましくは30分から120分の間、必要に応じて加圧しても良い。加圧の際は、好ましくは0.1MPaから10MPa、より好ましくは0.5MPaから5MPaを採用することができる。
続いて、封止シート11、プリント配線基板12、及びSAWチップ13などの要素からなる封止体15のダイシングを行ってもよい(図2C参照)。これにより、SAWチップ13単位での電子部品パッケージ18を得ることができる。ダイシングは、通常、従来公知のダイシングシートにより上記封止体15を固定した上で行う。
必要に応じて、上記で得られた電子部品パッケージ18に対して再配線及びバンプを形成し、これを別途の基板(図示せず)に実装する基板実装工程を行うことができる。電子部品パッケージ18の基板への実装には、フリップチップボンダーやダイボンダーなどの公知の装置を用いることができる。
第1実施形態では、各配合成分をニーダー等で混練して混練物を調製し、この混練物を押出成形してシート状に形成している。これに対し、本実施形態では、各成分を有機溶剤等に溶解又は分散したワニスを塗工してシート状に形成する。塗工法では、エラストマーを溶剤等に溶解又は分散させた状態でシート成膜が可能であるので、エラストマーのドメインサイズを微小化することができる。
(封止シートの作製)
以下の成分をミキサーにてブレンドし、2軸混練機により、混練回転数を300rpm、混練処理量を5kg/hrとし、110℃で10分間溶融混練し、続いてTダイから押出しすることにより、厚さ200μmの封止シートを作製した。
フェノール樹脂:ビフェニルアラルキル骨格を有するフェノール樹脂(明和化成社製、MEH−7851−SS(水酸基当量203g/eq.、軟化点67℃)) 3.6部
エラストマー:(三菱レーヨン社製、メタブレンC−132E) 2.3部
無機充填剤:球状溶融シリカ(電気化学工業社製、FB−9454FC)87.9部
シランカップリング剤:エポキシ基含有シランカップリング剤(信越化学工業(株)製、KBM−803) 0.5部
カーボンブラック(三菱化学(株)製、MA600) 0.1部
難燃剤:((株)伏見製薬所製、FP−100) 1.8部
硬化促進剤:イミダゾール系触媒(四国化成工業社製、2PHZ−PW) 0.4部
混練処理量を3.5kg/hrとしたこと以外は、実施例1と同様に封止シートを作製した。
混練回転数を500rpmとしたこと以外は、実施例1と同様に封止シートを作製した。
混練回転数を1000rpmとしたこと以外は、実施例1と同様に封止シートを作製した。
以下の成分をメチルエチルケトンとトルエンとの1:1混合溶剤に溶解ないし分散し、固形分40重量%のワニスを作製した。
フェノール樹脂:ビフェニルアラルキル骨格を有するフェノール樹脂(明和化成社製、MEH−7851−SS(水酸基当量203g/eq.、軟化点67℃)) 3.6部
エラストマー:((株)カネカ製、SIBSTAR 102T) 4.0部
無機充填剤:球状溶融シリカ(電気化学工業社製、FB−9454FC)87.0部
カーボンブラック(三菱化学(株)製、♯20) 0.1部
難燃剤:((株)伏見製薬所製、FP−100) 1.8部
硬化促進剤:イミダゾール系触媒(四国化成工業社製、2PHZ−PW) 0.1部
混練回転数を100rpmとしたこと以外は、実施例1と同様に封止シートを作製した。
混練回転数を50rpmとしたこと以外は、実施例1と同様に封止シートを作製した。
実施例及び比較例の封止用シートを、幅60mm×長さ60mmに切り出し、封止シートの両端部(平面視で対向する辺)を把持し、ゆっくりと90°折り曲げて、可撓性を下記の基準により評価した。結果を表1に示す。
○:90°折り曲げても割れなかった。
△:90°折り曲げるとヒビが入った。
×:90°折り曲げると割れた。
作製した封止シートを150℃で1時間熱硬化して室温まで徐冷した後、得られた硬化物をカッターにて切断した。切断面をビューラー製自動研磨装置にて研磨し、研磨後の切断面をSEM(2000倍)により観察した。図3に、実施例1の封止シートの切断面のSEM観察像を示す。SEM観察像において黒色で示される領域がエラストマーのドメインである。次いで、この黒色で示されるエラストマーのドメインをランダムに50点選び、それらの最大径を測定して平均値をとることでドメインの最大径とした。他の実施例2〜5及び比較例1〜2についても同様にSEM観察及び最大径の測定を行った。最大径測定の結果を表1に示す。
アルミニウム櫛形電極が形成された以下の仕様のSAWチップを下記ボンディング条件にてガラス基板に実装したSAWチップ実装基板を作製した。
チップサイズ:1.4×1.1mm□(厚さ150μm)
バンプ材質:Au 高さ30μm
バンプ数:6バンプ
チップ数:100個(10個×10個)
装置:パナソニック電工(株)製
ボンディング条件:200℃、3N、1sec(超音波出力2W)
温度:60℃
加圧力:4MPa
真空度:1.6kPa
プレス時間:1分
11a 支持体
13 SAWチップ
15 封止体
18 電子部品パッケージ
Claims (9)
- エラストマーのドメインが分散しており、該ドメインの最大径が20μm以下である封止シート。
- 前記エラストマーがゴム成分を含む請求項1に記載の封止シート。
- 前記ゴム成分が、ブタジエン系ゴム、スチレン系ゴム、アクリル系ゴム、シリコーン系ゴムからなる群より選択される少なくとも1種である請求項2に記載の封止シート。
- 前記エラストマーの含有量が1.0重量%以上3.5重量%以下である請求項1〜3のいずれか1項に記載の封止シート。
- 熱硬化性樹脂をさらに含む請求項1〜4のいずれか1項に記載の封止シート。
- 60℃における前記エラストマーの引張弾性率Eeの前記熱硬化性樹脂の引張弾性率Etに対する比Ee/Etが5×10−5以上1×10−2以下である請求項5に記載の封止シート。
- エラストマーを含む混練物を調製する混練工程、及び
前記混練物をシート状に成形して封止シートを得る成形工程
を含み、
前記混練工程において、前記封止シートのエラストマーがドメイン状に分散し、該ドメインの最大径が20μm以下となるように混練する封止シートの製造方法。 - 前記混練工程における混練回転数r(rpm)の混練処理量t(kg/hr)に対する比r/tが60以上である請求項7に記載の封止シートの製造方法。
- 一又は複数の電子部品を覆うように請求項1〜6のいずれか1項に記載の封止シートを該電子部品上に積層する積層工程、及び
前記封止シートを硬化させて封止体を形成する封止体形成工程
を含む電子部品パッケージの製造方法。
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