JP2014183134A - 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】リードフレームの半導体素子搭載部及び/又は端子部の側面には、該半導体素子搭載部及び/又は端子部の上下面より突出した突起部4を備え、該突起部4の先端部5は略平面あるいは円弧状をなしていて肉厚である。
【選択図】図4
Description
2 レジスト
3 レジスト(突起部形成用)
4 形成された突起部
5 突起部先端
Claims (11)
- 半導体素子搭載部及び/又は端子部の側面に、該半導体素子搭載部及び/又は端子部の上下面より突出した突起部を備え、該突起部の先端は略平面あるいは円弧状をなしていて肉厚であることを特徴とするリードフレーム。
- 半導体素子が上面に搭載される半導体素子搭載部及び/又は上面にワイヤボンディングされる端子部の側面には、前記半導体素子搭載部あるいは端子部の下面より突出した上面側が形成され、その突出した上面側の下方には上面より更に突出した突起部が形成され、該突起部は25μm以上の厚さを有することを特徴とするリードフレーム。
- 半導体素子が上面に搭載される半導体素子塔載部及び上面にワイヤボンディングされる端子部の側面に形成される前記半導体素子塔載部或いは端子部の下面より突出した上面側が形成され、その突出した上面側の下方には上面より更に突出した突起部が形成され、該突起部の先端部の下方側の角から更に突起部が下面側に延びていることを特徴とするリードフレーム。
- 前記半導体素子塔載部及び端子部の側面が、粗化処理により粗面化されていることを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載のリードフレーム。
- 前記半導体素子塔載部及び/又は端子部の側面の粗化面にはめっきが施されていないことを特徴とする請求項4に記載のリードフレーム。
- 前記粗化面は、0.12〜0.2μmの平均粗さを有することを特徴とするリードフレーム。
- 半導体素子塔載部及び端子部の外形から一定の間隔を置いてエッチング速度制御用ダミーパターンを表裏に配置することによりエッチング速度を制御し、リードフレームパターンのエッチング側面に突起部を形成するようにしたことを特徴とするリードフレームの製造方法。
- 前記エッチング速度制御用ダミーパターンと前記半導体素子塔載部及び端子部外形との距離は表裏で異なることを特徴とする請求項7に記載のリードフレームの製造方法。
- 前記エッチング速度制御用ダミーパターンのサイズ及び形状は、リードフレームの表裏で異なることを特徴とする請求項7又は8に記載のリードフレームの製造方法。
- 前記半導体素子塔載部及び端子部の外形から一定の間隔を置いてエッチング速度制御用パターンを表裏に配置することにより、パターン側面に突起部を形成するようにしたリードフレームの製造方法において、前記半導体素子塔載部を含む面のリードフレームパターンとエッチング速度制御用パターンの間隔よりも裏面側の実装用端子を含む面のリードフレームパターンとエッチング速度制御用パターンとの間隔を広く取ったことを特徴とする請求項7,8又は9に記載のリードフレームの製造方法。
- 前記リードフレームの製造方法において、リードフレームパターン形成のためのエッチング後にエッチングレジストを残した状態で、露出している金属板の側面を粗化液で処理することにより半導体素子塔載部及び端子部の側面に粗化面を形成するようにしたことを特徴とする請求項7乃至10の何れかに記載のリードフレームの製造方法。
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016058479A (ja) * | 2014-09-08 | 2016-04-21 | Shマテリアル株式会社 | 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法 |
CN105655259A (zh) * | 2014-12-01 | 2016-06-08 | 友立材料株式会社 | 引线框的制造方法 |
JP2017017086A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | Shマテリアル株式会社 | 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法 |
US9966521B2 (en) | 2016-01-22 | 2018-05-08 | Nichia Corporation | Light emitting device |
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6291713B2 (ja) | 2013-03-14 | 2018-03-14 | 日亜化学工業株式会社 | 発光素子実装用基体及びそれを備える発光装置、並びにリードフレーム |
JP6270052B2 (ja) * | 2014-12-05 | 2018-01-31 | Shマテリアル株式会社 | リードフレーム及びその製造方法 |
US10535812B2 (en) * | 2017-09-04 | 2020-01-14 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device |
CN111668184B (zh) * | 2020-07-14 | 2022-02-01 | 甬矽电子(宁波)股份有限公司 | 引线框制作方法和引线框结构 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0457348A (ja) * | 1990-06-27 | 1992-02-25 | Toppan Printing Co Ltd | 金属薄板とその金属薄板の抜きパターン形成方法、および金属加工薄板 |
JP2012164877A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | Shinko Electric Ind Co Ltd | リードフレーム、リードフレームの製造方法、半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP2012182207A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Toppan Printing Co Ltd | Led素子用リードフレームおよびその製造方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4862246A (en) * | 1984-09-26 | 1989-08-29 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor device lead frame with etched through holes |
US5866939A (en) * | 1996-01-21 | 1999-02-02 | Anam Semiconductor Inc. | Lead end grid array semiconductor package |
US5977630A (en) * | 1997-08-15 | 1999-11-02 | International Rectifier Corp. | Plural semiconductor die housed in common package with split heat sink |
US6714839B2 (en) * | 1998-12-08 | 2004-03-30 | Intuitive Surgical, Inc. | Master having redundant degrees of freedom |
DE69710903T2 (de) * | 1997-11-28 | 2002-09-19 | Nexans | Aussenschutz mit Abschirmungsunterbrechung für Hochspannungskabelverbindung |
US6143981A (en) * | 1998-06-24 | 2000-11-07 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
US6281568B1 (en) * | 1998-10-21 | 2001-08-28 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit device package and leadframe having partially undercut leads and die pad |
US6734536B2 (en) | 2001-01-12 | 2004-05-11 | Rohm Co., Ltd. | Surface-mounting semiconductor device and method of making the same |
JP4574868B2 (ja) | 2001-01-12 | 2010-11-04 | ローム株式会社 | 半導体装置 |
TW200418149A (en) * | 2003-03-11 | 2004-09-16 | Siliconware Precision Industries Co Ltd | Surface-mount-enhanced lead frame and method for fabricating semiconductor package with the same |
JP5710128B2 (ja) | 2010-01-19 | 2015-04-30 | 大日本印刷株式会社 | 樹脂付リードフレームの製造方法 |
US8519518B2 (en) * | 2010-09-24 | 2013-08-27 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit packaging system with lead encapsulation and method of manufacture thereof |
-
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0457348A (ja) * | 1990-06-27 | 1992-02-25 | Toppan Printing Co Ltd | 金属薄板とその金属薄板の抜きパターン形成方法、および金属加工薄板 |
JP2012164877A (ja) * | 2011-02-08 | 2012-08-30 | Shinko Electric Ind Co Ltd | リードフレーム、リードフレームの製造方法、半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
JP2012182207A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | Toppan Printing Co Ltd | Led素子用リードフレームおよびその製造方法 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016058479A (ja) * | 2014-09-08 | 2016-04-21 | Shマテリアル株式会社 | 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法 |
CN105655259A (zh) * | 2014-12-01 | 2016-06-08 | 友立材料株式会社 | 引线框的制造方法 |
JP2017017086A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | Shマテリアル株式会社 | 半導体素子搭載用リードフレーム及びその製造方法 |
US9966521B2 (en) | 2016-01-22 | 2018-05-08 | Nichia Corporation | Light emitting device |
TWI831943B (zh) | 2019-03-22 | 2024-02-11 | 長華科技股份有限公司 | 導線架 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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