JP2009529245A5 - - Google Patents
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Description
[0042]一態様では、アニーリング領域12は、ダイ13(例えば、40個の「ダイ」が図1に示されている)や、基板の表面に形成されている半導体デバイス(例えば、メモリチップ)のサイズに一致するようにサイズ設定される。一態様では、アニーリング領域12の境界は、各ダイ13の境界を画成する「カーフ(kurf)」や「スクライブ」ライン10A内に適合するように整列およびサイズ設定される。一実施形態では、アニーリングプロセスを実行する前に、基板は、通常は基板の表面に見られる整列マークおよび他の従来技術を使用してエネルギー源20の出力に整列されるため、アニーリング領域12はダイ13に適切に整列可能である。スクライブまたはカーフラインなどの、ダイ13間に自然に生じた未使用空間/境界でのみ重複するようにアニーリング領域12を順次配置することは、デバイスが基板上に形成されているエリアでエネルギーを重複させる必要を削減することによって、重複するアニーリング領域間のプロセス結果の変動を削減する。この技術は、基板の表面全体にレーザーエネルギーを通過させる(sweep)従来のプロセスに対して利点があるが、これは、隣接して走査された領域間の重複を厳密にコントロールして基板の所望の領域全体の均一なアニーリングを保証する必要性は、ダイ13間の未使用空間に重複を閉じ込めることによる問題ではないからである。ダイ13間の未使用空間/境界に重複を閉じ込めることはまた、プロセス均一性結果と、基板の全エリアを横切る隣接する重複領域を利用する従来の走査アニーリングタイプ方法とを改良する。従って、基板の臨界領域を処理するためにエネルギー源20から送出されたエネルギーへの様々な量の暴露によるプロセス変動量が最小化されるが、これは順次配置されたアニーリング領域12間の送出エネルギーの重複が最小化可能であるからである。一実施例では、順次配置されたアニーリング領域12の各々は、サイズ約22mm×約33mmの矩形領域である(例えば、726平方ミリメートル(mm2)の面積)。一態様では、基板の表面に形成されている、順次配置されたアニーリング領域12の各々の面積は約4mm2(例えば、2mm×2mm)〜約1000mm2(例えば、25mm×40mm)である。
電磁放射送出
[0096]図9は、エネルギー源20が裏側表面901から基板10のアニーリング領域12に多量のエネルギーを送出してアニーリング領域12内のある所望の領域を優先的に溶解するように適合されている一実施形態を図示する処理チャンバの領域の断面図である。一態様では、アニーリング領域12などの、基板の1つ以上の画成領域が、所与の時間にエネルギー源20からの放射に曝される。一態様では、基板10の複数のエリアが、エネルギー源20から裏側表面901を介して送出された所望量のエネルギーに順次曝されて、基板の所望の領域の優先的溶解をもたらす。一態様では、アニーリング領域12は、基板10の上部表面902に形成されているダイ(例えば、図1の項目番号13)や半導体デバイスのサイズに一致するようにサイズ設定されている。一態様では、アニーリング領域12の境界は、各ダイの境界を画成する「カーフ」または「スクライブ」ライン内に適合するように整列およびサイズ設定されている。従って、エネルギー源20からのエネルギーへの様々な量の暴露によるプロセス変動量は最小化されるが、これは、順次配置されるアニーリング領域12間の重複が最小化可能であるためである。一例では、アニーリング領域12は、約22mm×約33mmのサイズの矩形領域である。
[0096]図9は、エネルギー源20が裏側表面901から基板10のアニーリング領域12に多量のエネルギーを送出してアニーリング領域12内のある所望の領域を優先的に溶解するように適合されている一実施形態を図示する処理チャンバの領域の断面図である。一態様では、アニーリング領域12などの、基板の1つ以上の画成領域が、所与の時間にエネルギー源20からの放射に曝される。一態様では、基板10の複数のエリアが、エネルギー源20から裏側表面901を介して送出された所望量のエネルギーに順次曝されて、基板の所望の領域の優先的溶解をもたらす。一態様では、アニーリング領域12は、基板10の上部表面902に形成されているダイ(例えば、図1の項目番号13)や半導体デバイスのサイズに一致するようにサイズ設定されている。一態様では、アニーリング領域12の境界は、各ダイの境界を画成する「カーフ」または「スクライブ」ライン内に適合するように整列およびサイズ設定されている。従って、エネルギー源20からのエネルギーへの様々な量の暴露によるプロセス変動量は最小化されるが、これは、順次配置されるアニーリング領域12間の重複が最小化可能であるためである。一例では、アニーリング領域12は、約22mm×約33mmのサイズの矩形領域である。
Claims (15)
- 基板を熱処理する方法であって、
1つ以上の領域内に第2の材料を配置することによって第1の材料から形成された基板の前記1つ以上の領域を修正するステップであって、前記第2の材料によって基板の1つ以上の領域を修正するステップが、前記1つ以上の領域に含有されている前記第1の材料の融点を低下させるように適合されているステップと、
前記基板の前記1つ以上の領域内に第3の材料を配置するステップと、
前記1つ以上の領域と熱連通している基板の表面上の1つ以上のアニーリング領域に多量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記多量の電磁エネルギーが前記1つ以上の領域内の前記第1の材料を溶解させるように適合され、前記1つ以上のアニーリング領域が、前記1つ以上の領域の各領域の境界内に適合するように整列およびサイズ設定されるステップと、を備える方法。 - 前記第1の材料が、シリコン、ゲルマニウム、ガリウムヒ素、ガリウムリンおよび窒化ガリウムからなる群より選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記第1の材料がシリコン含有材料であり、前記第2の材料が、ゲルマニウム、ヒ素、ガリウム、炭素、錫およびアンチモンからなる群より選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記第3の材料が、ヒ素、リン、アンチモン、ホウ素、アルミニウムおよびインジウムからなる群より選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記第2の材料が、アルゴン、クリプトン、キセノンおよび窒素からなる群より選択される、請求項1に記載の方法。
- 基板を熱処理する方法であって、
修正されている1つ以上の第1の領域を有する基板を提供して、前記第1の領域の各々に含有されている前記材料の融点が前記基板の第2の領域に含有されている前記材料より低い温度で溶解するステップであって、前記第2の領域および前記第1の領域の各々は概して前記基板の表面に隣接しているステップと、
前記基板の前記表面にコーティングを堆積するステップであって、前記コーティングが前記基板の前記表面と異なる吸収および反射係数を有するステップと、
概して前記第1の領域の各々または前記第2の領域に隣接している前記基板の前記表面から前記コーティングの一部を除去するステップと、
前記1つ以上の第1の領域および前記第2の領域を含有する前記基板の前記表面上の1つ以上のアニーリング領域に多量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記多量の電磁エネルギーが前記1つ以上の第1の領域内の前記材料を優先的に溶解し、前記1つ以上のアニーリング領域が、前記1つ以上の第1の領域および前記第2の領域の境界内に適合するように整列およびサイズ設定されるステップと、を備える方法。 - 前記第1の領域を修正するステップが、前記1つ以上の第1の領域の前記材料内に合金材料を配置する工程を含んでおり、前記合金材料が、ゲルマニウム、ヒ素、ガリウム、炭素、錫およびアンチモンからなる群より選択される、請求項6に記載の方法。
- 基板を熱処理する方法であって、
基板サポートに基板を位置決めするステップであって、前記基板が、第1の領域および第2の領域を含有する前記基板の表面に形成されている複数の特徴部を有するステップと、
前記第1および第2の領域にコーティングを堆積するステップであって、前記コーティングが形成される前記材料が所望の熱容量を有するステップと、
前記第1の領域の前記コーティングの厚さが所望の厚さを有するように前記コーティングの一部を除去するステップであって、前記コーティングの一部を除去した後の前記基板表面全体の平均熱容量が概して均一であるステップと、
前記第1の領域および前記第2の領域を含有する1つ以上のアニーリング領域に多量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記多量の電磁エネルギーが前記第1の領域内の前記材料を溶解させ、前記1つ以上のアニーリング領域が、前記第1の領域および前記第2の領域の各領域の境界内に適合するように整列およびサイズ設定されるステップと、を備える方法。 - 前記第1の領域を修正するステップが、前記1つ以上の第1の領域の前記材料内に合金材料を配置する工程を含んでおり、前記合金材料が、ゲルマニウム、ヒ素、ガリウム、炭素、錫およびアンチモンからなる群より選択される、請求項8に記載の方法。
- 基板を熱処理する方法であって、
前記基板の表面に形成されている第1の特徴部および第2の特徴部を有する前記基板を提供するステップであって、前記第2の特徴部が第1の領域および第2の領域を含有するステップと、
基板サポートに前記基板を位置決めするステップと、
前記第1および第2の特徴部にコーティングを堆積するステップと、
前記コーティングが前記第2の領域に配置され、かつ前記第1の特徴部の表面が曝されるように前記コーティングの一部を除去するステップと、
前記第1の特徴部および前記第2の特徴部を含有するエリアに多量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記多量の電磁エネルギーが前記第2の特徴部の前記第1の領域内の前記材料を溶解させ、前記エリアが、前記第1の領域および第2の領域の各領域の境界内に適合するように整列およびサイズ設定されるステップと、を備える方法。 - 前記第1の領域を修正するステップが、前記1つ以上の第1の領域の前記材料内に合金材料を配置する工程を含んでおり、前記合金材料が、ゲルマニウム、ヒ素、ガリウム、炭素、錫およびアンチモンからなる群より選択される、請求項10に記載の方法。
- 前記コーティングの少なくとも一部が、ケイフッ化ガラス(FSG)、アモルファス炭素、二酸化シリコン、シリコンカーバイド、シリコン炭素ゲルマニウム合金(SiCGe)、チタン(Ti)、窒化チタン(TiN)、タンタル(Ta)、コバルト(Co)、ルテニウム(Ru)または炭窒化シリコン(SiCN)を含有する、請求項10に記載の方法。
- 基板を熱処理する方法であって、
基板の表面上の第1の領域に第1の量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記第1の量の電磁エネルギーが前記第1の領域内の前記基板材料を溶解させ、かつ前記結晶基板材料をアモルファスにするステップと、
前記アモルファスの第1の領域内に第1の材料を注入するステップと、
前記第1の領域に第2の量の電磁エネルギーを送出するステップであって、前記第2の量の電磁エネルギーが前記第1の領域内の前記基板材料を溶解させ、前記第1の領域の境界内に適合するように整列およびサイズ設定されたアニーリング領域に前記第2の量の電磁エネルギーが送出されるステップと、を備える方法。 - 基板サポートを加熱して、この上に位置決めされている前記基板が、前記第2の電磁エネルギーが前記基板の前記表面に送出される前に約20℃〜約600℃の温度になるステップをさらに備える、請求項1、6、8、10および13のいずれか1つに記載の方法。
- 基板サポートを冷却して、この上に位置決めされている前記基板が、前記第2の電磁エネルギーが前記基板の前記表面に送出される前に約−240℃〜約20℃の温度になるステップをさらに備える、請求項13に記載の方法。
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