JP2013205614A - 電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材、フェライトキャリア及びこれらの製造方法、並びに該フェライトキャリアを用いた電子写真現像剤 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】Mgを0.9〜3.5重量%、Tiを0.3〜2重量%、Feを66〜71重量%を含有し、FeO含有量が1〜6重量%であり、かつ細孔容積が0.010〜0.025ml/gであるフェライト粒子からなることを特徴とする電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材、フェライトキャリア及びこれらの製造方法、並びに該フェライトキャリアを用いた電子写真現像剤を採用する。
【選択図】なし
Description
<本発明に係る電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材及びフェライトキャリア>
本発明に係る電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材として用いられるフェライト粒子は、Mgを0.9〜3.5重量%、好ましくは0.9〜3重量%、より好ましくは0.9〜2.5重量%、Tiを0.3〜2重量%、好ましくは0.5〜1.8重量%、より好ましくは0.5〜1.6重量%、Feを66〜71重量%、好ましくは67〜71重量%、より好ましくは68〜71重量%含有する。残部はOと随伴不純物であり、随伴不純物は原料に含まれるものや製造工程において混入するものであり、その合計量は0.5重量%以下である。上記組成範囲のフェライト粒子からなるフェライトキャリア芯材は、適度な凹凸及び抵抗や磁化を有し、かつ帯電性に優れ、特に高温高湿下での高帯電を維持でき環境依存性の良好である。なお、なお、本発明でいうフェライト粒子とは、特記しない限り個々のフェライト粒子の集合体を意味し、また単に粒子とは、個々のフェライト粒子をいう。
これらFe、Mg、Ti及びSrの含有量は、下記によって測定される。
フェライト粒子(フェライトキャリア芯材)0.2gを秤量し、純水60mlに1Nの塩酸20ml及び1Nの硝酸20mlを加えたものを加熱し、フェライト粒子を完全溶解させた水溶液を準備し、ICP分析装置(島津製作所製ICPS−1000IV)を用いてFe、Mg、Ti及びSrの含有量を測定した。
測定装置としてパナリティカル社製「X’PertPRO MPD」を用いた。X線源としてCo管球(CoKα線)を、光学系として集中光学系及び高速検出器「X‘Celarator」を用いて、測定は0.2°/secの連続スキャンで行った。測定結果は通常の粉末の結晶構造解析と同様に解析用ソフトウエア「X’Pert
HighScore」を用いてデータ処理し、結晶構造の同定し、得られた結晶構造を精密化することで体積換算の存在比率を算出した。存在比率の算出に際してマグネシウムフェライトとFe3O4のピークの分離が難しいためスピネル相として取り扱い、それ以外の結晶構造はそれぞれの存在比率を算出した。なお、結晶構造の同定を行う際にFe、Oを必須元素としMg、Ti、Srは含有する可能性のある元素とした。また、X線源についてはCu管球でも問題なく測定できるが、Feを多く含んだサンプルの場合には測定対象となるピークと比較してバックグラウンドが大きくなるので、Co管球を用いる方が好ましい。また、光学系は平行法でも同様の結果が得られる可能性があるが、X線強度が低く測定に時間がかかるため集中光学系での測定が好ましい。さらに、連続スキャンの速度は特に制限はないが結晶構造の解析を行う際に十分なS/N比を得るためにスピネル構造の(311)面のピーク強度が約50000cpsとなるようにし、粒子の特定の優先方向への配向がないようにサンプルセルにキャリア芯材をセットし測定を行った。
このフェライト粒子の細孔径及び細孔容積の測定は、次のようにして行われる。すなわち、水銀ポロシメーターPascal140とPascal240(ThermoFisher Scientific社製)を用いて測定した。ディラトメータはCD3P(粉体用)を使用し、サンプル(フェライト粒子)は複数の穴を開けた市販のゼラチン製カプセルに入れて、ディラトメータ内に入れた。Pascal140で脱気後、水銀を充填し低圧領域(0〜400Kpa)を測定し、1st Runとした。次に再び脱気と低圧領域(0〜400Kpa)の測定を行い、2nd Runとした。2nd Runの後、ディラトメーターと水銀とカプセルとサンプルを合わせた重量を測定した。次にPascal240で高圧領域(0.1Mpa〜200Mpa)を測定した。この高圧部の測定で得られた水銀圧入量をもって、フェライト芯材粒子の細孔容積、細孔径分布及びピーク細孔径を求めた。また、細孔径を求める際には水銀の表面張力を480dyn/cm、接触角を141.3°として計算した。
振動試料型磁気測定装置(型式:VSM−C7−10A(東英工業社製))を用いた。測定試料(フェライト粒子)は、内径5mm、高さ2mmのセルに詰めて上記装置にセットした。測定は、印加磁場を加え、1K・1000/4π・A/mまで掃引した。次いで、印加磁場を減少させ、記録紙上にヒステリシスカーブを作製した。このカーブのデータより印加磁場が1K・1000/4π・A/mにおける磁化を読み取った。
このBET比表面積の測定は、比表面積測定装置(型式:Macsorb HM model−1208(マウンテック社製))を用いた。測定試料を比表面積測定装置専用の標準サンプルセルに約5〜7g入れ、精密天秤で正確に秤量し、測定ポートに試料(フェライト粒子)をセットし、測定を開始した。測定は1点法で行い、測定終了時に試料の重量を入力すると、BET比表面積が自動的に算出される。なお、測定前に前処理として、測定試料を薬包紙に20g程度を取り分けた後、真空乾燥機で−0.1MPaまで真空度を脱気し、−0.1MPa以下に真空度が到達していることを確認した後、200℃で2時間加熱した。
環境:温度;10〜30℃、湿度;相対湿度で20〜80% 結露なし
この体積平均粒径は、レーザー回折散乱法により測定した。装置として日機装株式会社製マイクロトラック粒度分析計(Model9320−X100)を用いた。屈折率は2.42とし、25±5℃、湿度55±15%の環境下で測定を行った。ここで言う体積平均粒径(メジアン径)とは、体積分布モード、ふるい下表示での累積50%粒子径である。分散媒には水を用いた。
フェライト粒子の強度は下記によって測定される。
装置として日機装株式会社製マイクロトラック粒度分析計(Model9320−X100)及びシンパテック社製レーザ回折式粒度分布測定装置「HELOS SYSTEM」を用い、「HELOS SYSTEMで測定した21μm以下の体積頻度」−「マイクロトラック(Model9320−X100)で測定した22μm以下の体積頻度」の値を強度とした。上記の通り、HELOS SYSTEMとマイクロトラックで同一サンプルの比較測定を行うことで、フェライト粒子の強度が相対的に測定できる。これはHELOS SYSTEMにおいてサンプルを分散する際のストレスがより強くかかるため、フェライト粒子の強度が部分から破壊されやすく、同一サンプルをマイクロトラックで測定した場合と比べて粒度分布の小粒径側の体積頻度が大きくなるためであり、サンプルミル等による小型粉砕機を用いた強度測定方法と比較しても、サンプルの粒度分布の影響やサンプルミル内のカッター回転数やカッターの劣化度合いの影響は受けにくいために再現性にも優れていることはいうまでもない。
常温常湿(N/N)環境=温度20〜25℃、相対湿度50〜60%
高温高湿(H/H)環境=温度30〜35℃、相対湿度80〜85%
なお、低温低湿(L/L)環境とは、温度10〜15℃、相対湿度10〜15%である。
この電気抵抗は、下記によって測定される。
電極間間隔6.5mmにて非磁性の平行平板電極(10mm×40mm)を対向させ、その間に、試料(フェライト粒子)200mgを秤量して充填する。磁石(表面磁束密度:1500Gauss、電極に接する磁石の面積:10mm×30mm)を平行平板電極に付けることにより電極間に試料を保持させ、50V又は1000Vの電圧を印加し、50V又は1000Vの印加電圧における抵抗を絶縁抵抗計(SM−8210、東亜ディケーケー(株)製)にて測定した。
ブレークダウン電圧は次のようにして測定される。すなわち、N/N環境下、電極間間隔2mmにて非磁性の平行平板電極(10mm×40mm)を対向させ、その間に、試料(フェライト粒子)200mgを秤量して充填する。磁石(表面磁束密度:1500Gauss、電極に接する磁石の面積:10mm×30mm)を平行平板電極に付けることにより電極間に試料を保持させ、電極にはエレクトロメーター(KEITHLEY社製 絶縁抵抗計model6517A)をつなぎ、印加電圧を変化させながら電流値を測定し、エレクトロメーターの定格出力である1mAを超えたところをブレークダウン電圧とした。なお、測定条件はエレクトロメーターのSTAIRCASEモードを使用し、電圧印加を50Vから開始し、10V刻みで1000Vまで階段状に変化させるようにした。また、各印加電圧において5秒間維持した。
次に、本発明に係る電子写真現像剤用キャリア芯材及びキャリアの製造方法について説明する。
次に、本発明に係る電子写真用現像剤について説明する。
本発明に係る電子写真現像剤は、上述した電子写真現像剤用フェライトキャリアとトナーとからなるものである。
Fe2O3を3.12モル、MgOを0.37モル、SrCO3を0.02モル及びTiO2を0.075モルとなるように秤量し、さらに、還元剤としてカーボンブラックを原料重量に対して2重量%添加したものを混合、粉砕後、ローラーコンパクターでペレット化した。得られたペレットを1030℃にて酸素濃度0体積%下の窒素雰囲気下、ロータリー式の焼成炉で仮焼成をおこなった。
湿式ビーズミルの粉砕時間を2時間とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
湿式ビーズミルの粉砕時間を0.75時間とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
本焼成温度を1085℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
本焼成温度を1135℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
表面酸化処理温度を530℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
表面酸化処理温度を680℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
MgOを0.2モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
MgOを0.55モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
SrCO3を添加しない以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
SrCO3を0.05モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
TiO2を0.04モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
TiO2を0.15モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
本焼成温度を1135℃とし、かつ分級条件を変更して体積平均粒径を25.69μm、とし、フェライトキャリア芯材に対するアクリル変性シリコーン樹脂の被覆量を2.2重量%にした以外は、実施例1と同様にしての表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
還元剤の添加量を1重量%、本焼成温度を1105℃とし、かつ分級条件を変更して体積平均粒径を41.93μm、とし、フェライトキャリア芯材に対するアクリル変性シリコーン樹脂の被覆量を1.4重量%にした以外は、実施例1と同様にしての表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
湿式ビーズミルの粉砕時間を6時間とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
湿式ビーズミルの粉砕時間を0.25時間とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
本焼成温度を1050℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
本焼成温度を1185℃とした以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
MgOを0.09モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
MgOを0.8モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
SrCO3を0.07モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
TiO2を0.25モルとなるように添加した以外は、実施例1と同様にして表面酸化処理済みのフェライト粒子(フェライトキャリア芯材)及び樹脂被覆フェライトキャリアを得た。
試料(フェライトキャリア芯材又はフェライトキャリア)と、フルカラープリンターに使用されている市販の負極性トナーで平均粒径が約6μmのものを、トナー濃度を6.5重量%(トナー重量=3.25g、キャリア重量=46.75g)に秤量した。秤量したキャリア及びトナーを、後述の各環境下に12時間以上暴露した。その後、キャリアとトナーを50ccのガラス瓶に入れ、100rpmの回転数にて、30分間撹拌を行った。
帯電量測定装置として、直径31mm、長さ76mmの円筒形のアルミ素管(以下、スリーブ)の内側に、N極とS極を交互に合計8極の磁石(磁束密度0.1T)を配置したマグネットロールと、該スリーブと5.0mmのGapをもった円筒状の電極を、該スリーブの外周に配置した。
このスリーブ上に、現像剤0.5gを均一に付着させた後、外側のアルミ素管は固定したまま、内側のマグネットロールを100rpmで回転させながら、外側の電極とスリーブ間に、直流電圧2000Vを60秒間印加し、トナーを外側の電極に移行させた。このとき、円筒状の電極にはエレクトロメーター(KEITHLEY社製 絶縁抵抗計model6517A)をつなぎ、移行したトナーの電荷量を測定した。
60秒経過後、印加していた電圧を切り、マグネットロールの回転を止めた後、外側の電極を取り外し、電極に移行したトナーの重量を測定した。
測定された電荷量と移行したトナー重量から、帯電量を計算した。
Claims (13)
- Mgを0.9〜3.5重量%、Tiを0.3〜2重量%、Feを66〜71重量%を含有し、FeO含有量が1〜6重量%であり、かつ細孔容積が0.010〜0.025ml/gであるフェライト粒子からなることを特徴とする電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子がSrを0.1〜1.0重量%含有する請求項1に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子の1K・1000/4π・A/mの磁場をかけたときのVSM測定による磁化が50〜62Am2/kgである請求項1又は2に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子に表面酸化被膜が形成されている請求項1〜3のいずれかに記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子のFeO含有量が0〜0.5重量%である請求項4に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 上記フェライト粒子は、常温常湿(N/N)環境下、6.5mmGap印加電圧50Vにおける抵抗が5×108〜5×1010Ω、1000Vにおける抵抗が1×108〜1×1010Ω、かつ高温高湿(H/H)環境下、6.5mmGap印加電圧50Vにおける抵抗が1×108〜1×1010Ωである請求項4又は5に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材。
- 請求項1〜6のいずれかに記載のフェライトキャリア芯材の表面が樹脂で被覆されている電子写真現像剤用フェライトキャリア。
- Fe、Mg及びTiの各化合物を粉砕、混合、仮焼した後、再度粉砕してスラリーとし、該スラリーを造粒し、得られた造粒物を脱バインダー処理後、本焼成し、さらに解砕、分級するフェライト粒子からなる電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材の製造方法であって、
上記スラリーのスラリー粒径D10が4〜8μm、かつスラリー粒径D50が2.5〜4.5μmであることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材の製造方法。 - 上記各化合物に加えてSrの化合物を加える請求項8に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材の製造方法。
- 上記解砕、分級後に、得られたフェライト粒子を表面酸化処理する請求項8又は9に記載の電子写真現像剤用フェライトキャリア芯材の製造方法。
- 請求項8〜10のいずれかに記載の製造方法によって得られたフェライトキャリア芯材の表面に樹脂を被覆することを特徴とする電子写真現像剤用フェライトキャリアの製造方法。
- 請求項7に記載のフェライトキャリアとトナーとからなる電子写真現像剤。
- 補給用現像剤として用いられる請求項12に記載の電子写真現像剤。
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