KR102341639B1 - 액정 표시 장치 및 그의 제조 방법 - Google Patents

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Abstract

실링 검사를 용이하게 수행할 수 있는 액정 표시 장치가 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치는, 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 제1 기판과 제1 기판과 마주하는 제2 기판과 제1 기판과 제2 기판 사이에 비표시 영역 내 배치된 실링 부재를 포함하고, 상기 제1 기판은 차광 패턴과 차광 패턴 상에 배치되고, 제1 기판과 제2 기판 사이에 간격을 유지하는 컬럼 스페이서와 차광 패턴 상에 배치되고 상부에 실링 부재가 위치하는 개구부를 포함한다.

Description

액정 표시 장치 및 그의 제조 방법{Liquid Display Device and method of manufacturing the same}
본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것으로 보다 상세하게는 표시 기판들 사이에 개재된 액정층을 포함하는 액정 표시 장치에 관한 것이다.
표시 장치는 데이터를 시각적으로 표시하는 장치이다. 표시 장치로는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display), 전기영동 표시 장치(Electrophoretic Display), 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display), 무기 EL 표시 장치(Electro Luminescent Display), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display), 표면 전도 전자 방출 표시 장치(Surface-conduction Electron-emitter Display), 플라즈마 표시 장치(Plasma Display), 및 음극선관 표시 장치(Cathode Ray Display)등이 될 수 있다.
이 중 액정 표시 장치는 현재 가장 널리 사용되고 있는 표시 장치 중 하나로서, 일반적으로 액정 표시 장치는 어레이 기판과, 어레이 기판에 대향하는 대향 기판, 및 어레이 기판과 대향 기판 사이에 개재된 액정층을 포함하는데, 최근 어레이 기판 상에 컬러 필터가 형성된 컬러필터-어레이(Color-filter On Array: COA) 기판을 채용한 고투과율 구조의 액정 표시 장치가 개발되고 있다. 이 경우, 위 COA 기판과 차광 패턴이 형성된 대향 기판과의 결합 공정에서 얼라인 미스가 발생될 수 있는데, 이를 방지하기 위해 COA 기판 상에 차광 패턴을 형성하는 BOA(Black matrix On Array) 기판이 개발되고 있으며, 나아가 차광 패턴과 기판과의 간격을 유지하는 컬럼 스페이서(Column Spacer)를 동일한 재료로 동시에 형성하는 차광 유지 부재(Black Column Spacer: BCS)가 개발되고 있다.
한편, 차광 패턴과 기판과의 간격을 유지하는 컬럼 스페이서(Column Spacer)를 동일한 재료로 동시에 형성하는 차광 유지 부재(Black Column Spacer: BCS)상에 블랙 실링재를 적용할 경우에 기존에 실링 검사 장치로는 블랙 실링재의 단선 또는 비정상 패턴을 측정할 수 없어 불리한 요소로 작용할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 차광 유지 부재 상에 개구부를 더 포함하는 것을 통해 실링 검사에 유리한 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 차광 유지 부재 상에 블랙 실링재를 적용한 경우에도 실링 영역의 이상 유무를 검사할 수 있는 실링 검사 방법을 제공하는 것이다.
상술한 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치는 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 제1 기판과 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판과 상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 상기 비표시 영역 내 배치된 실링 부재를 포함하고, 상기 제1 기판은, 차광 패턴과 상기 차광 패턴 상에 배치되고, 상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 간격을 유지하는 컬럼 스페이서와 상기 차광 패턴 상에 배치되고 상부에 상기 실링 부재가 위치하는 개구부를 포함한다.
여기서 상기 개구부는 상기 차광 패턴의 두께 방향으로 연장되어, 상기 개구부의 깊이는 상기 차광 패턴의 두께와 동일할 수 있다.
나아가, 상기 비표시 영역은 상기 실링 부재가 배치되지 않는 차광 영역 및 상기 차광 영역을 둘러싸는 폐곡선의 형상인 실링 영역을 포함하고, 상기 개구부는 상기 실링 영역 내에 배치될 수 있다.
또한, 상기 개구부는 상기 실링 영역을 따라 일정한 간격과 일정한 크기를 비표시 영역은 상기 개구부가 배치되는 실링 영역 및 상기 실링 영역에 의해 둘러쌓이는 차광 영역을 포함하고, 상기 개구부는 상기 실링 영역을 따라 일정한 간격으로 반복적으로 배치될 수 있다.
나아가, 상기 실링 영역 내에 배치된 차광 패턴은 상기 차광 영역 내에 배치된 차광 패턴 보다 두께가 얇을 수 있다.
상기 차광 패턴은 상기 실링 영역과 상기 차광 영역 사이에서 경사면을 이루도록 형성될 수 있다.
또한, 상기 개구부 내부는 상기 실링 부재에 의해 완전히 채워질 수 있다.
이때, 상기 실링 영역상에 배치된 차광 패턴 하부에는 더미 배선을 더 포함할 수 있다.
나아가, 상기 더미 배선은 상기 표시 영역상에 배치된 배선이 연장된 것일 수 있다.
또한, 상기 더미 배선은 상기 표시 영역상에 배치된 배선은 상기 비표시 영역과 표시 영역 상의 경계에서 이격된 간격을 가질 수 있다.
더불어, 상기 개구부는 상기 실링 부재가 배치되는 방향의 상부 면적이 하부 면적에 비해 넓어 상기 제1 기판의 평면을 기준으로 기울어진 경사면을 가질 수 있다.
게다가, 상기 개구부는 서로 상이한 형상의 개구부를 적어도 하나 이상 포함할 수 있다.
또한, 상기 실링 부재의 높이는 상기 컬럼 스페이서의 높이 보다 높을 수 있다.
나아가, 상기 차광 패턴과 상기 컬럼스페이서 및 상기 실링 부재는 블랙 계열의 물질로 이루어질 수 있다.
더불어, 상기 차광 패턴과 상기 컬럼스페이서는 감광성 물질로서 일체형이고, 상기 실링 부재는 비 감광성 물질로 이루어질 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치 제조 방법은, 제1 기판에 차광 부재를 배포하는 단계와 상기 차광 부재를 노광하여 상기 차광 부재에 개구부를 형성하는 단계와 상기 차광 부재의 개구부 상에 실링 부재를 배포하는 단계와 상기 실링 부재 상에 외부 광원을 투광하는 단계와 상기 광원으로부터 투광된 광을 이용하여 상기 실링 부재의 정상 배포 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
여기서, 상기 광원으로부터 투광된 빛을 이용하여 상기 실링 부재의 정상 배포 여부를 판단하는 단계는 상기 광을 측정하는 단계와 상기 측정된 광이 상기 실링 부재에서 반사된 광인지 아니면 상기 개구부 상에서 반사된 광인지 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 측정된 광이 상기 실링 부재에서 반사된 빛인지 아니면 상기 개구부 상에서 반사된 빛인지 여부를 판단하는 단계는, 상기 측정된 광이 상기 개구부 상에서 반사된 광인 것으로 판단된 경우, 상기 측정된 광의 위치를 추정하는 단계와 상기 추정된 위치에 상기 실링 부재를 추가 배포하는 단계를 포함할 수 있다.
나아가, 상기 광원으로부터 투광된 광을 이용하여 상기 실링 부재의 정상 배포 여부를 판단하는 단계는, 상기 실링 부재가 정상 배포된 것으로 판단하는 경우, 상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판을 상기 제1 기판과 합착하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 장치의 실링 영역에서 반사된 빛을 분석하여 상기 실링 영역의 실링 부재의 이상 유무를 검사할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 표시 장치의 실링 영역에서 차광 유지 부재 상에 배치된 블랙 실링재의 이상 유무를 검사 하는데 유리한 표시 장치를 제조할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판의 개략적인 평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략적인 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 도 1의 제2 영역(11) 상에 배치된 차광 패턴(192)만을 확대한 확대도이다.
도 4는 도 3의 A 부분만을 분리하여 제1 개구부(160)를 도시한 사시도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따라 도 1의 제2 영역(11) 상에 배치된 차광 패턴(192)만을 확대한 확대도이다.
도 6은 도 5의 실시 예에 따른 제2 개구부(161)와 제1 개구부(160)를 비교하기 위한 사시도이다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 제1 기판(100) 상에 배치되는 차광 패턴(192)만을 분리하여 나타낸 평면도이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판을 도시한 간략도이다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판을 도시한 간략도이다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략적인 단면도이다.
도 11은 도 10의 실시예에 따른 제5 개구부(164)만을 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략적인 단면도이다.
도 13은 도 12의 실시예에 따른 제6 개구부(165) 만을 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 14 내지 21는 본 발명의 몇몇 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제조 과정 상에서 실링 검사 과정을 도시한 도면이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 도면에서 층 및 영역들의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장된 것일 수 있다.
소자(elements) 또는 층이 다른 소자 또는 층의 "위(on)" 또는 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 또는 층의 바로 위뿐만 아니라 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 소자가 "직접 위(directly on)" 또는 "바로 위"로 지칭되는 것은 중간에 다른 소자 또는 층을 개재하지 않은 것을 나타낸다. "및/또는"은 언급된 아이템들의 각각 및 하나 이상의 모든 조합을 포함한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 표시기판의 개략적인 평면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판(100)은 표시 영역(DA) 및 표시 영역(DA)의 주변에 배치된 비표시 영역(NDA)을 포함한다. 표시 영역(DA) 내에는 복수의 화소가 배치된다. 복수의 화소는 매트릭스 형상으로 배열될 수 있다.
제1 기판(100)의 비표시 영역(NDA)에는 표시 영역(DA) 측으로 데이터 구동 신호를 제공하는 데이터 구동부, 및 게이트 구동 신호를 제공하는 게이트 구동부가 배치될 수 있다.
데이터 구동부는 타이밍 컨트롤러로부터 영상 신호들 및 데이터 제어 신호를 제공받을 수 있다. 데이터 구동부는 데이터 제어 신호에 응답하여 영상 신호들에 대응하는 아날로그 데이터 전압들을 생성할 수 있다. 데이터 구동부는 데이터 전압을 데이터 라인(DL)을 통해 각 화소에 제공할 수 있다.
데이터 구동부는 적어도 하나의 데이터 구동칩(20)을 포함할 수 있다. 데이터 구동칩(20)은 대응되는 데이터 패드부와 비표시 영역(NDA)에서 연결될 수 있다. 데이터 구동칩(20)은 제1 기판(100)의 비표시 영역(NDA)에 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 실장될 수 있다.
게이트 구동부는 게이트 전압을 게이트 라인(GL)을 통해 각 화소에 제공할 수 있다. 게이트 구동부는 칩 형태로 제공되지 않고, 비표시 영역(NDA) 상에 직접 형성될 수 있다. 그러나, 이에 제한되는 것은 아니며, 게이트 구동부의 경우에도 구동칩의 형태로 제공되어 실장될 수도 있다.
제1 기판(100) 상에서 제2 표시 기판(미도시)과 합착될 부분 상에는 실링 부재(250)가 도포될 수 있다. 실링 부재(250)는 표시 영역(DA)의 외곽인 비표시 영역(NDA)을 따라 배치되며, 평면상 직사각형 등과 같은 폐곡선을 이룰 수 있다. 제1 기판(100)실링 부재(250)에 대한 상세한 설명은 후술하기로 한다.
이하, 상술한 액정 표시 장치의 단면 구조에 대해 설명한다. 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 단면도이다. 제1 기판(100)
먼저, 액정 표시 장치의 표시 영역(DA)의 단면 구조에 대해 설명한다.
도 2를 참조하면, 제1 기판(100)은 제1 기판(110)을 베이스 기판으로 한다. 제1 기판(110)은 투명한 유리, 석영, 세라믹, 실리콘 또는 투명 플라스틱 등의 절연 물질을 포함할 수 있다.
제1 기판(110) 상에는 복수의 게이트 배선(GL, 128), 및 복수의 데이터 배선(DL, 144)이 배치될 수 있다.
게이트 배선(GL, 128)은 복수의 게이트 라인(GL) 및 복수의 게이트 전극(128)을 포함할 수 있다. 데이터 배선(DL, 144, 146)은 복수의 데이터 라인(DL), 복수의 소스 전극(144) 및 복수의 드레인 전극(146)을 포함할 수 있다.
게이트 배선(GL, 128) 및 데이터 배선(DL, 144, 146)은 알루미늄(Al)과 알류미늄 합금 등 알루미늄 계열의 금속, 은(Ag)과 은 합금 등 은 계열의 금속, 구리(Cu)와 구리 합금 등 구리 계열의 금속, 몰리브덴(Mo)과 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열의 금속, 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta) 등으로 이루어질 수 있다.
각 게이트 라인(GL)은 D1방향, 예를 들어 가로 방향으로 화소의 경계를 따라 연장될 수 있고, 각 데이터 라인(DL)은 D2방향, 예를 들어, 화소의 세로 방향 경계를 따라 연장될 수 있다. 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)은 교차 배열되어 화소 영역을 정의할 수 있다.
각 게이트 라인(GL)에는 화소마다 적어도 하나의 게이트 전극(128)이 연결되어 배치된다. 게이트 전극(128)은 게이트 라인(GL)으로부터 반도체층(132) 측으로 분지되거나, 게이트 라인(GL)이 확장되어 형성될 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니다.
각 데이터 라인(DL)에는 화소마다 적어도 하나의 소스 전극(144)이 연결되어 배치된다. 소스 전극(144)은 데이터 라인(DL)으로부터 반도체층(132) 측으로 분지되거나, 데이터 라인(DL)이 확장되어 형성될 수 있다. 그러나 이에 제한되는 것은 아니다.
드레인 전극(146)은 반도체층(132)을 기준으로 소스 전극(144)과 이격되어 배치될 수 있으며, 보호층(152) 및 유기층(172)을 관통하도록 형성된 컨택홀(181)을 통해 화소 전극(182)과 전기적으로 연결될 수 있다.
게이트 배선(GL, 128)과 데이터 배선(DL, 144, 146) 사이에는 게이트 절연막(122)이 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 게이트 절연막(122)은 게이트 배선(GL, 128) 상에 배치되고, 데이터 배선(DL, 144, 146)은 게이트 절연막(122) 상에 배치될 수 있다. 게이트 절연막(122)은 예를 들어, 질화 실리콘(SiNx), 산화 실리콘(SiO2), 실리콘 산질화물(SiON), 또는 이들의 적층막 등으로 이루어질 수 있다. 게이트 절연막(122)은 게이트 배선(GL, 128)과 이들의 상부에 위치하는 데이터 라인(DL) 등의 도전성 박막들과 절연을 유지하는 역할을 할 수 있다.
반도체층(132)은 게이트 절연막(122) 상에 배치되며, 예를 들어, 수소화 비정질 실리콘(hydrogenated amorphous silicon) 또는 다결정 실리콘 등으로 이루어질 수 있다. 반도체층(132)은 게이트 전극(128)과 적어도 일부가 중첩되도록 배치된다. 반도체층(132)은 게이트 전극(128), 소스 전극(144), 드레인 전극(146)과 함께 박막 트랜지스터를 구성한다.
반도체층(132)은 섬형 또는 선형 등 다양한 형상을 가질 수 있으며, 도 2는 반도체층(132)이 섬형으로 형성된 경우를 예시하나, 이에 한정되는 것은 아니다. 반도체층(132)이 선형으로 형성된 경우, 별도 도시하지 않았으나, 반도체층(132)은 데이터 배선(DL, 144, 146)과 오버랩될 수 있다.
반도체층(132) 상에는 n형 불순물이 고농도로 도핑된 n+ 수소화 비정질 실리콘 등으로 이루어진 저항성 접촉층(134)이 배치될 수 있다. 저항성 접촉층(134)은 하부의 반도체층(132)과 상부의 소스 전극(144) 및 드레인 전극(146) 사이에 위치하여 접촉 저항을 감소시키는 역할을 한다. 저항성 접촉층(134)은 반도체층(132)과 유사하게 섬형 또는 선형 등 다양한 형상을 가질수 있다. 반도체층(132)이 섬형인 경우 저항성 접촉층(134)도 섬형일 수 있으며, 반도체층(132)이 선형인 경우 저항성 접촉층(134)도 선형일 수 있다. 저항성 접촉층(134)은 반도체층(132)과는 달리, 소스 전극(144)과 드레인 전극(146)이 마주보며 이격되어 있는 공간이 분리되어 있어 하부의 반도체층(132)이 노출될 수 있다. 반도체층(132)은 소스 전극(144)과 드레인 전극(146)이 마주보며 이격되어 있는 영역에 채널이 형성될 수 있다.
게이트 전극(128)이 게이트 온 신호를 인가받아 반도체층(132)에 채널이 형성되면, 박막 트랜지스터가 턴 온되며 드레인 전극(146)은 소스 전극(144)으로부터 데이터 신호를 제공받아 이를 화소 전극(182)에 전달할 수 있다.
데이터 배선(DL, 144, 146) 및 노출된 반도체층(132) 상에 보호층(152)(passivation layer)이 배치된다. 보호층(152)과 후술할 유기층(172)에는 드레인 전극(146)의 적어도 일부를 노출시키는 컨택홀(181)이 형성될 수 있다. 컨택홀(181)을 통해 노출된 드레인 전극(146)의 적어도 일부는 화소 전극(182)과 접촉될 수 있다. 이를 통해 드레인 전극(146)과 화소 전극(182)은 전기적으로 연결/접속될 수 있다.
보호층(152)은 예를 들어, 질화 실리콘 또는 산화 실리콘 등의 무기물, 플라즈마 화학 기상 증착(plasma enhanced chemical vapor deposition: PECVD)으로 형성되는 a-Si:C:O, a-Si:O:F 등의 물질 등을 포함할 수 있다.
보호층(152) 상에는 유기층(172)이 배치될 수 있다. 유기층(172)은 평탄화 특성이 우수하며, 감광성(photosensitivity)을 가지는 물질을 포함할 수 있다. 유기층(172)은 드레인 전극(136)의 적어도 일부를 노출시키는 컨택홀(181)을 포함한다.
화소 전극(182)은 유기층(172) 상에 단위 화소마다 배치될 수 있다. 화소 전극(182)의 일부는 컨택홀(181) 내부에 배치된다. 컨택홀(181) 내부에 배치된 화소 전극(182)의 일부는 드레인 전극(146)과 접촉되어 이와 전기적으로 연결될 수 있다.
유기층(172) 및 화소 전극(182) 상에는 차광 패턴(192)이 배치될 수 있다. 차광 패턴(192)은 빛샘을 방지하는 역할을 한다. 차광 패턴(192)은 박막 트랜지스터 영역 및 비화소 영역(화소와 화소 사이, 게이트선 및 데이터선 영역)에 배치될 수 있다.
차광 패턴(192)은 블랙 염료나 안료를 포함하는 블랙 유기 고분자 물질이나, 크롬, 크롬 산화물 등의 금속(금속 산화물) 등을 포함하여 이루어질 수 있다.
컬럼 스페이서(column spacer)(194)는 제1 기판(100)과 제2 표시 기판(200) 사이에 간격을 유지하기 위한 것으로, 몇몇 실시예에서 컬럼 스페이서(194)의 단부는 도 2에 도시된 바와 같이 제2 표시 기판(100) 측에 맞닿을 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로 컬럼 스페이서(194)의 단부는 제2 표시 기판(200)으로부터 소정 거리 이격되어 배치될 수 있다.
도시하지는 않았으나, 컬럼 스페이서(194)는 단차가 상이한 복수의 컬럼 스페이서를 포함하여 구현될 수 있다. 예를 들어, 상대적으로 단차가 높은 메인 컬럼 스페이서 및 상대적으로 단차가 낮은 서브 컬럼 스페이서를 포함할 수 있다.
컬럼 스페이서(194)는 박막 트랜지스터에 대응되는 영역에 형성될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 차광 패턴(192)과 컬럼 스페이서(194)는 동일한 물질로 동일한 제조 공정을 통해 형성될 수 있다. 차광 패턴(192) 및 컬럼 스페이서(194)는 예컨대, 블랙 계열의 안료와 아크릴 고분자계 물질로 이루어질 수 있다. 차광 패턴(192) 및 컬럼 스페이서(194)는 감광성 물질을 더 포함할 수 있다.
차광 패턴(192)은 제1 기판(100)의 비표시 영역(NDA) 상에도 배치된다. 예컨대, 차광 패턴(192)은 액정 표시 장치의 테두리 부분을 모두 커버하도록 배치될 수 있다.
비표시 영역(NDA)에서 차광 패턴(192)의 일부 영역 위에는 실링 부재(250)가 배치될 수 있다. 실링 부재(250)는 아크릴(메타크릴)계 고분자 물질로 구성되어 있으며, 차광 패턴(192)과 유사하게 블랙 계열의 안료를 포함하여 이루어질 수 있다. 실링 부재(250)는 실리카와 필러를 더 포함할 수 있다. 실링 부재(250)는 전반적으로 차광 패턴(192)과 유사하게 블랙 색상을 나타낼 수 있다.
비표시 영역(NDA)은 차광 영역(BA) 및 실링 영역(SA)을 포함할 수 있다. 차광 영역(BA)과 실링 영역(SA)은 실링 부재(250)의 형성 여부를 기준으로 구분된다. 구체적으로 설명하면, 실링 영역(SA)은 차광 패턴(192) 및 실링 부재(250)가 함께 형성된 영역이고, 차광 영역(BA)은 실링 부재(250) 없이 차광 패턴(192)만 형성된 영역이다. 실링 영역(SA)은 차광 영역(BA)의 외측에 배치될 수 있다.
실링 영역(SA)의 차광 패턴(192)은 개구부(160)를 포함한다. 차광 패턴(192) 개구부(160)는 복수개일 수 있다. 차광 패턴(192)의 개구부는 차광 패턴(192)을 두께 방향으로 관통하도록 형성되어, 하부 구조물, 예컨대 유기막(172)을 노출할 수 있다. 차광 패턴(192)의 개구부(160) 상단에 실링 부재(250)가 올라가며 개구부에 채워질 수 있다.
실링 영역(SA)에서 차광 패턴(192)에 형성된 개구부는 실링 불량 여부를 판정하는 데에 활용될 수 있다. 예를 들어, 실링 검사는 실링 부재(250)를 차광 유지 부재(192) 상에 도포한 후, 그 폭이 일정한지 여부 및 단선되지 않았는지 여부를 검사하는데, 이때 실링 부재(250)와 차광 유지 부재(192)가 동일한 블랙 계열의 물질로 구성되는 경우 검사가 용이하지 않다. 따라서, 차광 패턴(192)에 개구부를 형성함으로써, 실링 부재(250)의 도포 불량 여부를 쉽게 판단할 수 있다. 이에 대한 상세한 설명은 후술된다.
차광 패턴(192) 및 컬럼 스페이서(194) 상에는 배향막(150)이 배치될 수 있다. 배향막(150)은 후에 액정층이 배향할 수 있도록 폴리이미드, 폴리아믹산, 폴리아미드, 폴리아믹이미드, 폴리에스테르, 폴리에틸렌, 폴리우레탄, 또는 폴리스티렌과 같은 수지성 고분자 또는 이들의 혼합물을 포함할 수 있다. 또한, 배향막(150)은 위 수지성 고분자의 모노머를 포함하여 구현될 수 있다.
제2 기판(200)은 제2 표시 기판(210)을 베이스 기판으로 한다. 제2 표시 기판(210)은 절연 기판일 수 있으며, 제2 표시 기판(210)은 제1 표시 기판(110)과 대향하여 배치될 수 있다.
제2 기판(210) 상에는 공통 전극(212)이 배치될 수 있다. 공통 전극(212)은 공통 전압을 인가 받아 화소 전극(182)과 함께 전계를 형성하여 액정층에 포함된 액정 분자의 배향 방향을 제어할 수 있다. 공통 전극(212) 상에도 배향막(262)이 배치될 수 있으며, 상기 배향막은 수지성 고분자의 모노머를 포함하여 구현될 수 있다.
일반적인 액정 표시 장치를 제조 하는 과정은 제1 기판(100)과 제2 기판(210)을 각각 제조 한 후, 제1 기판(100)의 실링 영역(SA) 상에 실링 부재(250)를 도포 한 후, 제2 기판(210)을 합착한 뒤, UV 광선을 조사하여 경화시킨다. 이때 열 경화를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 액정 표시 장치의 제조 과정에서는 제1 기판(100)의 실링 영역(SA) 상에 실링 부재(250)를 도포한 후, 실링 검사를 수행한다. 실링 검사 수행 과정에서 실링 부재(250)의 불량이 발견되면, 리페어 과정을 더 포함할 수 있다. 상기 리페어 과정은 실링 부재(250)의 폭이 기준치보다 얇거나 단선되어 있는 부분에 실링 부재(250)를 추가로 도포하는 것을 포함할 수 있으며, 이에 한정되는 것은 아니다.
실링 부재(250)의 실링 검사 수행 후, 실링이 정상 도포된 것으로 판정된 후에는 제2 기판과 합착하고, UV 경화 및 열 경화를 수행할 수 있다.
도 3은 도 1의 제2 영역(11) 상에 배치된 차광 패턴(192) 층 만을 분리하여 확대한 확대도이다. 도 4는 도 3의 A 부분 만을 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 3 및 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 차광 패턴(192)에 배치된 제1 개구부(160)의 형상 및 구조를 설명하도록 한다.
제1 개구부(160)는 반지름 a1 크기를 갖는 원기둥 형상으로 차광 패턴(192) 내에 차광 패턴(192)이 제거된 홀 형상일 수 있다. 따라서 제1 개구부(160)의 원기둥의 높이(l)는 차광 패턴(192)의 두께(h)와 동일하고, 차광 패턴(192) 형성시 노광 및 현상 공정에 의해 제1 개구부(160)도 함께 제조 될 수 있다.
제1 개구부(160)는 차광 패턴(192)이 제거되어 차광 패턴 하부에 배치되는 유기층(172)을 노출시킬 수 있다. 이러한 제1 개구부(160) 상에는 배향막(150)이 올라가고, 그 후에 실링 부재(250)가 도포된다. 실링 부재(250)는 실링 영역(SA) 전부를 매림해야 제1 기판(100)과 제2 기판(200) 합착에 불량이 생기지 않는다. 따라서 실링 부재(250)가 일부 얇게 도포된 부분이 있다면, 제1 개구부(160) 내부는 여전히 유기층(172)을 노출시키게 되므로 실링 검사 시 노출된 유기층(172)으로부터 반사된 빛이 감지 되어 실링 불량을 검출할 수 있다.
제1 개구부(160)를 통해 실링 부재(250)가 비정상적으로 도포된 곳의 위치까지 파악하기 위해서는 제1 개구부(160)의 크기와 간격이 일정한 것이 유리하다. 따라서 도 3과 같이 일정한 반지름 크기와 일정한 간격을 갖는 패턴이 반복될 수 있고, 실링 부재(250)가 단선인지 아니면 폭이 얇은 것인지 여부까지 파악 하기 위해서는 제1 개구부(160)는 실링 영역(SA)에 단면도 상에서 3개 이상 배치되는 것이 바람직하다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따라 도 1의 제2 영역(11) 상에 배치된 차광 패턴(192) 만을 확대한 확대도이고, 도 6은 도 5의 실시예에 따른 제2 개구부(161)와 도 3의 실시예에 따른 제1 개구부(160)를 비교하기 위한 사시도이다.
제2 개구부(161)는 제1 개구부(160)보다 반지름의 크기가 클 수 있다. 따라서 a2는 a1보다 크기가 크다. 제2 개구부(161)는 실링 영역(SA)의 가장자리를 따라 배치되는데 제2 개구부(161)의 홀 반경이 크므로 나란히 배치하지 않고 엇갈리게 배치할 수 있다. 제2 개구부(161)는 제1 개구부(160)보다 반경이 크므로, 폭이 좁아지는 실링 부재(250)의 불량을 보다 정확하고 정밀하게 검사할 수 있지만, 검사 과정에서 실링 부재(250)의 단선인지 폭이 좁아진 불량인지 구분하기가 어려운 단점이 있다.
도 7은 본 발명의 또 다른 실시예에 따라 제1 기판(100) 상에 배치되는 차광 패턴(192) 만을 분리하여 나타낸 평면도이다.도 7을 참조하면, 실링 영역(SA)의 각 부위마다 다른 개구부를 가질 수 있다. 실링 영역(SA)은 데이터 배선(DL, 144, 146)이 많이 지나가는 제1 영역(11)에는 원기둥 형상의 제1 개구부(160)가 배치되고, 배선이 실링 영역(SA)에 부분적으로 지나가지 않을 수 있는 제1 영역(10)과 제3 영역(12), 제4 영역(13)에는 개구부를 넓게 형성할 수 있다.
또한 부분적으로 실링 부재(250)의 단선이 많이 검출되는 영역에는 제3 개구부(162)와 같이 실링 영역(SA)이 형성된 경계를 따라 길게 형성된 개구부를 가질 수 있고, 실링 부재(250)의 폭이 좁아지는 불량이 많이 검출되는 영역에는 제4 개구부(163)와 같이 실링 영역(SA)을 가로지르도록 길게 형성된 개구부를 포함할 수 있다. 따라서 제1 내지 제4 개구부(160, 161, 162, 163)가 하나의 차광 패턴(192) 상에 혼재된 형태일 수 있고, 이는 도 7에 의해 제한되지 않으며, 도 7에 개시된 각각의 개구부 형상으로부터 수많은 조합으로 배출된 차광 패턴(192)을 당업자가 자명하게 도출할 수 있을 것이다.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판에 대한 개략적인 배선도이다.
도 8을 참조하여, 배선의 형태를 설명한다. 데이터 라인(DL)은 표시 영역(DA) 상에 형성된다. 데이터 라인(DL)은 표시 영역 상에 위치한 각 화소에 데이터 신호를 전달하기 위한 것이므로 비 표시 영역(NDA) 까지 연장될 필요가 없다. 그런데, 본 발명과 같이 실링 부재(250)의 정상 배포 여부를 검사하기 위해서는 데이터 배선(DL, 144, 146)과 같이 불투명 배선이 있다면, 금속 반사에 의해 실링 검사를 보다 용이하게 할 수 있는 장점이 있다.
따라서 도 8과 같이 데이터 배선(DL, 144, 146)은 비 표시 영역(NDA) 중 제4 영역(13)까지 연장된 형상일 수 있다. 연장된 부분은 제3 더미 배선(139b)으로 지칭할 수 있다. 뿐만 아니라 제1 영역(10) 및 제3 영역(12) 상에도 게이트 배선(GL)이 배치되지 않을 수 있다. 따라서 도 8과 같이 제1 더미 배선(139a), 및 제2 더미 배선(139a')을 더 포함할 수 있다. 제1 더미 배선(139a), 제2 더미 배선(139a') 및 제3 더미 배선(133b)은 데이터 배선(DL, 144, 146)과 동일 제조 공정 상에서 동일한 물질로 이루어지거나 게이트 배선(GL, 128)과 동일 제조 공정 상에서 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
제1 더미 배선(139a) 및 제2 더미 배선(139a')은 통판 형태로서 실링 영역(SA)의 폭과 동일한 폭을 가지고 제1 영역(10) 및 제3 영역(12)에 배치될 수 있다.
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 제1 기판에 대한 개략적인 배선도이다.
제4 더미 배선(139c)은 실제 데이터 신호가 인가되는 데이터 배선(DL, 144, 146)과 이격되어 데이터 배선(DL, 144, 146)이 향하는 D2 방향에서 연장된 방향에 배치될 수 있다. 제4 더미 배선(139c)이 형성된 길이는 실링 영역(SA)의 폭일 수 있다. 제4 더미 배선(139c)은 데이터 배선(DL, 144, 146)과 표시 영역(DA)과 비표시 영역(NDA) 사이의 경계면에서 이격될 수 있다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략적인 단면도이고, 도 11은 제5 개구부(164)만을 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 10 및 도 11을 참조하면,제5 개구부(164)의 구조 및 형상을 설명하도록 한다. 제5 개구부(164)는 제1 내지 제 4 개구부(160 내지 163)과 달리 원기둥이 아닌 상하 폭이 서로 다른 형상이다. 따라서 제5 개구부(164)의 윗부분은 a 반지름을 가지나 아래부분은 b 반지름을 가지고 a는 b보다 큰 값이다. 제5 개구부(164)는 제1 내지 제 4 개구부(160 내지 163)와 달리 경사진 면을 가지게 되어 후에 실링 부재(250) 도포시 실링 부재(250)가 제5 개구부(164)의 경사진 면을 따라 유입되기 쉽다. 실링 부재(250)가 도포되어 합착하는 면적이 넓을수록 합착력이 강해지므로 제5 개구부(164)는 후에 실링 부재(250)가 제2 기판(200)과 합착시 합착력이 우수한 장점이 있다. 또한 실링 부재(250)가 제5 개구부(164) 내부로 유입된 후, 경화되는 과정에서 UV 광선이 닿는 면적도 넓어져 실링 부재(250) 경화에도 유리하다.
또한 제5 개구부(164)는 경사진 면을 갖기 때문에 후에 설명할 실링 검사 방법에 의할 때 제5 개구부(164)의 경사진 면 상에서 반사된 빛을 검출할 수 있어, 제1 개구부(160) 내지 제4 개구부(163)에 비해 반사된 빛을 검출하기 용이하다. 개구부가 원기둥 형상이면, 수직으로 광을 방출하고 다시 수직으로 반사된 빛을 검출해야하는데 좁근 개구부 상부에 광원과 검출부를 함께 설치하는 것이 용이하지 않기 때문이다.
따라서 제5 개구부(164)와 개구부가 경사진 면을 갖게 된다면, 실링 검사시 광원을 방출하는 방향과 반사된 광을 측정하는 방향이 서로 다를 수 있어, 실제적인 장점이 있다.
θ는 45도 이상 75도 미만일 수 있다. 제5 개구부(164)와 같은 개구부를 차광 패턴(164) 상에 배치시키기 위해서는 반 투과 마스크를 이용하여 부분 현상을 하여야 하며, 이는 당업자에게 자명할 것이다.
도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 액정 표시 장치의 개략적인 단면도이고, 도 13은 도 12의 제6 개구부(165)만을 분리하여 나타낸 사시도이다.
제6 개구부(165)는 제5 개구부(164)와 마찬가지로 경사진 면을 가지고 아래로 내려갈수록 폭이 좁아진 형상일 수 있다. 다만, 제6 개구부(165)가 형성되는 영역의 차광 패턴(192)의 높이는 그렇지 않은 영역보다 얇다. 차광 패턴(192)의 두께 방향으로 개구부가 형성되는데, 개구부가 형성된 부분에는 차광 패턴(192)이 배치되지 않고 실링 부재(250)로 채워지게 된다. 차광 패턴(192)의 두께가 얇으면 개구부 형성하는데 걸리는 시간도 용이하고, 후에 실링 부재(250)가 채워지기도 용이하다. 또한 실링 검사시 개구부 아래면에서 반사된 빛을 이용하게 되는데 반사된 빛이 올라오는 경로가 짧아져 반사광 검출에도 유리한 점이 있다.
제6 개구부(165)의 높이는 차광 패턴(192)의 두께보다 작다. 따라서 차광 패턴(192)은 실링 영역(SA) 상에서 경사진 면을 가지게 된다. 차광 패턴(192)의 경사진 면은 배향막(150) 배포시에 실링 영역(SA) 까지 배향막(150)이 유입되지 않도록 하는 댐(DAM) 역할을 수행할 수도 있다. 배향막(150)의 특성상 실링 부재(250)의 흡착력을 저해하기 때문에 비표시 영역(NDA) 중 일부인 실링 영역(SA) 상에는 배향막(150)이 배치되지 않는 것이 유리할 수 있기 때문이다.
도 15 및 도 16은 본 발명의 액정 표시 장치 제조 과정에서 실링 검사 장치로 실링 영역(SA)을 검사하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치는 제1 기판(100)상에 차광 패턴(192)과 컬럼 스페이서(194)를 일체형으로 형성 할 수 있다. 이때, 차광 패턴(192)의 구성 물질을 도포한 뒤, 노광 하여 차광 패턴(192)을 형성할 수 있다. 그 후, 실링 영역(SA)에 실링 부재(250)를 도포 한 후, 실링 검사를 수행한다. 실링 검사는 도 15와 같이 실링 검사 장치가 제1 기판(100)의 실링 영역(SA)을 이동하며 검사하게 된다. 만약, 실링 부재(250)가 비정상 도포된 것으로 판정되는 경우 리페어 공정을 더 포함할 수 있다.
리페어는 실링 검사를 모두 마친 후에 수행할 수도 있지만, 도 15와 같이 국부적인 실링 검사시에는 실링 도포가 비정상인것으로 판단되는 경우 실링 부재(250)를 추가로 도포하는 방법에 의해 리페어 할 수 있다.
실링 검사 장치는 지지부(480)가 제1 기판 (100)의 일 측면에 배치되고 있고, 실링 검사 부(450)는 지지부(480)와 긴 바로 연결되며, 상기 바는 길이가 변할 수 있으며, 바는 옆으로도 이동할 수 있어 상하 좌우 이동이 가능하다. 따라서 실링 검사 장치는 고정된 제1 기판 (100) 상부를 이동하며 실링 검사를 수행할 수 있다.
도 15는 본 발명의 일 실시예에 따른 실링 검사 방법을 도식화 한 도면이다. 도 15를 참조하면, 지지부(480)에 연결된 실링 검사 부(450)는 실링 영역(SA)의 수직 상부에 배치된다. 광원(452)은 실링 검사 부(450)가 실링 영역(SA)을 향하는 일 면에 배치되고, 그 옆에 측정 장치(451)가 배치된다. 광원(452)은 실링 영역(SA)을 향해 광을 방출한다. 측정 장치(451)는 광원(452)으로부터 방출된 광이 반사되는지 여부를 측정한다. 실링 검사 장치는 실링 부재(250) 상에서 계면 반사된 만이 측정되거나 반사되어 나온 빛이 검출이 안된다면 해당 실링 영역(SA)은 정상적으로 실링 부재(250)가 도포된 것으로 판단한다. 도 15는 실링 부재(250)가 정상 도포된 상태이므로 실링 부재(250) 상부에서 계면 반사된 빛만이 측정되거나 반사되어 나온 빛이 검출되지 않는다. 따라서 실링 검사 장치는 도 15의 경우 실링 부재(250)가 정상 도포된 것으로 판단한다.
반면에 도 16은 제1 개구부(160)가 유기층(172)을 노출시키고 있다. 따라서 도 16의 경우에 실링 검사 장치는 실링 부재(250)에서 반사된 빛 만이 아니라 제1 개구부(160) 상에 배치된 배향막(150) 및 그 하부막에서 반사된 빛을 측정할 수 있다. 이때, 실링 검사 장치는 해당 실링 영역(SA)이 비정상인 것으로 판단할 것이다.
본 발명의 실링 부재(250)는 블랙 계열의 안료가 포함되게 되므로, 빛을 흡수하는 양이 반사하는 양보다 적다. 반면에 제1 개구부(160)는 배향막(150)과 유기층(172)을 노출하고 있는데, 배향막(150)과 유기층(172)은 투명한 물질로서 블랙 계열의 물질보다 빛을 반사하는 정도가 크다. 따라서 실링 검사 장치는 반사된 빛의 세기를 측정하여 측정 장치(451)가 측정한 빛이 실링 부재(250)에서 반사된 빛인지 아니면 제1 개구부(160)에서 반사된 빛인지 판단할 수 있다.
그런데 배향막(150)과 유기층(172)은 투명한 물질이기 때문에 반사율이 그닥 크지 않게 된다. 따라서 보다 정밀한 실링 부재(250) 정상 도포 여부를 검사하기 위해서 도 17과 같이 데이터 라인(DL) 이나 게이트 라인(GL)에서 반사된 빛을 측정하는 방법에 대해 설명하고자 한다.
데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)을 구성하는 물질은 알루미늄(Al)과 알류미늄 합금 등 알루미늄 계열의 금속, 은(Ag)과 은 합금 등 은 계열의 금속, 구리(Cu)와 구리 합금 등 구리 계열의 금속, 몰리브덴(Mo)과 몰리브덴 합금 등 몰리브덴 계열의 금속, 크롬(Cr), 티타늄(Ti), 탄탈륨(Ta) 등 불투명한 금속이므로 반사율이 높다. 따라서 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)으로부터 반사된 빛은 실링 부재(250)에서 반사된 빛보다 반사율이 훨씬 높아 실링 부재(250)의 정상인 경우와 비정상인 경우의 구별이 용이하다. 배향막(150)과 유기층(172), 보호층(152)은 투명하기 때문에 하부에 위치한 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)을 노출시킨다. 따라서 실링 검사 장치의 광원(452)으로부터 방출된 광은 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)까지 도달할 수 있다.
그런데, 앞서 살펴 보았듯이, 비 표시 영역(NDA) 상에 배치되는 실링 부재(250)는 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)이 배치되지 않은 영역이 존재할 수 있다. 따라서 실링 검사를 위해 제1 기판(100)의 제1 영역(10) 내지 제4 영역(12)에 국부적으로 더미 배선(139)을 더 포함시킬 수 있다.
더미 배선(139)은 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)과 동일한 물질로 동일한 공정에 의해 형성될 수 있으므로 실링 검사 방법에 관한 원리는 앞서 설명한 것과 동일하다.
도 19는 본 발명의 다른 실시예에 따른 실링 검사 방법이다. 도 19를 참조하면 측정 장치(453)는 제1 기판(100) 하부에 실링 영역(SA) 상에 배치될 수 있다. 광원(452)으로부터 방출된 광은 실링 부재(250)가 제1 개구부(160) 내부를 매립하지 않는다면, 제1 개구부(160)를 투과하여 광 측정부(453)에 도달할 수 있다.
광 측정부(453)는 기판 받침대(460) 내부에 실장될 수 있고, 기판 받침대(460) 상에 제1 기판(100)을 배치시켜 실링 검사를 수행할 수 있다.
다만, 도 19에 따른 실링 검사 방법은 데이터 배선(DL)이 위치되는 실링 영역(SA)인 제2 영역(11)에서 부적합하다. 데이터 배선(DL)은 불투명한 금속이기 때문에 광을 투과하지 못하고 반사시키기 때문이다. 따라서 도 19에 따른 실링 검사 방법은 게이트 배선(GL)이나 데이터 배선(DL)이 위치하지 않는 제1 영역(10)이나 제3 영역(12), 제4 영역(13)에 적합하다. 또한 도 19에 따른 실링 검사 방법은 다른 실링 검사 방법에 비해 정밀도를 높일 수 있다. 이를 테면, 반사의 경우 개구부간에 반사된 빛이 다수 측정될 때, 어느 영역의 실링 부재(250)가 비정상 도포된 것인지 확정하기 어렵다. 개구부가 다수 형성되어 있어 인접한 개구부에서 반사된 빛이 측정되기도 하기 때문이다. 그러나 투과의 경우에는 혼합이 어려워 실링 부재(250)가 비정상 도포된 영역을 정확히 찾을 수 있는 장점이 있다.
도 20은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 예에 따른 실링 검사 방법을 도식화 한 도면이다.
실링 검사 장치는 반사판(461)을 더 포함할 수 있다. 따라서 데이터 라인(DL)이나 게이트 라인(GL)이 지나가지 않아서 더미 배선(139)을 더 포함하지 않고, 실링 검사 장치 내에 반사판(461)을 포함시켜 실링 검사를 수행할 수 있다.
더미 배선(139)은 실링 검사를 위한 것이라면, 내로우 베젤형의 액정 표시 장치에서 더미 배선(139)을 실링 영역(SA)에만 형성하는 것이 어려울 수 있다. 따라서 제1 기판(100) 하부에 반사판(461)을 배치시키게 된다면, 더미 배선(139)이 없더라도 실링 검사가 가능하다.
도 21은 도 10 및 도 12에 따른 액정 표시 장치에서 실링 검사하는 방법을 도시한 도면이다.
도 10이나 도12에 따른 액정 표시 장치의 경우 제5 개구부(164) 및 제6 개구부(165)는 비스듬한 경사면을 포함한다. 따라서 광원(453)은 제1 방향에 배치하고, 측정부(454)는 검사 장치(450)의 반대편에 배치할 수 있다. 광원(453)에서 방출된 광은 제5 개구부(164) 및 제6 개구부(165)의 경사면에 반사될 수 있고, 상기 반사된 빛은 광원(453)과 반대편에 배치된 측정부(454)에 감지될 수 있다. 광원(453)과 측정부(454)를 분리시키게 되면, 측정이 용이하다. 특히, 개구부의 면적은 매우 좁은에 개구부 상부에 광원(453)과 측정부(454)를 모두 배치하는 것보다 도 21과 같이 분리시키게 되면, 실링 검사 장치를 제조하는 것에 있어서 여러모로 이점이 있다.
이상에서 본 발명의 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 본 발명의 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
110 제1 기판
122 게이트 절연막
128 게이트 전극
132 반도체층
134 저항성 접촉층
144 소스 전극
146 드레인 전극
150 배향막
152 보호층
160 제1 개구부
181 컨택홀
182 화소전극
192 차광 패턴
194 컬럼 스페이서
250 실링 부재
262 배향막
210 제2 기판
212 공통전극

Claims (20)

  1. 표시 영역과 비표시 영역을 포함하는 제1 기판;
    상기 제1 기판과 마주하는 제2 기판; 및
    상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 상기 비표시 영역 내 배치된 실링 부재를 포함하고,
    상기 제1 기판은,
    차광 패턴;
    상기 차광 패턴 상에 배치되고, 상기 제1 기판과 상기 제2 기판 사이에 간격을 유지하는 컬럼 스페이서;
    상기 차광 패턴에 정의되고 상부에 상기 실링 부재가 위치하는 개구부; 및
    상기 차광 패턴 및 상기 컬럼 스페이서 상에 위치하고 상기 개구부를 커버하는 유기막; 을 포함하고,
    상기 실링 부재 중 상기 개구부 내에 위치하는 부분은, 상기 유기막과 접촉하고 상기 차광 패턴과 비접촉하는 액정 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 개구부는 상기 차광 패턴의 두께 방향으로 연장되어, 상기 개구부의 깊이는 상기 차광 패턴의 두께와 동일한 액정 표시 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 비표시 영역은 상기 실링 부재가 배치되지 않는 차광 영역 및 상기 차광 영역을 둘러싸는 폐곡선의 형상인 실링 영역을 포함하고,
    상기 개구부는 상기 실링 영역 내에 배치되는 액정 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 개구부는 복수개이고, 상기 실링 영역을 따라 상기 개구부 사이에 일정한 이격 간격을 가지는 액정 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 개구부는 동일한 형상 및 동일한 크기를 갖는 액정 표시 장치.
  6. 제3항에 있어서,
    상기 실링 영역 내에 배치된 차광 패턴은 상기 차광 영역 내에 배치된 차광 패턴 보다 두께가 얇은 액정 표시 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 차광 패턴은 상기 실링 영역과 상기 차광 영역 사이에서 경사면을 이루도록 형성된 액정 표시 장치.
  8. 삭제
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 실링 영역상에 배치된 차광 패턴 하부에는 더미 배선을 더 포함하는 액정 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 더미 배선은 상기 표시 영역상에 배치된 배선이 연장된 것인 액정 표시 장치.
  11. 제9항에 있어서,
    상기 더미 배선은 상기 표시 영역상에 배치된 배선과 상기 비표시 영역과 상기 표시 영역 상의 경계에서 이격된 간격을 갖는 액정 표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 개구부는 상기 실링 부재가 배치되는 방향의 상부 면적이 하부 면적에 비해 넓어 상기 제1 기판의 평면을 기준으로 기울어진 경사면을 가지는 액정 표시 장치.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 개구부는 서로 상이한 형상의 개구부를 적어도 하나 이상 포함하는 액정 표시 장치.
  14. 제1항에 있어서
    상기 실링 부재의 높이는 상기 컬럼 스페이서의 높이 보다 높은 액정 표시 장치.
  15. 제1항에 있어서,
    상기 차광 패턴과 상기 컬럼스페이서 및 상기 실링 부재는 블랙 계열의 물질로 이루어진 액정 표시장치.
  16. 제1항에 있어서
    상기 차광 패턴과 상기 컬럼스페이서는 감광성 물질로서 일체형이고, 상기 실링 부재는 비 감광성 물질로 이루어진 액정 표시 장치.
  17. 삭제
  18. 삭제
  19. 삭제
  20. 삭제
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