JP2009249192A - 4H−SiC単結晶の製造方法 - Google Patents

4H−SiC単結晶の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2009249192A
JP2009249192A JP2008095336A JP2008095336A JP2009249192A JP 2009249192 A JP2009249192 A JP 2009249192A JP 2008095336 A JP2008095336 A JP 2008095336A JP 2008095336 A JP2008095336 A JP 2008095336A JP 2009249192 A JP2009249192 A JP 2009249192A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
growth
crystal
sic single
single crystal
sic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008095336A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4888432B2 (ja
Inventor
Hidemitsu Sakamoto
秀光 坂元
Yasuyuki Fujiwara
靖幸 藤原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Motor Corp filed Critical Toyota Motor Corp
Priority to JP2008095336A priority Critical patent/JP4888432B2/ja
Publication of JP2009249192A publication Critical patent/JP2009249192A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4888432B2 publication Critical patent/JP4888432B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

【課題】溶液法により4H−SiC単結晶を安定して平坦成長させることができる4H−SiC単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】Si融液を溶媒とし、これにCを溶解させた溶液から4H−SiC種結晶上に4H−SiC単結晶を成長させる方法において、
上記溶媒として、Si融液にTiとAl、Sn、Geのいずれか1種である元素Xとを添加したSi−Ti−X3元溶媒を用い、4H−SiC種結晶のSi面上に、1780℃以上の成長温度で4H−SiC単結晶を成長させることを特徴とする4H−SiC単結晶の製造方法。
【選択図】図1

Description

本発明は、溶液法により4H−SiC単結晶を製造する方法に関する。
これまでに、溶液法によりSiC単結晶を成長させる方法が種々提案されている。SiC単結晶の成長において重要なポイントは、成長速度と平坦成長である。
特許文献1には、Si融液にTiまたはMnを添加した溶媒を用いて高速成長させることが提案されている。しかし、本発明者の実験によれば、平坦成長が確保できない。TiまたはMnの単独添加では、確かにCの溶解量が増加し、析出するSiC量は増加するが、多結晶化状態であり、平坦成長すなわち単結晶成長は得られない。また、特許文献1は実施例において6H−SiC単結晶の成長を行なっており、4H−SiC単結晶の成長については特に配慮されていない。
特許文献2にも同様に速度向上を目的とし、コスト低減のためにTiに代えてFe、Coを添加することが提案されている。高温度では平坦成長が維持できないため低温度での実施例しか示されていない。本発明者の実験によれば、Feを添加するとC溶解量は増加するが、Ti添加の場合と同様に平坦成長を維持できない。Co添加では、C溶解量の増加も平坦性も得られなかった。
Si融液に2種以上の元素を複合添加する方法も提案されている。特許文献3にはVとTiとを添加すること、特許文献4にはTiとCo、Mn、Alのいずれかとを添加すること、特許文献5にはTi、Fe、Mn、Coのいずれか1種以上を添加することが、それぞれ提案されている。これらはいずれも実施例において6H−SiC単結晶の成長を行なっており、4H−SiC単結晶の成長については特に配慮されていない。
また、特許文献6には炭化水素を含むガスを添加すること、特許文献7には遷移金属を添加することが、それぞれ提案されているが、いずれも成長速度の向上が得られたとしても平坦成長を確保することができない。
更に、非特許文献1には、希土類元素の添加によりCの溶解量が増加することが報告されている。確かにCの溶解量が増加すると、小さな温度勾配でも成長が可能になるが、C濃度が高くなり過ぎて3次元成長が助長されて成長表面が荒れてしまい、平坦成長が得られない。
このように従来は、4H−SiC単結晶を安定に平坦成長させることができなかった。一方、SiC半導体としてパワーデバイス等に適用した際のデバイス特性は、結晶多形4HのSiC単結晶が最も優れている。そのため、溶液法により4H−SiC単結晶を安定して平坦成長させる方法が求められていた。
特開2004−002173号公報 特開2006−143555号公報 特開2007−261843号公報 特開2007−076986号公報 特開2006−069861号公報 特開2002−356397号公報 特開2000−264790号公報 Dieter H. Hofman, "Prospect of the use of liquid phase techniques for the growth of bulk silicon carbide crystals", Material Science and Engineering, B61-62 (1999) 29-39.
本発明は、溶液法により4H−SiC単結晶を安定して平坦成長させることができる4H−SiC単結晶の製造方法を提供することを目的とする。
上記の目的を達成するために、本発明によれば、Si融液を溶媒とし、これにCを溶解させた溶液から4H−SiC種結晶上に4H−SiC単結晶を成長させる方法において、
上記溶媒として、Si融液にTiとAl、Sn、Geのいずれか1種である元素Xとを添加したSi−Ti−X3元溶媒を用い、4H−SiC種結晶のSi面上に、1780℃以上の成長温度で4H−SiC単結晶を成長させることを特徴とする4H−SiC単結晶の製造方法が提供される。
本発明の方法によれば、以下に詳述するように、(1)溶媒組成、(2)種結晶の成長面ポラリティー、(3)成長温度の3条件を同時に限定したことにより、4H−SiC単結晶を安定に平坦成長させることができる。
(1)溶媒組成
Si−Ti−X(X=Al、Sn、Geのいずれか1種)の3元溶媒を用いたことにより、Ti添加によるC溶解量の増加により実用的な成長速度を得ると同時に、Al、Sn、Geの界面活性化作用により多結晶化や混晶化を防止して平坦成長を助長する。
すなわち、Ti単独添加では結晶の析出量は増加するが、成長表面の平坦性は確保できない。溶媒中のC濃度が高くなっても、そのCを取り込んで均一な単結晶を成長させるには、界面活性化作用が必須である。この界面活性化作用を発揮できる元素がAl、Sn、Geである。これら元素の界面活性化作用により固/液界面エネルギーが低下し(あるいは溶媒表面エネルギーも低下)、更に成長中の結晶のテラス表面での原子のマイグレーションも活性化され、高い成長速度を維持しつつ平坦成長(2次元成長)が確保できる。
(2)種結晶の成長面ポラリティー
しかし、本発明者は種々の実験を行なった結果、本発明の溶媒のようにTiを添加した溶媒組成では、種結晶であるSiC種結晶の成長面ポラリティーも平坦成長に大きく影響することを新規に見出した。SiC単結晶はSi面とC面とが交互に繰返し積層した結晶構造を持っていることは良く知られている。4H−SiC単結晶を種結晶として4H−SiC単結晶を成長させる場合に特有の現象として、成長面のポラリティーがSi面でないと平坦成長が確保できない。この現象は、4H−SiC単結晶を種結晶とする場合に特有であり、他の結晶多形、例えば6H−SiC単結晶を種結晶とする場合には、成長面のポラリティーの影響はなく、本発明の溶媒組成を用いて、Si面でもC面でも平坦成長を確保することが可能である。
種結晶としての4H−SiC種結晶の結晶成長面をSi面に限定することは、多結晶化を防止して4H−SiC単結晶の平坦成長を確保するために必須である。
(3)成長温度
成長温度を1780℃以上の高温としたことにより複数の結晶多形が混在する混晶化を防止する。種結晶の結晶多形4Hを引き継いで4H−SiC単結晶を成長させるには、成長温度を1780℃以上とする必要がある。1780℃より低い温度で成長させると、種結晶の結晶多形4Hは引き継がれず、4H−SiC以外の結晶多形(3Cや15Rなど)との混晶が発生する。
溶媒組成として、Si−20at%Ti−10at%Al、Si−20at%Ti−5at%Sn、Si−20at%Ti−5at%Geの3種類の3元組成を用いた。すなわち、これら溶媒組成に対応する配合組成でSi、Ti、X(X=Al、Sn、Geのいずれか)の各原料を黒鉛坩堝に挿入し、加熱溶解して3元溶媒を生成させ、この溶媒中に黒鉛坩堝からCを溶解させてSi−C−Ti−Xの4元溶液を形成した。
本発明により、種結晶として4H−SiC単結晶を用い、そのSi面を結晶成長面として上記4元溶液の表面に接触させた。
4H−SiC種結晶の溶液接触面の裏側の温度を成長温度として管理し、本発明により1780℃以上に制御した。
比較のために、4H−SiC種結晶の結晶成長面をC面とした場合、結晶成長面をSi面として成長温度を1780℃未満とした場合、種結晶として6H−SiC種結晶を用い、そのC面、Si面を結晶成長面とした場合についても、結晶成長を行なった。
結果を表1にまとめて示す。
本発明においては、種結晶として4H−SiC単結晶を用いた上で、下記(1)(2)(3)の条件を満たすことが必須である。
(1)溶媒組成:Si−Ti−X(X=Al、Sn、Geのいずれか1種)
(2)種結晶の結晶成長面のポラリティー:Si面
(3)成長温度:1780℃以上
表1に示すように、本発明の上記要件を満たす実施例(試料No.1〜5)は、いずれも良好な平坦成長により4H−SiC単結晶が得られた。
これに対して、上記要件のうちすくなくとも1つを満たさない比較例(試料No.C1〜C7)は、4H−SiC単結晶を平坦成長させることができなかった。
比較例C1は、種結晶、溶媒組成、成長温度は本発明の要件を満たすが、成長面のポラリティーがC面であったため、多結晶化が発生した。
比較例C2は、種結晶、溶媒組成、成長面のポラリティー、は本発明の要件を満たすが、成長温度が1750℃と本発明の規定範囲より低温であったため、平坦成長ではあったが、種結晶の結晶多形4H−SiC以外の結晶多形(3C−SiC、15R−SiCなどの混晶となってしまった。
比較例C3、C4は、種結晶として本発明の規定外の6H−SiC単結晶を用いた場合であり、溶媒組成および成長温度を本発明の規定範囲内とすることにより、成長面のポラリティーが本発明の規定によるSi面であっても本発明の規定外のC面であっても、良好な平坦成長により6H−SiC単結晶が得られた。このように6H−SiCは結晶成長面のポラリティーによらず良好な平坦成長が可能である。結晶成長面ポラリティーをSi面に限定する必要があるのは4H−SiCに特有の現象である。
比較例C5は、種結晶、成長面のポラリティー、成長温度は本発明の規定に従ったが、溶媒組成として本発明の規定外のSi−Ti2元組成を用いたため、多結晶化が発生した。
比較例C6、C7は、種結晶、溶媒組成、成長温度は本発明の規定に従ったが、成長面のポラリティーが本発明の規定外であるC面であったため、多結晶化が発生した。
図1(A)に、本発明により種結晶の結晶成長面のポラリティーをSi面とした実施例の試料No.1の成長表面の顕微鏡写真を示し、図1(B)に、種結晶の結晶成長面のポラリティーを本発明の規定外のC面とした比較例の試料No.C1の成長表面の顕微鏡写真を示す。いずれも(2)は(1)の破線で囲んだ部分の高倍率の写真である。図1(A)に示した本発明によるSi面を成長面として用いた場合には高い平坦性が得られているのに対して、図1(B)に示した本発明の規定外のC面を成長面として用いた場合には多結晶化している。
本発明によれば、溶液法により4H−SiC単結晶を安定して平坦成長させることができる4H−SiC単結晶の製造方法が提供される。
図1(A)は、本発明により種結晶の結晶成長面のポラリティーをSi面とした実施例の試料No.1の成長表面の顕微鏡写真であり、図1(B)は、種結晶の結晶成長面のポラリティーを本発明の規定外のC面とした比較例の試料No.C1の成長表面の顕微鏡写真である。

Claims (1)

  1. Si融液を溶媒とし、これにCを溶解させた溶液から4H−SiC種結晶上に4H−SiC単結晶を成長させる方法において、
    上記溶媒として、Si融液にTiとAl、Sn、Geのいずれか1種である元素Xとを添加したSi−Ti−X3元溶媒を用い、4H−SiC種結晶のSi面上に、1780℃以上の成長温度で4H−SiC単結晶を成長させることを特徴とする4H−SiC単結晶の製造方法。
JP2008095336A 2008-04-01 2008-04-01 4H−SiC単結晶の製造方法 Expired - Fee Related JP4888432B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008095336A JP4888432B2 (ja) 2008-04-01 2008-04-01 4H−SiC単結晶の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008095336A JP4888432B2 (ja) 2008-04-01 2008-04-01 4H−SiC単結晶の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009249192A true JP2009249192A (ja) 2009-10-29
JP4888432B2 JP4888432B2 (ja) 2012-02-29

Family

ID=41310239

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008095336A Expired - Fee Related JP4888432B2 (ja) 2008-04-01 2008-04-01 4H−SiC単結晶の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4888432B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009280436A (ja) * 2008-05-21 2009-12-03 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶薄膜の製造方法
WO2014034080A1 (ja) * 2012-08-26 2014-03-06 国立大学法人名古屋大学 3C-SiC単結晶およびその製造方法
WO2014136903A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 日立化成株式会社 炭化珪素単結晶の製造方法
CN106337205A (zh) * 2015-07-09 2017-01-18 丰田自动车株式会社 SiC单晶及其制造方法
JP2017095311A (ja) * 2015-11-25 2017-06-01 トヨタ自動車株式会社 SiC単結晶の製造方法
KR20180035659A (ko) * 2016-09-29 2018-04-06 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법
KR20180035594A (ko) * 2016-09-29 2018-04-06 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103088426A (zh) * 2013-01-23 2013-05-08 保定科瑞晶体有限公司 一种减少碳化硅晶体籽晶生长面缺陷的方法

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002356397A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Sumitomo Metal Ind Ltd 炭化珪素(SiC)単結晶の製造方法
JP2005350324A (ja) * 2004-06-14 2005-12-22 Toyota Motor Corp SiC単結晶の製造方法
JP2006347852A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007039267A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Chikao Kimura 液相成長法
JP2007076986A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Sumitomo Metal Ind Ltd 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007131504A (ja) * 2005-11-14 2007-05-31 Shikusuon:Kk SiCエピタキシャルウエーハおよびそれを用いた半導体デバイス
JP2007153719A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007277049A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Toyota Motor Corp SiC単結晶の製造方法

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002356397A (ja) * 2001-05-31 2002-12-13 Sumitomo Metal Ind Ltd 炭化珪素(SiC)単結晶の製造方法
JP2005350324A (ja) * 2004-06-14 2005-12-22 Toyota Motor Corp SiC単結晶の製造方法
JP2006347852A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007039267A (ja) * 2005-08-02 2007-02-15 Chikao Kimura 液相成長法
JP2007076986A (ja) * 2005-09-16 2007-03-29 Sumitomo Metal Ind Ltd 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007131504A (ja) * 2005-11-14 2007-05-31 Shikusuon:Kk SiCエピタキシャルウエーハおよびそれを用いた半導体デバイス
JP2007153719A (ja) * 2005-12-08 2007-06-21 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007277049A (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Toyota Motor Corp SiC単結晶の製造方法

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009280436A (ja) * 2008-05-21 2009-12-03 Toyota Motor Corp 炭化珪素単結晶薄膜の製造方法
WO2014034080A1 (ja) * 2012-08-26 2014-03-06 国立大学法人名古屋大学 3C-SiC単結晶およびその製造方法
JPWO2014034080A1 (ja) * 2012-08-26 2016-08-08 国立大学法人名古屋大学 3C−SiC単結晶およびその製造方法
WO2014136903A1 (ja) * 2013-03-08 2014-09-12 日立化成株式会社 炭化珪素単結晶の製造方法
JPWO2014136903A1 (ja) * 2013-03-08 2017-02-16 国立研究開発法人産業技術総合研究所 炭化珪素単結晶の製造方法
CN106337205A (zh) * 2015-07-09 2017-01-18 丰田自动车株式会社 SiC单晶及其制造方法
JP2017019686A (ja) * 2015-07-09 2017-01-26 トヨタ自動車株式会社 SiC単結晶及びその製造方法
JP2017095311A (ja) * 2015-11-25 2017-06-01 トヨタ自動車株式会社 SiC単結晶の製造方法
KR20180035659A (ko) * 2016-09-29 2018-04-06 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법
KR20180035594A (ko) * 2016-09-29 2018-04-06 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법
KR101976122B1 (ko) 2016-09-29 2019-05-07 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법
KR102091629B1 (ko) 2016-09-29 2020-03-20 주식회사 엘지화학 실리콘계 용융 조성물 및 이를 이용하는 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP4888432B2 (ja) 2012-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4888432B2 (ja) 4H−SiC単結晶の製造方法
JP4811354B2 (ja) SiC単結晶の製造方法
KR102302521B1 (ko) 탄화규소의 결정 성장 방법
JP4419937B2 (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法
JP4450074B2 (ja) 炭化珪素単結晶の成長方法
JP5273130B2 (ja) SiC単結晶の製造方法
JP5483216B2 (ja) SiC単結晶およびその製造方法
EP1978137A1 (en) PROCESS FOR PRODUCING SiC SINGLE CRYSTAL
JP2004002173A (ja) 炭化珪素単結晶とその製造方法
TW201621099A (zh) 碳化矽之結晶之製造方法及結晶製造裝置
KR101152857B1 (ko) 탄화규소 단결정의 성장방법
TW201250071A (en) Method of producing SiC single crystal
WO2017022535A1 (ja) SiC単結晶の製造方法
WO2015137439A1 (ja) SiC単結晶の製造方法
JP2007261844A (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法
JPWO2014103394A1 (ja) n型SiC単結晶の製造方法
JP2007153719A (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2007261843A (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法
JP5850490B2 (ja) SiC単結晶の製造方法
JP6845418B2 (ja) 炭化ケイ素単結晶ウェハ、インゴット及びその製造方法
JP2007197274A (ja) 炭化珪素単結晶の製造方法
JP2015110495A (ja) 炭化珪素の結晶成長方法
JP2015110496A (ja) 炭化珪素の結晶成長方法
JP2015110498A (ja) 炭化珪素の結晶成長方法
JP5913403B2 (ja) 擬弾性を示すマグネシウム合金、並びに擬弾性を示すマグネシウム合金部品及びその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100901

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111108

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111115

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111128

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4888432

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees