JP2019186516A - 光学センサおよびその形成方法 - Google Patents

光学センサおよびその形成方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2019186516A
JP2019186516A JP2018193438A JP2018193438A JP2019186516A JP 2019186516 A JP2019186516 A JP 2019186516A JP 2018193438 A JP2018193438 A JP 2018193438A JP 2018193438 A JP2018193438 A JP 2018193438A JP 2019186516 A JP2019186516 A JP 2019186516A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
polymer material
light shielding
optical sensor
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2018193438A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6681959B2 (ja
Inventor
慶強 ▲呉▼
慶強 ▲呉▼
qing qiang Wu
和泰 林
Kazuyasu Hayashi
和泰 林
雅文 佐野
Masafumi Sano
雅文 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
VisEra Technologies Co Ltd
Original Assignee
VisEra Technologies Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by VisEra Technologies Co Ltd filed Critical VisEra Technologies Co Ltd
Publication of JP2019186516A publication Critical patent/JP2019186516A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6681959B2 publication Critical patent/JP6681959B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14603Special geometry or disposition of pixel-elements, address-lines or gate-electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14623Optical shielding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14643Photodiode arrays; MOS imagers
    • H01L27/14645Colour imagers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14683Processes or apparatus peculiar to the manufacture or treatment of these devices or parts thereof
    • H01L27/14685Process for coatings or optical elements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/1462Coatings
    • H01L27/14621Colour filter arrangements

Landscapes

  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

【課題】 遮光層の開口を充填する高分子材料層を有する光学センサを提供する。【解決手段】 基板の上に配置された光学層と、前記光学層の上に配置され、前記光学層を部分的に露出させる第1の開口を含む遮光層と、前記第1の開口を充填し、その上面は、前記遮光層の上面より高い高分子材料層と、前記遮光層と前記高分子材料層の上に配置された接着層と、前記接着層の上に配置された表面構成要素を含む光学センサ。【選択図】 図3D

Description

本発明は、光学センサ技術に関するものであり、特に、遮光層の開口を充填する高分子材料層を有する光学センサに関するものである。
カラー画像のシーンを撮像するために、光学センサは、広帯域スペクトルの光線に敏感でなければならない。光学センサは、シーンから反射された光に反応し、その光の強度を電子信号に変換することができる。電荷結合素子(CCD)イメージセンサまたは相補型金属酸化膜半導体(CMOS)イメージセンサなどの光学センサは、一般的に、入射光を電子信号に変換する光電変換領域を有する。また、光学センサは、イメージセンサ電子信号を伝送および処理する論理回路を有する。
現在、光学センサは多くの領域で広く用いられ、例えば、光センサ、近接センサ、光飛行時間(time-of-flight; TOF)カメラ、分光器、モノのインターネット(Internet of things; IOT)に用いられるスマートセンサ、および先進運転支援システム(advanced driver assistance systems; ADAS)のセンサなどの装置にも広く用いられる。
現存する光学センサは、それらの用途に適しているが、あらゆる局面において十分ではない。従って、光学センサは、なお克服すべきである問題がある。
遮光層の開口を充填する高分子材料層を有する光学センサおよびその形成方法を提供する。
いくつかの光学センサでは、遮光層は、光学層の上に配置される。遮光層は、光学層を部分的に露出させる少なくとも1つの開口を含み、光は、遮光層にブロックされることなく、開口によって光学層に伝送されることができる。しかしながら、接着層によって表面構成要素が遮光層に付着されたとき、接着層と遮光層との間に気泡が発生し、開口の角部に気泡が混入し易くなる可能性がある。その結果、その後に行われる熱処理の後に接着層が膨潤し、光学センサの光屈折率に影響を与え、光学センサの画質が劣化する。
本発明の実施形態によれば、遮光層の開口には高分子材料層が充填され、高分子材料層の上面は、遮光層の上面より高い。即ち、高分子材料層は、遮光層から突出しており、複数の流路(即ち、通気孔)が高分子材料層の突出部の間に形成される。従って、接着層によって遮光層に表面構成要素を付着させると、空気流路を通して空気を排出することができる。従って、表面構成要素は、遮光層の間に任意の気泡が混入されることなく、遮光層に緊密に付着され、光学センサの画質向上に寄与することができる。
本開示のいくつかの実施形態では、光学センサが提供される。光学センサは、基板の上に配置された光学層と、光学層の上に配置され、光学層を部分的に露出させる第1の開口を含む遮光層を含む。光学センサは、第1の開口を充填する高分子材料層も含み、高分子材料層の上面は、遮光層の上面より高い。光学センサは、遮光層と高分子材料層の上に配置された接着層と、接着層の上に配置された表面構成要素を更に含む。
本開示のいくつかの実施形態では、光学センサが提供される。光学センサは、基板の上に配置された光学層と、光学層の上に配置され、光学層を部分的に露出させる第1の開口のアレイおよび第2の開口のアレイを含む遮光層を含む。光学センサは、第1の開口のアレイを充填する第1の高分子材料部分と、第2の開口のアレイを充填する第2の高分子材料部分も含む。光学センサは、遮光層と、第1の高分子材料層と、第2の高分子材料層の上に配置された接着層を更に含み、接着層は、第1の高分子材料部分と第2の高分子材料部分の間に延伸する。また、光学センサは、接着層の上に配置された表面構成要素を含む。
本開示のいくつかの実施形態では、光学センサを形成する方法が提供される。前記方法は、光学層を基板の上に形成するステップと、光学層の上に、光学層を部分的に露出させる第1の開口と第2の開口を含む遮光層を形成するステップを含む。前記方法は、光学層の上に、第1の開口を充填する第1の部分と第2の開口を充填する第2の部分を有し、第1の部分と第2の部分は、遮光層の上面から突出し、第1の部分と第2の部分は、その間に空間を有する高分子材料層を形成するステップも含む。前記方法は、遮光層と高分子材料層の上に接着層を塗布するステップと、接着層を用いて高分子材料層に表面構成要素を付着させるステップを更に含む。
本発明によれば、遮光層の開口を充填する高分子材料層を有する光学センサおよびその形成方法を提供することができる。
図1Aは、比較例の光学センサの順次形成のプロセスを示す断面図である。 図1Bは、比較例の光学センサの順次形成のプロセスを示す断面図である。 図2Aは、図1Aに示された比較例の光学センサの例示的な順次形成のプロセスの上面図であり、図1Aは、図2Aのライン1−1’に沿った断面図である。 図2Bは、図1Bに示された比較例の光学センサの例示的な順次形成のプロセスの上面図であり、図1Bは、図2Bのライン1−1’に沿った比較例の光学センサの断面図である。 図3Aは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図3Bは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図3Cは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図3Dは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図4Aは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図4Bは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。 図5Aは、本開示のいくつかの実施形態に係る図3Aの断面図に対応する上面図であり、図3Aは、図5Aのライン3−3’に沿った断面図である。 図5Bは、本開示のいくつかの実施形態に係る図3Bの断面図に対応する上面図であり、図3Bは、図5Bのライン3−3’に沿った断面図である。 図6は、本開示のいくつかの実施形態に係る図4Aの断面図に対応する上面図であり、図4Aは、図6のライン4−4’に沿った断面図である。 図7Aは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。 図7Bは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。 図7Cは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。 図7Dは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。 図7Eは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。 図7Fは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサの上面図である。
上述の説明では、本発明を実施するベストモードを開示している。この説明は、本発明の一般原理を例示する目的のものであり、本発明を限定するものではない(本発明の範囲は、添付の請求の範囲を参考にして決定される)。
図1A〜図1Bは、比較例の光学センサ100の例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。図2A〜図2Bは、図1A〜図1Bに示された比較例の光学センサ100の例示的な順次形成のプロセスの上面図であり、図1Aは、図2Aのライン1−1’に沿った断面図である。図1Bは、図2Bのライン1−1’に沿った比較例の光学センサ100の断面図である。
図1Aおよび図2Aに示されるように、光学層103は、基板101の上に配置され、遮光層105は、光学層103の上に配置される。遮光層105は、光学層103を部分的に露出させる複数の開口107を有する。開口107は互いに分離されている。即ち、図2Aに示すように、各開口107は、遮光層105によって囲まれている。
次いで、図1Bおよび図2Bに示されるように、表面構成要素113は、接着層111によって遮光層105に取り付けられている。各開口107は遮光層105で囲まれているため、接着層111と遮光層105との間に複数の気泡109が発生して、開口107の角部に溜まる。その結果、後続して熱処理が行われた後、接着層111が膨潤し、光学センサ100の光屈折率が影響を受け(例えば、期待値から外れる)、光学センサ100の画質が低下する。
図3A〜図3Dは、本開示のいくつかの実施形態に係る光学センサ200aの例示的な順次形成のプロセスを示す断面図である。図5A〜図5Bは、本開示のいくつかの実施形態に係る図3A〜図3Bの断面図に対応する上面図であり、図3Aは、図5Aのライン3−3’に沿った断面図であり、図3Bは、図5Bのライン3−3’に沿った断面図である。
図3Aに示すように、光学層103は、基板101の上に形成され、基板101は、複数の光電変換領域102を有する。いくつかの実施形態では、基板101は、半導体基板、例えば、シリコンウエハまたはチップであることができ、各光電変換領域102は、フォトダイオード(PD)などの光電変換素子を含むことができる。図3Aは、2つの光電変換領域102のみを示しているが、留意すべきことは、基板101内に形成される光電変換領域102の数に制限はなく、光電変換領域102は周辺回路領域(図示せず)によって囲まれていることである。
光電変換領域102は、基板101の面に形成される。いくつかの実施形態では、後続して形成される光学センサ200aに必要な各種の配線および電子回路の配線層(図示せず)は、基板101の反対面に形成される。
いくつかの実施形態では、光学層103は、その中にいくつかの導電層と誘電体層(層間誘電体(ILD)層、金属間誘電体(IMD)層など)を有する材料の構造であることができ、光学層103の導電層は、後続して形成される光学センサ200aに必要な配線構造を有する。また、光学層103は、光が通過することができるいくつかの開口(aperture)と、光の透過をブロックするのに用いられるいくつかの遮光層とを含むことができる。
図3Aおよび図5Aに示すように、遮光層105が光学層103の上に形成されている。図1Aおよび図2Aと同様に、遮光層105は、光学層103を部分的に露出させる複数の開口107を有する。開口107は、互いに分離されている。即ち、図5Aに示すように、各開口107は、遮光層105によって囲まれている。
具体的に言えば、各開口107は、基板101内の1つの光電変換領域102に個別に位置合わせされている。いくつかの実施形態では、遮光層105は、後続して形成される光学センサ200aに照射される斜入射光によって生じるクロストークを低減または防止するために用いられ、光学センサ200aの感度を向上させることができる。
いくつかの実施形態では、光電変換領域102を囲む周辺回路領域では、光学層103は、どの開口107によっても露出されない場合がある。このような場合、後続して遮光層105の上に形成される高分子材料層115は、周辺回路領域の端部まで延伸することができる。
続いて図3Aおよび図5Aに示すように、高分子材料層115は、光学層103の上に形成され、開口107を充填する。留意すべきことは、高分子材料層115の上面は、遮光層105の上面よりも高いことである。即ち、高分子材料層115は、遮光層105の上面から突出している。
いくつかの実施形態では、高分子材料層115は有機高分子(流動性のフォトレジストなど)で形成されることができる。高分子材料層115は蒸着法またはコーティング法によって形成され、続いてパターニングプロセスで形成される。パターニングプロセスは、フォトリソグラフィプロセスおよびエッチングプロセスを含む。
また、有機高分子からなる高分子材料層115は、フルスペクトル光または特定の波長の光を透過させる。高分子材料層115が全波長範囲の光(即ち、フルスペクトル光)を透過させるように設計されている場合、高分子材料層115は、透明有機高分子からなることができる。高分子材料層115が特定の波長領域の光を透過させるように設計されている場合、高分子材料層115は、装置要件に応じて、赤色カラーフィルタ、緑色カラーフィルタ、青色カラーフィルタ、シアンカラーフィルタ、マゼンタカラーフィルタ、黄色カラーフィルタ、または赤外線(IR)パスフィルタからなることができる。
いくつかの他の実施形態では、高分子材料層115が光を透過させるように設計されていない場合、高分子材料層115は、非透明有機高分子からなってもよい。開口107は、光電変換領域102と位置合わせされているため、開口107を充填する高分子材料層115の部分も光電変換領域102と位置合わせされる。
具体的に言えば、高分子材料層115は、遮光層105内の異なる開口107を充填するいくつかの個別の突出部を有する。高分子材料層115の任意の2つ突出部は、互いに分離され、それらの間に空間119を有する。いくつかの実施形態では、高分子材料層115は、遮光層105に更に延伸する個別の突出部を有する。図3Aに示されるように、高分子材料層115の突出部は、間隔を開けたT字形断面を有する。
具体的に言えば、高分子材料層115の突出部は、遮光層105上に延伸し、高分子材料層115で充填された開口107に近い遮光層105の部分が、高分子材料層115で覆われることになる。具体的に言えば、図3Aに示すように、高分子材料層115は、第1のT字形断面Tおよび第2のT字形断面Tを有し、第1のT字形断面Tは、第2のT字形断面Tから分離されている。即ち、第1のT字形断面Tおよび第2のT字形断面Tは、高分子材料層115の2つの分離された部分である。
いくつかの実施形態では、図5Aの上面図において、第1のT字形断面Tは第1の中心Cを有し、第2のT字形断面Tは第2の中心Cを有する。第1の中心Cと第2の中心Cは、それらの間に第1の距離Aを有する。また、第1のT字形断面Tおよび第2のT字形断面Tは、それらの間に第2の距離Bを有する。第2の距離Bは、第1のT字形断面Tと第2のT字形断面Tとの間の最短距離である。いくつかの実施形態では、第2の距離Bと第1の距離Aの比は、約15%〜約85%の範囲にある。第2の距離Bと第1の距離Aの比が約15%より小さい、または約85%より大きい場合、遮光層105と後続して形成される接着層との間に混入した気泡が効果的に排出されない可能性がある。
しかしながら、いくつかの他の実施形態では、遮光層105は、高分子材料層115で覆われず、遮光層105と高分子材料層115が互いに重ならなくてもよい。
また、図5Aに示されるように、高分子材料層115の各突出部は、1つの開口107を充填する。しかしながら、他の実施形態では、高分子材料層115の各突出部は、1つ以上の開口107を充填することができ、高分子材料層115の突出部の配置は、実際のプロセス要件に従って調整することができる。
また、光学層103は、高分子材料層115と遮光層105で完全に覆われている。また、遮光層105は厚さtを有し、高分子材料層115は厚さtを有する。いくつかの実施形態では、厚さtは少なくとも厚さtより大きく、厚さtは厚さtの約1.5倍より小さい。例えば、厚さtは約1.5μm、厚さtは約2μmである。
再度図3Aに示すように、遮光層105および高分子材料層115を覆うように親水性膜117を選択的に形成することができる。具体的に言えば、親水性膜117は、遮光層105および高分子材料層115にコンフォーマルに形成され、親水性膜117は、空間119内にまで延伸している。いくつかの実施形態では、親水性膜117は無機材料で形成されている。いくつかの他の実施形態では、親水性膜117は有機材料からなることができる。
親水性膜117と後続して形成される接着層111との間の接触角(図3Bに示されるように)は、高分子材料層115と接着層111との接触角より小さく、親水性膜117と接着層111との間の接触角は、遮光層105と接着層111との接触角より小さい。従って、親水性膜117を形成することにより、接着層111を、均一に広げることができ、親水性膜117に付着した不純物を容易に除去することができる。
図5Aに示すように、高分子材料層115は、いくつかの突出部を有し、高分子材料層115の突出部の間の空間119は、複数の流路(即ち、通気孔)を共に形成する。流路XおよびXはX軸に平行であり、流路Y、YおよびYはY軸に平行である。
いくつかの実施形態では、高分子材料層115の突出部は同様の長方形の形状を有する。図5Aは、12個の高分子材料層115の突出部しか示していないが、留意すべきことは、高分子材料層115の突出部の数に制限はないことである。図を簡略化するために、親水性膜117は図5Aには示されていない。
次いで、図3Bおよび図5Bに示すように、複数の接着剤液滴110が遮光層105および高分子材料層115の上に塗布される。いくつかの実施形態では、接着剤液滴110は透明な接着剤であることができる。
次いで、図3Cに示すように、接着剤液滴110の上に表面構成要素113が配置され、接着剤液滴110は接着層111に結合される。いくつかの実施形態では、表面構成要素113は部分的に透明または完全に透明である。例えば、表面構成要素113が全波長範囲の光(即ち、フルスペクトル光)を透過させるように設計されている場合、表面構成要素113は完全に透明であってもよい。表面構成要素113が特定の波長範囲の光を透過させるように設計されている場合、表面構成要素113は部分的に透明であってもよく、例えば、表面構成要素113は紫外線(UV)/赤外線(IR)カットフィルタ、UV/IRパスフィルタ、または狭帯域パスフィルタ(例えば、850nmまたは940nmの波長の光を透過させることができる)を含んでいてもよい。表面構成要素113は、これを限定するものではないが、ガラス、プラスチック、アクリル、サファイア、またはそれらの組み合わせを含む任意の適切な材料であることができる。表面構成要素113の材料は、その光学的現象に応じて選ぶことができる。また、表面構成要素113は、単層であっても複数層であってもよい。
図3Dに示すように、表面構成要素113を配置した後、表面構成要素113に均一に力120を加え、接着層111と遮光層105との間に混入した気泡が空間119を通って除去され、空間119が接着層111によって完全に充填されることになる。留意すべきことは、接着層111と遮光層105との間に混入した気泡は、図5Aの上面図に示された流路X、X、Y、Y、Yを通って除去されることができることである。力120が加えられると、表面構成要素113は、接着層111によって高分子材料層115に緊密に付着され、光学センサ200aが完成する。
また、いくつかの実施形態では、高分子材料層115は、接着層111と遮光層105で囲まれる。接着層111は、高分子材料層115の突出部の間の空間119内に延伸するため、高分子材料層115の上面は、接着層111の最底面よりも高い。
光学センサ200aでは、接着層111は親水性膜117によって遮光層105と高分子材料層115から分離され、接着層111の底面は遮光層105の上面よりも高い。いくつかの他の実施形態では、親水性膜117が光学センサ200a内に形成されていない場合、接着層の底面は、遮光層105の上面と接触している。
図4A〜図4Bは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200bの例示的な順次形成プロセスを示す断面図である。図6は、本開示のいくつかの実施形態による図4Aの断面図に対応する上面図である。図4Aは、図6のライン4−4’に沿った断面図である。
光学センサ200bの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化するために、ここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200bとの順次形成プロセスの違いは、接着層111の形成方法である。図3Aに続き、図4Aおよび図6に示されるように、接着材料110’が毛細管作用(capillary action)によって基板101の端部から、遮光層105と高分子材料層115と表面構成要素113との間に塗布される。
具体的に言えば、接着材料110’は、外力の助けなく、X軸に沿って親水性膜117と表面構成要素113との間を流れる。接着材料110’がX軸に沿って流れ、親水性膜117と表面構成要素113との間に接着層111を形成するとき、接着材料110’(または後続して形成される接着層111)と遮光層105の間に混入した気泡は、空間119を通って除去されることができ、空間119は、接着層111で完全に充填されることができる。
留意すべきことは、接着材料110’と遮光層105との間に混入した気泡は、図6の上面図に示された流路X、X、Y、Y、およびYを通って除去されることができることである。その結果、図4Bに示されるように、光学センサ200bが完了する。また、接着材料110’の流れ方向はX軸に限定されない。いくつかの他の実施形態では、接着材料110’を、基板101の任意の縁部から提供することができ、且つ接着材料110’を、任意の方向に沿って流れるように調整することができる。
図7Aは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200cの上面図である。光学センサ200cの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化するためにここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200cとの違いは、高分子材料層115の突出部の形状が上面から見えるということである。
図7Aに示すように、高分子材料層115の突出部は同様の円形形状を有する。また、高分子材料層115は、遮光層105のどの部分も覆わない。従って、図7Aの上面図から見た高分子材料層115の各突出部の面積は、遮光層105の各開口107の面積と同じである。
図7Bは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200dの上面図である。光学センサ200dの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化のためここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200dとの違いは、高分子材料層115の突出部の形状が上面から見えることである。
図7Bに示すように、高分子材料層115の突出部は同様の円形形状を有する。いくつかの他の実施形態では、光学センサにおける高分子材料層115の各突出部の形状は、同様でなくてもよい。
図7Cは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200eの上面図である。光学センサ200eの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化のためここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200dとの違いは、高分子材料層115の突出部の配置が上面から見えるということである。
図7Cの上面図に示すように、Y軸に沿った同じ列の高分子材料層115の突出部は、互いに接続されている。具体的に言えば、互いに平行に配置された4つの矩形部分の高分子材料層115があり、4つの矩形の部分のいずれも遮光層105の端部まで延伸していない。その結果、Y軸に平行な流路Y、Y、およびYは、高分子材料層115の4つの矩形部分の間に形成される。
図7Dは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200fの上面図である。光学センサ200fの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化のためここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200fとの違いは、高分子材料層115の突出部の配置が上面から見えるということである。
図7Dの上面図に示すように、X軸に沿った同じ行の高分子材料層115の突出部は、互いに接続されている。具体的に言えば、互いに平行に配置された3つの矩形部分の高分子材料層115があり、3つの矩形の部分のいずれも遮光層105の端部まで延伸していない。その結果、X軸に平行な流路XおよびXは、高分子材料層115の3つの矩形部分の間に形成される。
図7Eは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200gの上面図である。光学センサ200gの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化のためここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200gとの違いは、高分子材料層115の突出部の配置が上面から見えるということである。
図7Eの上面図に示すように、同じ斜め方向にある高分子材料層115の突出部は、互いに接続されている。いくつかの実施形態では、斜め方向はX軸の正方向から時計回りに約22.5〜67.5度の角度を有する。具体的に言えば、互いに平行に配置された6つの矩形部分の高分子材料層115がある。その結果、互いに平行な複数の流路D、D、D、D、およびDは、高分子材料層115の6つの矩形部の間に形成される。
図7Fは、本開示のいくつかの実施形態による光学センサ200hの上面図である。光学センサ200hの構成要素は、図3Dに示された光学センサ200aの構成要素と同様であり、簡略化のためここでは繰り返されない。光学センサ200aと光学センサ200hとの違いは、高分子材料層115の突出部の配置が上面から見えるということである。
図7Fの上面図に示すように、同じ斜め方向にある高分子材料層115の突出部は、互いに接続されている。いくつかの実施形態では、斜め方向はX軸の正方向から逆時計回りに約22.5〜67.5度の角度を有する。具体的に言えば、互いに平行に配置された6つの矩形部分の高分子材料層115がある。その結果、互いに平行な複数の流路D、D、D、D、およびDは、高分子材料層115の6つの矩形部の間に形成される。
いくつかの光学センサでは、遮光層が光学層の上に配置される。遮光層は、光学層を部分的に露出させる少なくとも一つの開口を含み、光は、遮光層にブロックされることなく、開口によって光学層に伝送されることができる。しかしながら、接着層によって表面構成要素が遮光層に付着されたとき、接着層と遮光層との間に気泡が発生し、開口の角部に気泡が混入し易くなる可能性がある。その結果、その後に行われる熱処理の後に接着層が膨潤し、光学センサの光屈折率に影響を与え、光学センサの画質が劣化する。
本発明の実施形態によれば、遮光層の開口には高分子材料層が充填され、高分子材料層の上面は、遮光層の上面より高い。即ち、高分子材料層は、遮光層から突出しており、複数の流路(即ち、通気孔)が高分子材料層の突出部の間に形成される。従って、接着層によって遮光層に表面構成要素を付着させると、空気流路を通して空気を排出することができる。従って、表面構成要素は、遮光層の間に任意の気泡が混入されることなく、遮光層に緊密に付着され、光学センサの画質向上に寄与することができる。
以上、当業者が本開示の態様をより理解できるように幾つかの実施の形態特徴を概説した。上記実施の形態は、他のプロセスおよび構造を設計又は改変するための基礎となり得る。本開示の精神及び範囲を逸脱しない限りにおいては、等価な構成を含み、本開示の精神および範囲を逸脱せずに、ここで種々の変更、代替、および改変も含む。
100、200a、200b、200c、200d、200e、200f,200g、200h…光学センサ
101…基板
102…光電変換領域
103…光学層
105…遮光層
107…開口
109…気泡
110…接着剤液滴
110’…接着材料
111…接着層
113…表面構成要素
115…高分子材料層
117…親水性膜
119…空間
120…力
A…第1の距離
B…第2の距離
…第1の中心
…第2の中心
…第1のT字形断面
…第2のT字形断面
、t…厚さ
、D、D、D、D、X、X、Y、Y、Y…流路

Claims (11)

  1. 基板の上に配置された光学層と、
    前記光学層の上に配置され、前記光学層を部分的に露出させる第1の開口を含む遮光層と、
    前記第1の開口を充填し、その上面は、前記遮光層の上面より高い高分子材料層と、
    前記遮光層と前記高分子材料層の上に配置された接着層と、
    前記接着層の上に配置された表面構成要素を含む光学センサ。
  2. 前記遮光層の一部は、前記高分子材料層で覆われ、前記高分子材料層は、前記接着層と前記遮光層で囲まれ、
    前記光学層は、前記高分子材料層と前記遮光層で完全に覆われる請求項1に記載の光学センサ。
  3. 前記高分子材料層は、上面から見て矩形の形状または円形の形状を有し、前記高分子材料層の厚さは、前記遮光層の厚さの1.5倍より小さく、
    前記高分子材料層の前記上面は、前記接着層の底面より高い請求項1または請求項2に記載の光学センサ。
  4. 前記遮光層と前記高分子材料層を覆う親水性膜を更に含み、前記接着層は、前記親水性膜によって前記遮光層と前記高分子材料層から分離されている請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載の光学センサ。
  5. 前記基板に配置された光電変換領域を更に含み、
    前記高分子材料層は、透明有機高分子、赤色カラーフィルタ、緑色カラーフィルタ、青色カラーフィルタ、シアンカラーフィルタ、マゼンタカラーフィルタ、黄色カラーフィルタ、または赤外線(IR)パスフィルタからなり、前記高分子材料層は、前記光電変換領域と位置合わせされ、
    前記接着層は、透明であり、前記表面構成要素は、部分的に透明または完全に透明である請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の光学センサ。
  6. 基板の上に配置された光学層と、
    前記光学層の上に配置され、前記光学層を部分的に露出させる第1の開口のアレイおよび第2の開口のアレイを含む遮光層と、
    前記第1の開口のアレイを充填する第1の高分子材料部分と、
    前記第2の開口のアレイを充填する第2の高分子材料部分と、
    前記遮光層、前記第1の高分子材料部分、および前記第2の高分子材料部分の上に配置され、前記第1の高分子材料部分と第2の高分子材料部分の間に延伸する接着層と、
    前記接着層の上に配置された表面構成要素を含む光学センサ。
  7. 前記第1の高分子材料部分は、前記第2の高分子材料部分と平行であり、前記第1の高分子材料部分と前記第2の高分子材料部分は、前記基板の縁部の方向に沿って配置される請求項6に記載の光学センサ。
  8. 前記第1の高分子材料部分と前記第2の高分子材料部分は、前記遮光層上に延伸し、
    前記第1の高分子材料部分は、第1のT字形断面を有し、前記第2の高分子材料部分は、第2のT字形断面を有し、前記第1のT字形断面は、前記第2のT字形断面から分離され、
    前記第1のT字形断面は、上面図において第1の中心を有し、前記第2のT字形断面は前記上面図において第2の中心を有し、前記第1の中心と前記第2の中心は、それらの間に第1の距離を有し、
    前記第1のT字形断面および前記第2のT字形断面は、それらの間に第2の距離を有し、第2の距離と第1の距離の比は、約15%〜約85%の範囲にある請求項6または請求項7に記載の光学センサ。
  9. 光学層を基板の上に形成するステップと、
    前記光学層の上に、前記光学層を部分的に露出させる第1の開口と第2の開口を含む遮光層を形成するステップと、
    前記光学層の上に高分子材料層を形成するステップであって、前記高分子材料層は、前記第1の開口を充填する第1の部分と前記第2の開口を充填する第2の部分を有し、前記第1の部分と前記第2の部分は、前記遮光層の上面から突出し、前記第1の部分と前記第2の部分は、その間に空間を有するステップと、
    前記遮光層と前記高分子材料層の上に接着層を塗布するステップと、
    前記接着層を用いて前記高分子材料層に表面構成要素を付着させるステップを含む光学センサを形成する方法。
  10. 前記高分子材料層は、前記遮光層の上に延伸し、
    前記基板は、その中に光電変換領域を有し、前記高分子材料層は、フルスペクトル光または特定の波長範囲の光に対して透明であり、前記高分子材料層は、前記光電変換領域と位置合わせされ、
    前記接着層は、毛細管作用によって前記基板の端部から、前記遮光層と、前記高分子材料層と、前記表面構成要素との間に塗布され、前記接着層と前記遮光層との間に混入した気泡が空間を通って除去される請求項9に記載の光学センサを形成する方法。
  11. 前記接着層を塗布する前に、前記遮光層と前記高分子材料層を覆う親水性膜を形成するステップと、
    前記接着層と前記遮光層との間に混入した気泡が空間を通って除去されるように、前記表面構成要素に均一に力を加えるステップを更に含む請求項9に記載の光学センサを形成する方法。
JP2018193438A 2018-04-16 2018-10-12 光学センサおよびその形成方法 Active JP6681959B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/953,837 2018-04-16
US15/953,837 US10770496B2 (en) 2018-04-16 2018-04-16 Optical sensors and methods for forming the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019186516A true JP2019186516A (ja) 2019-10-24
JP6681959B2 JP6681959B2 (ja) 2020-04-15

Family

ID=68049457

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018193438A Active JP6681959B2 (ja) 2018-04-16 2018-10-12 光学センサおよびその形成方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10770496B2 (ja)
JP (1) JP6681959B2 (ja)
CN (1) CN110391257B (ja)
TW (1) TWI664719B (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022076982A (ja) * 2020-11-10 2022-05-20 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子
WO2022168523A1 (ja) * 2021-02-02 2022-08-11 株式会社ジャパンディスプレイ 検出装置及び検出装置の製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111261649B (zh) * 2020-01-21 2024-04-02 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 一种图像探测器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012175050A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Sony Corp 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器
JP2012209542A (ja) * 2011-03-14 2012-10-25 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法及び電子機器
JP2013229816A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Nikon Corp 撮像素子および撮像装置
JP2017153079A (ja) * 2016-02-25 2017-08-31 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像システムおよび製造装置

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101427382B (zh) * 2006-06-07 2010-12-15 住友电木株式会社 受光装置的制造方法
US20080213927A1 (en) 2007-03-02 2008-09-04 Texas Instruments Incorporated Method for manufacturing an improved resistive structure
KR20130049728A (ko) 2011-11-04 2013-05-14 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 발광 모듈 및 발광 장치
TWI587197B (zh) 2012-06-27 2017-06-11 友達光電股份有限公司 光學式觸控面板及其製造方法以及光學式觸控顯示面板
TWI832717B (zh) 2014-04-25 2024-02-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 顯示裝置及電子裝置
JP2016072250A (ja) 2014-09-30 2016-05-09 株式会社半導体エネルギー研究所 発光装置、電子機器、及び照明装置
US9709710B2 (en) * 2015-03-06 2017-07-18 Samsung Sdi Co., Ltd. Device including light blocking layer and method of patterning the light blocking layer
KR102341639B1 (ko) * 2015-08-21 2021-12-21 삼성디스플레이 주식회사 액정 표시 장치 및 그의 제조 방법
US20190245011A1 (en) * 2018-02-06 2019-08-08 Innolux Corporation Display device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012175050A (ja) * 2011-02-24 2012-09-10 Sony Corp 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器
JP2012209542A (ja) * 2011-03-14 2012-10-25 Sony Corp 固体撮像装置、固体撮像装置の製造方法及び電子機器
JP2013229816A (ja) * 2012-04-26 2013-11-07 Nikon Corp 撮像素子および撮像装置
JP2017153079A (ja) * 2016-02-25 2017-08-31 株式会社半導体エネルギー研究所 撮像システムおよび製造装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2022076982A (ja) * 2020-11-10 2022-05-20 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子
JP7109617B2 (ja) 2020-11-10 2022-07-29 采▲ぎょく▼科技股▲ふん▼有限公司 固体撮像素子
US11538839B2 (en) 2020-11-10 2022-12-27 Visera Technologies Company Limited Solid-state image sensor including patterned structure for decreasing petal flares
WO2022168523A1 (ja) * 2021-02-02 2022-08-11 株式会社ジャパンディスプレイ 検出装置及び検出装置の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201944585A (zh) 2019-11-16
CN110391257A (zh) 2019-10-29
US20190319059A1 (en) 2019-10-17
JP6681959B2 (ja) 2020-04-15
CN110391257B (zh) 2021-09-07
US10770496B2 (en) 2020-09-08
TWI664719B (zh) 2019-07-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100790981B1 (ko) 칼라필터, 칼라필터 어레이 및 그의 제조방법과 이미지센서
WO2010010652A1 (ja) 固体撮像装置とその製造方法
JP6681959B2 (ja) 光学センサおよびその形成方法
US10986293B2 (en) Solid-state imaging device including microlenses on a substrate and method of manufacturing the same
KR100751524B1 (ko) 고체 촬상 소자
US7358110B2 (en) Image sensor having inner lens
US8742527B2 (en) Solid state imaging device, solid state imaging element, portable information terminal device and method for manufacturing the solid state imaging element
JP2006295125A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法並びにカメラ
US20130075587A1 (en) Solid state imaging device, portable information terminal device and method for manufacturing solid state imaging device
KR20080060969A (ko) 이미지 센서 및 이미지 센서의 제조 방법
WO2010001524A1 (ja) 固体撮像素子、その製造方法、及び固体撮像装置
KR100720509B1 (ko) 이미지 센서 및 이의 제조 방법
JP2009080313A (ja) カラーフィルタ、その製造方法、これを用いた固体撮像素子、およびその製造方法
JP2011171328A (ja) 固体撮像素子およびその製造方法
KR100868630B1 (ko) 마이크로 렌즈 형성용 패턴 마스크, 이미지 센서 및 이의제조 방법
US7989908B2 (en) Image sensor and method for manufacturing the same
JP2005079344A (ja) 固体撮像装置及びその製造方法
JP2003298034A (ja) 固体撮像素子及びその製造方法
JP2005159200A (ja) 固体撮像装置とその製造方法
US7972891B2 (en) Image sensor and method for manufacturing the same
KR100906558B1 (ko) 이미지 센서 및 그 제조방법
JP2005033074A (ja) 固体撮像装置およびその製造方法
JP2009170585A (ja) 固体撮像装置
TWM641159U (zh) 顏色與紅外光圖像感測器
WO2013035258A1 (ja) 固体撮像装置、及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181012

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200212

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200310

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200324

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6681959

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250