JP5204592B2 - 薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法 - Google Patents
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1.真空外で予備冷却され、凍結状態の試料20を試料保持部12の母材エリア15にセットし、霜付着防止カバー13を手動で或いは自動的に閉める。
4.5.分子間力により冷却プローブ4の先端に試料薄片20aが付着したら、マニピュレータ3により冷却プローブ4を移動させ、試料薄片20aを冷却メッシュエリアに固定されているメッシュ16上に載せる。この操作は真空外から遠隔操作で行なうことができる。
7.FIB装置1のゴニオメータ5から外された試料ホルダ10は、図3に示すTEM装置40のサイドエントリーゴニオメータステージ(以下単にゴニオメータと呼ぶ)30に装着される。試料ホルダ10の試料ホルダ保持部12のメッシュエリア16に配置されたメッシュ上に載置されている試料薄片20aの位置を、ゴニオメータ30を操作してTEM装置40の電子線光軸に合わせる。試料薄片20aの位置決めが終了したら、TEM装置40により電子顕微鏡像を得る。
2 冷却タンク
3 冷却マニピュレータ
4 冷却プローブ
5 ゴニオメータ
10 試料ホルダ
11 熱伝導棒
12 試料ホルダ部
13 霜付着防止カバー
14 冷却タンク
15 母材エリア
16 メッシュエリア
Claims (5)
- 試料を冷却状態に保持する機構を有する冷却試料ホルダを着脱可能な第1試料ステージと冷却マニピュレータとを備える集束イオンビーム装置と、
前記冷却試料ホルダを着脱可能な第2試料ステージを備える透過型電子顕微鏡とから構成され、
前記集束イオンビーム装置を用いて前記冷却試料ホルダに載置した含水試料を薄膜試料に加工し、前記冷却マニピュレータを真空外から操作して、該薄膜試料を透過型電子顕微鏡で観察可能なように前記冷却試料ホルダに載置し直し、前記薄膜試料の冷却凍結状態を保ったまま前記電子顕微鏡の第2試料ステージに前記冷却試料ホルダを搬送し、前記薄膜試料の電子顕微鏡像を得るようにしたことを特徴とする薄膜試料観察システム。 - 前記冷却試料ホルダは、
その先端が試料保持部と熱接続される熱伝導棒と、
該熱伝導棒の他端を冷却する冷却媒体が満たされた第1冷却タンクと、
前記試料保持部の上にスライド可能に取り付けられた霜付着防止カバーを備え、
前記試料保持部は、薄膜加工前の冷却凍結状態の含水試料を保持し、前記集束イオンビーム装置を用いて薄膜加工を行なうための母材エリアと、前記集束イオンビーム装置により加工された前記母材エリア内の試料薄片を前記冷却マニピュレータによりその上に載せるためのメッシュを配置したメッシュエリアとからなることを特徴とする請求項1記載の薄膜試料観察システム。 - 前記冷却マニピュレータは、その先端が冷却プローブと熱接続される熱伝導材と、該熱伝導材の他端を冷却する冷却媒体が満たされた第2冷却タンクとを備え、冷却凍結状態を保持したまま前記薄膜試料を前記母材エリアから取り出して前記メッシュエリアのメッシュ上に載せかえるようにしたことを特徴とする請求項2記載の薄膜試料観察システム。
- 試料を冷却凍結状態に保持する冷却試料ホルダであって、
前記試料を保持する試料保持部と、
その先端が試料保持部と熱接続される熱伝導棒と、
該熱伝導棒の他端を冷却する冷却媒体が満たされた第1冷却タンクと、
前記試料保持部の上にスライド可能に取り付けられた霜付着防止カバーを備え、
前記試料保持部は、薄膜加工前の冷却凍結状態の含水試料を保持し集束イオンビームを用いて薄膜加工を行なうための母材エリアと、前記集束イオンビームにより加工された前記母材エリア内の試料薄片を透過型電子顕微鏡で観察可能なように載せかえるためのメッシュを配置したメッシュエリアとからなることを特徴とする冷却試料ホルダ。 - 試料を冷却状態に保持する機構を有する冷却試料ホルダに含水試料を載置し、該冷却試料ホルダに載置された該含水試料を冷却凍結状態で集束イオンビーム装置により薄膜加工し、前記薄膜加工された冷却凍結状態の試料薄片を前記集束イオンビーム装置に装備された冷却マニピュレータを用いて透過型電子顕微鏡で観察可能なように前記冷却試料ホルダに載置し直し、前記試料ホルダに載置された前記薄膜試料を冷却凍結状態で透過型電子顕微鏡に搬送し、前記冷却試料ホルダに載置したままの前記薄膜試料の電子顕微鏡像を得るようにしたことを特徴とする薄膜試料観察方法。
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