JP2012209542A - 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法及び電子機器 - Google Patents

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Abstract

【課題】 固体撮像装置において、カラーフィルタの剥離を抑制する。
【解決手段】 固体撮像装置100は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子11を有する画素112と、画素112に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタ15と、カラーフィルタ15を介して入射光を光電変換素子11に集光するマイクロレンズ16と、カラーフィルタ15の各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜17と、カラーフィルタ15と遮光膜17との間に設けられ、非平坦化された密着性膜19と、を有する。
【選択図】図2

Description

本開示は、固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法及び電子機器に関する。
従来、デジタルカメラやビデオカメラに用いられる固体撮像装置として、CCD(Charge Coupled Device)型の固体撮像装置やCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)型の固体撮像装置が知られている。これらの固体撮像装置は、受光部に入射される光の方向によって大きく2種類に大別される。
ひとつは、配線層が形成された半導体基板の表面側から入射する光を受光する固体撮像装置である。もうひとつは、配線層が形成されていない半導体基板の裏面側から入射する光を受光する、いわゆる裏面照射型固体撮像装置である。
これらの固体撮像装置には、感度や混色の改善のため、画素間を遮光するために遮光膜が設けられている。固体撮像装置には画質の更なる向上が要求されており、更なる混色・感度の改善が求められている。さらに、微細化が進むと、各層、特に遮光膜、カラーフィルタ及びマイクロレンズの重ね合わせ精度が劣化し、混色へ大きな悪影響を与える。
固体撮像装置の低背化や、遮光膜とカラーフィルタの重ね合わせ精度の向上のため、例えば、特許文献1の固体撮像装置では、隣接画素への混色を低減する遮光膜がカラーフィルタと同一平面上に形成されている。
特開2010−85755号公報
しかしながら特許文献1で開示される方法では、カラーフィルタが遮光膜及び半導体基板の上に形成されているため、カラーフィルタが半導体基板から剥離しやすいという問題がある。
本開示は、上述の点を鑑みてなされたものであり、カラーフィルタの剥離を抑制することができる固体撮像装置、及びその製造方法を提供するものである。
また、本開示は、かかる固体撮像装置を備えた電子機器を提供するものである。
上記課題を解決するため、本開示に係る固体撮像装置は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素と、前記画素に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタと、前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズと、前記カラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜と、前記カラーフィルタと前記遮光膜との間に設けられ、非平坦化された密着性膜と、を有する。
本開示に係る固体撮像装置では、カラーフィルタと遮光膜との間に非平坦化された密着性膜を設けることでカラーフィルタの剥離を抑制することができる。
また、本開示に係る固体撮像装置の製造方法は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素を形成する工程とカラーフィルタの複数の色目フィルタ成分の間に設けられる遮光膜を形成する工程と、前記遮光膜上に非平坦化された密着性膜を成膜する工程と、前記密着性膜上であって前記遮光膜の間に前記カラーフィルタを形成する工程と、前記カラーフィルタ上に、前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズを形成する工程と、を有する。
本開示に係る電子機器は、上述した固体撮像装置と、光学レンズと、信号処理回路とを有する。
本技術によれば、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。
第1実施形態に係る固体撮像装置を示す図。 第1実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第1実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第2実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第2実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第3実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第3実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第4実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第4実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第5実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第5実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第6実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第6実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第7実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第7実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第8実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第8実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第9実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第9実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第10実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第10実施形態に係る固体撮像装置の製造工程図。 第11実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第11実施形態に係る遮光膜を示す。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係る遮光膜の製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係るマイクロレンズの製造工程図。 第11実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第11実施形態に係る固体撮像装置の断面図。 第12実施形態に係る電子機器を示す図。
(第1実施形態)
図1は、本技術の第1実施形態に係る固体撮像装置100の一例を示す概略構成図である。図1に示す固体撮像装置100は、シリコンで構成される基板111と、基板111上に配列された複数の画素112を有する画素部113と、垂直駆動回路114と、カラム信号処理回路115と、水平駆動回路116と、出力回路117と、制御回路118と、を備える。
画素部113は、2次元アレイ状に規則的に複数配置された画素112を有する。画素部113は、実際に入射光を受光し光電変換によって生成された信号電荷を増幅してカラム信号処理回路115に読み出す有効画素領域と、黒レベルの基準になる光学的黒を出力するための黒基準画素領域(図示せず)とで構成される。黒基準画素領域は、通常有効画素領域の外周部に形成される。
画素112は、例えばフォトダイオードである光電変換素子(図示せず)と、複数の画素トランジスタ(図示せず)で構成される。画素112は、基板111上に2次元アレイ状に規則的に複数配置される。複数の画素トランジスタは、転送トランジスタ、リセットトランジスタ、選択トランジスタ、アンプトランジスタで構成される4つのMOSトランジスタであっても、選択トランジスタを除いた3つのトランジスタであってもよい。
制御回路118は、垂直同期信号、水平同期信号及びマスタクロックに基づいて、垂直駆動回路114、カラム信号処理回路115、及び水平駆動回路116の動作の基準となるクロック信号や制御信号を生成する。制御回路118は、クロック信号や制御信号を用いて垂直駆動回路114、カラム信号処理回路115、及び水平駆動回路116を制御する。
垂直駆動回路114は、例えばシフトレジスタで構成され、画素112を行単位で順次垂直方向に選択走査する。垂直駆動回路114は、画素112の光電変換素子での受光量に応じて生成された信号電荷に基づく画素信号を、垂直信号線119を通してカラム信号処理回路115に供給する。
カラム信号処理回路115は、例えば画素112の列毎に配置されており、1行分の画素112から出力される信号を画素列毎に黒基準画素領域からの信号によって、ノイズ除去や信号増幅などの信号処理を行う。カラム信号処理回路115の出力段には、図示しない水平選択スイッチが水平信号線120との間に設けられている。
水平駆動回路116は、例えばシフトレジスタで構成される。水平駆動回路116は、水平走査パルスを順次出力することで、カラム信号処理回路115の各々を順番に選択し、各カラム信号処理回路115から画素信号を水平信号線120に出力させる。
出力回路117は、水平信号線120を介して、各カラム信号処理回路115から順次供給される画素信号に対し信号処理を施して図示しない外部装置に出力する。
次に、図2を用いて、固体撮像装置100の詳細を説明する。
図2に示すように、本実施形態の固体撮像装置100は、基板111と、基板111の表面側に形成された配線層26、及び支持基板14と、基板111の裏面側に絶縁膜18を介して形成されたカラーフィルタ15、及びマイクロレンズ16と、を備える。
基板111は、シリコンで構成される半導体基板である。基板111は、3μm〜5μmの厚みを有する。基板111には光電変換素子11と、画素回路部を構成する複数の画素トランジスタTrとで構成される画素112が、二次元マトリクス状に複数形成されている。また、図2では図示を省略するが、基板111に形成された画素112の周辺領域には、周辺回路部が構成されている。
光電変換素子11は、例えばフォトダイオードであり、入射光の受光量に応じた信号電荷が生成され、蓄積される。
画素トランジスタTrは、基板111の表面側に形成された図示しないソース・ドレイン領域と、基板111の表面上にゲート絶縁膜129を介して形成されたゲート電極128と、を有している。
また、隣接する画素112の間には、基板111の表面から裏面にかけて高濃度不純物領域で構成される素子分離領域24が形成されている。素子分離領域24により、各画素112は電気的に分離されている。
配線層26は、基板111の表面側に形成されており、層間絶縁膜27を介して複数層(図2では3層)に積層された配線261を有する。配線層26に形成される配線261を介して、画素112を構成する画素トランジスタTrが駆動される。
支持基板14は、配線層26の基板111に面する側とは反対側の面に形成されている。支持基板14は、製造段階で基板111の強度を確保するために構成される。支持基板14は、例えばシリコン基板で構成される。
カラーフィルタ15は、基板111の裏面側に絶縁膜18を介して形成されており、画素毎に例えば、第1色目、第2色目、及び第3色目フィルタ成分を有する。例えば、第1色目フィルタ成分、第2色目フィルタ成分及び3色目フィルタ成分を、それぞれグリーンフィルタ成分、レッドフィルタ成分及びブルーフィルタ成分としてもよいが、これに限らず、任意の色フィルタ成分としてもよい。また、色フィルタ成分以外でも、例えば可視光を透過する透明樹脂や、例えば透明樹脂中にカーボンブラック色素を添加して形成されるNDフィルタのように可視光を減衰するフィルタ成分を用いることも可能である。
カラーフィルタ15では、所望の波長の光が透過され、透過した光が基板111内の光電変換素子11に入射する。
カラーフィルタ15の各色フィルタ成分の間には、遮光膜17が設けられる。遮光膜17及び絶縁膜18と、カラーフィルタ15との間には密着性膜19が形成される。
遮光膜17は、入射光が隣接する光電変換素子11に漏れる混色を低減するために設けられる。遮光膜17は、導電性の材料や黒色の色材を分散した有機材料で構成される。
密着性膜19は、カラーフィルタ15と、遮光膜17及び絶縁膜18とを密着させるために、カラーフィルタ15と、遮光膜17及び絶縁膜18との間に設けられる。密着性膜19は、非平坦化された透明な膜であり、カラーフィルタ、酸化膜、窒化膜、金属と密着性の良い非平坦化膜である。密着性膜19は、熱効果の過程において、ある温度領域においては下地(ここでは遮光膜17及び絶縁膜18)の凹凸段差による塗布ムラを軽減するように熱流動性を有する熱可塑特性を有し、熱処理最終過程において熱硬化性を兼ね備える樹脂材料を用いることが望ましい。
上述した樹脂材料の例として、アクリル系樹脂、フェノール系樹脂、シロキサン系樹脂、或いはそれらの共重合樹脂、エポキシ系樹脂などの有機膜が挙げられる。具体的には、例えば「TMR−C006」」(東京応化工業株式会社製、製品名)などがある。なお、エポキシ系樹脂を硬化性基や硬化剤に用いた場合も含む。また、密着性膜19としては、Si(ケイ素)、C(炭素)、H(水素)を主成分とする絶縁膜、例えば、SiCH、SiCOH、SiCNHなどの単膜の無機膜を用いてもよい。
密着性膜19は、遮光膜17の形状を利用して形成される。つまり、遮光膜17が形成された後に密着性膜19が成膜されるため、遮光膜17の上面及び側壁に密着性膜19が形成される。
密着性膜19は、カラーフィルタ15の少なくとも一部が各画素に対応して形成された遮光膜17よりも低い位置に形成されるような厚みに成膜すればよい。すなわち、密着性膜19は、遮光膜17の膜厚をT1とすると、密着性膜19の膜厚T2がT2>T1となるような厚みに成膜する。なお、密着性膜19は、リソグラフィーによるパターニングとエッチングにより、遮光膜17の上面及び側壁のみを覆うように形成してもよい。
続いて、固体撮像装置100の製造方法を説明する。固体撮像装置100は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子11を有する画素112を形成する工程と、カラーフィルタ15の複数の色目フィルタ成分の間に設けられる遮光膜17を形成する工程と、遮光膜17上に非平坦化された密着性膜19を成膜する工程と、密着性膜19上であって遮光膜17の間にカラーフィルタ15を形成する工程と、カラーフィルタ15上に、カラーフィルタ15を介して入射光を光電変換素子11に集光するマイクロレンズ16を形成する工程とを備える。
図3を用いて固体撮像装置100の製造方法の詳細を説明する。なお、画素112は従来技術と同様に形成できるため、説明を省略する。
図3(a)に示すように、光電変換素子11上に絶縁膜18を、CVD/ALD/PVD法などを用いて成膜する。
次に、遮光膜17となる膜171(ここでは金属)を成膜する(図3(b))。その後、リソグラフィーを用いて画素112毎に膜171が開口するようにパターニングしてから膜171をエッチングし、遮光膜17を形成する(図3(c))。
図3(d)に示すように、遮光膜17を形成後、スピン塗布法や、スプレー塗布法、スリット塗布法などを用いて密着性膜19を成膜・塗布する。密着性膜19の上に光学的に効率の良い100nm−1um程度の厚みのカラーフィルタ15を形成する(図3(e))。
カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図3(f))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置100は、カラーフィルタ15と遮光膜17との間に非平坦化した密着性膜19を設けることで、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。
また、カラーフィルタ15の一部を遮光膜17の層に埋め込んでいるため、固体撮像装置100の低背化が可能となる。これにより、固体撮像装置300の混色低減や感度向上を実現できる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜19とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第2実施形態)
次に、第2実施形態に係る固体撮像装置200を説明する。固体撮像装置200は、カラーフィルタ25を平坦化している点等をのぞき、図2の固体撮像装置100と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図4に示す固体撮像装置200は、遮光膜17と同一層に設けられたカラーフィルタ25と、遮光膜17の側壁と絶縁膜18上に形成された密着性膜29とを有する。
密着性膜29は、遮光膜17とカラーフィルタ25との間に形成される。密着性膜29は、遮光膜17の側壁に形成されており遮光膜17の側壁と直交する一面には形成されていない。密着性膜29は、絶縁膜18上にも形成されている。密着性膜29は、形状をのぞき構成や材料等は図2の密着性膜19と同じである。
カラーフィルタ25は、平坦化されており、遮光膜17と同一層に形成される。
固体撮像装置200は、遮光膜17及び絶縁膜18で形成される開口に、密着性膜29及びカラーフィルタ25が順に形成された構成となっている。密着性膜29は、カラーフィルタ25と絶縁膜18との間だけでなく、遮光膜17の側壁とカラーフィルタ25との間にも形成されている。
続いて、固体撮像装置200の製造方法を説明する。カラーフィルタ25を形成するまでは、図3(a)〜図3(e)と同じであるため、説明を省略する。
図3では、カラーフィルタ15を形成後、マイクロレンズ16を形成しているが、本実施形態では、図5に示すようにカラーフィルタ25を形成後、マイクロレンズ16の形成前に、カラーフィルタ25を平坦化する。
図5(a)に示すように、カラーフィルタ25を形成後、CMP・DRYエッチング等によりカラーフィルタ25を平坦化する。ここでは遮光膜17の表面が露出するまでカラーフィルタ25の平坦化を行っている。従って、遮光膜17の一面上に形成された密着性膜29もエッチングされているが、密着性膜29が残る程度でエッチングを停止してもよい。これにより、密着性膜29は遮光膜17の側壁と絶縁膜18上に形成される。
図5(b)に示すように、カラーフィルタ25を平坦化した後、カラーフィルタ25上にマイクロレンズ16を形成する。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置200は、カラーフィルタ25を平坦化することで、ムラ・シェーディング・感度比等を改善することができ、画質を向上させることができるとともに、カラーフィルタ25と、遮光膜17及び絶縁膜18との間に密着性膜29を設けることで、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。また、カラーフィルタ25を遮光膜17の層に埋め込んでいるため、固体撮像装置100の低背化が可能となる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ25を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ25との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第3実施形態)
次に、第3実施形態に係る固体撮像装置300を説明する。固体撮像装置300は、密着性膜39の形状をのぞき、図2の固体撮像装置100と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図6に示す固体撮像装置300は、遮光膜17の一面とカラーフィルタ15との間に形成された密着性膜39を有する。
密着性膜39は、遮光膜17の側壁及び絶縁膜18上には形成されておらず、遮光膜17の一部、本実施形態では一面に形成されている。密着性膜39の材料等は、図2に示す密着性膜19と同じであるため説明を省略する。
続いて、固体撮像装置300の製造方法を説明する。膜171を形成するまでは、図3(a)、(b)と同じであるため、説明を省略する。
図7(a)に示すように、膜171を形成後、密着性膜39を膜171上に成膜する。次に、リソグラフィーを用いて画素112毎に膜171が開口するようにパターニングしてから膜171及び密着性膜39をエッチングし、遮光膜17及び密着性膜39を形成する(図7(b))。
次に、カラーフィルタ15を形成し(図7(c))、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図7(d))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置300は、絶縁膜18とカラーフィルタ15との間に密着性膜39を設けていないため、図2に示す固体撮像装置100と比較して低背化が可能である。これにより、固体撮像装置300の混色低減や感度向上を実現できる。また、遮光膜17の一面とカラーフィルタ15との間には密着性膜39を設けているため、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
本実施形態に係る固体撮像装置300は、遮光膜17とカラーフィルタ15との密着性が、絶縁膜18とカラーフィルタ15の密着性より悪い場合に特に有用である。
(第4実施形態)
次に、第4実施形態に係る固体撮像装置400を説明する。固体撮像装置400は、絶縁膜48の形状をのぞき、図2の固体撮像装置100と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図8に示すように、固体撮像装置400は、凹形状を有する絶縁膜48を備える。
絶縁膜48は、一面に凹凸形状を有する。凸形状の上には、遮光膜17が形成され、凹形状の内部には、密着性膜19及びカラーフィルタ15が形成される。このように、固体撮像装置400では、密着性膜19及びカラーフィルタ15が絶縁膜48に埋め込まれている。
続いて、固体撮像装置400の製造方法を説明する。膜171を形成するまでは、図3(a)、(b)と同じであるため説明を省略する。
図9(a)に示すように、膜171を形成後、リソグラフィーを用いて画素112毎に膜171が開口するようにパターニングしてから膜171及び絶縁膜48をエッチングする。エッチングの深さは、遮光膜17及び絶縁膜48を合わせて100nm−1um程度である。これにより、遮光膜17及び凹形状を有する絶縁膜48が形成される。
次に、図9(b)に示すように、遮光膜17を形成後、スピン塗布法や、スプレー塗布法、スリット塗布法などを用いて密着性膜19を成膜・塗布する。さらに、100nm−1um程度の厚みのカラーフィルタ15を形成し(図9(c))、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図9(d))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置400は、絶縁膜48を掘り込むことで凹形状を形成し、凹形状の内部にカラーフィルタ15を埋め込む。これにより、遮光膜17の膜厚を厚くすることなくカラーフィルタ15を所望の厚さにしつつ固体撮像装置400の低背化が可能となる。これにより固体撮像装置400の混色低減や感度向上が実現できる。また、遮光膜17とカラーフィルタ15との間には密着性膜19を設けているため、カラーフィルタ15の剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
また、図9(a)で絶縁膜48をエッチングする際、等方エッチングを行い、絶縁膜48の凹形状をラウンド形状とするようにしてもよい。これにより、遮光膜17及び密着性膜19で構成される光導波路の下部が下に凸のレンズとなるため、マイクロレンズ16から入射した光をさらに集光できるようになる。
(第5実施形態)
次に、第5実施形態に係る固体撮像装置500を説明する。固体撮像装置500は、カラーフィルタ25を平坦化している点等をのぞき、図8の固体撮像装置400と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図10に示す固体撮像装置500は、遮光膜17と同一層に設けられたカラーフィルタ25と、遮光膜17の側壁と絶縁膜18上に形成された密着性膜29とを有する。
密着性膜29は、遮光膜17とカラーフィルタ25との間に形成される。密着性膜29は、遮光膜17の側壁に形成されており遮光膜17の側壁と直交する一面には形成されていない。密着性膜29は、絶縁膜18上にも形成されている。密着性膜29は、形状をのぞき構成や材料等は図2の密着性膜19と同じである。
カラーフィルタ25は、平坦化されており、遮光膜17と同一層に形成される。
固体撮像装置500は、遮光膜17及び絶縁膜18で形成される開口に、密着性膜29及びカラーフィルタ25が順に形成された構成となっている。密着性膜29は、カラーフィルタ25と絶縁膜18との間だけでなく、遮光膜17の側壁とカラーフィルタ25との間にも形成されている。
続いて、固体撮像装置500の製造方法を説明する。カラーフィルタ25を形成するまでは、図9(a)〜図9(c)と同じであるため、説明を省略する。
図9では、カラーフィルタ15を形成後、マイクロレンズ16を形成しているが、本実施形態では、図11に示すようにカラーフィルタ25を形成後、マイクロレンズ16の形成前に、カラーフィルタ25を平坦化する。
図11(a)に示すように、カラーフィルタ25を形成後、CMP・DRYエッチング等によりカラーフィルタ25を平坦化する。図11(a)に示すように、ここでは遮光膜17の表面が露出するまでカラーフィルタ25の平坦化を行っている。従って、遮光膜17に形成された密着性膜29もエッチングされているが、密着性膜29が残る程度でエッチングを停止してもよい。これにより、密着性膜29は遮光膜17の側壁と絶縁膜18上に形成される。
図11(b)に示すように、カラーフィルタ25を平坦化した後、カラーフィルタ25上にマイクロレンズ16を形成する。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置500は、カラーフィルタ25を平坦化することで、ムラ・シェーディング・感度比等を改善することができ、画質を向上させることができるとともに、カラーフィルタ25と、遮光膜17及び絶縁膜18との間に密着性膜29を設けることで、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ25を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ25との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第6実施形態)
次に、第6実施形態に係る固体撮像装置600を説明する。固体撮像装置600は、密着性膜39の形状をのぞき、図8の固体撮像装置400と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図12に示す固体撮像装置600は、遮光膜17の一面とカラーフィルタ15との間に形成された密着性膜39を有する。
密着性膜39は、遮光膜17の側壁及び絶縁膜18上には形成されておらず、遮光膜17の一部、本実施形態では一面に形成されている。密着性膜39の材料等は、図2に示す密着性膜19と同じであるため説明を省略する。
続いて、固体撮像装置600の製造方法を説明する。密着性膜39を膜171上に成膜するまでは、図7(a)までと同じであるため説明を省略する。
図13(a)に示すように、密着性膜39を形成後、リソグラフィーを用いて画素112毎に膜171が開口するようにパターニングしてから膜171及び絶縁膜48をエッチングする。さらに、100nm−1um程度の厚みのカラーフィルタ15を形成し(図13(b))、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図13(c))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置600は、絶縁膜18とカラーフィルタ15との間に密着性膜39を設けていないため、図8に示す固体撮像装置400と比較して低背化が可能である。これにより、固体撮像装置600の混色低減や感度向上を実現できる。また、遮光膜17の一面とカラーフィルタ15との間には密着性膜39を設けているため、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
本実施形態に係る固体撮像装置600は、遮光膜17とカラーフィルタ15との密着性が、絶縁膜18とカラーフィルタ15の密着性より悪い場合に特に有用である。
(第7実施形態)
次に、第7実施形態に係る固体撮像装置700を説明する。
図14に示すように、固体撮像装置700は、入射光を電気信号に変換する光電変換素子11を有する画素112と、画素112に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタ15と、カラーフィルタ15を介して入射光を光電変換素子11に集光するマイクロレンズ16と、絶縁膜48上であってカラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜17とを有し、カラーフィルタ15は、絶縁膜48に埋め込まれていることを特徴とする。
絶縁膜48は、カラーフィルタ15との密着性が高い材料が選択される。
固体撮像装置700は、密着性膜19を有していない点をのぞき、図8の固体撮像装置400と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
続いて、固体撮像装置700の製造方法を説明する。膜171及び絶縁膜48をエッチングし、遮光膜17及び絶縁膜48を形成するまでは、図9(a)までと同じであるため説明を省略する。
図15(a)に示すように、遮光膜17を形成後、密着性膜を形成せずに、100nm−1um程度の厚みのカラーフィルタ15を形成する。次に、図15(b)に示すように、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置700は、絶縁膜48を掘り込むことで凹形状を形成し、凹形状にカラーフィルタ15を埋め込む構成を有する。さらに、絶縁膜48としてカラーフィルタ15との密着性が高い材料を選択することで、カラーフィルタ15と絶縁膜48との密着性を高めることができ、カラーフィルタ15の剥離を抑制することができる。
また、絶縁膜48にカラーフィルタ15を埋め込むことで、遮光膜17の膜厚を厚くすることなくカラーフィルタ15を所望の厚さにしつつ固体撮像装置400の低背化が可能となる。これにより、固体撮像装置400の混色低減や感度向上が実現できる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第8実施形態)
次に、第8実施形態に係る固体撮像装置800を説明する。固体撮像装置800は、カラーフィルタ25を平坦化している点をのぞき、図14の固体撮像装置700と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図16に示す固体撮像装置800は、遮光膜17と同一層に設けられたカラーフィルタ25を有する。
続いて、固体撮像装置800の製造方法を説明する。カラーフィルタ25を形成するまでは、図15(a)までと同じであるため、説明を省略する。
図15では、カラーフィルタ15を形成後、マイクロレンズ16を形成しているが、本実施形態では、図17に示すようにカラーフィルタ25を形成後、マイクロレンズ16の形成前に、カラーフィルタ25を平坦化する。
図17(a)に示すように、カラーフィルタ25を形成後、CMP・DRYエッチング等によりカラーフィルタ25を平坦化する。ここでは遮光膜17の表面が露出するまでカラーフィルタ25の平坦化を行っている。
図17(b)に示すように、カラーフィルタ25を平坦化した後、カラーフィルタ25上にマイクロレンズ16を形成する。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置800は、カラーフィルタ25を平坦化することで、ムラ・シェーディング・感度比等を改善することができ、画質を向上させることができる。また、固体撮像装置800は、絶縁膜48を掘り込むことで凹形状を形成し、凹形状にカラーフィルタ25を埋め込む構成を有する。さらに、絶縁膜48としてカラーフィルタ25との密着性が高い材料を選択することで、カラーフィルタ25と絶縁膜48との密着性を高めることができ、カラーフィルタ25の剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ25を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ25との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第9実施形態)
次に、第9実施形態に係る固体撮像装置900を説明する。固体撮像装置900は、密着性膜19と遮光膜17との間に酸化膜40を有している点をのぞき、図2の固体撮像装置100と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図18に示すように、固体撮像装置900は、遮光膜17の表面(一面及び側壁)及び絶縁膜18に形成された酸化膜40を有する。酸化膜40上に密着性膜19が成膜される。密着性膜19を、酸化膜40と密着性のよい材料で形成する。酸化膜40と密着性膜19は、カラーフィルタ15の少なくとも一部が各画素に対応して形成された遮光膜17よりも低い位置に形成されるような厚みに成膜すればよい。すなわち、酸化膜40と密着性膜19とを合わせた膜厚T3が、遮光膜17の膜厚をT1とすると、T3<T1となるように、酸化膜40及び密着性膜19を成膜する。
酸化膜40の材料としては、例えば、水酸化シリコン(Si2n+2)、アルキルシラン(SiH4−n、SiR)、アルコキシシラン(SiH(OR)4−n、Si(OR)、Si(OR)(OR’))、ポリシロキサンの少なくともいずれかの材料ガスと酸化剤を用いて成膜されるSiO膜、P−SiO膜、HDP−SiO膜などが挙げられる。なお、酸化膜40の代わりに窒化膜を用いてもよい。
なお、酸化膜40と密着性膜19は、リソグラフィーによるパターニングとエッチングにより、遮光膜17の上面および側壁のみを覆うように形成してもよい。
続いて、固体撮像装置900の製造方法を説明する。遮光膜17を形成するまでは、図3(a)〜図3(c)と同じであるため説明を省略する。
図19(a)に示すように、遮光膜17を形成後、スピン塗布法や、スプレー塗布法、スリット塗布法などを用いて酸化膜40を成膜・塗布する。次に、酸化膜40上に、スプレー塗布法、スリット塗布法などを用いて密着性膜19を成膜する(図19(b))。密着性膜19上にカラーフィルタ15を形成し(図19(c))、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図19(d))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置900のように酸化膜40に密着性膜19を積層することができる。酸化膜40を形成しても、カラーフィルタ15と遮光膜17との間に密着性膜19及び酸化膜40が形成されているため、カラーフィルタの剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
(第10実施形態)
次に、第10実施形態に係る固体撮像装置1000を説明する。固体撮像装置1000は、酸化膜50が遮光膜17の一面に形成されている点をのぞき、図18に示す固体撮像装置900と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図20に示すように、固体撮像装置1000は、遮光膜17の一面に形成された酸化膜50を有する。酸化膜50及び絶縁膜18上と遮光膜17の側壁に密着性膜19が成膜される。密着性膜19は、酸化膜50、遮光膜17と密着性のよい材料で構成される。酸化膜50は、遮光膜17の一面に形成されるが、図18の固体撮像装置900とは異なり、絶縁膜18及び遮光膜17の側壁には形成されない。
続いて固体撮像装置1000の製造方法を説明する。膜171を形成するまでは、図3(a)、(b)と同じであるため説明を省略する。
図21(a)に示すように、膜171を形成後、酸化膜50を膜171上に成膜する。次に、リソグラフィーを用いて画素112毎に膜171が開口するようにパターニングしてから膜171及び酸化膜50をエッチングし、遮光膜17及び酸化膜50を形成する
次に、遮光膜17及び酸化膜50上にスピン塗布法や、スプレー塗布法、スリット塗布法などを用いて密着性膜19を成膜・塗布する。(図21(b))。カラーフィルタ15を形成し(図21(c))、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ16を形成する(図21(d))。
以上のように、本実施形態に係る固体撮像装置1000は、絶縁膜18とカラーフィルタ15との間に酸化膜50を設けていないため、図18に示す固体撮像装置900と比較して低背化が可能である。これにより、固体撮像装置1000の混色低減や感度向上が実現できる。また、遮光膜17の一面とカラーフィルタ15との間に密着性膜19を設けているため、カラーフィルタ15の剥離を抑制することができる。さらに、画素間に形成される遮光膜17に基づいてセルフアライメントでカラーフィルタ15を形成可能であり、遮光膜17とカラーフィルタ15との重ね合わせ精度を向上することができる。
なお、第9、第10実施形態では、図2の固体撮像装置100に酸化膜40,50を設ける例について説明したが、図8に示す固体撮像装置400に酸化膜40,50を設けてもよい。
(第11実施形態)
次に、第11実施形態に係る固体撮像装置1100を説明する。固体撮像装置1100は、遮光膜の形状が異なる点をのぞき、図2に示す固体撮像装置100と同じ構成であるため、同一構成要素には同一符号を付し説明を省略する。
図22を用いて、固体撮像装置1100の詳細を説明する。図22(a)は、固体撮像装置1100の画素112の辺方向における断面図である。図22(b)は、固体撮像装置1100の画素112の対角方向における断面図である。
遮光膜は、第1遮光部271及び第2遮光部272を有する。第1遮光部271及び第2遮光部272は、カラーフィルタ15の各色目フィルタ成分の間に設けられる。第1遮光部271は、画素112からマイクロレンズ16に最も近い面までの距離が、第2遮光部272よりも長くなっている。つまり、第1遮光部271及び第2遮光部272の画素112からマイクロレンズ16に最も近い面までの距離をそれぞれd1、d2(d1、d2>0)とすると、d1>d2となる。
本実施形態では、図22の一点鎖線から一点鎖線で囲まれた部分であって、画素112、カラーフィルタ15の色目フィルタ成分、マイクロレンズ16を含む領域を画素領域と称する。各画素領域の境界である図22の一点鎖線を画素境界と称する。本実施形態に係る固体撮像装置1100の画素領域の平面は四角形状をしており、四角形状の対向する辺の中点を通る線分を画素領域の辺方向、四角形状の対角線を結ぶ線分を画素領域の対角方向と称する。
次に図23を用いて、本実施形態に係る遮光膜について説明する。図23(a)は、遮光膜の平面図である。図23(b)は、図23(a)のa−a’ (画素領域の辺方向)、図23(c)は、b−b’(画素領域の対角方向)における断面のうち遮光膜及び絶縁膜18を示した図である。
遮光膜は、画素境界上、すなわち画素領域の周囲であってカラーフィルタ15の各色目フィルタ成分の間に形成される。遮光膜は、図23(a)の通り格子状に形成される。
遮光膜は、画素領域の辺部に形成された第1遮光部271と、画素境界の角部に形成された第2遮光部272とを有する。
第1遮光部271は、格子状の遮光膜の辺部に形成される。第1遮光部271は、所定の膜厚を有する。画素領域はマイクロレンズ16側からみて四角形状をしている。四角形状の辺を含み一定の幅を持った領域を画素領域の辺部と称する。第1遮光部271は、カラーフィルタ15の各色目フィルタ成分の間であって画素領域の辺部に形成される。第1遮光部271は、マイクロレンズ16と接する端面(第1の端面)と、第1の端面と対向する端面(第2の端面)とを有する。第1遮光部271は、所定の膜厚がd1を有し、第1の端面の幅が第2の端面の幅より狭い略テーパ形状を有する。
第2遮光部272は、格子状の遮光膜の交差部に形成される。第2遮光部272は、第1遮光部271の膜厚より薄い所定の膜厚を有し、平面視で十字形状を有する。画素領域はマイクロレンズ16側からみて四角形状をしている。四角形状の角を含み一定の幅を持った領域を画素領域の角部と称する。第2遮光部272は、カラーフィルタ15と同一平面上であって画素領域の角部に形成される。第2遮光部272は、マイクロレンズ16と接する端面(第1の端面)と、第1の端面と対向する端面(第2の端面)とを有する。
なお、本実施形態に係る固体撮像装置1100は、基板111の裏面側の絶縁膜18の上に遮光膜が形成されている。そのため画素112の表面からマイクロレンズ16側の第1遮光部271の端面までの距離は、第1遮光部271の膜厚と絶縁膜18の膜厚とを合わせた距離になる。また画素112の表面からマイクロレンズ16側の第2遮光部272の端面までの距離は、第2遮光部272の膜厚と絶縁膜18の膜厚とを合わせた距離になる。絶縁膜18の膜厚は一定だが、第1遮光部271の膜厚が第2遮光部272の膜厚より厚いため、画素112の表面からマイクロレンズ16側の第1遮光部271の端面までの距離d1は、画素112の表面からマイクロレンズ16側の第2遮光部272の端面までの距離より長くなる。
次に、図24A〜Fを用いて本実施形態に係る固体撮像装置1100の製造方法を説明する。なお、絶縁膜18を形成するまでは、図2の固体撮像装置100と同じ工程のため説明を省略する。
図24A〜Fの(a)は画素領域の辺方向における断面図を、(b)は画素領域の対角方向における断面図を示す。図24中の一点鎖線は、画素領域の境界を示す。
図24Aに示すように、絶縁膜18の上に膜31を形成する。膜31は、入射光を遮る材料で形成される。例えば、遮光膜として導電性の材料を用いる場合は、アルミニウム、タングステンなどを用いる。また遮光膜として有機材料を用いる場合は、カーボンブラックや、チタンブラックを含む有機膜など黒色の色材を分散した材料を用いる。
図24Bに示すように、膜31上に第1のフォトレジスト32を形成する。第1のフォトレジスト32は、第2遮光部272と同様に十字形状を有し、十字形状の幅が第2遮光部272よりも大きい開口部を画素領域の角部に有する(図24B(b)の符号A参照)。
第1のフォトレジスト32をマスクとして、その下地の膜31をドライエッチングする(図24C参照)。ここでは、図24C(b)の符号Bに示すように、膜31の厚さ以下でエッチングが終了するようにドライエッチングが行われる。これにより、膜31には凹状の穴が形成される。
ドライエッチングが終了すると、第1のフォトレジスト32が除去され、膜31上に第2のフォトレジスト33が形成される。第2のフォトレジスト33は、画素領域の辺部に第1遮光部271と、画素領域の角部に第2遮光部272と同様の形状になるように形成される。従って、第2のフォトレジスト33のうち画素領域の角部に形成される部分は、膜31の凹状の穴の内側に形成される(図24D(b)の符号C参照)。
図24Eに示すように、第2のフォトレジスト33をマスクとして、その下地の膜31をドライエッチングし、図24Fに示すように、第2のフォトレジスト33を除去することで、第1遮光部271、第2遮光部272が形成される。
このように、フォトレジストパータン及びドライエッチングをそれぞれ2回行うことで、厚さの異なる第1遮光部271と第2遮光部272を形成することができる。
密着性膜19及びカラーフィルタ15を形成する方法は、図2の固体撮像装置100と同じであるため説明を省略する。
図25A〜Fを用いてマイクロレンズ16の形成方法を説明する。図25A〜Fの(a)は画素領域の辺方向の断面図、(b)は画素領域の対角方向の断面図である。
図25Aに示すように、カラーフィルタ15を形成した後、カラーフィルタ15上にマイクロレンズ母材43を形成する。マイクロレンズ母材には、ポリスチレン系樹脂、ノボラック系樹脂、これら樹脂とアクリル系樹脂の共重合系樹脂、或いはアクリル系樹脂の側鎖に芳香環を付与した樹脂などが用いられる。
図25Bに示すように、マイクロレンズ母材43の上にポジ型フォトレジスト44を塗布する。ポジ型フォトレジスト44には、例えば主成分としてノボラック樹脂が用いられる。
次に、ポジ型フォトレジスト44を、フォトリソグラフィー法を用いて各画素に対応してパターニングする(図25C)。
パターン形成したポジ型フォトレジスト44を熱軟化点より高い温度で熱処理を行い、レンズ形状のポジ型フォトレジスト44を形成する(図25D)。ポジ型フォトレジスト44の線幅は、画素領域の辺方向(W1)が対角方向(W2)より狭くなる。
レンズ形状のポジ型フォトレジスト44をマスクとして、ドライエッチング法を用いてレンズ形状を下地のマイクロレンズ母材43にパターン転写する(図25E)。ポジ型フォトレジスト44の線幅は、画素領域の辺方向(W1)が対角方向(W2)より狭いため、画素領域の辺方向で隣接するレンズは実質的に間隔がないが、対角方向で隣接するレンズは間隔がある。
本実施形態に係る固体撮像装置1100では、対角方向で隣接するレンズの間隔をなくすため、エッチングを継続して行う。図25Fに示すように、辺方向で隣接するレンズの間隔が実質的になくなった後もエッチングを継続して行うことで、対角方向で隣接するレンズの間隔が実質的にゼロとなる。隣接するマイクロレンズ16に隙間があっても、この隙間が200nm以下であれば、光の波長より十分小さく固体撮像装置の感度特性に影響を与えないため、隣接するマイクロレンズ16は、実質的に接触しており、隣接するレンズの間隔が実質的にゼロとなるとする。
上述したようにマイクロレンズ16を形成することで、マイクロレンズ16は、画素境界の辺部の厚さh4が、角部の厚さh5より厚くなる。つまり、マイクロレンズ16は、上面の高さが同一で、画素領域の角部に形成されたマイクロレンズ16の底面(隣接するマイクロレンズ16が接する箇所)より、辺部に形成されたマイクロレンズ16の底面が低い位置(カラーフィルタ15により近い位置)に形成される。
次に、図26を用いて第2遮光部272の膜厚を第1遮光部271の膜厚より薄くとしたことによる効果を説明する。
図26(a)、(b)は、本実施形態に係る固体撮像装置1100のマイクロレンズ16、カラーフィルタ15、遮光膜及び密着性膜19の断面を示す図である。
図26(c)、(d)は、第2遮光部272の膜厚を第1遮光部271の膜厚と同じとした場合の固体撮像装置を示している。第2遮光部272の膜厚以外は、図26(a)、(b)と同じ構成である。
図26では、マイクロレンズ16を介して集光される入射光のうち垂直に入射した光を実線で、主光線が傾き、斜めに入射した光(斜め入射光)を破線で示している。
図26(a)、(c)に示すように、固体撮像装置1100のマイクロレンズ16の中心を通り、画素境界と平行な面(画素領域の辺方向における断面)では、垂直入射光は第1遮光部271に遮られることなくカラーフィルタ15に入射されている。一方、斜め入射光の一部はどちらも第1遮光部271で反射している。
図26(d)に示すように、固体撮像装置1100のマイクロレンズ16の中心、及び画素領域の対角線を通る面(画素領域の対角方向における断面)では、入射光は第2遮光部272に遮られてしまい、いわゆるケラレが生じている。特に、マイクロレンズ16の角部では、垂直入射光、斜め入射光ともに遮光膜で反射してしまい、固体撮像装置1100の光感度が低下してしまう。
第2遮光部272は、絶縁膜18上に膜171の成膜を行った後にリソグラフィー法を用いてレジストパターンを形成し、次いでドライエッチ法を用いてエッチングを行うことで形成される。リソグラフィー法で形成されたレジストパターンは、平面的に開口が小さくなるよう開口部がラウンド形状を持つ(図23(a)参照)。従って、第2遮光部272の辺方向の幅W1に対して対角方向の幅W2がより広く形成されてしまう。このように、第2遮光部272の線幅W2は、第1遮光部271の線幅W1より広くなってしまうため、マイクロレンズ16の角部から入射された光の多くが第2遮光部272で反射してしまい、固体撮像装置1100の光感度が低下してしまう。
一方、図26(b)に示すように、第2遮光部272の膜厚を第1遮光部271の膜厚より薄くすると、第2遮光部272に遮られる入射光が減少する。特に、マイクロレンズ16の角部では、垂直入射光が遮光膜に遮られることなくカラーフィルタ15を通過している。また斜め入射光も一部は第2遮光部272で反射してしまうが、図26(d)では通過できなかった斜め入射光Lがカラーフィルタ15を通過している。
このように、第2遮光部272の膜厚を低くすることで、遮光膜で反射する入射光を減らすことができるため、固体撮像装置1100の光感度の低下を抑制することができる。また第1遮光部271の膜厚を低くしないことで、入射光が隣接する光電変換素子11に漏れる混色を低減することができる。
さらに、第2遮光部272の膜厚をカラーフィルタ15の膜厚より薄くすることで、第2遮光部272の上部にカラーフィルタ15が形成されない領域が生じる。これにより、図27に示すように、マイクロレンズ16の角部をカラーフィルタ15の層内に形成することができる。つまり、カラーフィルタ15の光電変換素子11側の面からマイクロレンズ16の角部までの距離d3を、カラーフィルタ15の膜厚より短くすることができ、マイクロレンズ16をより薄く形成することが可能となる。
また、遮光膜とカラーフィルタ15との間には密着性膜19を設けているため、カラーフィルタ15の剥離を抑制することができる。
なお、第11実施形態では、第1実施形態の固体撮像装置100の遮光膜の角部の膜厚を薄くする例について説明したが、第2〜第10実施形態の固体撮像装置200〜1000の遮光膜の角部を同様に薄くしてもよい。
(第12実施形態)
次に、図28を用いて、本技術の第12実施形態では、固体撮像装置100の応用例を説明する。図28は、固体撮像装置100を電子機器1200に応用した例を示す。電子機器1200としては、例えばデジタルカメラや、携帯電話機等のカメラ、スキャナ、監視カメラ等が挙げられるが、ここでは電子機器1200がデジタルカメラである場合について説明する。
本実施形態に係る電子機器1200は、固体撮像装置100と、光学レンズ210と、シャッタ装置211と、駆動回路212と、信号処理回路213とを有する。
光学レンズ210は、被写体からの像光(入射光)を固体撮像装置100の撮像面上に結像させる。これにより固体撮像装置100内に一定期間信号電荷が蓄積される。
シャッタ装置211は、固体撮像装置100への光照射期間及び遮光期間を制御する。駆動回路212は、固体撮像装置100の転送動作およびシャッタ装置211のシャッタ動作を制御する駆動信号を供給する。
固体撮像装置100は、駆動信号に基づき光電変換素子11に蓄積された信号電荷を電気信号として出力する。
信号処理回路213は、各種の信号処理を行う。信号処理回路213は、固体撮像装置100が出力する電気信号に対して信号処理を施して映像信号を生成し、図示しないメモリなどの記憶媒体やモニタ等に出力する。
以上のように、本実施形態に係る電子機器1200は、第1実施形態に係る固体撮像装置100を搭載しているため、カラーフィルタ15の剥離を抑制し、映像信号の画質を向上させることができる。
ここでは、電子機器1200に第1実施形態に係る固体撮像装置100を搭載する例を示したが、電子機器1200に第2〜第10実施形態に係る固体撮像装置を搭載してもよい。
なお、上述した各実施形態では、固体撮像装置としてCMOS型の裏面照射型固体撮像装置を例に説明したが、CCD型の固体撮像装置であっても表面照射型固体撮像装置であっても本技術を適用できることは言うまでもない。
また、本技術は以下のような構成をとることができる。
(1)入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素と、
前記画素に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタと、
前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズと、
前記カラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜と、
前記カラーフィルタと前記遮光膜との間に設けられ、非平坦化された密着性膜と、
を有する固体撮像装置。
(2)前記カラーフィルタは平坦化されている前記(1)に記載の固体撮像装置。
(3)前記密着性膜は、前記遮光膜の一面と前記カラーフィルタとの間に設けられる前記(1)または前記(2)に記載の固体撮像装置。
(4)前記光電変換素子と前記カラーフィルタとの間に絶縁膜をさらに有し、
前記カラーフィルタは、前記絶縁膜に埋め込まれている前記(1)〜(3)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(5)前記密着性膜と前記遮光膜との間に酸化膜を有する前記(1)〜(4)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(6)前記酸化膜は、前記遮光膜の一面に設けられる前記(5)記載の固体撮像装置。
(7)前記遮光膜は、
前記色目フィルタ成分の辺部に形成された第1遮光部と、
前記画素領域の角部に形成された第2遮光部と、を有し、
前記第2遮光部の、前記画素の表面から前記マイクロレンズ側の端面までの距離が、前記第1遮光部の前記距離よりも短い、
前記(1)〜(6)のいずれかに記載の固体撮像装置。
(8)入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素を形成する工程と
カラーフィルタの複数の色目フィルタ成分の間に設けられる遮光膜を形成する工程と、
前記遮光膜上に非平坦化された密着性膜を成膜する工程と、
前記密着性膜上であって前記遮光膜の間に前記カラーフィルタを形成する工程と、
前記カラーフィルタ上に、前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズを形成する工程と、
を有する固体撮像装置の製造方法。
(9)入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素と、
前記画素に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタと、
前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズと、
前記カラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜と、
前記カラーフィルタと前記遮光膜との間に設けられ、非平坦化された密着性膜と、
を有する固体撮像装置と、
前記光電変換素子に前記入射光を導く光学レンズと、
前記電気信号を処理する信号処理回路と、
を備える電子機器。
最後に、上述した各実施形態の説明は本技術の一例であり、本技術は上述の実施の形態に限定されることはない。このため、上述した各実施の形態以外であっても、本技術に係る技術的思想を逸脱しない範囲であれば、設計等に応じて種々の変更が可能であることは勿論である。
112 画素
114 垂直駆動回路
115 カラム信号処理回路
116 水平駆動回路
117 出力回路
118 制御回路
111 基板
14 支持基板
15,25 カラーフィルタ
16 マイクロレンズ
24 素子分離領域
18,48 絶縁膜
17,27 遮光膜
271 第1遮光部
272 第2遮光部
210 光学レンズ
211 シャッタ装置
212 駆動回路
213 信号処理回路

Claims (9)

  1. 入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素と、
    前記画素に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタと、
    前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズと、
    前記カラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜と、
    前記カラーフィルタと前記遮光膜との間に設けられ、非平坦化された密着性膜と、
    を有する固体撮像装置。
  2. 前記カラーフィルタは平坦化されている請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記密着性膜は、前記遮光膜の一面と前記カラーフィルタとの間に設けられる請求項1に記載の固体撮像装置。
  4. 前記光電変換素子と前記カラーフィルタとの間に絶縁膜をさらに有し、
    前記カラーフィルタは、前記絶縁膜に埋め込まれている請求項1に記載の固体撮像装置。
  5. 前記密着性膜と前記遮光膜との間に酸化膜を有する請求項1に記載の固体撮像装置。
  6. 前記酸化膜は、前記遮光膜の一面に設けられる請求項5記載の固体撮像装置。
  7. 前記遮光膜は、
    前記色目フィルタ成分の辺部に形成された第1遮光部と、
    前記画素領域の角部に形成された第2遮光部と、を有し、
    前記第2遮光部の、前記画素の表面から前記マイクロレンズ側の端面までの距離が、前記第1遮光部の前記距離よりも短い、
    請求項1に記載の固体撮像装置。
  8. 入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素を形成する工程と
    カラーフィルタの複数の色目フィルタ成分の間に設けられる遮光膜を形成する工程と、
    前記遮光膜上に非平坦化された密着性膜を成膜する工程と、
    前記密着性膜上であって前記遮光膜の間に前記カラーフィルタを形成する工程と、
    前記カラーフィルタ上に、前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズを形成する工程と、
    を有する固体撮像装置の製造方法。
  9. 入射光を電気信号に変換する光電変換素子を有する画素と、
    前記画素に対応して形成され、複数の色目フィルタ成分を有するカラーフィルタと、
    前記カラーフィルタを介して前記入射光を前記光電変換素子に集光するマイクロレンズと、
    前記カラーフィルタの各色目フィルタ成分間に配置される遮光膜と、
    前記カラーフィルタと前記遮光膜との間に設けられ、非平坦化された密着性膜と、
    を有する固体撮像装置と、
    前記光電変換素子に前記入射光を導く光学レンズと、
    前記電気信号を処理する信号処理回路と、
    を備える電子機器。
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