JP2011154288A - 電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材、フェライトキャリア及び該フェライトキャリアを用いた電子写真現像剤 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】Mg2TiO4、MgTiO3、MgTi2O4から選ばれる少なくとも1種類以上の温度補償型誘電体成分を含有するフェライト粒子からなる電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材及び該キャリア芯材の表面に樹脂を被覆してなる電子現像剤用フェライトキャリア、並びに該フェライトキャリアを用いた電子写真現像剤を採用する。
【選択図】なし
Description
本発明に係る電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材は、Mg2TiO4、MgTiO3、MgTi2O4から選ばれる少なくとも1種類以上の温度補償型誘電体成分を含有するフェライト粒子からなる。また、これらの物質の合計含有量は、0.2〜10重量%であることが望ましい。そして、このような物質を含有することによって、高い帯電量を得ることができ、電子写真現像剤としたときに、各環境下における帯電安定性にも優れる。
測定装置としてパナリティカル社製「X’PertPRO MPD」を用いた。X線源としてCo管球(CoKα線)を、光学系として集中光学系及び高速検出器「X‘Celarator」を用いて、測定は0.2°/secの連続スキャンで行った。測定結果は通常の粉末の結晶構造解析と同様に解析用ソフトウエア「X’Pert
HighScore」を用いてデータ処理し、結晶構造の同定し、得られた結晶構造を精密化することで重量換算の存在比率を算出した。存在比率の算出に際してマグネシウムフェライトとFe3O4のピークの分離が難しいためスピネル相として取り扱い、それ以外の結晶構造はそれぞれの存在比率を算出した。なお、結晶構造の同定を行う際にOを必須元素としFe、Mn、Mg、Ti、Srは含有する可能性のある元素とした。また、X線源についてはCu管球でも問題なく測定できるが、Feを多く含んだサンプルの場合には測定対象となるピークと比較してバックグラウンドが大きくなるので、Co管球を用いる方が好ましい。また、光学系は平行法でも同様の結果が得られる可能性があるが、X線強度が低く測定に時間がかかるため集中光学系での測定が好ましい。さらに、連続スキャンの速度は特に制限はないが結晶構造の解析を行う際に十分なS/N比を得るためにスピネル構造の(113)面のピーク強度が50000cps以上となるようにし、粒子の特定の優先方向への配向がないようにサンプルセルにキャリア芯材をセットし測定を行った。
これらFe、Mg、Ti、Sr、Mn及びSiの含有量は、下記によって測定される。
キャリア芯材0.2gを秤量し、純水60mlに1Nの塩酸20ml及び1Nの硝酸20mlを加えたものを加熱し、キャリア芯材を完全溶解させた水溶液を準備し、ICP分析装置(島津製作所製ICPS−1000IV)を用いてFe、Mg、Ti、Sr、Mn及びSiの含有量を測定した。
この帯電量は、次のようにして測定される。すなわち、スチレン−アクリル系負帯電性市販トナー(5.5μm)3.5gとキャリア芯材46.5gを秤量し、50mlのガラスビンに入れてボールミルでガラスビンが100回転になるように回転数を合わせて混合攪拌を行った。攪拌時間は30minとし、それぞれ現像剤をN/N環境(室温25℃、湿度55%)とH/H環境(室温32℃、湿度80%)下に1時間暴露後、Epping社製帯電量測定装置q/m−meterで帯電量を測定した。このとき帯電量は測定を開始後3min後の値とした。
装置として日機装株式会社製マイクロトラック粒度分析計(Model9320−X100)を用いた。分散媒には水を用いた。
自動比表面積測定装置GEMINI2360」(島津製作所社製)を用いて、吸着ガスであるN2を吸着させて測定したキャリア粒子のN2吸着量から求めることができる。なお、ここでは、このN2吸着量を測定する際に用いられる測定管は、測定前に、減圧状態にて50℃で2時間の空焼きを行った。さらに、この測定管にキャリア粒子5gを充填し、減圧状態で30℃の温度で2時間前処理を行った後に、25℃下でN2ガスをそれぞれ吸着させてその吸着量を測定した。それらの吸着量は、吸着等温線を描き、BET式から算出される値である。
次に、本発明に係る電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材及びフェライトキャリアの製造方法について説明する。
次に、本発明に係る電子写真現像剤について説明する。
本発明に係る電子写真現像剤は、上述した電子写真現像剤用フェライトキャリアとトナーとからなるものである。
表1に示されるように、原料としてFe原料を15.84モル、Mg原料を0.65モル、Li原料を2.67モル、Ca原料を0.1モルとし、活性炭を添加せず、仮焼成を行わず、本造粒のスラリー粒径のD50を3.5μmとし、さらに表2に示されるように、一次焼成を650℃、大気雰囲気、本焼成を1210℃、大気雰囲気で行い、表3に示されるように、表面酸化処理を行わない以外は、実施例1と同様にしてキャリア芯材粒子を得た。
表1に示されるように、原料としてFe原料を10モル、Mg原料を1モル、Sr原料を0.02モル、Mn原料を4モルとし、活性炭を添加せず、仮焼成を900℃、大気雰囲気で行い、本造粒のスラリー粒径のD50を3.5μmとし、さらに表2に示されるように、一次焼成を700℃、大気雰囲気、本焼成を1235℃、酸素濃度1.5vol%雰囲気で行い、表3に示されるように、表面酸化処理を行わない以外は、実施例1と同様にしてキャリア芯材粒子を得た。
表1に示されるように、原料としてFe原料を10モル、Mg原料を1モル、Sr原料を0.02モル、Mn原料を4モルとし、活性炭を添加せず、仮焼成を930℃、大気雰囲気で行い、本造粒のスラリー粒径のD50を2μmとし、さらに表2に示されるように、一次焼成を700℃、大気雰囲気、本焼成を1130℃、酸素濃度0.5vol%雰囲気で行い、表3に示されるように、表面酸化処理を行わない以外は、実施例1と同様にしてキャリア芯材粒子を得た。
表1に示されるように、原料としてFe原料を15.34モル、Mg原料を0.25モル、Li原料を2.67モル、Mn原料を1モルとし、活性炭を添加せず、仮焼成を930℃、大気雰囲気で行い、本造粒のスラリー粒径のD50を2μmとし、さらに表2に示されるように、一次焼成を650℃、大気雰囲気、本焼成を1145℃、酸素濃度1vol%雰囲気で行い、表3に示されるように、表面酸化処理を行わない以外は、実施例1と同様にしてキャリア芯材粒子を得た。
表1に示されるように、原料としてFe原料を10.1モル、Mg原料を0.25モル、Mn原料を4.7モルとし、活性炭を添加せず、仮焼成を行わず、本造粒のスラリー粒径のD50を2μmとし、さらに表2に示されるように、一次焼成を650℃、大気雰囲気、本焼成を1290℃、非酸化性雰囲気(酸素濃度0vol%)で行い、表3に示されるように、表面酸化処理を550℃で行った以外は、実施例1と同様にしてキャリア芯材粒子を得た。
磁化は、次のようにして測定される。すなわち、積分型B−HトレーサーBHU−60型(理研電子社製)を使用して測定した。電磁石間に磁場測定用Hコイル及び磁化測定用4πIコイルを入れる。この場合、試料は4πIコイルに入れる。電磁石の電流を変化させ磁場Hを変化させたHコイル及び4πIコイルの出力をそれぞれ積分し、H出力をX軸に、4πIコイルの出力をY軸に、ヒステリシスループを記録紙に描く。ここで測定条件としては、試料充填量:約1g、試料充填セル:内径7mmφ±0.02mm、高さ10mm±0.1mm、4πIコイル:巻数30回にて測定した。
比較例2と同様の方法で平均粒径58.51μmのキャリア芯材粒子を作成し、実施例12と同様の方法で樹脂被覆を行い、樹脂被覆キャリアを得た。
Claims (8)
- Mg2TiO4、MgTiO3、MgTi2O4から選ばれる少なくとも1種類以上の温度補償型誘電体成分を含有するフェライト粒子からなることを特徴とする電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記温度補償型誘電体成分の合計含有量が0.2〜10重量%である請求項1に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子は、Fe、Ti及びMgを含有し、その含有量がFe60〜71重量%、Ti0.5〜5.5重量%、Mg0.5〜3.5重量%である請求項1〜請求項3のいずれかに記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 表面に酸化被覆が形成されている請求項1〜請求項4のいずれかに記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 請求項1〜請求項5のいずれかに記載のフェライトキャリア芯材の表面が樹脂で被覆されている電子写真現像剤用フェライトキャリア。
- 請求項6に記載のフェライトキャリアとトナーからなる電子写真現像剤。
- 補給用現像剤として用いられる請求項7に記載の電子写真現像剤。
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