JP2011008876A - 研削装置 - Google Patents

研削装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2011008876A
JP2011008876A JP2009152662A JP2009152662A JP2011008876A JP 2011008876 A JP2011008876 A JP 2011008876A JP 2009152662 A JP2009152662 A JP 2009152662A JP 2009152662 A JP2009152662 A JP 2009152662A JP 2011008876 A JP2011008876 A JP 2011008876A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
annular
annular substrate
grinding
holding
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2009152662A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Yamanaka
聡 山中
Toshimitsu Goto
利光 後藤
Takenobu Mori
健展 森
Makoto Togawa
誠 刀川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2009152662A priority Critical patent/JP2011008876A/ja
Publication of JP2011008876A publication Critical patent/JP2011008876A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)

Abstract

【課題】、複数の環状基板を所定の厚みに効率よく形成することができる研削装置を提供する。
【解決手段】中心に穴を備えた環状基板を研削する研削装置であって、中心に穴を備えた複数の環状基板を収容する第1のカセット機構と、該第1のカセット機構に収納された複数の環状基板を所定枚数搬送する搬送機構と、該搬送機構によって搬送された所定枚数の環状基板を仮置きする仮置き機構と、該仮置き機構に仮置きされた所定枚数の環状基板を同時に保持テーブルに搬入する搬入機構と、該保持テーブルに保持された所定枚数の環状基板を同時に研削する研削機構と、該研削機構によって研削された所定枚数の環状基板を該保持テーブルから同時に搬出する搬出機構と、該搬出機構によって搬出された所定枚数の環状基板を洗浄する洗浄機構と、該洗浄機構によって洗浄された所定枚数の環状基板を収容する第2のカセット機構とを具備している。
【選択図】図8

Description

本発明は、中心に穴を備えた環状基板を研削するための研削装置に関する。
音や画像等を記憶する大容量記録媒体としてアルミニウム合金やガラス等からなる環状の基板に所定の加工を施した磁気ディスクまたは光ディスクが用いられている。また、ガラス基板や半導体基板から中心に穴を備えた環状基板を製造する方法が下記特許文献1に開示されている。この特許文献1に開示され中心に穴を備えた環状基板の製造方法は、環状の基板の外径より大きい径を有するシリコンウエーハに、環状基板の中心の穴の内周と外周に沿ってレーザー光線を同時に照射することにより環状基板を切り出した後、環状基板をラッピング盤によって表裏面を研磨して所定の面精度および厚みに形成する。
特許第2678416号公報
而して、環状に切り出された基板をラッピング盤による研磨加工によって所定の厚みに形成するには相当の加工時間を要し、生産性が悪いという問題がある。また、上述した環状基板は径が小さいため、1枚ずつ加工すると生産性が悪いので、複数枚を同時に加工することが望まれている。
本発明は上記事実に鑑みてなされたものであり、その主たる技術課題は、複数の環状基板を所定の厚みに効率よく形成することができる研削装置を提供することにある。
上記主たる技術課題を解決するため、本発明によれば、中心に穴を備えた環状基板を研削する研削装置において、
中心に穴を備えた環状基板を収容する第1のカセット機構と、該第1のカセット機構に収納された環状基板を搬送する搬送機構と、該搬送機構によって搬送された環状基板を仮置きする仮置き機構と、該仮置き機構に仮置きされた環状基板を保持テーブルに搬入する搬入機構と、該保持テーブルに保持された環状基板を研削する研削機構と、該研削機構によって研削された環状基板を該保持テーブルから搬出する搬出機構と、該搬出機構によって搬出された環状基板を洗浄する洗浄機構と、該洗浄機構によって洗浄された環状基板を収容する第2のカセット機構と、を具備し、
該第1のカセット機構は、環状基板の穴が嵌挿する複数の支持柱を備えた環状基板載置テーブルと、該環状基板載置テーブルの上方に上下方向に移動可能に配設され該環状基板載置テーブルの複数の支持柱にそれぞれ嵌挿された最上位の複数の環状基板を保持する環状基板保持手段と、該環状基板保持手段を該環状基板載置テーブルの複数の支持柱にそれぞれ嵌挿された環状基板を保持する作用位置と該作用位置より上方の待機位置に位置付ける進退手段とを備え、
該搬送機構は、待機位置に位置付けられた該環状基板保持手段に保持された複数の環状基板を同時に保持して該仮置き機構に搬送し、
該搬入機構は、該仮置き機構に搬送された複数の環状基板を同時に保持して該保持テーブルに搬入し、
該保持テーブルは、該搬入機構によって搬入された複数の環状基板を同時に保持する複数のチャックテーブルを備えており、
該搬出機構は、該複数のチャックテーブル上で研削加工された複数の環状基板を同時に保持して該洗浄機構に搬送し、
該洗浄機構は、該搬出機構によって搬出された研削後の複数の環状基板を同時に保持する複数の保持部を備えており、
該第2のカセット機構は、環状基板の穴が嵌挿する複数の支持柱を備えた基板載置テーブルを具備している、
ことを特徴とする研削装置が提供される。
上記第1のカセット機構の環状基板載置テーブルを構成する複数の支持柱は、外周面に密着防止ブラシが装着されていることが望ましい。また、第1のカセット機構の環状基板載置テーブルは、複数の支持柱に嵌合された環状基板の有無を検出する環状基板検出手段を備えていることが望ましい。
上記仮置き機構は基台と該基台の上面に配設された複数の中心合わせ支持柱とを具備し、該複数の中心合わせ支持柱はそれぞれ軸方向に分割された複数の支持柱片からなり、該複数の支持柱片が径方向に拡径するように構成されていることが望ましい。
本発明による研削装置は以上のように構成されているので、第1のカセット機構に収納された環状基板を所定の複数枚ずつ保持テーブルに搬送し、該保持テーブルに搬送された複数の環状基板を同時に研削するので、複数の環状基板を所定の厚みに効率よく形成することができる。
本発明に従って構成された研削装置の斜視図。 図1に示す研削装置に装備される環状基板を吸引保持するチャックテーブルを備えた保持テーブルの斜視図。 図1に示す研削装置に装備される第1のカセット機構の環状基板載置テーブルを構成する支持柱を拡大して示す斜視図。 図1に示す研削装置に装備される環状基板保持手段を構成する円形状の支持基盤の斜視図。 図1に示す研削装置に装備される環状基板保持手段を構成する吸引保持手段の斜視図。 図1に示す研削装置に装備される環状基板保持手段の断面図。 図1に示す研削装置に装備される仮置き機構を構成する中心合わせ支持柱を拡大して示す斜視図。 図1に示す研削装置に装備される被加工物搬送機構の要部斜視図。 図1に示す研削装置に装備される被加工物搬入機構の要部斜視図。 図1に示す研削装置に装備される第1のカセット機構の作動状態を示す説明図。 図1に示す研削装置に装備される搬送機構の作動状態を示す説明図。 図1に示す研削装置に装備される搬入機構の作動状態を示す説明図。 図1に示す研削装置に装備される環状基板保持手段に配設された環状基板検出手段による検出状態を示す説明図。
以下、本発明に従って構成された研削装置の好適な実施形態について、添付図面を参照して更に詳細に説明する。
図1には、本発明に従って構成された研削装置が装備された研削装置の斜視図が示されている。
図示の実施形態における研削装置は、略直方体状の装置ハウジング2を具備している。装置ハウジング2の図1において右上端には、静止支持板21が立設されている。この静止支持板21の内側面には、上下方向に延びる2対の案内レール22、22および23、23が設けられている。一方の案内レール22、22には粗研削機構としての粗研削ユニット3が上下方向に移動可能に装着されており、他方の案内レール23、23には仕上げ研削機構としての仕上げ研削ユニット4が上下方向に移動可能に装着されている。
粗研削ユニット3は、ユニットハウジング31と、該ユニットハウジング31の下端に回転自在に装着されたホイールマウント32に装着された粗研削ホイール33と、該ユニットハウジング31の上端に装着されホイールマウント32を矢印32aで示す方向に回転せしめるサーボモータ34と、ユニットハウジング31を装着した移動基台35とを具備している。
上記移動基台35には被案内レール351、351が設けられており、この被案内レール351、351を上記静止支持板21に設けられた案内レール22、22に移動可能に嵌合することにより、粗研削ユニット3が上下方向に移動可能に支持される。図示の形態における粗研削ユニット3は、上記移動基台35を案内レール22、22に沿って移動させ研削ホイール33を研削送りする研削送り機構36を具備している。研削送り機構36は、上記静止支持板21に案内レール22、22と平行に上下方向に配設され回転可能に支持された雄ねじロッド361と、該雄ねじロッド361を回転駆動するためのパルスモータ362と、上記移動基台35に装着され雄ねじロッド361と螺合する図示しない雌ねじブロックを具備しており、パルスモータ362によって雄ねじロッド361を正転および逆転駆動することにより、粗研削ユニット3を上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる。
上記仕上げ研削ユニット4も粗研削ユニット3と同様に構成されており、ユニットハウジング41と、該ユニットハウジング41の下端に回転自在に装着されたホイールマウント42に装着された研削ホイール43と、該ユニットハウジング41の上端に装着されホイールマウント42を矢印42aで示す方向に回転せしめるサーボモータ44と、ユニットハウジング41を装着した移動基台45とを具備している。
上記移動基台45には被案内レール451、451が設けられており、この被案内レール451、451を上記静止支持板21に設けられた案内レール23、23に移動可能に嵌合することにより、仕上げ研削ユニット4が上下方向に移動可能に支持される。図示の実施形態における仕上げ研削ユニット4は、上記移動基台45を案内レール23、23に沿って移動させ研削ホイール43を研削送りする送り機構46を具備している。送り機構46は、上記静止支持板21に案内レール23、23と平行に上下方向に配設され回転可能に支持された雄ねじロッド461と、該雄ねじロッド461を回転駆動するためのパルスモータ462と、上記移動基台45に装着され雄ねじロッド461と螺合する図示しない雌ねじブロックを具備しており、パルスモータ462によって雄ねじロッド461を正転および逆転駆動することにより、仕上げ研削ユニット4を上下方向(後述するチャックテーブルの保持面に対して垂直な方向)に移動せしめる。
図示の実施形態における研削装置は、上記静止支持板21の前側において装置ハウジング2の上面と略面一となるように配設されたターンテーブル5を具備している。このターンテーブル5は、比較的大径の円盤状に形成されており、図示しない回転駆動機構によって矢印5aで示す方向に適宜回転せしめられる。ターンテーブル5には、図示の実施形態の場合それぞれ120度の位相角をもって3個の保持テーブル6が水平面内で回転可能に配置されている。この保持テーブル6には、それぞれ複数(図示の実施形態においては7個)のチャックテーブル61が配設されている。複数のチャックテーブル61は、それぞれ図2に示すように研削すべき後述する環状基板と対応する形状に形成され、保持テーブル6の基台60の上面に配設されている。このチャックテーブル61は、ポーラスセラミック材によって後述する環状基板に対応する吸着部とポーラスセラミック材でないセラミックスによって形成された中心部とからなっている。このように形成されたチャックテーブル61は、図示しない吸引手段に連通されている。従って、チャックテーブル61上に後述する環状基板を載置し図示しない吸引手段を作動することにより、チャックテーブル61上(保持面)に後述する環状基板を吸引保持する。このように複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6は、図1に示すように図示しない回転駆動機構によって矢印6aで示す方向に回転せしめられる。ターンテーブル5に配設された3個の保持テーブル6は、ターンテーブル5が適宜回転することにより被加工物搬入・搬出域A、粗研削加工域B、および仕上げ研削加工域Cおよび被加工物搬入・搬出域Aに順次移動せしめられる。
図示の研削装置は、被加工物搬入・搬出域Aに対して一方側に配設され研削加工前の被加工物である後述する環状基板を収納する第1のカセット機構7aと、被加工物搬入・搬出域Aに対して他方側に配設され研削加工後の環状基板を収納する第2のカセット機構7bと、第1のカセット機構7aと被加工物搬入・搬出域Aとの間に配設され環状基板を仮置きする仮置き機構8と、被加工物搬入・搬出域Aと第2のカセット機構7bとの間に配設された洗浄機構9と、第1のカセット機構7a内に収納された環状基板を仮置き機構8に搬送するとともに洗浄機構9で洗浄された環状基板を第2のカセット機構7bに搬送する被加工物搬送機構11と、仮置き機構8上に仮置きされた被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上に搬送する被加工物搬入機構12と、被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上に載置されている研削加工後の環状基板を洗浄機構9に搬送する被加工物搬出機構13を具備している。また、被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61および該複数のチャックテーブル61に載置されている研削加工後の環状基板の被研削面を洗浄する洗浄水噴射ノズル14を備えている。なお、上記第1のカセット7aには、ガラス基板や半導体基板から切り出された中心に穴101を備えた環状基板10が複数枚収納される。
上記第1のカセット機構7aは、複数の環状基板10を収容し所定の載置領域に着脱可能に配置される環状基板載置テーブル71と、該環状基板載置テーブル71の上方に上下方向に移動可能に配設され環状基板載置テーブル71に収容された環状基板10を保持する環状基板保持手段75と、該環状基板保持手段75を環状基板載置テーブル71に収容された環状基板10を保持する作用位置と該作用位置より上方の待機位置に位置付ける進退手段79を具備している。
上記環状基板載置テーブル71は、矩形状のテーブル72と、該テーブル72の上面に互いに所定の間隔を置いて配設され環状基板10の穴101が嵌挿する複数(図示の実施形態においては7個)の支持柱73と、該複数の支持柱73にそれぞれ隣接してテーブル72の上面に配設され複数の支持柱73に嵌挿された環状基板10の有無をそれぞれ検出するための複数の環状基板検出手段74とからなっている。矩形状のテーブル72の側面には、把手721、721が配設されている。テーブル72の上面に配設された複数の支持柱73は、図3に示すように外周面に環状基板10が密着するのを防止するための密着防止ブラシ731が装着されている。この複数の支持柱73に環状基板10の穴101を嵌合してそれぞれ複数枚(例えば10枚)収容する。上記環状基板検出手段74は、図3に示すように支持柱73に隣接して配設されている。この環状基板検出手段74は、例えば発光器と受光器からなり、発光器から発光され支持柱73に嵌合された環状基板10に反射した光を受光器によって受光するようになっている。従って、支持柱73に嵌挿された環状基板10がない場合には受光器が受光しない。このように構成された環状基板検出手段74は、受光器の検出信号を図示しない制御手段に送る。従って、図示しない制御手段は、環状基板検出手段74の受光器が受光信号を出力しない場合には、対応する支持柱73に環状基板10が存在しないと判断し、警報するようになっている。
図1に戻って説明を続けると、上記環状基板保持手段75は、円形状の支持基盤76と、該支持基盤76に配設された複数(図示の実施形態においては7個)の吸引保持手段77とからなっている。円形状の支持基盤76は、図4に示すように上記環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73と対応する位置に設けられた複数の挿通穴761と、この複数の挿通穴761の周囲にそれぞれ設けられた3個の摺動穴762を備えている。上記吸引保持手段77は、それぞれ図5に示すように中心に上記挿通穴761と対応する穴771aとを備えた環状の支持板771と、該支持板771に設けられた穴771aの周囲における上記3個の摺動穴762と対応する位置に配設された3個の吸引筒772とからなっている。この吸引筒772は、支持板771に設けられた穴771bに挿通して配設され、穴771bの内周面に適宜の接着剤によって固着されている。吸引筒772は支持板771の下面から下方に突出して配設され、その下端にはそれぞれ弾性吸盤773が装着されている。また、吸引筒772の上端は、それぞれ吸引パイプ774を介して図示しない吸引手段に接続されている。このように構成された吸引保持手段77は、図6に示すように吸引筒772をそれぞれ上記支持基盤76に設けられた摺動穴762に挿通することにより支持基盤76に対して上下方向に移動可能に装着される。そして、吸引筒772が取り付けられた支持板771が自重によって支持基盤76上に載置される。
上記進退手段79は、図1に示すように上記環状基板保持手段75を構成する支持基盤76に一端が取り付けられた支持アーム791と、該支持アーム791の他端を連結したエアシリンダ792とからなっている。このように構成された記進退手段79は、エアシリンダ792を作動することにより、支持アーム791を矢印792aで示すように上下方向に移動し、支持アーム791を介して上記環状基板保持手段75を図1に示す待機位置と、該待機位置より下方において上記環状基板載置テーブル71を構成するテーブル72に配設され複数の支持柱73に嵌合されている環状基板10を保持する作用位置に位置付ける。
なお、第2のカセット機構7bは、図示の実施形態においては上記第1のカセット機構7aと実質的に同一の構成であり、従って各構成部材には第1のカセット機構7aの各構成部材と同一符号を付してその説明は省略する。
図1を参照して説明を続けると、上記仮置き機構8は、円盤状の基台81と、該円盤状の基台81の上面に配設された複数(図示の実施形態においては7個)の中心合わせ支持柱82とからなっている。この複数の中心合わせ支持柱82は、上記環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73と対応する位置に配設されている。なお、各中心合わせ支持柱82は、図7に示すように軸方向に3つの支持柱片821に分割されており、この3つの支持柱片821は径方向に拡径するように構成されている。従って、3つの支持柱片821からなる中心合わせ支持柱82に環状基板10を嵌挿した後に、3つの支持柱片821は径方向に拡径することにより、環状基板10は中心合わせされる。
図1を参照して説明を続けると、上記洗浄機構9は、研削加工後の環状基板10を保持するスピンナーテーブル91と、該スピンナーテーブル91に保持された研削加工後の環状基板10に洗浄水を噴射する洗浄水噴射ノズル92を具備している。スピンナーテーブル91は、上記保持テーブル6と同様の構成であり、複数(図示の実施形態においては7個)のチャックテーブル910を備えている。チャックテーブル910は、それぞれポーラスセラミック材によって環状基板10に対応する吸着部とポーラスセラミック材でないセラミックスによって形成された中心部とからなっている。このように形成されたスピンナーテーブル91は、チャックテーブル910が図示しない吸引手段に連通されている。従って、チャックテーブル910上に研削加工後の環状基板10を載置し図示しない吸引手段を作動することにより、チャックテーブル910上に研削加工後の環状基板10を吸引保持する。このように構成されたスピンナーテーブル91は、図示しない回転駆動機構によって回転せしめられる。
上記被加工物搬送機構11は、吸着パッド111を装着した従来周知の多軸関節ロボット112とからなっている。吸着パッド111は、図8に示すように略円形状に形成されており、上記環状基板保持手段75を構成する円形状の支持基盤76に設けられた複数の挿通穴761と対応する位置に設けられた複数(図示の実施形態においては7個)の挿通穴111aを備えている。また、吸着パッド111には、複数の挿通穴111aの周囲において一方の面にそれぞれ3個の弾性吸盤111bが配設さている。この弾性吸盤111bは、それぞれ図示しない吸引手段に連通されている。このように構成された吸着パッド111は、矢印11aで示すように180度反転(上下を反転)するように構成されている。
図1を参照して説明を続けると、上記被加工物搬入機構12は、吸着パッド121と、該吸着パッド121に一端が取り付けられた支持アーム122と、該支持アーム122の他端を連結した上下方向に移動するととともに支持アーム122の他端を中心として旋回する作動手段123とからなっている。吸着パッド121は、上記被加工物搬送機構11を構成する吸着パッド111と実質的に同様の構成であり、図9に示すように上記仮置き機構8を構成する円盤状の基台81に配設された複数の中心合わせ支持柱82と対応する位置に設けられた複数の挿通穴121aを備えている。また、吸着パッド121には、複数の挿通穴121aの周囲において下面にそれぞれ3個の弾性吸盤121bが配設されている。この弾性吸盤121bは、それぞれ図示しない吸引手段に連通されている。このように構成された被加工物搬入機構12は、作動手段123を作動することにより、支持アーム122を矢印123aで示す上下方向に作動するとともに矢印123bで示す方向に旋回せしめる。
上記被加工物搬出機構13は、図示の実施形態においては上記被加工物搬入機構12と同様に構成されている。即ち、被加工物搬出機構13は、吸着パッド131と、該吸着パッド131に一端が取り付けられた支持アーム132と、該支持アーム132の他端を連結した上下方向に移動するととともに支持アーム132の他端中心として旋回する作動手段133とからなっている。吸着パッド131は、上記被加工物搬入機構12を構成する吸着パッド121に設けられた複数の挿通穴121aと対応する位置に設けられた複数の挿通穴131aを備えている。また、吸着パッド131には、複数の挿通穴131aの周囲において下面にそれぞれ3個の弾性吸盤131bが配設されている。この弾性吸盤131bは、それぞれ図示しない吸引手段に連通されている。なお、被加工物搬出機構13の吸着パッド131としては、上記複数の挿通穴131aは必ずしも設ける必要はない。なお、作動手段133は、上記被加工物搬入機構12の作動手段123と同様に支持アーム122を矢印133aで示す上下方向に作動するとともに矢印133bで示す方向に旋回せしめる。
図示の実施形態における研削装置は以上のように構成されており、以下その作用について主に図1を参照して説明する。
上述したように第1のカセット機構7aを構成する環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73にそれぞれ所定枚数の研削前の環状基板10を収納したならば、環状基板載置テーブル71を環状基板保持手段75の下側である所定位置にセットする。このようにして、研削前の環状基板10を収納した環状基板載置テーブル71を所定位置にセットしたならば、環状基板保持手段75を構成する進退手段79を作動して支持基盤76を下降して作用位置に位置付け、図10に示すように支持基盤76に配設された複数の吸引保持手段75を構成する吸引筒772の下端にそれぞれ装着された弾性吸盤773を環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73にそれぞれ嵌挿された研削前の環状基板10のそれぞれ最上位の環状基板10の上面に載置する。そして、図示しない吸引手段を作動することにより、複数の吸引筒772の下端に装着された各弾性吸盤773に環状基板10を吸引保持する。
次に、進退手段79を作動して支持基盤76を上昇せしめて、図11に示すように支持基盤76を待機位置に位置付ける。このとき、複数の環状基板10が嵌挿された複数の支持柱73の外周面には密着防止ブラシ731が装着されているので、最上位から2枚目の環状基板10が最上位の環状基板10と密着して上がろうとするが密着防止ブラシ731の摩擦力によって抑制される。このようにして、複数の環状基板10を吸引保持した吸引保持手段77が配設された支持基盤76を待機位置に位置付けたならば、図11に示すように被加工物搬送機構11を作動して吸着パッド111の弾性吸盤111bを吸引保持手段77に吸引保持されている複数の環状基板10の下面に接触させる。そして、被加工物搬送機構11の図示しない吸引手段を作動するとともに、吸引保持手段77による複数の環状基板10の吸引保持を解除することにより、複数の環状基板10は吸着パッド111の弾性吸盤111bに作用する負圧によって吸引保持される。
上述したように、吸着パッド111の弾性吸盤111bに複数の環状基板10を吸引保持したならば、被加工物搬送機構11は複数の環状基板10を保持した吸着パッド111を180度反転して複数の環状基板10を下側にした状態で仮置き機構8に搬送する。そして、図12に示すように仮置き機構8を構成する円盤状の基台81に配設された複数の中心合わせ支持柱82に吸着パッド111に保持された環状基板10をそれぞれ挿通する。このとき、吸着パッド111に設けられた複数の挿通穴111aが複数の中心合わせ支持柱82に挿通する。そして、吸着パッド111による環状基板10の吸引保持を解除するとともに、吸着パッド111を図1に示す待機位置に戻す。このようにして、仮置き機構8を構成する円盤状の基台81に配設された複数の中心合わせ支持柱82にそれぞれ環状基板10が挿通されたならば、中心合わせ支持柱82を構成する支持柱片821(図7参照)を拡径することにより、複数の中心合わせ支持柱82にそれぞれ挿通された環状基板10は中心合わせされる。
上述したように、仮置き機構8に搬送された複数の環状基板10が中心合わせされたならば、被加工物搬入機構12を作動して吸着パッド121を仮置き機構8を構成する円盤状の基台81の上側に移動するとともに下降して、基台81に配設された複数の中心合わせ支持柱82にそれぞれ嵌合されている環状基板10の上面に接触させる。このとき、吸着パッド121に設けられた複数の挿通穴121aが複数の中心合わせ支持柱82に挿通する。このようにして、吸着パッド121を複数の中心合わせ支持柱82にそれぞれ嵌挿されている環状基板10の上面に接触させたならば、図示しない吸引手段を作動して、吸着パッド121に複数の環状基板10を吸引保持する。そして、被加工物搬入機構12は吸着パッド121に吸引保持した環状基板10を被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた保持テーブル6に搬送し、該保持テーブル6に設けられた複数のチャックテーブル61上に載置する。そして、図示しない吸引手段を作動して、複数のチャックテーブル61上にそれぞれ環状基板10を吸引保持する。次に、ターンテーブル5を図示しない回転駆動機構によって矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、環状基板10をそれぞれ吸引保持した複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6を粗研削加工域Bに位置付ける。
環状基板10をそれぞれ吸引保持した複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6は、粗研削加工域Bに位置付けられると図示しない回転駆動機構によって矢印6aで示す方向に回転せしめられる。一方、粗研削ユニット3の研削ホイール33は、矢印32aで示す方向に回転せしめられつつ研削送り機構36によって所定量下降する。この結果、保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61に保持されている複数の環状基板10の上面である被研削面に粗研削加工が施される。なお、この間に被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた次の保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61には、上述したように研削加工前の複数の環状基板10が載置される。そして、複数のチャックテーブル61上に載置された環状基板10は、図示しない吸引手段を作動することにより複数のチャックテーブル61上にそれぞれ吸引保持される。次に、ターンテーブル5を矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、粗研削加工された複数の環状基板10を保持している複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6を仕上げ研削加工域Cに位置付け、研削加工前の複数の環状基板10を保持した複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6を粗研削加工域Bに位置付ける。
このようにして、粗研削加工域Bに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上に保持された粗研削加工前の複数の環状基板10の上面である被研削面には粗研削ユニット3によって粗研削加工が施され、仕上げ研削加工域Cに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上に保持された粗研削加工された環状基板10の上面である被研削面には仕上げ研削ユニット4によって仕上げ研削加工が施される。次に、ターンテーブル5を矢印5aで示す方向に120度回動せしめて、仕上げ研削加工された複数の環状基板10を保持している複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6を被加工物搬入・搬出域Aに位置付ける。なお、粗研削加工域Bにおいて粗研削加工された複数の環状基板10を保持している複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6は仕上げ研削加工域Cに、被加工物搬入・搬出域Aにおいて研削加工前の複数の環状基板10を保持している複数のチャックテーブル61が配設された保持テーブル6は粗研削加工域Bにそれぞれ移動せしめられる。
上述したように、保持テーブル6が粗研削加工域Bおよび仕上げ研削加工域Cを経由して被加工物搬入・搬出域Aに戻ったならば、図示しない洗浄水供給手段を作動して洗浄水噴射ノズル14から保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上に保持された研削加工後の複数の環状基板10の被研削面に向けて洗浄水を噴射して洗浄する。そして、保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61による環状基板10の吸引保持を解除する。次に、被加工物搬出機構13を作動して被加工物搬入・搬出域Aに位置付けられた保持テーブル6に配設された複数のチャックテーブル61上において吸引保持が解除された研削加工後の複数の環状基板10を吸着パッド131によって吸引保持し、洗浄機構9のスピンナーテーブル91に配設された複数のチャックテーブル910上に搬送する。そして、図示しない吸引手段を作動して、複数のチャックテーブル910上に搬送され研削加工後の複数の環状基板10を吸引保持する。このようにして、スピンナーテーブル91に配設された複数のチャックテーブル910にそれぞれ吸引保持された複数の環状基板10は、ここでスピンナー洗浄されるとともに、スピンナー乾燥される。
次に、被加工物搬送機構11を作動して吸着パッド111を洗浄機構9に移動し、スピンナーテーブル91に配設された複数のチャックテーブル910にそれぞれ吸引保持された洗浄後の複数の環状基板10の上面に吸着パッド111の弾性吸盤111bを接触させる。そして、被加工物搬送機構11の図示しない吸引手段を作動するとともに、スピンナーテーブル91の複数のチャックテーブル910による複数の環状基板10の吸引保持を解除することにより、複数の環状基板10を吸着パッド111の弾性吸盤111bに作用する負圧によって吸引保持する。そして、被加工物搬送機構11は複数の環状基板10を保持した吸着パッド111を第2のカセット機構7bを構成する環状基板載置テーブル71の上方に搬送するとともに下降し、吸着パッド111の弾性吸盤111bに吸引保持されている複数の環状基板10を環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73にそれぞれ挿通しつつ環状基板載置テーブル71のテーブル72上に載置して収納する。このようにして環状基板載置テーブル71に収容された複数の環状基板10は、研削加工された面が上側となる。次に、被加工物搬送機構11は、吸着パッド111を図1に示す位置に戻す。
以上のようにして第1のカセット機構7aに収納された研削前の複数の環状基板10が全て搬出され、上述したように研削加工および洗浄された研削後の複数の環状基板10は第2のカセット機構7bに収納される。なお、第1のカセット機構7aを構成する環状基板載置テーブル71のテーブル72に配設された複数の支持柱73にはそれぞれ所定枚数の研削前の環状基板10が収納されるが、ある支持柱73に収納される環状基板10が所定枚数より1枚少ない場合には、図13に示すように複数の支持柱73に収納された最下層の環状基板10を搬出する際にある支持柱73(図10においては中央の支持柱73)には環状基板10が存在しない。このような状態においては、ある支持柱73に収納されている環状基板10の存在を検出する環状基板検出手段74が受光信号を出力しない。従って、図示しない制御手段は上述したように対応する支持柱73に環状基板10が存在しないと判断して警報する。この警報に基づいてオペレータは、環状基板10が存在しない支持柱73に研削前の環状基板10を補充する。そして、複数の支持柱73に収納された最下層の全ての環状基板10を搬出して上述した研削加工を実行する。
なお、上述したように第1のカセット機構7aに収納された研削前の全ての環状基板10の一方の面に対して上述したように研削加工を実施し、研削後の環状基板10を第2のカセット機構7bに収納した後、環状基板10の他方の面も研削する場合には、第2のカセット機構7bを第1のカセット機構として機能させ、第1のカセット機構7aを第2のカセット機構として機能させ上述した各作業を実施する。
2:装置ハウジング
3:粗研削ユニット
33:研削ホイール
4:仕上げ研削ユニット
43:研削ホイール
5:ターンテーブル
6:保持テーブル
61:チャックテーブル
7a:第1のカセット機構
7b:第2のカセット機構
71:環状基板載置テーブル
74:環状基板検出手段
75:環状基板保持手段
76:支持基盤
77:吸引保持手段
79:進退手段
8:仮置き機構
9:洗浄機構
10:環状基板
11:被加工物搬送機構
12:被加工物搬入機構
13:被加工物搬出機構

Claims (4)

  1. 中心に穴を備えた環状基板を研削する研削装置において、
    中心に穴を備えた環状基板を収容する第1のカセット機構と、該第1のカセット機構に収納された環状基板を搬送する搬送機構と、該搬送機構によって搬送された環状基板を仮置きする仮置き機構と、該仮置き機構に仮置きされた環状基板を保持テーブルに搬入する搬入機構と、該保持テーブルに保持された環状基板を研削する研削機構と、該研削機構によって研削された環状基板を該保持テーブルから搬出する搬出機構と、該搬出機構によって搬出された環状基板を洗浄する洗浄機構と、該洗浄機構によって洗浄された環状基板を収容する第2のカセット機構と、を具備し、
    該第1のカセット機構は、環状基板の穴が嵌挿する複数の支持柱を備えた環状基板載置テーブルと、該環状基板載置テーブルの上方に上下方向に移動可能に配設され該環状基板載置テーブルの複数の支持柱にそれぞれ嵌挿された最上位の複数の環状基板を保持する環状基板保持手段と、該環状基板保持手段を該環状基板載置テーブルの複数の支持柱にそれぞれ嵌挿された環状基板を保持する作用位置と該作用位置より上方の待機位置に位置付ける進退手段とを備え、
    該搬送機構は、待機位置に位置付けられた該環状基板保持手段に保持された複数の環状基板を同時に保持して該仮置き機構に搬送し、
    該搬入機構は、該仮置き機構に搬送された複数の環状基板を同時に保持して該保持テーブルに搬入し、
    該保持テーブルは、該搬入機構によって搬入された複数の環状基板を同時に保持する複数のチャックテーブルを備えており、
    該搬出機構は、該複数のチャックテーブル上で研削加工された複数の環状基板を同時に保持して該洗浄機構に搬送し、
    該洗浄機構は、該搬出機構によって搬出された研削後の複数の環状基板を同時に保持する複数の保持部を備えており、
    該第2のカセット機構は、環状基板の穴が嵌挿する複数の支持柱を備えた基板載置テーブルを具備している、
    ことを特徴とする研削装置。
  2. 該第1のカセット機構の該環状基板載置テーブルを構成する複数の支持柱は、外周面に密着防止ブラシが装着されている、請求項1記載の研削装置。
  3. 該第1のカセット機構の該環状基板載置テーブルは、該複数の支持柱に嵌挿された環状基板の有無を検出する環状基板検出手段を備えている、請求項1又は2記載の研削装置。
  4. 該仮置き機構は基台と該基台の上面に配設された複数の中心合わせ支持柱とを具備し、該複数の中心合わせ支持柱はそれぞれ軸方向に分割された複数の支持柱片からなり、該複数の支持柱片が径方向に拡径するように構成されている、請求項1から3のいずれかに記載の研削装置。
JP2009152662A 2009-06-26 2009-06-26 研削装置 Pending JP2011008876A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009152662A JP2011008876A (ja) 2009-06-26 2009-06-26 研削装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009152662A JP2011008876A (ja) 2009-06-26 2009-06-26 研削装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2011008876A true JP2011008876A (ja) 2011-01-13

Family

ID=43565333

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009152662A Pending JP2011008876A (ja) 2009-06-26 2009-06-26 研削装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2011008876A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7509596B2 (ja) 2020-07-27 2024-07-02 株式会社ディスコ 加工装置

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6277152U (ja) * 1985-11-05 1987-05-18
JPS62186835U (ja) * 1986-05-20 1987-11-27
JPH04119526A (ja) * 1990-09-10 1992-04-21 Hitachi Electron Eng Co Ltd ディスク移載装置
JPH04315815A (ja) * 1991-04-15 1992-11-06 Showa Alum Corp 研磨、洗浄乾燥及び外観検査を必要とするワークの製造装置
JPH06180841A (ja) * 1992-12-11 1994-06-28 Asahi Glass Co Ltd ハードディスクのパッドテクスチャ自動加工装置
JPH1011749A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Speedfam Co Ltd ディスクの洗浄及び乾燥装置
JPH10309656A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Showa Alum Corp 磁気ディスク基板の研磨装置
JP2000117206A (ja) * 1998-10-12 2000-04-25 Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd ドーナツ型基板洗浄装置
JP2003223746A (ja) * 2002-01-29 2003-08-08 Mitsui Chemicals Inc 記録媒体の製造方法
JP2006222132A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置,被加工物保持部のサイズ判別方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6277152U (ja) * 1985-11-05 1987-05-18
JPS62186835U (ja) * 1986-05-20 1987-11-27
JPH04119526A (ja) * 1990-09-10 1992-04-21 Hitachi Electron Eng Co Ltd ディスク移載装置
JPH04315815A (ja) * 1991-04-15 1992-11-06 Showa Alum Corp 研磨、洗浄乾燥及び外観検査を必要とするワークの製造装置
JPH06180841A (ja) * 1992-12-11 1994-06-28 Asahi Glass Co Ltd ハードディスクのパッドテクスチャ自動加工装置
JPH1011749A (ja) * 1996-06-27 1998-01-16 Speedfam Co Ltd ディスクの洗浄及び乾燥装置
JPH10309656A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Showa Alum Corp 磁気ディスク基板の研磨装置
JP2000117206A (ja) * 1998-10-12 2000-04-25 Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd ドーナツ型基板洗浄装置
JP2003223746A (ja) * 2002-01-29 2003-08-08 Mitsui Chemicals Inc 記録媒体の製造方法
JP2006222132A (ja) * 2005-02-08 2006-08-24 Disco Abrasive Syst Ltd 研削装置,被加工物保持部のサイズ判別方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7509596B2 (ja) 2020-07-27 2024-07-02 株式会社ディスコ 加工装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5149020B2 (ja) ウエーハの研削方法
CN109216159B (zh) 晶片生成装置
JP2007235069A (ja) ウェーハ加工方法
KR20180134285A (ko) 웨이퍼 생성 장치
JP2012081556A (ja) 加工装置
JP5604186B2 (ja) 加工装置
WO2007099787A1 (ja) ウェーハ加工方法
JP2002025961A (ja) 半導体ウエーハの研削方法
JP2009252877A (ja) ウエーハの搬送方法および搬送装置
JP2018140450A (ja) 研削装置
JP2010118424A (ja) 薄板状ワークの搬送装置
JP2010056327A (ja) ワーク保持機構
JP2007027591A (ja) 半導体基板用バキュ−ムチャックおよび半導体基板の搬送方法
JP2011009424A (ja) 保持テーブルアセンブリ及び保持テーブルの製造方法
JP5037379B2 (ja) 板状物の搬送装置
JP2000260740A (ja) スピンナー洗浄装置
JP6251614B2 (ja) 被加工物の研削方法
JP2009160705A (ja) ウェーハの研削方法および研削加工装置
JP2010045196A (ja) 板状物の搬送機構
JP2011008876A (ja) 研削装置
JP2012169487A (ja) 研削装置
JP2010123822A (ja) ウエーハの研削方法及び研削ホイール
JP5001133B2 (ja) ウエーハの搬送装置
JP4477974B2 (ja) 研磨装置
JP2001274118A (ja) 凹凸加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120514

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20130109

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130212

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130412

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130618

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20131015