JP2014152021A - ワーク搬送装置 - Google Patents

Abstract

【課題】搬送されてきたワークを両側から取り扱うことができるワーク搬送装置を提供する。
【解決手段】この発明のワーク搬送装置１０は、一方の面１６ｂから他方の面１６ａに亘って貫通するキャビティ部２２を有する搬送ローター１６と、前記搬送ローター１６の他方の面１６ａ側に配置され、前記キャビティ部２２を覆う第１の搬送ベース１４と、を備え、前記第１の搬送ベース１４は、前記搬送ローター１６が回転する際にキャビティ部２２が通る軌道の一部を露出させる開放部３４を有し、前記搬送ローター１６の一方の面１６ｂ側には、前記第１の搬送ベース１４の開放部３４の領域において、前記搬送ローター１６のキャビティ部２２を覆う第２の搬送ベース５０が配置されている。
【選択図】図１

Description

この発明は、ワーク搬送装置に関し、特にたとえば、チップ型コンデンサなどのチップ型電子部品を個別に搬送するためのチップ部品搬送装置に関する。

積層セラミックコンデンサ等のワーク（チップ部品）を搬送する装置として、回転する搬送ローターに設けられた貫通孔にワーク（チップ部品）を収容して搬送するように構成された搬送装置がある。
例えば、特開２００７−４５５９７号公報（特許文献１）や特表２０００−５０１１７４号公報（特許文献２）には、パーツフィーダーによって供給され、搬送ローターのキャビティに振り込まれたワーク（チップ部品）を、搬送ローターの裏面に配置される搬送ベースに設けられた吸引溝を介して、キャビティに吸引保持するチップ部品搬送装置が開示されている。
また、搬送装置において、チップ部品を搬送すると同時に、チップ部品の種々の検査を行うことも行われている。
例えば、特開２００１−１６５６２３号公報（特許文献３）には、以下の構成を備える検査装置が開示されている。
表裏面を貫通したポケット（ワークの収容穴）が円弧状に配列された回転テーブル（ローター）と、
回転テーブル（ローター）の背面に配置される固定テーブル（搬送ベース）と、を有する検査装置。
該検査装置において、固定テーブル（搬送ベース）には、ポケット（ワークの収容穴）に隣接する位置に撮像開口が設けられており、該撮像開口にはガラスが介装されている。
この回転テーブルと固定テーブルとを挟むように、ポケットとガラスの位置から、カメラでチップ部品（ワーク）の外観等を撮像し検査する。

特開２００７−４５５９７号公報 特表２０００−５０１１７４号公報 特開２００１−１６５６２３号公報

しかしながら、特許文献１及び特許文献２の搬送装置は、ワーク（チップ部品）を片面からしか検査等をすることができないという制約がある。
例えば、特許文献３のようにチップ部品の外観検査を行う場合、チップ部品の両面を撮像するにはカメラ側での撮像がガラス越しの撮影となる。そのために、ガラスによる光量の低下/収差やガラス表面の異物付着、キズなどにより、カメラによる検査精度が低下するという問題がある。

それゆえに、この発明の主たる目的は、搬送されてきたワークを両側から取り扱うことができるワーク搬送装置を提供することである。

この発明にかかるワーク搬送装置は、一方の面から他方の面に亘って貫通するキャビティ部を有する搬送ローターと、前記搬送ローターの他方の面側に配置され、前記キャビティ部を覆う第１の搬送ベースと、を備える搬送装置であって、前記第１の搬送ベースは、前記搬送ローターが回転する際にキャビティ部が通る軌道の一部を露出させる開放部を有し、前記搬送ローターの一方の面側には、前記第１の搬送ベースの開放部の領域において、前記搬送ローターのキャビティ部を覆う第２の搬送ベースが配置されていることを特徴とする、ワーク搬送装置である。
好ましくは、第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、前記開放部の受け渡し入り口及び／又は受け渡し出口の領域において、前記搬送ローターの一方の面に対して垂直方向から視て、一部重なり部分を有するように形成される。
この場合、一部重なるところがあるので、ワークを落とさせずうまくスライドして搬送できる。
好ましくは、第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、前記重なり部分において、第１の搬送ベース及び／又は第２の搬送ベースの端の搬送ローターに向き合う面に、搬送ローターから離れて、搬送ローターからワークの一部が突出することを制限するためのワーク突出規制部を形成される。
この場合、傾斜部分によってワーク（チップ部品）をスライドして搬送させやすくなる。また、ワーク（チップ部品）が受け手側の搬送ベースに当たることを防ぐことができる。
好ましくは、第１の搬送ベースと、第２の搬送ベースとは、前記重なり部分において、第１の搬送ベース及び／又は第２の搬送ベースの端の搬送ローターに向き合う面に形成された、傾斜、凹みあるいは段差によるワーク突出規制部を有するように形成される。
この場合、傾斜もしくは段差により比較的衝撃を受けることなくワークを搬送することができる。
好ましくは、前記第１の搬送ベース及び第２の搬送ベースは、ワークを吸引する吸引機構を備えるように形成される。
この場合、ワーク（チップ部品）を吸引することにより、ワーク（チップ部品）を保持しやすくなる。また、ワーク（チップ部品）を吸引することにより、キャビティ部内においてワーク（チップ部品）の位置を限定することができる。引いては、検査アルゴリズムの簡略化による処理時間の短縮化や精度アップを図ることができる。
好ましくは、前記第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、垂直方向から視て、それぞれに備える吸引機構が重ならないように形成される。
この場合、ワーク（チップ部品）を安定して搬送することができる。
好ましくは、前記第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、垂直方向から視て、それぞれに備える吸引機構が重なり、該重なり部分において、受け取り側の吸引力を渡し側の吸引力よりも強くするように形成してもよい。
この場合、重なりを有するので、ワーク（チップ部品）がキャビティ部から外れにくい。また、受け手の吸引力を強くすることによって、受け手側の搬送ベースによりワーク（チップ部品）を保持することができる。
好ましくは、前記搬送ローターの一方の面側に設けられた第１の検査機構と、前記搬送ローターの他方の面側に設けられた第２の検査機構とを、更に備えるように形成される。
この場合、特許文献２のようなガラス越しに撮像する構造では、設備を永く稼働させるにつれて、ガラスに傷や汚れ等が付着し検査精度の低下が発生することになるのに対し、ガラスを使用しないため、ガラスを原因とする検査精度の低下が無く、メンテナンスのための時間などの短縮が図れる。
また、第１の搬送ベースの開放部にガラスを設けないこととした代わりに、反対面に設けた第２の搬送ベースによりワーク（チップ部品）を保持することができるため、他方の面（裏面）から精度良い検査が可能となる。
好ましくは、キャビティ部の一方の面側から他方の面側の厚み寸法は、ワークの長さよりも短く形成される。
この場合、キャビティ部からワーク（チップ部品）の一部が突出することになるので、検査精度が向上する。また、キャビティ部とワーク（チップ部品）の高さが異なるため、カメラのレンズのピントがワーク（チップ部品）の面とキャビティ部の淵においてずらすことが可能となり、ワーク（チップ部品）の外形の検出が容易になる。
好ましくは、前記ワークは、前記搬送ローターのキャビティ部に嵌挿される面を備える、チップ形電子部品に形成される。

この発明によれば、搬送されてきたワークを両側から取り扱うことができる。

この発明の上述の目的、その他の目的、特徴及び利点は、図面を参照して行う以下の発明を実施するための形態の説明から一層明らかとなろう。

この発明の一実施の形態であるチップ部品搬送装置の一部を示す正面図解図である。 この発明の一実施の形態であるチップ部品搬送装置の全体を示す正面図解図である。 図１に示すチップ部品搬送装置で搬送されるチップ部品の一例を示す斜視図である。 図１に示すチップ部品搬送装置の要部を示す平面図解図である。 図４に示すチップ部品搬送装置の内部構造を示す断面図解図である。 図４に示すチップ部品搬送装置の内部構造を示す断面図解図である。 図４に示すチップ部品搬送装置の内部構造を示す断面図解図である。 チップ部品搬送装置の第２の搬送ベースの配置を示す図解図である。 この発明のチップ部品搬送装置の要部の構造を示す断面図解図であり、（Ａ）はワークをキャビティ部に収容した状態を示す図であり、（Ｂ）はワークをキャビティ部に収容していない状態を示す図である。 この発明のチップ部品搬送装置の要部の構造を示す断面図解図である。 この発明のチップ部品搬送装置の要部の構造を示す断面図解図である。 この発明のチップ部品搬送装置のさらに他の例を示す斜視図解図である。

図１及び図２は、この発明の一実施の形態であるチップ部品搬送装置を示す正面図解図である。

チップ部品搬送装置１０は、ベースプレート１２を有する。
本実施の形態では、ベースプレート１２は、設置スペースにおいて鉛直方向に延びるように立設されている。
なお、ベースプレート１２は、鉛直方向から傾斜されていてもよく、またベースプレート１２は、水平方向に延びるように配置されていてもよい。

ベースプレート１２の一方面１２ａ上に、第１の搬送ベース１４が配置されている。
第１の搬送ベース１４は、本実施の形態では、円板状のプレートであるが、角板状等の他の形状を有していてもよい。
第１の搬送ベース１４は、ベースプレート１２に対して固定されている。
第１の搬送ベース１４の一方主面は、チップ部品１００をスライドさせて搬送するための搬送面１４ａとして用いられる。搬送面１４ａは、平滑な面で構成される。

第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ上には、搬送媒体としての搬送ローター１６が配置される。
搬送ローター１６は、円板状の形状を有する。搬送ローター１６は、例えば金属もしくは合成樹脂などの硬質材料からなる。
搬送ローター１６は、中心軸１８の周りに回転し得るように配置されており、該中心軸１８が、第１の搬送ベース１４を貫通するようにして駆動装置２０に連結されている。駆動装置２０により、搬送ローター１６は、時計回りに回転移動されるように構成されている。

なお、本実施の形態では、搬送ローター１６が中心軸１８の周りに時計回りに回転されるが、搬送ローター１６が固定されており、第１の搬送ベース１４が中心軸１８周りに回転するように構成されてもよく、また、第１の搬送ベース１４と搬送ローター１６の双方が中心軸１８の周りに異なる速度で回転するように構成してもよく、あるいは逆方向に回転されるように構成されてもよい。
すなわち、搬送ローター１６が、相対的に第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａに対して移動されるように構成されておりさえすればよい。

この搬送ローター１６の外周の近傍には、複数のキャビティ部２２が周方向に整列配置されている。
搬送ローター１６は、円盤状に形成され、その中心点に対して同心円状に複数のキャビティ部２２が形成される。キャビティ部２２は、搬送ローター１６の両主面を貫通するようにして、四角形状に形成される。なお、図４においては、キャビティ部２２は、配置が円形になるように並べられた１列のみを示してあるが、実際には、図１に示すように、同心円状に複数列のキャビティ部２２が形成される。
キャビティ部２２は、ワークとしてのチップ型電子部品が嵌挿される収納部を構成している。

搬送ローター１６は、面内方向が鉛直方向から傾斜されていてもよく、また、水平方向に延びるように配置されていてもよい。
搬送ローター１６が面内方向が鉛直方向から傾斜されていると、チップ部品１００をキャビティ部２２に収容しやすい。
搬送ローター１６は、面内方向が水平方向に延びるように配置されていると、表面と裏面のどちらが開放された場合も搬送ロータ１６の面方向に重力がかからないため、キャビティ部２２からチップ部品１００が落ちにくい。

図４及び図６から明らかなように、搬送ローター１６は、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ上に当接もしくは近接されている第１の主面１６ａと、第１の主面１６ａとは反対側の面である第２の主面１６ｂとを有する。キャビティ部２２は、第１の主面１６ａから第２の主面１６ｂに亘って貫通している。キャビティ部２２は、第１の主面１６ａ及び第２の主面１６ｂと直交ないしは交差する面であって、チップ部品１００の外周面に対向する面を備える。
キャビティ部２２の第２の主面１６ｂにおける挿入口は、チップ部品１００が入り込み得る大きさの開口を形成されている。
第１の主面１６ａとは、第１の搬送ベース１４側の面であり、第２の主面１６ｂとは、チップ部品１００の投入側の面であって、キャビティ部２２におけるチップ部品１００の挿入口側の面である。

本実施の形態では、キャビティ部２２は、第２の主面１６ｂにおいて四角形状の開口形状を有する挿入口部を設けられている。なお、開口形状は円形状であっても良い。
本実施の形態では、この複数のキャビティ部２２は、周方向に２列形成されている。
もっとも、複数のキャビティ部２２からなる列の数は、特に限定されず、１列、あるいは３列以上の形態で、複数のキャビティ部２２が配置されてもよい。

搬送ローター１６は、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ側の第１の主面１６ａ側において、キャビティ部２２に連なる第１の吸引溝４０を形成されている。
第１の吸引溝４０は、同心円状に配列されたキャビティ部２２の外周側において、それぞれのキャビティ部２２の第１の搬送ベース１４側（チップ部品１００の挿入口とは反対側）に形成される。
又、搬送ローター１６は、第１の吸引溝４０とは反対側において、キャビティ部２２に連なる第２の吸引溝４２を形成されている。
第２の吸引溝４２は、同心円状に配列されたキャビティ部２２の外周側において、それぞれのキャビティ部２２の前記第１の吸引溝４０とは反対側（チップ部品１００の挿入口側）に形成される。

チップ部品搬送装置１０は、チップ部品供給部２４が設けられ、チップ部品搬送装置１０により搬送されるワークであるチップ部品１００が供給される。
チップ部品搬送装置１０で搬送されるチップ部品１００は、搬送途中に設けられた第１チップ部品検査機構２６及び第２チップ部品検査機構２８まで搬送され、複数の特性が測定される。

チップ部品搬送装置１０で搬送し、検査される、ワークたるチップ部品１００は、図３に示すように、たとえば略直方体又は略立方体の基体１０２の両端に外部電極１０４が形成されたものである。このようなチップ部品１００の例としては、たとえばチップ型コンデンサなどがあるが、それに限られず、チップ型の部品であれば何でもよい。

チップ部品１００は、図４及び図６に示すように、前記キャビティ部２２に、搬送ローター１６の第２の主面１６ｂ側から、チップ部品供給部２４により挿入される。このチップ部品供給部２４としては、ホッパー、フィーダーや適宜の電子部品供給装置を用いることができ、特に限定されるものではない。

第１の搬送ベース１４は、図５において、前記搬送ローター１６を取り外し、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａを露出させた状態を示すように、搬送面１４ａには、２ないし４本の環状の第１の吸引用溝部３０及び吸引用溝部（図示せず）が、同心円上に設けられている。
この第１の吸引用溝部３０は、第１の搬送ベース１４上に配置されている搬送ローター１６のキャビティ部２２の一部に後述の第１の吸引溝４０及び吸引溝（図示せず）を介して連ねられるように、複数のキャビティ部２２の間の間隔より広い間隔をおいて、設けられている。同心円上に２ないし４本の第１の吸引用溝部３０が設けられているのは、複数のキャビティ部２２が周方向に２ないし４列整列配置されていることによる。
すなわち、一方の第１の吸引用溝部３０は、複数のキャビティ部２２からなる２ないし４列の内、外側の列の径方向外側に位置しており、他方の第１の吸引用溝部３０は、キャビティ部２２の小さな径の列の径方向外側に位置されている。
そして、外側の列のキャビティ部２２に、第１の吸引溝４０を介して、第１の吸引用溝部３０が接続されており、内側の列のキャビティ部２２には、第１の吸引溝４０により、内側の第１の吸引用溝部３０が接続される。
第１の吸引用溝部３０の適宜な距離をおいて離れた２箇所に、吸引孔３２が形成される。吸引孔３２は、たとえば真空ポンプなどの真空発生源に連結される。
第１の吸引用溝部３０は、図６及び図７に示すように、真空発生源などとともに吸引機構を構成する。

第１の吸引溝４０は、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａであって搬送ローター１６の第１の主面１６ａ側において、キャビティ部２２に連なる。第１の吸引溝４０は、同心円状に配列されたキャビティ部２２の外周側において、それぞれのキャビティ部２２の第１の搬送ベース１４側（チップ部品１００の挿入口とは反対側）に形成される。この第１の吸引溝４０は、その一部が前記第１の吸引用溝部３０に重なり合う位置に設けられている。そして、円形に配置された１列のキャビティ部２２の外側の第１の吸引溝４０は、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ側のリング状の第１の吸引用溝部３０と連結される。
第１の吸引溝４０は、第１の吸引用溝部３０とともに吸引機構を構成する。

図６及び図７に示すように、前記キャビティ部２２は、第１の主面１６ａ側において、搬送ローター１６の径方向に延びる第１の吸引溝４０に連ねられている。
従って、チップ部品１００は、第１の吸引用溝部３０から真空発生源により吸引することによって、その負圧によりキャビティ部２２内において正しい位置に保持される。

前記第１の搬送ベース１４は、前記搬送ローター１６が回転する際にキャビティ部２２が通る軌道の一部を露出させる開放部３４を備える。
開放部３４は、第１の搬送ベース１４の外周縁より中心軸１８側に向けて、平面視略扇形に開口するように、第１の搬送ベース１４の一部を穿たれて形成されている。
開放部３４は、第２チップ部品検査機構２８で検査できる長さ及び幅を備える。
開放部３４は、搬送ローター１６の回転方向において、チップ部品供給部２４及び第１チップ部品検査機構２６より下流側に形成されている。

開放部３４は、搬送ローター１６の回転方向における上流側であって、キャビティ部２２が開放部３４の領域に入る受け渡し入り口側端３６と、搬送ローター１６の回転方向における下流側であって、キャビティ部２２が開放部３４の領域に入る受け渡し出口側端３８とを備える。

前記搬送ローター１６の一方の面側には、前記第１の搬送ベース１４の開放部３４の領域において、前記搬送ローター１６のキャビティ部２２を覆う第２の搬送ベース５０が配置されている。
図９及び図１０に示すように第２の搬送ベース５０は、搬送ローター１６の回転方向であって周方向にのびて複数個のキャビティ部２２を覆う長さと、搬送ローター１６の径方向にのびて複数列のキャビティ部２２を覆う幅とを備える、平面視扇形の板状体である。
第１の搬送ベース１４と第２の搬送ベース５０とは、前記開放部３４の受け渡し入り口側端３６及び／又はキャビティ部２２の受け渡し出口側端３８の領域において、前記搬送ローター１６の一方の面に対して垂直方向から視て、一部が重なる重なり部分を有する。この重なり部分は、第１の搬送ベース１４から第２の搬送ベース５０へチップ部品１００を受け渡す、受け渡し部６０を構成する。ここに、垂直方向とは、重力の方向ではなく、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ又は第２の搬送ベース５０の搬送面５０ａに略直交するか交差する方向をいう。
受け渡し部６０は、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収容されて搬送されるチップ部品１００を、搬送ローター１６の回転に伴い、上流側の第１の搬送ベース１４から下流側の第２の搬送ベース５０に受け渡す機能を備え、又、上流側の第２の搬送ベース５０から下流側の第１の搬送ベース１４に受け渡す機能を備える。第１の搬送ベース１４の第１の吸引用溝部３０と後述する第２の搬送ベース５０の第２の吸引用溝部８０とは、受け渡し部６０において重なり部分を有しないが、第１の吸引用溝部３０の下流側端と第２の吸引用溝部８０の上流側端とは図９及び図１０の図面上の上下方向において同一位置にある。
なお、第１の搬送ベース１４の第１の吸引用溝部３０と第２の搬送ベース５０の第２の吸引用溝部８０とが一部重なるところがあってもよい。重なっている場合、、チップ部品１００を落とさず、うまくチップ部品１００をスライドさせて、チップ部品１００の受け渡しができる。

受け渡し部６０は、第１の搬送ベース１４の受け渡し入り口側端３６の近傍の第１の受け渡し部６２と第２の搬送ベース５０の上流側（受け渡し入り口側端３６の近傍）の第２の受け渡し部６４とを含む。
第１の受け渡し部６２と第２の受け渡し部６４とは、それぞれ適宜な間隔をおいた平行な面で構成される。
この実施の形態においては、第１の受け渡し部６２は、チップ部品１００を第２の搬送ベース５０側に渡す、渡し口を構成し、第２の受け渡し部６４は、チップ部品１００を第１の搬送ベース１４から受け取る、受け取り口を構成する。
受け渡し部６０は、第１の搬送ベース１４の前記第１の受け渡し部６２より下流側（受け渡し出口側端３８の近傍）であって、開放部３４に臨む第３の受け渡し部６６と第２の搬送ベース５０の下流側（受け渡し出口側端３８の近傍）の第４の受け渡し部６８とを含む。
第３の受け渡し部６６と第４の受け渡し部６８とは、それぞれ適宜な間隔をおいた平行な面で構成される。
この実施の形態においては、第４の受け渡し部６８は、チップ部品１００を第２の搬送ベース５０側から再び第１の搬送ベース１４側に渡す、渡し口を構成し、第３の受け渡し部６６は、チップ部品１００を第２の搬送ベース５０側から受け取る、受け取り口を構成する。

第１の搬送ベース１４と第２の搬送ベース５０とは、前記重なり部分（開放部３４の受け渡し入口及び受け渡し出口）において、チップ部品１００の搬送ローター１６の主面から一部が突出することを防ぐためのワーク突出規制部７０を有する。
ワーク突出規制部７０は、第１の搬送ベース１４及び／又は第２の搬送ベース５０の端の搬送ローター１６に向き合う面が搬送ローター１６から離れるような、傾斜部分、凹み部分あるいは段差部分からなる。
また、ワーク突出規制部７０は、傾斜によって、チップ部品１００の受け渡し時に、チップ部品１００が受け手側の第２の搬送ベース５０及び第１の搬送ベース１４に当たるのを防ぐことができる。

第１の搬送ベース１４は、受け渡し部６０に至る前においては、一定の高さの平滑な搬送面１４ａを有しており、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収容されたチップ部品１００は、第１の搬送ベース１４側の一部が搬送面１４ａに接し合い、それとは反対側の一部が第１の搬送ベース１４とは反対側に突出した状態で、搬送ローター１６を摺動させる。
第１の搬送ベース１４の受け渡し部６０は、一定の高さの平滑な搬送面１４ａより漸次搬送ローター１６から離れる面を有しており、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収容されたチップ部品１００は、キャビティ部２２内で滑り落ちて傾斜あるいは凹み面に接し合う。
そして、チップ部品１００は、第１の搬送ベース１４とは反対側の搬送ローター１６の主面から突出した一部が、キャビティ部２２内に収容される。
搬送ローター１６の回転に伴い、第２の搬送ベース５０側に渡されたチップ部品１００は、チップ部品１００を受け取った第２の搬送ベース５０の搬送面５０ａの表面をスライドして搬送される。
第２の搬送ベース５０は、下流側の受け渡し部６０に至る前においては、一定の高さの搬送面５０ａを有しており、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収容されたチップ部品１００は、第２の搬送ベース５０側の一部が搬送面５０ａに接し合い、それとは反対側の一部が第２の搬送ベース５０とは反対側に突出した状態で、搬送ローター１６を摺動させる。
第２の搬送ベース５０の受け渡し部６０は、一定の高さの平滑な搬送面５０ａにより漸次搬送ローター１６から離れる面を有しており、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収容されたチップ部品１００は、第２の吸引溝４２及び第２の吸引用溝部８０によって真空吸引されて、第２の搬送ベース５０側に引っ張られる。
そして、チップ部品１００は、第２の搬送ベース５０とは反対側の搬送ローター１６の主面から突出した一部が、キャビティ部２２内に収容される。
チップ部品１００は、キャビティ部２２内に収容されて第１の搬送ベース１４の受け渡し部６０側において搬送ローター１６の表面より突出した部分が無い状態で、再び第１の搬送ベース１４の受け渡し部６０に渡される。
チップ部品１００は、搬送ローター１６の回転に伴い、受け取った第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａの表面をスライドして、搬送される。

第１の受け渡し部６２は、チップ部品１００の移送方向に沿って漸次その高さが低くなる、すなわちその厚さが薄くなって搬送ローター１６より離れる傾斜面ないし凹み面をもって構成されるワーク突出規制部７０を有する。
第２の受け渡し部６４は、チップ部品１００の移送方向に沿って漸次その高さが低くなる、すなわちその厚さが薄くなって搬送ローター１６より離れる傾斜面ないし凹み面をもって構成されるワーク突出規制部７０を有する。
第３の受け渡し部６６は、チップ部品１００の移動方向に沿って漸次その高さが高くなる、すなわちその厚さが薄くなって搬送ローター１６より離れる傾斜面ないし凹み面をもって構成されるワーク突出規制部７０を有する。
第４の受け渡し部６８は、チップ部品１００の移動方向に沿って漸次その高さが高くなる、すなわちその厚さが薄くなって搬送ローター１６より離れる傾斜面ないし凹み面をもって構成されるワーク突出規制部７０を有する。

第２の搬送ベース５０は、その下面が搬送ローター１６に対向して、チップ部品１００をスライドさせて搬送するための搬送面５０ａとして用いられる。
第２の搬送ベース５０の搬送面５０ａは、搬送ローター１６の第２の主面１６ｂと平行に形成された、平滑な面である。

第２の搬送ベース５０は、搬送面５０ａには、２ないし４本の円弧状の第２の吸引用溝部８０及び吸引用溝部（図示せず）が、同心円上に設けられている。
この第２の吸引用溝部８０は、第２の搬送ベース５０上に配置されている搬送ローター１６のキャビティ部２２の一部に後述の第２の吸引溝４２及び吸引溝（図示せず）を介して連ねられるように、複数のキャビティ部２２の間の間隔より広い間隔をおいて、設けられている。同心円上に２ないし４本の第２の吸引用溝部８０が設けられているのは、複数のキャビティ部２２が周方向に２ないし４列整列配置されていることによる。
すなわち、一方の第２の吸引用溝部８０は、複数のキャビティ部２２からなる２ないし４列の内、外側の列の径方向外側に位置しており、他方の第２の吸引用溝部８０は、キャビティ部２２の小さな径の列の径方向外側に位置されている。
そして、外側の列のキャビティ部２２に、第２の吸引溝４２を介して、第２の吸引用溝部８０が接続されており、内側の列のキャビティ部２２には、第２の吸引溝４２により、内側の第２の吸引用溝部８０が接続される。
第２の吸引用溝部８０には、吸引孔８２が形成される。吸引孔８２は、たとえば真空ポンプなどの真空発生源に連結される。
第２の吸引用溝部８０は、図６に示すように、真空発生源などとともに吸引機構を構成する。

第２の吸引溝４２は、搬送ローター１６の搬送面５０ａ側において、キャビティ部２２に連なる。第２の吸引溝４２は、同心円状に配列されたキャビティ部２２の外周側において、それぞれのキャビティ部２２の第２の搬送ベース５０側に形成される。この第２の吸引溝４２は、その一部が前記第２の吸引用溝部８０に重なり合う位置に設けられている。そして、円形に配置された１列のキャビティ部２２の外側の第２の吸引溝４２は、第２の搬送ベース５０の搬送面５０ａ側の円弧状の第２の吸引用溝部８０と連結される。
第２の吸引溝４２は、第２の吸引用溝部８０とともに、吸引機構を構成する。

図６に示すように、前記キャビティ部２２は、第２の主面１６ｂ側において、搬送ローター１６の径方向に延びる第２の吸引溝４２に連ねられている。
従って、チップ部品１００は、第２の吸引用溝部８０から真空発生源により吸引することによって、その負圧によりキャビティ部２２内において正しい位置に保持される。

前記第１の搬送ベース１４及び第２の搬送ベース５０は、チップ部品１００を吸引するための吸引機構を備えており、吸引機構によりキャビティ部２２の洞内を負圧化し、チップ部品１００を吸引することにより、チップ部品１００を保持したまま移動できる。
また、チップ部品１００を吸引することにより、キャビティ部２２内においてチップ部品１００の位置を限定することができる。引いては、検査アルゴリズムの簡略化による処理時間の短縮化や精度アップを図ることができる。

前記第１の搬送ベース１４と第２の搬送ベース５０とは、垂直方向から視て、それぞれに備える吸引機構が重ならないように形成されている。ここに、垂直方向とは、重力の方向ではなく、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ又は第２の搬送ベース５０の搬送面５０ａに略直交するか交差する方向をいう。
第１の搬送ベース１４側の第１の吸引溝４０と第２の搬送ベース５０側の第２の吸引溝４２とによって、チップ部品１００を両面から吸引されると、チップ部品１００が搬送ロータ１６の一方の主面もしくは他方の主面のどちらの面から突出するのかコントロールできなくなり、安定しなくなるおそれがあるため、第１の搬送ベース１４側の第１の吸引溝４０と第２の搬送ベース５０側の第２の吸引溝４２とが重ならない方がよい。

なお、それぞれの吸引機構が重なっている場合は、第１の搬送ベース１４と第２の搬送ベース５０とは、同時に吸引しないほうがよい。第１の搬送ベース１４側の第１の吸引溝４０と第２の搬送ベース５０側の第２の吸引溝４２とによって、チップ部品１００を両側から同時に吸引すると、チップ部品１００の頭部をキャビティ部２２から頭出しする頭出し方向を変えることができず、キャビティ部２２から突出部分が、受け渡される方の搬送ベースに接触してしまうおそれがあるからである。

また、第１の搬送ベース１４に設けられた第１の吸引用溝部３０と第２の搬送ベース５０に設けられた第２の吸引用溝部８０は、前記搬送ローター１６の表面（回転方向）に対して垂直方向から視て、重なっていない方が好ましい。ここに、垂直方向とは、重力の方向ではなく、搬送ローター１６の第１の主面１６ａ又は第２の主面１６ｂに略直交するか交差する方向をいう。
また、図１１に示すように、第１の搬送ベース１４に設けられた第１の吸引用溝部３０と第２の搬送ベース５０に設けられた第２の吸引用溝部８０は、前記搬送ローター１６の表面（回転方向）に対して垂直方向から視たときに、重なっている場合には、渡す側の吸引力に比べて、受け取る側の吸引力を強くするとよい。

このチップ部品搬送装置１０は、前記搬送ローター１６の一方の面側に設けられた第１チップ部品検査機構２６と、前記搬送ローター１６の他方の面側に設けられた第２チップ部品検査機構２８とを、更に備える。

第１チップ部品検査機構２６は、チップ部品１００の外観を撮像することができるカメラを有し、且つ、カメラによる撮像される部分を明るくするための照明を有する。
第１チップ部品検査機構２６は、開放部３４より上流側において、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収納されて移送されるチップ部品１００の上側及びその近傍を撮像するために、設けられる。

第２チップ部品検査機構２８は、チップ部品１００の外観を撮像することができるカメラを有し、且つ、カメラによる撮像される部分を明るくするための照明を有する。
第２チップ部品検査機構２８は、開放部３４において、搬送ローター１６のキャビティ部２２に収納されて移送されるチップ部品１００の下側及びその近傍を撮像するために、設けられる。
第２チップ部品検査機構２８のカメラと搬送ローター１６のキャビティ部２２に収納されたチップ部品１００との間に、ガラスが介在しないため、ガラスの傷や汚れ等による検査精度の低下が無く、メンテナンスをするための時間などの短縮が図れる。
第１の搬送ベース１４の開放部３４にガラスを設けないこととした代わりに、反対面に設けた第２の搬送ベース５０によりチップ部品１００を保持することができるため、裏面から精度良い検査が可能となる。
なお、第２チップ部品検査機構２８のカメラ撮像の際に照明をあてるので、開放部３４は広くする必要がある。

キャビティ部２２の一方の面側から他方の面側の厚み寸法は、チップ部品１００の長さよりも短く形成されている。
キャビティ部２２からチップ部品１００の一部が突出することになるので、第２チップ部品検査機構２８による検査精度が向上する。又、キャビティ部２２とチップ部品１００の高さが異なるため、第２チップ部品検査機構２８のカメラのレンズのピントがチップ部品１００の外面とキャビティ部２２の淵でずらすことが可能であり、チップ部品１００の外縁の検出が容易になる。

特性が測定されたチップ部品１００は、チップ部品突出部９０で回収される。このとき、特性の測定結果によって、たとえば良品と不良品などのように分類されて、チップ部品１００が回収される。

この実施の形態においては、チップ部品突出部９０において、第１の搬送ベース１４の所定の位置に、圧縮空気を噴出するための噴出孔９２が形成される。噴出孔９２は、複数のキャビティ部２２に対応する間隔で形成される。そして、１つのキャビティ部２２に対応して、たとえば２つの噴出孔９２が形成される。この２つの噴出孔９２は、キャビティ部２２に吸引保持されたチップ部品１００の重心が移動する重心移動ラインの両側に配置される。つまり、搬送ローター１６が回転することによって、キャビティ部２２に吸引保持されたチップ部品１００の重心は円形の軌道を描いて移動するが、この円形の軌道の両側に２つの噴出孔９２が配置される。

図４に示したように、噴出孔９２は、第１の搬送ベース１４の搬送面１４ａ上において、前記環状に設けられた第１の吸引用溝部３０の側方において、チップ部品突出部９０の取り出し位置に相当する位置に配置されている。

噴出孔９２は、圧縮空気供給源に接続されており、噴出孔９２の孔口から圧縮空気を噴出させ得るように形成されている。

図４及び図７に示すように、キャビティ部２２が、チップ部品１００を取り出す位置にきた際には、キャビティ部２２は、噴出孔９２に重なり合う。そして、噴出孔９２から、圧縮空気を噴出することにより、チップ部品１００は、キャビティ部２２から取り出される。

また、チップ部品突出部９０において、搬送ローター１６を挟んで噴出孔９２と対向する位置に、チップ部品１００を回収するためのホース９４が取り付けられる。噴出孔９２は、複数のキャビティ部２２に対応する間隔で形成されているため、それに対応して複数のホース９４が配置される。これらのホース９４は、チップ部品１００を分類するための複数の場所に導かれる。ホース９４によってチップ部品１００が所定の場所に分類されるため、回収後において、特定のチップ部品１００のみのテーピングなどが容易となる。

前記実施の形態のチップ部品搬送装置１０によれば、表面側だけでなく裏面側にもチップ部品１００を排出することができ、チップ部品１００の搬送の自由度が向上する。チップ部品１００の両面での搬送を行うため、搬送時にチップ部品１００の片面に付くキズが従来よりも軽減される。
両面からチップ部品１００を扱えるため、搬送とともに検査を行う際に、チップ部品１００の両面の検査を行うことができる。
ワーク突出規制部７０は、チップ部品１００の移し替え時にチップ部品１００に対するダメージを低減させる。
第１の搬送ベース１４と第２の搬送ベース５０とは、チップ部品１００を両面から保持し、また、吸引により安定してチップ部品１００のキャビティ部２２からの頭出し方向を変える事で、ワーク突出規制部７０との組み合わせにより、チップ部品のダメージ低減を確実にすることができる。

次に、チップ部品搬送装置１０の動作について、説明する。
Ｉ チップ部品供給部２４のホッパーにチップ部品１００を入れる。
II チップ部品１００は、チップ部品供給部２４のフィーダーを通って、搬送ローター１６のキャビティ部２２に振り込まれる。このとき、図４及び図６に示すように、外部電極１０４が搬送ローター１６の厚み方向に配置されるようにして、チップ部品１００がキャビティ部２２に振り込まれる。キャビティ部２２に振り込まれたチップ部品１００は、第１の搬送ベース１４の第１の吸引用溝部３０、吸引孔３２及び搬送ローター１６の第１の吸引溝４０を介して、キャビティ部２２内に吸引保持される。したがって、チップ部品１００は、第１の吸引溝４０が形成された側、つまりキャビティ部２２の一定の位置に保持される。
III チップ部品１００が保持された状態で搬送ローター１６が回転することにより、チップ部品１００が円形軌道を描きながら搬送される。
搬送ローター１６は、たとえば、周方向に、隣接するキャビティ部２２の間隔で間歇回転することにより、第１チップ部品検査機構２６のある領域でチップ部品１００が一時停止する。
そして、第１チップ部品検査機構２６によって、チップ部品１００の特性が測定される。
また、チップ部品１００は、表面撮像部、すなわち第１チップ部品検査機構２６により、チップ部品１００の片側の端面の外観検査を行う。
IV 搬送ローター１６の回転に伴い、チップ部品１００は、第１の搬送ベース１４の第１の受け渡し部６２から第２の搬送ベース５０の第２の受け渡し部６４に受け渡される。
Ｖ 搬送ローター１６の回転に伴い、チップ部品１００は、開放部３４に至り、裏面撮像部たる第２チップ部品検査機構２８により、IIIで撮影した端面とは反対側のチップ部品１００の端面の撮像及び検査を行う。
VI 第２チップ部品検査機構２８で特性が測定されたチップ部品１００は、搬送ローター１６の回転によって、チップ部品突出部９０まで搬送される。
チップ部品突出部９０では、噴出孔９２から圧縮空気を噴出することにより、チップ部品１００がキャビティ部２２から吐き出され、ホース９４で所定の場所に集められる。
このとき、チップ部品１００の特性の測定結果により、搬送ローター１６の周方向において、圧縮空気を噴出するキャビティ部２２の位置が選択される。
そして、選択された位置において、噴出孔９２からキャビティ部２２内のチップ部品１００に向かって圧縮空気供給源から圧縮空気を噴出させることにより、たとえば良品と不良品とに分類されて、チップ部品１００が取り出される。
なお、噴出孔９２から圧縮空気を噴出するときにも、第１の吸引溝４０には真空発生源によって吸引がかけられている。

なお、チップ部品１００の大きさが変わった場合には、キャビティ部２２にチップ部品１００が入らなくなったり、キャビティ部２２内におけるチップ部品１００の重心位置が変わって、重心移動ラインの位置が変わったりする。
そのため、異なる大きさのチップ部品１００を搬送する際には、キャビティ部２２の位置及び大きさを変えた搬送ローター１６に変更される。この搬送ローター１６においては、チップ部品１００の大きさに合わせてキャビティ部２２の大きさが設定され、キャビティ部２２の側方に第１の吸引溝４０及び第２の吸引溝４２が形成される。
このように、搬送ローター１６を変えることによって、複数の種類のチップ部品１００に対応することができる。

また、搬送媒体は、円盤状の搬送ローター１６に限らず、図１２に示すように、帯状の搬送ベルト２１６としてもよい。
この場合、第１の搬送ベース２１４も、搬送ベルト２１６の内側に接する円環状に形成される。第１の搬送ベース２１４は、開放部２３４が形成される。開放部２３４の領域において、第２の搬送ベース２５０が形成される。
搬送ベルト２１６には、複数のキャビティ部２２２が形成され、このキャビティ部２２２にチップ部品１００が吸引保持される。
そして、第１の搬送ベース２１４の周囲に搬送ベルト２１６を周回させることによって、チップ部品１００が搬送される。

このチップ部品搬送装置１０は、チップ型電子部品以外のチップ型の各種部品ないし部材の搬送に用いることができる。

１０ チップ部品搬送装置
１２ ベースプレート
１２ａ 一方面
１４，２１４ 第１の搬送ベース
１４ａ，５０ａ 搬送面
１６ 搬送ローター
１６ａ 第１の主面
１６ｂ 第２の主面
１８ 中心軸
２０ 駆動装置
２２，２２２ キャビティ部
２４ チップ部品供給部
２６ 第１チップ部品検査機構
２８ 第２チップ部品検査機構
３０ 第１の吸引用溝部
３２，８２ 吸引孔
３４ 開放部
３６ 入り口側端
３８ 出口側端
４０ 第１の吸引溝
４２ 第２の吸引溝
５０，２５０ 第２の搬送ベース
６０ 受け渡し部
６２ 第１の受け渡し部
６４ 第２の受け渡し部
６６ 第３の受け渡し部
６８ 第４の受け渡し部
７０ ワーク突出規制部
８０ 第２の吸引用溝部
９０ チップ部品突出部
９２ 噴出孔
９４ ホース
１００ チップ部品
１０２ 基体
１０４ 外部電極
２１６ 搬送ベルト

Claims (10)

1. 一方の面から他方の面に亘って貫通するキャビティ部を有する搬送ローターと、
   前記搬送ローターの他方の面側に配置され、前記キャビティ部を覆う第１の搬送ベースと、
   を備える搬送装置であって、
   前記第１の搬送ベースは、前記搬送ローターが回転する際にキャビティ部が通る軌道の一部を露出させる開放部を有し、
   前記搬送ローターの一方の面側には、前記第１の搬送ベースの開放部の領域において、前記搬送ローターのキャビティ部を覆う第２の搬送ベースが配置されていることを特徴とする、ワーク搬送装置。
2. 第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、前記開放部の受け渡し入り口及び／又は受け渡し出口の領域において、前記搬送ローターの一方の面に対して垂直方向から視て、一部重なり部分を有する、請求項１に記載のワーク搬送装置。
3. 第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、前記重なり部分において、第１の搬送ベース及び／又は第２の搬送ベースの端の搬送ローターに向き合う面に、搬送ローターから離れて、搬送ローターからワークの一部が突出を制限するためのワーク突出規制部を形成された、請求項２に記載のワーク搬送装置。
4. 第１の搬送ベースと、第２の搬送ベースとは、前記重なり部分において、第１の搬送ベース及び／又は第２の搬送ベースの端の搬送ローターに向き合う面に形成された、傾斜、凹みあるいは段差によるワーク突出規制部を有する、請求項２又は請求項３に記載のワーク搬送装置。
5. 前記第１の搬送ベース及び第２の搬送ベースは、ワークを吸引する吸引機構を備える、請求項１ないし請求項４のいずれかに記載のワーク搬送装置。
6. 前記第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、垂直方向から視て、それぞれに備える吸引機構が重ならないように形成された、請求項５に記載のワーク搬送装置。
7. 前記第１の搬送ベースと第２の搬送ベースとは、垂直方向から視て、それぞれに備える吸引機構が重なり、該重なり部分において、受け取り側の吸引力を渡し側の吸引力よりも強くするように形成された、請求項５に記載のワーク搬送装置。
8. 前記搬送ローターの一方の面側に設けられた第１の検査機構と、
   前記搬送ローターの他方の面側に設けられた第２の検査機構とを、更に備える、請求項１ないし請求項７のいずれかに記載のワーク搬送装置。
9. キャビティ部の一方の面側から他方の面側の厚み寸法は、ワークの長さよりも短く形成された、請求項１ないし請求項８のいずれかに記載のワーク搬送装置。
10. 前記ワークは、前記搬送ローターのキャビティ部に嵌挿される面を備える、チップ形電子部品である、請求項１ないし請求項９のいずれかに記載のワーク搬送装置。

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