JP2011013135A - 光測距装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】距離値算出部101での測距結果、及び、受光光量レベルを入力する汚れ検知部107において、投受光窓6までの距離に相当する測距値を得た場合に、当該測点に対応する投受光窓6の領域に汚れが付着していると判断し、かつ、当該測定における受光光量レベルから汚れの濃度を検出する。そして、前記汚れの付着が判断された測点と該測点での汚れ濃度とから汚れレベルを判断し、汚れレベルに基づいて、警告装置108、投受光窓上の汚れを除去する除去装置109を動作させ、また、測点位置・投光強度・受光感度の変更などの測距動作の補正を行う。
【選択図】図2
Description
この場合、投受光窓上の汚れのレベルによっては、測距の精度が大きく低下するので、測距精度が低下したまま使用されることがないように、汚れレベルに基づいて警告を発し、許容できない汚れの発生(測距精度の低下)を警告する。
2 2次元走査ミラー(スキャナ)
3 レーザ投光部
4 レーザ受光部(光検出器)
5b 投光/受光分離器
6 投受光窓
7 測定対象物
9 測距計測部
10 制御部
12 発光モニタ部
32 レーザ素子
42 受光素子
91 共振回路
92 立上がり回路
93,94 ストップタイミング生成部
95,96 時間計測部
97,98 A/D変換器
101 距離値算出部
103 レーザ・スキャナ・コントローラ
107 汚れ検知部(汚れ検知手段、汚れレベル判定手段、除去制御手段、投光強度補正手段、測点変更手段、受光感度変更手段)
108 警告装置(警告手段)
109 汚れ除去装置(汚れ除去手段)
Claims (14)
- 光を透過させる投受光窓を介して放射される光で測定対象物の2次元走査を行い、前記測定対象物で反射した光を、前記投受光窓を介して光検出器に受光させ、前記測定対象物に向けた光の放射タイミングと、前記測定対象物からの反射光を前記光検出器が受光した受光タイミングとの時間差に基づいて、前記測定対象物までの距離を測定する光測距装置において、
測距値が前記投受光窓までの距離に相当する場合に、当該測距結果を得た測点に対応する前記投受光窓上の領域の汚れを検知する汚れ検知手段を備えたことを特徴とする光測距装置。 - 前記汚れ検知手段によって汚れが検知された測点の並び方に基づいて、前記投受光窓の汚れレベルを判定する汚れレベル判定手段を設けたことを特徴とする請求項1記載の光測距装置。
- 前記汚れレベル判定手段が、汚れが検知された測点相互が隣接する隣接箇所の積算数に基づいて汚れレベルを判定することを特徴とする請求項2記載の光測距装置。
- 前記汚れ検知手段が、前記投受光窓までの距離に相当する測距値を得た前記測定対象物の反射率に基づいて、前記投受光窓上の汚れの濃度を検出することを特徴とする請求項1記載の光測距装置。
- 前記汚れ検知手段が、投光強度を変化させ、前記光検出器の出力と一定の閾値との比較によって受光検出がなされたときの投光強度に基づき、前記汚れの濃度を検出することを特徴とする請求項4記載の光測距装置。
- 前記汚れ検知手段が、前記光検出器による受光検出に用いる閾値を変化させ、前記受光検出器の出力と前記閾値との比較によって受光検出がなされたときの閾値に基づき、前記汚れの濃度を検出することを特徴とする請求項4記載の光測距装置。
- 前記汚れ検知手段によって汚れが検知された測点の並び方、及び、汚れが検知された測点それぞれでの汚れの濃度に基づいて、前記投受光窓の汚れレベルを判定する汚れレベル判定手段を設けたことを特徴とする請求項4〜6のいずれか1つに記載の光測距装置。
- 前記汚れレベル判定手段が、汚れが検知された測点毎に、当該測点の周囲に隣接する測点であって汚れが検知された測点の数と、当該測点における汚れの濃度とに基づいて汚れの指標値を設定し、汚れが検知された測点毎に設定した前記指標値を積算し、該積算値に基づいて前記汚れレベルを判定することを特徴とする請求項7記載の光測距装置。
- 前記汚れレベル判定手段が、汚れが検知された測点での汚れの濃度と、当該測点と他の汚れが検知された測点との間の距離とに基づいて、前記当該測定における汚れの指標値を設定し、汚れが検知された測点毎に設定された指標値の合計に基づいて汚れレベルを判定することを特徴とする請求項7記載の光測距装置。
- 前記投受光窓上の汚れを除去する汚れ除去手段と、
前記汚れレベルに基づいて前記汚れ除去手段の作動を制御する除去制御手段と、
を備えたことを特徴とする請求項2,3,7〜9のいずれか1つに記載の光測距装置。 - 前記汚れレベルに基づいて、測距動作時に投光強度を補正する投光強度補正手段を備えたことを特徴とする請求項2,3,7〜9のいずれか1つに記載の光測距装置。
- 前記汚れが検知された測点及び当該測点における汚れレベルに基づいて、測距動作時に、測点の位置を変更する測点変更手段を備えたことを特徴とする請求項2,3,7〜9のいずれか1つに記載の光測距装置。
- 前記汚れが検知された測点及び当該測点における汚れレベルに基づいて、測距動作時に、前記光検出器の出力に基づく受光タイミングの検出感度を変更する受光感度変更手段を備えたことを特徴とする請求項2,3,7〜9のいずれか1つに記載の光測距装置。
- 前記汚れレベルに基づいて警告を発する警告手段を備えたことを特徴とする請求項2,3,7〜9のいずれか1つに記載の光測距装置。
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