JP2013137995A - イオンビーム加工装置、試料加工方法及び試料容器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】イオンビーム加工装置100は、試料室2において、ステージ30に装着された試料Sにイオンビームを照射して試料を加工するイオンビーム加工装置であって、イオンビームを発生させるイオン源10と、試料が載置される試料載置部と、試料載置部を保持するベース部24と、ベース部24に対して着脱可能に形成され、試料を密閉する密閉空間を形成する蓋部26と、を有する試料容器20と、試料容器20が着脱可能に形成されたステージ30と、試料室2の外部から、蓋部26を着脱するための蓋部着脱手段40と、を含み、試料容器20には、試料容器20の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部28が設けられている。
【選択図】図1
Description
試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工するイオンビーム加工装置であって、
前記イオンビームを発生させるイオン源と、
前記試料が載置される試料載置部と、前記試料載置部を支持するベース部と、前記ベース部に対して着脱可能に形成され、前記試料を密閉する密閉空間を形成する蓋部と、を有する試料容器と、
前記試料容器が着脱可能に形成されたステージと、
前記試料室の外部から、前記蓋部を着脱するための蓋部着脱手段と、
を含み、
前記試料容器には、前記試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部が設けられている。
前記試料の一部を前記イオンビームから遮蔽するための遮蔽板を含んでいてもよい。
前記試料容器は、前記遮蔽板と前記試料との相対位置関係を変化させる移動機構を含んでいてもよい。
前記移動機構は、前記試料載置部に設けられた試料移動機構であってもよい。
前記窓部を介して前記密閉空間を観察する観察手段を含んでいてもよい。
前記試料容器は、前記密閉空間と前記密閉空間の外部との圧力差に応じて、前記密閉空間内のガスを排気する弁を有していてもよい。
試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工する試料加工方法であって、
ベース部に蓋部が装着されることによって形成された密閉空間を有し、かつ、試料載置部に載置された試料が前記密閉空間に収容された試料容器を、ステージに装着する工程と、
前記試料容器に設けられ、前記試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部を介して、前記試料の位置を確認しながら、前記試料の位置合わせを行う工程と、
前記試料室の外部から、前記蓋部を前記ベース部から外す工程と、
イオン源からのイオンビームで前記試料を加工する工程と、
前記試料室の外部から、前記蓋部を前記ベース部に装着して、加工された前記試料を密閉する工程と、
を含む。
前記蓋部を前記ベース部に装着する工程では、前記試料室は、不活性ガス雰囲気であってもよい。
前記蓋部を前記ベース部に装着する工程では、前記試料室は、減圧状態であってもよい。
試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工するイオンビーム加工装置用の試料容器であって、前記試料が載置される試料載置部と、前記試料載置部を支持すると共に前記ステージとの結合部を有するベース部と、前記ベース部に対して着脱可能に形成され、前記試料を密閉する密閉空間を形成する蓋部と、を有し、試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部が設けられていることを特徴とする。
まず、本実施形態に係るイオンビーム加工装置の構成について説明する。図1は、本実施形態に係るイオンビーム加工装置100の構成を説明するための図である。なお、図1は、試料容器20がステージ30に装着された状態を示す図である。
次に、本実施形態に係る試料加工方法について説明する。図4〜図10は、本実施形態に係る試料加工工程を説明するための図である。なお、図4、図6、図7、図9、図10は、図1に対応している。以下では、イオンビーム加工装置100を用いて試料の加工を行った例について説明する。
10 イオン源、20 試料容器、22 試料載置部、23 遮蔽板、24 ベース部、24a 第1部分、24b 第2部分、242 Oリング、244 穴部、
26 蓋部、28 窓部、266 ネジ穴、268 弁、30 ステージ、40 レバー部、42 シャフト部、44 ネジ、50 筐体、52 扉部、
60 撮像部、70 排気装置、72排気管、80 ガス供給装置、82 ガス供給管、100 イオンビーム加工装置、1000 走査電子顕微鏡、1010 試料交換室、
1015 試料台、1020 試料交換棒、1030 蓋部着脱つまみ
Claims (10)
- 試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工するイオンビーム加工装置であって、
前記イオンビームを発生させるイオン源と、
前記試料が載置される試料載置部と、前記試料載置部を支持するベース部と、前記ベース部に対して着脱可能に形成され、前記試料を密閉する密閉空間を形成する蓋部と、を有する試料容器と、
前記試料容器が着脱可能に形成されたステージと、
前記試料室の外部から、前記蓋部を着脱するための蓋部着脱手段と、
を含み、
前記試料容器には、前記試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部が設けられている、イオンビーム加工装置。 - 請求項1において、
前記試料の一部を前記イオンビームから遮蔽するための遮蔽板を含む、イオンビーム加工装置。 - 請求項2において、
前記試料容器は、前記遮蔽板と前記試料との相対位置関係を変化させる移動機構を含む、イオンビーム加工装置 - 請求項3において、前記移動機構は、前記試料載置部に設けられた試料移動機構である、イオンビーム加工装置。
- 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記窓部を介して前記密閉空間を観察しうる観察手段を含む、イオンビーム加工装置。 - 請求項1ないし5のいずれか1項において、
前記試料容器は、前記密閉空間と前記密閉空間の外部との圧力差に応じて、前記密閉空間内のガスを排気する弁を有する、イオンビーム加工装置。 - 試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工する試料加工方法であって、
ベース部に蓋部が装着されることによって形成された密閉空間を有し、かつ、試料載置部に載置された試料が前記密閉空間に収容された試料容器を、ステージに装着する工程と、
前記試料容器に設けられ、前記試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部を介して、前記試料の位置を確認しながら、前記試料の位置合わせを行う工程と、
前記試料室の外部から、前記蓋部を前記ベース部から外す工程と、
イオン源からのイオンビームで前記試料を加工する工程と、
前記試料室の外部から、前記蓋部を前記ベース部に装着して、加工された前記試料を密閉する工程と、
を含む、試料加工方法。 - 請求項7において、
前記蓋部を前記ベース部に装着する工程では、前記試料室は、不活性ガス雰囲気である、試料加工方法。 - 請求項8において、
前記蓋部を前記ベース部に装着する工程では、前記試料室は、減圧状態である、試料加工方法。 - 試料室において、ステージに装着された試料にイオンビームを照射して試料を加工するイオンビーム加工装置用の試料容器であって、
前記試料が載置される試料載置部と、前記試料載置部を支持すると共に前記ステージとの結合部を有するベース部と、前記ベース部に対して着脱可能に形成され、前記試料を密閉する密閉空間を形成する蓋部と、を有し、試料容器の外部から前記密閉空間を視認可能に形成された窓部が設けられていることを特徴とするイオンビーム加工装置用の試料容器。
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