JP2013104744A - リム組立体、タイヤ試験機及びリム組立体交換方法 - Google Patents

Abstract

【課題】サイズの小さいタイヤを取り付けることが可能なリム組立体、タイヤ試験機及びリム組立体交換方法を提供する。
【解決手段】リム組立体は、試験対象であるタイヤ６０が取り付けられる一対の上リム１と下リム２を有するリム組立体であって、下リムに設けられたピン６と、上リムに設けられ、ピン６に係合可能なピン受け部３と、上リムの下リム側の表面には、ピン６の先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の凹状溝が形成されている溝部とを備える。
【選択図】図２４

Description

本発明は、試験体であるタイヤが取り付けられるリム組立体、タイヤ試験機及びリム組立体交換方法に関するものである。

タイヤ試験機には、タイヤの均一性を測定するタイヤユニフォーミティ測定装置や、タイヤのバランスを測定するタイヤバランス測定装置がある。タイヤ試験機による測定において、試験対象のタイヤを固定する試験用リムは、ビード径やビード幅に応じてタイヤの種類ごとに交換される。

測定対象とするタイヤの種類が多い場合などに対応するため、試験用リムの交換時間の短縮化や交換作業の省力化を目的として、自動で試験用リムを交換する方法が提案されてきた。特許文献１〜５では、リム交換装置に関する発明が開示されている。

特許第２６６１７５３号公報 特開平３−１１０１３８号公報 特開平３−４７７４２号公報 特開平３−２３１８３４号公報 特許第３６７２１３５号公報

試験用リムは、タイヤの取り付け及び取り外しを容易にするため、一対の上リムと下リムからなる。この上下リムにタイヤが取り付けられて試験が行われるとき、上リムと下リムは、それぞれがタイヤ試験機に取り付けられ、互いに離隔している。

そして、この上下リムがリム交換装置によって交換される場合、上リムと下リムが重ね合わされる等の方法によって一体化され、リム組立体として扱われることが多い。その後、一体化されたリム組立体が、タイヤ試験機外部の交換装置やリムストック位置へ搬出される。リム組立体が一体化されて保管されることによって、同一径の上リムと下リムがばらばらにならず、管理性が向上する。また、外部からタイヤ試験機へリム組立体が搬入される場合は、一体化されたリム組立体が搬入され、タイヤが取り付けられて上リムと下リムが分割される。

リム交換の際に上リムと下リムを一体化するには、様々な方法をとり得るが、リム組立体を吊り上げて交換する場合には、上下リムの外部から上下リムを一体化させる治具を取り付けるか、又は上下いずれかの一方のリム若しくは双方のリムに上下リムを一体化させ得る機構を持たせる方法が考えられる。

ところで、試験時に上下リムに取り付けられるタイヤのビード幅が小さいと、上リムと下リムとの離隔距離が小さくなる。したがって、上下リムを一体化させる方法において上記の後者の方法の場合、上下リム同士が干渉することなく、物理的に一体化させる機構を設ける必要がある。

本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、サイズの小さいタイヤも取り付けることが可能なリム組立体、タイヤ試験機及びリム組立体交換方法を提供することを目的とする。

上記課題を解決するために、本発明のリム組立体、タイヤ試験機及びリム組立体交換方法は以下の手段を採用する。
すなわち、本発明に係るリム組立体は、試験対象であるタイヤが取り付けられる一対の第一のリムと第二のリムを有するリム組立体であって、第一のリムに設けられたピンと、第二のリムに設けられ、ピンに係合可能なピン受け部と、第二のリムの第一のリム側の表面には、ピンの先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の溝が形成されている溝部とを備える。

この発明によれば、第一のリムと第二のリムは、ピン及びピン受け部が係合することによって一体化する。係合時に上側の第一のリム又は第二のリムを吊り上げれば、上側の第一のリム又は第二のリムに吊られて他方のリムも同時に移動可能である。第一のリムと第二のリムにタイヤが取り付けられて試験が行われるとき、ピン及びピン受け部の係合は解除されて、ピンとピン受け部は互いに干渉しないことが望ましい。ピンとピン受け部が上下方向に干渉する位置関係となれば、タイヤ試験時に第一のリムと第二のリムが何らかの原因により相対回転した場合、ピンの損傷をきたす。そのため、ピンとピン受け部の上下方向相対寸法について、この干渉を無くす寸法とする場合は、上下方向に十分な寸法を確保せねばならないため、必然的にビード幅に制約が出てくる。

本発明では、溝部の表面に、ピン先端を収容可能な凹状の溝が形成されている。したがって、第一のリムと第二のリムにタイヤが取り付けられて試験が行われる際、ピンと溝部が対向するとき、溝部が形成されていない場合に比べて、第一のリムと第二のリムを近接させることができる。なお、ピン受け部と溝部は、いずれも第二のリムの一部を構成する。

上記発明において、ピンの先端は、ピンの軸方向に対して垂直方向に延設された突起部を有し、ピン受け部は、突起部がスライドするためのスライド用溝とピンがスライドするためのスライド用開口部とを有してもよい。

この発明によれば、突起部はピンの軸方向に対して垂直方向に延設され他形状を有し、ピン受け部のスライド用溝をスライドする。また、ピンは、ピン受け部のスライド用開口部をスライドする。これにより、ピンとピン受け部が係合する。

上記発明において、突起部の上面の断面形状と、突起部の一部を収容する際に対向する溝の断面形状は、それぞれテーパ形状でもよい。

この発明によれば、突起部は、突起元の厚さが突起先よりも厚いことから、突起元の強度を維持することができ、支持部は、突出元の厚さが突出端よりも厚いことから、突出元の強度を維持することができる。したがって、ピン及びピン受け部の剛性を高く保ったまま、ピン及びピン受け部を用いたリム組立体の吊り上げ・移動が可能になる。また、支持部の表面にピンの先端を収容可能な凹状の溝が形成されていることから、第一のリムと第二のリムを近接させることができる。

上記発明において、ピン受け部と溝部は、第二のリムの周方向に形成され、溝も周方向に形成されてもよい。

この発明によれば、リム組立体にタイヤが取り付けられて試験が行われる場合等、係合が解除されて、ピン先端とピン受け部の表面が近接しているときに、第一のリムと第二のリムが軸心周りに相対的に回転したとしても、ピン先端が周方向に形成された溝に沿って移動する。したがって、ピンとピン受け部が互いに干渉することがない。

上記発明において、ピン受け部と溝部は、同一断面内に形成されており、溝部は、ピン受け部の第一のリム側に溝が形成されてもよい。
この発明によれば、ピン受け部の第一のリム側の表面に、ピンの先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の溝が形成される。したがって、第一のリムと第二のリムにタイヤが取り付けられて試験が行われる際、ピンに対向する位置にピン受け部がある場合、第一のリムと第二のリムを近接させることができる。

上記発明において、第一のリム及び第二のリムの少なくともいずれか一方に設けられたスタンドを更に備え、ピンとピン受け部とが係合したとき、スタンドが上方に位置する第一のリム又は第二のリムを支持してもよい。

この発明によれば、下方に位置する第一のリム又は第二のリムの上面に他方のリムが置かれたとき、スタンドが上方に位置する他方のリムを支持することから、リム組立体の保管時においてピンとピン受け部が上方に位置する第一のリム又は第二のリムの荷重を支持することがなく、衝撃等によるピン及びピン受け部の損傷を防止できる。

また、本発明に係るタイヤ試験機は、上記のリム組立体と、第一のリム又は第二のリムを支持してリム組立体を吊り上げる吊り上げ部とを備える。

この発明によれば、吊り上げ部が上方に位置している第一のリム又は第二のリムを支持して吊り上げているとき、第一のリムと第二のリムが係合していれば、第一のリムと第二のリムを同時に移動できる。また、吊り上げ部が上方に位置している第一のリム又は第二のリムを支持して吊り上げているとき、第一のリムと第二のリムの係合が解除されていれば、ピン受け部の表面に、ピン先端を収容可能な凹状の溝が形成されていることから、ピン受け部の表面に溝が形成されていない場合に比べて、第一のリムと第二のリムを近接させることができる。したがって、ピン及びピン受け部を用いて交換が可能なリム組立体を有するタイヤ試験機において、被試験体であるタイヤのサイズが小さい場合でも、試験可能になる。

また、本発明に係るリム組立体交換方法は、試験対象であるタイヤが取り付けられる一対の第一のリムと第二のリムを有するリム組立体を用いたタイヤ試験機のリム組立体交換方法であって、第一のリムに設けられたピンと、第二のリムに設けられ、ピンに係合可能なピン受け部と、第二のリムの第一のリム側の表面には、ピンの先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の溝が形成されている溝部とを備えるリム組立体のうち第一のリム又は第二のリムを支持してリム組立体を吊り上げる。

本発明によれば、サイズの小さいタイヤもリム組立体に取り付けて試験することができる。

本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機を示す縦断面図である。 同実施形態に係る上下リム、リムエレベータの支持部及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係る上リムを示す下面図であり、図２のＡ−Ａ線矢視図である。 同実施形態に係る下リムを示す上面図であり、図２のＢ−Ｂ線矢視図である。 同実施形態に係る上リムのピン受け部を示す上面図である。 同実施形態に係るピン及びピン受け部を示す縦断面図であり、図５のＣ−Ｃ線で切断した図である。 同実施形態に係るピン及びピン受け部を示す縦断面図であり、図５のＤ−Ｄ線で切断した図である。 同実施形態に係るピン及びピン受け部を示す縦断面図であり、図５のＥ−Ｅ線で切断した図である。 同実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係るタイヤ試験機を示す縦断面図である。 同実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ、ストッカーフレーム及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ、リムストッカー及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ、ストッカーフレーム及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係るタイヤ試験機を示す縦断面図である。 同実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係る下リムを示す上面図である。 同実施形態に係る下リムを示す上面図である。 同実施形態に係る下リムを示す上面図である。 同実施形態に係る上リム及び下リムを示す部分拡大縦面図であり、図１６のＦ−Ｆ線で切断した図である。 同実施形態に係る上リム及び下リムを示す部分拡大縦面図であり、図１７のＧ−Ｇ線で切断した図である。 同実施形態に係る上リム及び下リムを示す部分拡大縦面図であり、図１７のＧ−Ｇ線で切断した図である。 同実施形態に係るピン及びピン受け部を示す縦断面図である。 関連技術のピン及びピン受け部を示す縦断面図である。 本発明の一実施形態に係るリム組立体、リムエレベータ及び下部スピンドルを示す縦断面図である。 同実施形態に係る上リム及び下リムを示す部分拡大縦断面図である。

以下、本発明の一実施形態に係るタイヤ試験機について、図１を用いて説明する。
タイヤ試験機には、例えばタイヤの均一性を測定するタイヤユニフォーミティ測定装置１２がある。タイヤユニフォーミティ測定装置１２は、リム組立体に取り付けられたタイヤを試験対象とし、下部スピンドル１６によって回転駆動するタイヤに円筒状のロードホイール２２を当接させる。タイヤユニフォーミティ測定装置１２は、付与された荷重をロードホイール２２の上部及び下部に設けられたロードセルで測定する。

ロードホイール２２は、レール２３上を走行して、下部スピンドル１６側へ近接したり、下部スピンドル１６から離隔したりすることができる。

図２４に示すように、試験対象であるタイヤ６０は、上リム１及び下リム２に取り付けられる。このとき、上リム１は、リムエレベータ１４のチャック機構９によって把持され、下リム２は、台座１５上の下部スピンドル１６上に載置されている。また、リムエレベータ１４が下方に下降し、上リムシャフト１３の下部が下部スピンドル１６の内部に挿入されている。そして、上リムシャフト１３と下部スピンドル１６は、ロック機構によって所定の挿入位置で互いに連結される。

下部スピンドル１６は、モータによって回転駆動する。また、ロック機構によって上リムシャフト１３と連結されているとき、下部スピンドル１６は、上リムシャフト１３と共に回転する。

リムエレベータ１４は、上下方向に昇降可能であり、支持部８に取り付けられたチャック機構９を有する。リムエレベータ１４は、モータによって駆動されるボールねじ２５等の伝動機構を介してフレーム２４に沿って昇降する。リムエレベータ１４が上方へ移動する際は、ロック機構が解除されて、上リムシャフト１３と下部スピンドル１６の連結が解除される。

リムストッカー１１は、旋回台２０がレール２１上を走行して、下部スピンドル１６側へ近接したり、下部スピンドル１６から離隔したりすることができる。

旋回台２０は、上部に旋回軸１７が設けられる。旋回軸１７には、複数のストッカーフレーム１８が接続されており、旋回軸１７は、旋回軸１７の軸心周りにストッカーフレーム１８を回転させる。これにより、旋回軸１７は、ストッカーフレーム１８のリム台座１９上に載置された上リム１及び下リム２を下部スピンドル１６側へ近接したり、下部スピンドル１６から離隔したりすることができる。

次に、一対の上リム１と下リム２からなるリム組立体について説明する。
上リム１には、タイヤ取付け部分よりも内側であって上リム１の下面に、三つのピン受け部３と三つのスタンド受け部４が周方向に交互に設置される。図３は、上リム１の下面を示している。また、下リム２には、タイヤ取付け部分よりも内側であって下リム２の上面に３本のピン６と、３本のスタンド７が周方向に交互に設置される。図４は、下リム２の上面を示している。ピン６は、リム組立体移動時にピン受け部３に係合する。スタンド７は、リム組立体保管時にスタンド受け部４と当接する。一方、試験時には、図２４及び図２５に示すように、ピン６とピン受け部３の係合は解除されて離隔しており、スタンド７とスタンド受け部４も互いに離隔している。

ピン６には、例えば図６から図８に示すように、ピン本体部よりも径が小さい首部を介して、テーパ形状の突起部３０が先端に形成されている。突起部３０は、ピン６の軸方向に対して垂直方向に延設されており、突起元の厚さが突起先よりも厚い。これにより、突起部３０の突起元の強度を維持することができる。なお、本実施形態では、ピン６の縦断面において、突起部３０がピン６の軸を中心にして両側に延設されている場合について説明しているが、本発明はこの例に限定されない。例えば、突起部３０は、ピン６の軸から片側にのみ延設されていてもよい。

ピン受け部３には、図５に示すように、挿入用開口部２６と、スライド用開口部２７が形成される。挿入用開口部２６は、ピン６の突起部３０が出入可能である。スライド用開口部２７は、挿入用開口部２６の一側に形成され、上リム１の周方向に沿って開口している。スライド用開口部２７の幅は、ピン６の突起部３０の直径よりも狭く、ピン６の首部よりも広い。なお、ピン受け部３は、図５に示すようなピン６に係合する第一の領域３Ａと、第一の領域３Ａ以外の第二の領域３Ｂに分けられる。上記挿入用開口部２６と、スライド用開口部２７は、第一の領域３Ａに形成される。

また、ピン受け部３には、例えば図６及び図７に示すように、周方向に設けられた対向する二つの側壁間にスライド用溝２９が形成される。更に、ピン受け部３は、スライド用開口部２７側に突出して、ピン６の突起部３０を支持する支持部２８を有する。支持部２８は、突出元の厚さが突出端よりも厚い。これにより、支持部２８の突出元の強度を維持することができる。そして、支持部２８の下リム２側の表面には、ピン６の先端の突起部３０を収容可能な凹状に形成された凹状溝２８ａが形成されている。ピン受け部３において、突起部３０を支持する支持部２８が形成されていることによって、ピン６とピン受け部３が係合する。ここで、支持部２８が突起部３０を支持している状態とは、支持部２８の上面（上リム１側の面）によって、突起部３０の下面（下リム２側の面）を支持している状態である。図５〜図８に示す例では、凹状溝２８ａは、第一の領域３Ａ及び第二の領域３Ｂにわたって、上リム１の周方向に沿って形成される。本実施形態の第一の領域３Ａは、溝部とピン受け部の両方が同一箇所に形成されている場合の一例であり、第二の領域３Ｂは、溝部のみが上リム１に直接設けられている場合の一例である。

本実施形態と異なり、ピン６とピン受け部が３上下方向に干渉する位置関係となれば、タイヤ試験時に上リム１と下リム２が何らかの原因により相対回転した場合、ピン６の損傷をきたす。そのため、ピン６とピン受け部３の上下方向相対寸法について、この干渉を無くす寸法とする場合は、上下方向に十分な寸法を確保せねばならないため、必然的にビード幅に制約が出てくる。

一方、本実施形態では、ピン受け部３の表面に、ピン６の先端を収容可能な凹状溝２８ａが形成されていることから、ピン受け部３の表面に凹状溝２８ａが形成されていない場合に比べて、上リム１と下リム２を近接させることができる。したがって、ピン６及びピン受け部３を用いて移動が可能なリム組立体を用いるタイヤ試験機において、被試験体であるタイヤのサイズが小さい場合、例えばビード幅設定が３インチ以下のタイヤでも、上リム１と下リム２が干渉することなく測定可能になる。また、図２２及び図２３を参照して後述するとおり、ピン６とピン受け部３を係合するために要するストローク距離ｂ_１を短くすることができる。したがって、ピン及びピン受け部を用いて交換が可能なリム組立体を用いるタイヤ試験機において、被試験体であるタイヤのサイズが小さい場合でも、測定可能になる。

また、上述のピン６の先端を収容可能な凹状溝２８ａは、図５に示すように、ピン受け部３の下リム２側の表面に沿って周方向に形成されている。この構成によれば、リム組立体にタイヤが取り付けられて試験が行われる場合等、係合が解除されて、ピン６の先端とピン受け部３の表面が対向し、かつ近接しているときに、上リム１と下リム２が軸心周りに相対的に回転したとしても、ピン６の先端が周方向に形成された凹状溝２８ａに沿って移動する。したがって、図８に示すように、ピン６とピン受け部３が互いに干渉することがない。

スタンド７は、上リム１側に突出して下リム７の上面に設けられる。また、スタンド受け部４は、スタンド７に対応して、下リム２側に突出して上リム１の下面に設けられる。そして、スタンド７とスタンド受け部４のそれぞれの高さは、下リム２の上面に上リム１が置かれたとき、ピン６とピン受け部３が上リム１の荷重を支持することがなく、スタンド７とスタンド受け部４が上リム１を支持する高さを有する。

上述のようなスタンド７とスタンド受け部４の構成によれば、スタンド７が上リム１を支持することから、リム組立体の保管時においてピン６とピン受け部３が上リム１の荷重を支持することがなく、衝撃等によるピン６及びピン受け部３の損傷を防止できる。

次に、本発明のタイヤ試験機におけるリム組立体の交換動作について説明する。
まず、図１及び図２に示すように、上リム１と下リム２が離れており、上リム１が上方に位置している状態から説明する。この状態から、図９の矢印ａに示すように、リムエレベータ１４を下降させて、上リム１を下方に移動させ、図９に示すように、上リム１と下リム２を重ね合わせる。このとき、上リム１と下リム２の位相関係は、図１６に示すとおりである。図１９には、図９の部分拡大図であり、図１６のＦ−Ｆ線で切断した縦段面図を示す。すなわち、ピン６の突起部３０の位置と、ピン受け部３の挿入用開口部２６の位置を合わせ、突起部３０を挿入用開口部２６内に挿入する。

次に、図９の矢印ｂに示すように、下部スピンドル１６を回転させて、下リム２を上リム１に対して回転させる。このとき、上リム１と下リム２の位相関係は、図１７に示すとおりである。すなわち、下リム２の左回りの回転によって、ピン６の突起部３０が、ピン受け部３のスライド用溝２９内を移動して、図６に示すように、ピン６とピン受け部３とが係合する。なお、上記の例では、左回りの回転によってピン６とピン受け部３とが係合する例について説明したが、ピン受け部３の挿入用開口部２６とスライド用溝２９の位置を反対にして右回りの回転によってピン６とピン受け部３とが係合するようにしてもよい。

ピン６とピン受け部３とが係合することによって、上リム１と下リム２が一体化する。そして、図１０の矢印ｃに示すように、リムエレベータ１４を上昇させて、上リム１を下リム２と共に上方に移動させる。このとき、図２１に示すように、上リム１のピン受け部３がピン６を支持しており、下リム２が上リム１から吊られた状態になっている。

そして、図１０の矢印ｄに示すように、リムストッカー１１を下部スピンドル１６側へ下降させる。このとき、リム組立体が載置されていないストッカーフレーム１８を、リムエレベータ１４によって支持されているリム組立体の下方に配置する。次に、図１１の矢印ｅに示すように、リムエレベータ１４を下降させて、ストッカーフレーム１８上のリム台座１９に上リム１及び下リム２を載置する。このとき、ストッカーフレーム１８上に突出した位置決め凸部３１を、下リム２の下面に形成された位置決め孔部３２に挿入する。

その結果、図２０に示すように、スタンド７の上面にスタンド受け部４が当接して、下リム２が上リム１を支持する。このとき、ピン６とピン受け部３は、互いに干渉せず、ピン６が上リム１の荷重を支持することはなく、ピン６の損傷を防止できる。

ストッカーフレーム１８上にリム組立体が載置されると、図１１の矢印ｆに示すように、上リム１を把持していたチャック機構９が解除される。そして、図１２の矢印ｇに示すように、リムストッカー１１からリムエレベータ１４が離隔する。その後、図１２の矢印ｈに示すように、旋回軸１７の軸心周りにストッカーフレーム１８を回転させて、新たに試験に用いるリム組立体をリムエレベータ１４の下方に位置させる。

次に、図１３の矢印ｉに示すように、チャック機構９を上リム１の被把持部５の位置まで、リムエレベータ１４を下降させる。そして、図１３の矢印ｊに示すように、チャック機構９を上リム１の被把持部５へ移動させて、チャック機構９を上リム１に把持させる。このとき、上リム１と下リム２は、係合した状態である。

その後、図１４の矢印ｋに示すように、リム組立体を把持した状態で、リムエレベータ１４を上昇させて、上リム１を下リム２と共に上方に移動させる。また、図１４の矢印ｍに示すように、リムストッカー１１を下部スピンドル１６から離隔させる。リムストッカー１１のストッカーフレーム１８が下部スピンドル１６の上方から退避すると、図１５の矢印ｎに示すように、リムエレベータ１４を下降させて、上リム１を下方に移動させ、下リム２を下部スピンドル１６に固定する。

そして、図１５の矢印ｐに示すように、下部スピンドル１６を回転させて、下リム２を上リム１に対して回転させる。このとき、上リム１と下リム２の位相関係は、図１８に示すとおりである。すなわち、下リム２の右回りの回転によって、ピン６の突起部３０が、ピン受け部３のスライド用溝２９内を移動して、挿入用開口部２６へ到達する。なお、右回りの回転で上リム１と下リム２とが係合する構成を有する場合は左回りの回転を行う。これにより、ピン６とピン受け部３との係合を解除することができる。すなわち、リムエレベータ１４を上昇させることによって、図７に示すように、ピン受け部３からピン６を離隔できる。

ピン受け部３からピン６を離隔した状態で、図２４に示すように、タイヤ６０を上リム１と下リム２に取り付けることで、タイヤ６０に対する測定が可能になる。このとき、タイヤ６０のタイヤ幅が短い場合でも、図２５に示すように、ピン６の突起部３０がピン受け部３の凹状溝２８内に収容されることから、ピン６とピン受け部３とが干渉することがない。

次に、図２２及び図２３を参照して、ピン６とピン受け部３の関係について説明する。
上記実施形態と異なり、ピン６とピン受け部４０の関係において、図２３に示すように、ピン６の突起部５０をテーパ状ではなく円筒状にし、ピン受け部４０の支持部４２の表面に溝が形成されない場合について、まず説明する。

このとき、ピン受け部４０には、挿入用開口部４１と、スライド用開口部４３が形成される。また、ピン受け部４０には、周方向に設けられた対向する二つの側壁間にスライド用溝４４が形成される。更に、ピン受け部４０は、スライド用開口部４３側に突出して、ピン６の突起部５０を支持する支持部４２を有する。

試験対象であるタイヤを上リム１と下リム２に取り付けたとき、ピン６の突起部５０の先端５０ａから、ピン受け部４０の支持部４２の下面４２ａまでの距離を離間距離ａとする。離間距離ａは、適用できる最小ビード幅のタイヤの試験時に、ピン６とピン受け部４０が互いに干渉しないような長さである。このとき、ピン６の突起部５０をピン受け部４０の支持部４２に係合させるためには、上リム１は、少なくとも図２３に示すストローク距離ｂ_２分を下方へ移動する必要がある。離間距離ａを長くして、ストローク距離ｂ_２を長くすることも考えられるが、この場合、タイヤ試験時の上リム１及び下リム２の互いの近接距離が離れてしまうため、ビード幅の小さなタイヤは計測することができない。

したがって、離間距離ａを確保しながら、上リム１及び下リム２の互いの近接距離が離れないようにして、ストローク距離ｂ_２を短くすることが必要である。本実施形態において、図２２に示すように、試験対象であるタイヤを上リム１と下リム２に取り付けたとき、ピン６の突起部３０の上面３０ａから、ピン受け部３の支持部２８の凹状溝２８ａまでの距離を、図２３の離間距離ａと同一の離間距離ａとする場合について説明する。

本実施形態では、ピン受け部３の表面に、ピン６の先端を収容可能な凹状溝２８ａが形成されていることから、離間距離ａとした場合、ピン６の突起部３０をピン受け部３の支持部２８に係合させるためには、上リム１は、少なくとも図２２に示すストローク距離ｂ_１分を下方へ移動すればよい。本実施形態のストローク距離ｂ_１は、図２３に示した例のストローク距離ｂ_２よりも短い。よって、本実施形態によれば、試験時に離間距離ａをできるだけ長く確保しながら、凹状溝２８ａを形成しない場合よりもビード幅の小さいタイヤを試験することができる。

なお、上記実施形態では、ピン６の先端に設けられた突起部３０がテーパ形状である場合について説明したが、本発明はこの例に限定されない。例えば、突起部３０は、椀形状など曲面を有してもよいし、円筒形状であってもよい。そして、ピン受け部３の支持部２８の表面に突起部３０と接触しないような凹状溝２８ａが形成されれば、ピン受け部３の表面に凹状溝２８ａが形成されていない場合に比べて、上リム１と下リム２を近接させることができる。また、ピン６とピン受け部３を係合するために要するストローク距離ｂ_１を短くすることができる。

また、上記実施形態では、上リム１にピン受け部３とスタンド受け部４が設けられ、下リム２にピン６とスタンド７が設けられる場合について説明したが、本発明はこの例に限定されない。例えば、上リム１にピン６又はスタンド７が設けられ、下リム２にピン受け部３又はスタンド受け部４が設けられてもよい。更に、上記実施形態では、ピン受け部３が上リム１から下リム２側に突出して設けられる場合について説明したが、本発明はこの例に限定されない。例えばピン受け部３が上リム１（下リム２に設けられる場合は下リム２）本体に埋没するように形成されてもよい。すなわち、上リム１の下リム２に対向する面がフラットになっており、そのフラットな面に対して上リム１の内部側にピン受け部３が形成されてもよい。

また更に、上記実施形態では、ピン受け部３は、第一の領域３Ａと第二の領域３Ｂの両方に凹状溝２８ａが形成される場合について説明したが、本発明はこの例に限定されない。例えば、ピン受け部３の第一の領域３Ａには、凹状溝２８ａが形成されず、第二の領域３Ｂのみに凹状溝２８ａが形成されてもよい。上リム１と下リム２にタイヤ６０が取り付けられて試験が行われる際は、ピン６とピン受け部３の第二の領域３Ｂが対向する位置関係となる。これにより、試験時に上リム１と下リム２をより近接させることができる。また、上記実施形態では、ピン受け部３の第一の領域３Ａと第二の領域３Ｂは連続した一体の部材であるが、第一の領域３Ａと第二の領域３Ｂはそれぞれ別部材で構成されてもよい。

１ 上リム（第二のリム）
２ 下リム（第一のリム）
３，４０ ピン受け部
４ スタンド受け部
５ 被把持部
６ ピン
７ スタンド
８ 支持部
９ チャック機構
１１ リムストッカー
１２ タイヤユニフォーミティ測定装置
１３ 上リムシャフト
１４ リムエレベータ（吊り上げ部）
１５ 台座
１６ 下部スピンドル
１７ 旋回軸
１８ ストッカーフレーム
１９ リム台座
２０ 旋回台
２１，２３ レール
２２ ロードホイール
２４ フレーム
２５ ボールねじ
２６，４１ 挿入用開口部
２７，４３ スライド用開口部
２８，４２ 支持部
２８ａ 凹状溝（溝）
２９，４４ スライド用溝
３０，５０ 突起部
３１ 位置決め凸部
３２ 位置決め孔部
６０ タイヤ

Claims (8)

1. 試験対象であるタイヤが取り付けられる一対の第一のリムと第二のリムを有するリム組立体であって、
   前記第一のリムに設けられたピンと、
   前記第二のリムに設けられ、前記ピンに係合可能なピン受け部と、
   前記第二のリムの前記第一のリム側の表面には、前記ピンの先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の溝が形成されている溝部と、
   を備えるリム組立体。
2. 前記ピンの先端は、前記ピンの軸方向に対して垂直方向に延設された突起部を有し、
   前記ピン受け部は、前記突起部がスライドするためのスライド用溝と前記ピンがスライドするためのスライド用開口部とを有する請求項１に記載のリム組立体。
3. 前記突起部の上面の断面形状と、前記突起部の一部を収容する際に対向する前記溝の断面形状は、それぞれテーパ形状である請求項２に記載のリム組立体。
4. 前記ピン受け部と前記溝部は、前記第二のリムの周方向に形成され、前記溝も前記周方向に形成されている請求項１から３のいずれか１項に記載のリム組立体。
5. 前記ピン受け部と前記溝部は、同一断面内に形成されており、
   前記溝部は、前記ピン受け部の前記第一のリム側に前記溝が形成される請求項１から４のいずれか１項に記載のリム組立体。
6. 前記第一のリム及び前記第二のリムの少なくともいずれか一方に設けられたスタンドを更に備え、
   前記ピンと前記ピン受け部とが係合したとき、前記スタンドが上方に位置する前記第一のリム又は前記第二のリムを支持する請求項１から５のいずれか１項に記載のリム組立体。
7. 請求項１から６のいずれか１項に記載のリム組立体と、
   前記第一のリム又は前記第二のリムを支持して前記リム組立体を吊り上げる吊り上げ部と、
   を備えるタイヤ試験機。
8. 試験対象であるタイヤが取り付けられる一対の第一のリムと第二のリムを有するリム組立体を用いたタイヤ試験機のリム組立体交換方法であって、
   前記第一のリムに設けられたピンと、前記第二のリムに設けられ、前記ピンに係合可能なピン受け部と、前記第二のリムの第一のリム側の表面には、前記ピンの先端の少なくとも一部を収容可能な凹状断面の溝が形成されている溝部とを備えるリム組立体のうち前記第一のリム又は前記第二のリムを支持して前記リム組立体を吊り上げるリム組立体交換方法。
   

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