JP2011047875A - 過温度検出回路 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】過温度検出回路1は、制御部10を備える。制御部10には、スイッチ素子Q1の温度が上昇するに従って低下する電圧が入力される。この制御部10は、入力される電圧に基づいて、スイッチ素子Q1の平均温度の単位時間あたりの変化量を求め、スイッチ素子Q1の平均温度の単位時間あたりの変化量が4.5度以上であれば、スイッチ素子Q1が過温度であると判別する。
【選択図】図2
Description
(1)本発明は、半導体素子の過温度を検出する過温度検出回路であって、前記半導体素子の温度を検出する温度検出手段と、前記温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記半導体素子が過温度であるか否かを判別する過温度判別手段と、を備え、前記過温度判別手段は、前記温度検出手段により検出された温度の単位時間あたりの変化量を求め、当該単位時間あたりの変化量が予め定めた値以上であれば、前記半導体素子が過温度であると判別することを特徴とする過温度検出回路を提案している。
図1は、本発明の第1実施形態に係る過温度検出回路1の回路図である。過温度検出回路1は、抵抗R1、R2と、制御部10と、駆動部20と、を備え、スイッチ素子Q1の過温度を検出する。
図3は、本発明の第2実施形態に係る過温度検出処理のフローチャートである。
以下に、本発明の第3実施形態に係る過温度検出回路1Aについて説明する。過温度検出回路1Aは、図1に示した本発明の第1実施形態に係る過温度検出回路1とは、制御部10の代わりに制御部10Aを備える点が異なる。なお、過温度検出回路1Aについて、過温度検出回路1と同一構成要件については、同一符号を付し、その説明を省略する。
10、10A;制御部
20;駆動部
Q1、Q2;スイッチ素子
R1、R2;抵抗
Claims (4)
- 半導体素子の過温度を検出する過温度検出回路であって、
前記半導体素子の温度を検出する温度検出手段と、
前記温度検出手段により検出された温度に基づいて、前記半導体素子が過温度であるか否かを判別する過温度判別手段と、を備え、
前記過温度判別手段は、前記温度検出手段により検出された温度の単位時間あたりの変化量を求め、当該単位時間あたりの変化量が予め定めた値以上であれば、前記半導体素子が過温度であると判別することを特徴とする過温度検出回路。 - 前記過温度判別手段は、前記単位時間あたりの変化量を予め定めた周期で求め、当該単位時間あたりの変化量が予め定めた値以上である回数が予め定めた回数に達すると、前記半導体素子が過温度であると判別することを特徴とする請求項1に記載の過温度検出回路。
- 前記過温度判別手段は、前記温度検出手段により検出された温度が第1の基準温度まで上昇すると、前記半導体素子が過温度であると判別することを特徴とする請求項1または2に記載の過温度検出回路。
- 前記温度検出手段により検出された温度が第2の基準温度まで低下すると、前記半導体素子または当該半導体素子を用いた回路で断線が生じたと判別する断線判別手段を備えることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の過温度検出回路。
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