JP2009201885A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】Ｘ線発生装置により発生されたＸ線のエネルギー情報を取得可能なＸ線ＣＴ装置を提供する。
【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置（１００）は、Ｘ線を発生し、被検体に照射するＸ線発生装置と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する複数のＸ線検出チャネルを有する第１のＸ線検出器と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を取得するために、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する第２のＸ線検出器と、前記第２のＸ線検出器により検出された情報に基づき、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を特定するＸ線エネルギー情報特定部とを備える。
【選択図】図１
【解決手段】Ｘ線ＣＴ装置（１００）は、Ｘ線を発生し、被検体に照射するＸ線発生装置と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する複数のＸ線検出チャネルを有する第１のＸ線検出器と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を取得するために、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する第２のＸ線検出器と、前記第２のＸ線検出器により検出された情報に基づき、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を特定するＸ線エネルギー情報特定部とを備える。
【選択図】図１
Description
本発明は、Ｘ線ＣＴ（Ｃｏｍｐｕｔｅｄ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置に関する。
一般的に、Ｘ線ＣＴ装置は、Ｘ線管のＸ線管電圧を制御することによって所望のエネルギースペクトルのＸ線を発生する。また、例えば、特許文献１に記載されているような、高いＸ線管電圧を用いてＸ線管より発生させたエネルギースペクトルのＸ線と低いＸ線管電圧を用いてＸ線管より発生させたエネルギースペクトルのＸ線とを用いて得られたそれぞれのＣＴ値に基づき断層像を得る技術も知られている。この技術には、より具体的には、異なるエネルギースペクトルのＸ線によって被検体中の物質のＸ線吸収係数が異なることを利用して、被検体中のある物質が強調されるような加重減算画像を得る技術が含まれる。２つの異なるエネルギースペクトルのＸ線に基づく投影データを用いてＣＴ画像を得る技術は、デュアルエネルギー撮影と呼ばれる。
ところで、従来は、Ｘ線管より発生されるＸ線のエネルギーは、設定するＸ線管電圧により特定されており、実際に発生されたＸ線のエネルギーを正確に把握することは行われていなかった。しかしながら、近年において、上述のようなＸ線のエネルギーに依存するデュアルエネルギー撮影等を行う場合、Ｘ線管により実際に照射されるＸ線のエネルギーを正確に把握することが望まれる。
そこで、本発明の目的は、Ｘ線発生装置により発生されたＸ線のエネルギー情報を取得可能なＸ線ＣＴ装置を提供することにある。
本発明の第１の観点のＸ線ＣＴ装置は、Ｘ線を発生し、被検体に照射するＸ線発生装置と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する複数のＸ線検出チャネルを有する第１のＸ線検出器と、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を取得するために、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する第２のＸ線検出器と、前記第２のＸ線検出器により検出された情報に基づき、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を特定するＸ線エネルギー情報特定部とを備えることを特徴とするものである。
本発明の第２の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、前記第１のＸ線検出器の端部に配置されていることを特徴とするものである。
本発明の第３の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１又は第２の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、光子計数が可能な半導体検出器であり、前記光子計数に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とするものである。
本発明の第４の観点のＸ線ＣＴ装置は、第３の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とするものである。
本発明の第３の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１又は第２の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、光子計数が可能な半導体検出器であり、前記光子計数に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とするものである。
本発明の第４の観点のＸ線ＣＴ装置は、第３の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とするものである。
本発明の第５の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１又は第２の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であり、前記第２のＸ線検出器の上方に、Ｘ線フィルタを備え、前記Ｘ線フィルタを通過したＸ線に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とするものである。
本発明の第６の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第５のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、前記第１のＸ線検出器の複数のＸ線検出チャネルの一部であることを特徴とするものである。
本発明の第７の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第５のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第１のＸ線検出器が、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であることを特徴とするものである。
本発明の第７の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第５のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第１のＸ線検出器が、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であることを特徴とするものである。
本発明の第８の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第７のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、複数のＸ線検出チャネルを含むことを特徴とするものである。
本発明の第９の観点のＸ線ＣＴ装置は、第８の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記複数のＸ線検出チャネルが、前記被検体の体軸方向に配列されていることを特徴とするものである。
本発明の第１０の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、前記Ｘ線発生装置の近傍に設けられていることを特徴とするものである。
本発明の第９の観点のＸ線ＣＴ装置は、第８の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記複数のＸ線検出チャネルが、前記被検体の体軸方向に配列されていることを特徴とするものである。
本発明の第１０の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、前記Ｘ線発生装置の近傍に設けられていることを特徴とするものである。
本発明の第１１の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１０の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器が、光子計数が可能な半導体検出器であり、前期光子計数に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とするものである。
本発明の第１２の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とするものである。
本発明の第１２の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１１の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とするものである。
本発明の第１３の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１０の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第２のＸ線検出器は、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であり、前記第２のＸ線検出器の上方に、Ｘ線フィルタを備え、前記Ｘ線フィルタを通過したＸ線に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とするものである。
本発明の第１４の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第１３の観点のいずれかＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線発生装置が、複数のＸ線管電圧に基づく複数のエネルギースペクトルのＸ線を発生することを特徴とするものである。
本発明の第１５の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１４の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線発生装置が、単一のＸ線発生装置において、複数のＸ線管電圧を１又は複数ビュー毎に切り替えて前記複数のエネルギースペクトルのＸ線を発生することを特徴とするものである。
本発明の第１６の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第１５のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第１のＸ線検出器により検出されたＸ線に基づくデータを、前記Ｘ線エネルギー情報特定部により特定されたエネルギー情報に基づき補正するデータ補正部をさらに備えることを特徴とするものである。
本発明の第１７の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第１６のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線発生装置より照射されているＸ線のエネルギー情報を表示する表示部をさらに備えることを特徴とするものである。
本発明の第１５の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１４の観点のＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線発生装置が、単一のＸ線発生装置において、複数のＸ線管電圧を１又は複数ビュー毎に切り替えて前記複数のエネルギースペクトルのＸ線を発生することを特徴とするものである。
本発明の第１６の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第１５のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記第１のＸ線検出器により検出されたＸ線に基づくデータを、前記Ｘ線エネルギー情報特定部により特定されたエネルギー情報に基づき補正するデータ補正部をさらに備えることを特徴とするものである。
本発明の第１７の観点のＸ線ＣＴ装置は、第１から第１６のいずれかの観点のＸ線ＣＴ装置において、前記Ｘ線発生装置より照射されているＸ線のエネルギー情報を表示する表示部をさらに備えることを特徴とするものである。
本発明のＸ線ＣＴ装置によれば、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する第２のＸ線検出器を備え、前記第２のＸ線検出器により検出されたＸ線のエネルギー情報を取得するＸ線エネルギー情報取得部を有することから、Ｘ線発生装置により発生されたＸ線のエネルギー情報を取得可能なＸ線ＣＴ装置を実現できる。
＜Ｘ線ＣＴ装置１００の全体構成＞
図１は、本発明の実施例にかかるＸ線ＣＴ装置１００の構成ブロック図である。このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
図１は、本発明の実施例にかかるＸ線ＣＴ装置１００の構成ブロック図である。このＸ線ＣＴ装置１００は、操作コンソール１と、撮影テーブル１０と、走査ガントリ２０とを具備している。
操作コンソール１は、操作者の入力を受け付けるキーボード又はマウスなどの入力装置２と、前処理、画像再構成処理、後処理などを実行する中央処理装置３と、走査ガントリ２０で収集したＸ線検出器データを収集するデータ収集バッファ５とを具備している。さらに、操作コンソール１は、Ｘ線検出器データを前処理して求められた投影データから画像再構成した断層像を表示するモニタ６と、プログラムやＸ線検出器データや投影データやＸ線断層像を記憶する記憶装置７とを具備している。撮影条件の入力はこの入力装置２から入力され、記憶装置７に記憶する。撮影テーブル１０は、被検体ＨＢを乗せて走査ガントリ２０の開口部に出し入れするクレードル１２を具備している。クレードル１２は撮影テーブル１０に内蔵するモータで昇降及びテーブル直線移動する。
走査ガントリ２０は、Ｘ線管２１と、Ｘ線制御部２２と、コリメータ２３と、ビーム形成Ｘ線フィルタ２８と、多列Ｘ線検出器２４と、データ収集装置２５（ＤＡＳ：Data Acquisition System）２５とを具備している。Ｘ線制御部２２は、Ｘ線管２１の管電圧を８０ｋＶ及び１４０ｋＶに切り換えたりする。データ収集装置２５は多列Ｘ線検出器２４からのアナログ信号を所定の積分時間でデジタル信号に変換する。
また、多列Ｘ線検出器２４は、被検体のＸ線投影データを検出するための複数のＸ線検出チャネルを有する第１のＸ線検出器２４１と、照射されたＸ線のエネルギー情報を取得するための第２のＸ線検出器２４２が設けられている。
さらに、走査ガントリ２０は、被検体ＨＢの体軸の回りに回転するＸ線管２１など有する回転部１５の回転制御を行う回転制御部２６と、制御信号などを操作コンソール１や撮影テーブル１０とやり取りするガントリ制御部２９とを具備している。ビーム形成Ｘ線フィルタ２８は、被検体の被曝を少なくするために設けられたものであり、撮影中心である回転中心に向かうＸ線の方向にはフィルタの厚さが最も薄く、周辺部に行くに従いフィルタの厚さが増し、Ｘ線をより吸収できるようになっているＸ線フィルタである。
中央処理装置３は、画像再構成部３３、Ｘ線エネルギー情報特定部３４及びデータ補正部３５を有している。
画像処理部３３は、前処理、ビームハードニング補正処理、画像再構成処理、後処理、デュアルエネルギー画像再構成処理等を行う。
前処理は、オフセット補正、対数変換処理、Ｘ線線量補正、感度補正等を含む。
ビームハードニング補正処理は、投影データのビームハードニング補正の処理を行う。ビームハードニングとは、連続Ｘ線が物質を透過していくうちにＸ線エネルギー分布が変化し、断層上のＣＴ値（輝度）が変わってしまう現象である。ビームハードニング補正は、投影データのスライス方向、チャネル方向に対して行う。
前処理は、オフセット補正、対数変換処理、Ｘ線線量補正、感度補正等を含む。
ビームハードニング補正処理は、投影データのビームハードニング補正の処理を行う。ビームハードニングとは、連続Ｘ線が物質を透過していくうちにＸ線エネルギー分布が変化し、断層上のＣＴ値（輝度）が変わってしまう現象である。ビームハードニング補正は、投影データのスライス方向、チャネル方向に対して行う。
画像再構成処理は、前処理された投影データを受け、その投影データに基づいて画像を再構成する。投影データは、周波数領域に変換する高速フーリエ変換（ＦＦＴ：Fast Fourier Transform）がなされて、それに再構成関数Ｋｅｒｎｅｌ（ｊ）を空間領域において重畳し、逆フーリエ変換する。そして、画像再構成部３４は、再構成関数Ｋｅｒｎｅｌ（ｊ）を重畳処理した投影データに対して、三次元逆投影処理を行った後、後処理を行って各画素をＣＴ値を単位とする断層像に変換し、被検体ＨＢの体軸方向（Ｚ軸方向）ごとに断層像（ｘｙ平面）を求める。画像再構成部３４は、この断層像を記憶装置７に記憶させる。
デュアルエネルギー画像再構成処理は、低いＸ線管電圧ｋＶ１を用いて得られたＸ線投影データ及び高いＸ線管電圧ｋＶ２を用いて得られたＸ線投影データから、所定物質（原子）の分布に関連したＸ線管電圧依存情報の二次元分布断層像、いわゆるデュアルエネルギー撮影の断層像を画像再構成する。デュアルエネルギー撮影の断層像としては、水、脂肪、造影剤、骨等をそれぞれ実質的に消去した、いわゆる、水等価画像、脂肪等価画像、造影剤等価画像、骨等価画像等を得ることができる。
Ｘ線エネルギー情報特定部３４は、第２のＸ線検出器２４２により検出された結果に基づくデータを用いて、エネルギー情報の算出又は推測を行い、エネルギー情報の特定を行う。
データ補正部３５は、Ｘ線エネルギー情報特定部３４により特定されたエネルギー情報に基づき、第１のＸ線検出器２４１により検出されたＸ線に基づくデータを補正する。
データ補正部３５は、Ｘ線エネルギー情報特定部３４により特定されたエネルギー情報に基づき、第１のＸ線検出器２４１により検出されたＸ線に基づくデータを補正する。
次に、上記のＸ線ＣＴ装置１００を用いた第２のＸ線検出器２４２によるＸ線エネルギー情報の取得及びＸ線エネルギー情報特定部３４によるＸ線エネルギーの特定について、実施例を用いて詳細に説明する。
（実施例１）
実施例１は、第２のＸ線検出器２４２として、光子計数が可能な半導体検出器である、いわゆる、光子計数型Ｘ線検出器を用いた例である。
図２は、本実施例に係る第２のＸ線検出器の配置を示す図である。この図において、シンチレータとフォトダイオードとの組み合わせによるＸ線検出器、いわゆるシンチレータ型Ｘ線検出器である第１のＸ線検出器２４１の回転方向（チャネル方向）の端部に隣接して、ＣｄＴｅ半導体等Ｘ線光子に直接反応する材料を検出器素子材料として用いた光子計数型Ｘ線検出器からなる第２のＸ線検出器２４２が配置されている。尚、本実施例においては、第２のＸ線検出器２４２には、８つのＸ線検出チャネル（ｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８）を有するものとする。尚、第２のＸ線検出器２４２は、被検体に隠れにくい位置のチャネルであれば、第１のＸ線検出器２４１の回転方向（チャネル方向）の端部でなくてもよい。この場合、撮影領域のＸ線を検出する第１のＸ線検出器と同様の立体角、同様の線質のＸ線を第２のＸ線検出器２４２で得ることができる。即ち、照射Ｘ線は、Ｘ線管２１側のＸ線フィルタやビーム形成Ｘ線フィルタ２８も同様に透過するため、Ｘ線の線質としても同様になる。また、幾何学的配置においてはＸ線焦点からの距離に大差がないため、信号レベルも同様となる。
実施例１は、第２のＸ線検出器２４２として、光子計数が可能な半導体検出器である、いわゆる、光子計数型Ｘ線検出器を用いた例である。
図２は、本実施例に係る第２のＸ線検出器の配置を示す図である。この図において、シンチレータとフォトダイオードとの組み合わせによるＸ線検出器、いわゆるシンチレータ型Ｘ線検出器である第１のＸ線検出器２４１の回転方向（チャネル方向）の端部に隣接して、ＣｄＴｅ半導体等Ｘ線光子に直接反応する材料を検出器素子材料として用いた光子計数型Ｘ線検出器からなる第２のＸ線検出器２４２が配置されている。尚、本実施例においては、第２のＸ線検出器２４２には、８つのＸ線検出チャネル（ｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８）を有するものとする。尚、第２のＸ線検出器２４２は、被検体に隠れにくい位置のチャネルであれば、第１のＸ線検出器２４１の回転方向（チャネル方向）の端部でなくてもよい。この場合、撮影領域のＸ線を検出する第１のＸ線検出器と同様の立体角、同様の線質のＸ線を第２のＸ線検出器２４２で得ることができる。即ち、照射Ｘ線は、Ｘ線管２１側のＸ線フィルタやビーム形成Ｘ線フィルタ２８も同様に透過するため、Ｘ線の線質としても同様になる。また、幾何学的配置においてはＸ線焦点からの距離に大差がないため、信号レベルも同様となる。
Ｘ線ＣＴ装置１００を用いて照射されたＸ線は、各ビュー毎に、第１のＸ線検出器２４１に入射されると同時に、第２のＸ線検出器２４２の各チャネルｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８に入射され、それぞれのチャネルについて、Ｘ線光子のエネルギーに応じて半導体素子にて生成される電荷に基づく信号が計数される。この際、エネルギーの閾値を設けることによって、エネルギー範囲毎の計数を行うことができる。そして、その計数結果により、Ｘ線エネルギー情報特定部３４は、最適と思われるエネルギーとして適宜された算出方法（例えば、計数ピークを含むエネルギー範囲、または計数ピークを含む複数のエネルギー範囲の平均等）に基づき、当該チャネルのエネルギー情報を決定し、さらに、８つのチャネルそれぞれのエネルギー情報に基づく最適なエネルギー情報として適宜設定された算出方法（例えば、８つのエネルギー情報の平均等）を、当該ビューのエネルギー情報として特定する。
例えば、デュアルエネルギー撮影を行う際に、１又は複数ビュー毎に８０ｋＶ及び１４０ｋＶにＸ線管電圧を切り替えてＸ線を照射した場合、光子エネルギーの閾値として、８０ｋＶ、１４０ｋＶ、及びその中間のｋＶの３つに分けるような閾値を設けておき、各ビュー毎に、そのエネルギー情報として、８０ｋＶ、１４０ｋＶ又はその中間ｋＶかを得るようにする。その結果、各ビューのＸ線投影データが、８０ｋＶのデータか、１４０ｋＶのデータか、若しくはＸ線管電圧の切り替えに伴なう過渡ｋＶのデータかを把握することができる。
尚、上記実施例においては、光子計数型Ｘ線検出器に用いられる半導体材料としては、ＣｄＴｅに限らず、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、ＧａＡｓ等を用いることもできる。
また、上記実施例においては、第１のＸ線検出器として、最も一般的に用いられているシンチレータ型Ｘ線検出器を用いることにより、従来の多列Ｘ線検出器に、第２のＸ線検出器を追加して、本発明を達成することができるが、第１のＸ線検出器として、光子計数型Ｘ線検出器を用いる、即ち、光子計数型Ｘ線検出器の一部のチャネルを、第２のＸ線検出器としてもよい。
また、シンチレータ型Ｘ線検出器には、Ｘ線線量補正用のチャネルが設けられていることがあるが、その場合、本実施例の第２のＸ線検出器は、当該Ｘ線線量補正用のチャネルに隣接して設けることもできる。
また、上記実施例においては、第２のＸ線検出器として、より多くのＸ線検出素子を用いることにより、より高い精度のエネルギー情報を得ることができるが、Ｘ線検出素子は、複数に限らず、１つ以上であればよい。
尚、上記実施例においては、光子計数型Ｘ線検出器に用いられる半導体材料としては、ＣｄＴｅに限らず、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、ＧａＡｓ等を用いることもできる。
また、上記実施例においては、第１のＸ線検出器として、最も一般的に用いられているシンチレータ型Ｘ線検出器を用いることにより、従来の多列Ｘ線検出器に、第２のＸ線検出器を追加して、本発明を達成することができるが、第１のＸ線検出器として、光子計数型Ｘ線検出器を用いる、即ち、光子計数型Ｘ線検出器の一部のチャネルを、第２のＸ線検出器としてもよい。
また、シンチレータ型Ｘ線検出器には、Ｘ線線量補正用のチャネルが設けられていることがあるが、その場合、本実施例の第２のＸ線検出器は、当該Ｘ線線量補正用のチャネルに隣接して設けることもできる。
また、上記実施例においては、第２のＸ線検出器として、より多くのＸ線検出素子を用いることにより、より高い精度のエネルギー情報を得ることができるが、Ｘ線検出素子は、複数に限らず、１つ以上であればよい。
（実施例２）
実施例２は、第２のＸ線検出器２４２として、多列Ｘ線検出器２４の回転方向の最外チャネルを用いた例である。即ち、実施例２においては、第２のＸ線検出器は、シンチレータ型Ｘ線検出器より構成される。
図３は、本実施例に係る第２のＸ線検出器の配置を示す図である。この図においては、第２のＸ線検出器２４２を構成するエネルギー取得用チャネルが８チャネル（ｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８）ある例を示す。尚、本実施例においても、実施例１と同様に、第２のＸ線検出器２４２は、被検体に隠れにくい位置のチャネルであれば、必ずしも多列Ｘ線検出器２４の回転方向（チャネル方向）の最外チャネルでなくてもよい。また、本実施例においても、実施例１と同様に、第１のＸ線検出器と同様のＸ線を第２のＸ線検出器２４２で得ることができる。
実施例２は、第２のＸ線検出器２４２として、多列Ｘ線検出器２４の回転方向の最外チャネルを用いた例である。即ち、実施例２においては、第２のＸ線検出器は、シンチレータ型Ｘ線検出器より構成される。
図３は、本実施例に係る第２のＸ線検出器の配置を示す図である。この図においては、第２のＸ線検出器２４２を構成するエネルギー取得用チャネルが８チャネル（ｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８）ある例を示す。尚、本実施例においても、実施例１と同様に、第２のＸ線検出器２４２は、被検体に隠れにくい位置のチャネルであれば、必ずしも多列Ｘ線検出器２４の回転方向（チャネル方向）の最外チャネルでなくてもよい。また、本実施例においても、実施例１と同様に、第１のＸ線検出器と同様のＸ線を第２のＸ線検出器２４２で得ることができる。
また、シンチレータ型Ｘ線検出器には、Ｘ線線量補正用のチャネルが設けられていることがあるが、その場合、第２のＸ線検出器は、当該Ｘ線線量検出用のチャネルと隣接して設けてもよく、Ｘ線線量検出用のチャネルと兼ねてもよい。さらに、第２の検出器を、多列Ｘ線検出器２４の回転方向の最外チャネルとせずに、多列Ｘ線検出器２４とは別の検出器として、多列Ｘ線検出器２４の近傍に又は隣接して配置してもよい。
また、図３に示されるように、第２のＸ線検出器２４２のエネルギー取得用チャネルの上には、異なる厚さのＸ線フィルタ２４３を配置する。このＸ線フィルタの厚さはｔ（１）〜ｔ（８）とする。この厚さの異なるＸ線フィルタ２４３により、エネルギー取得用チャネルｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８には、それぞれ異なるエネルギー波長帯域のＸ線が入力される。
図４（ａ）に、図４（ｂ）に示されるエネルギー取得用チャネルｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８に、あるＸ線管電圧に基づくＸ線が入力された場合のエネルギー取得用チャネルｋＶＲｅｆ１〜ｋＶＲｅｆ８の出力ＤｋＶＲｅｆ（１）〜ＤｋＶＲｅｆ（８）を示す。また、図４（ｃ）は、出力ＤｋＶＲｅｆ（１）〜ＤｋＶＲｅｆ（８）において、Ｘ線フィルタ２４３の厚みによる減衰を補正した出力ＤＣｋＶＲｅｆ（１）〜ＤＣｋＶＲｅｆ（８）を示す。このＸ線フィルタの厚みによる減衰を補正した出力ＤＣｋＶＲｅｆ（１）〜ＤＣｋＶＲｅｆ（８）は、数式１により求めることができる。ただし、エネルギー取得用チャネルの出力はＤｋＶＲｅｆ（ｉ）、ｉはｉ＝１〜８、Ｘ線フィルタ２４２の厚さはｔ（ｉ）、Ｘ線フィルタ２４２の材質のＸ線線吸収係数はρ、Ｘ線フィルタ厚補正した出力はＤＣｋＶＲｅｆ（ｉ）とする。
ＤＣｋＶＲｅｆ（ｉ）＝ＤｋＶＲｅｆ（ｉ）・ｅρｔ（ｉ）．．．（数式１）
ＤＣｋＶＲｅｆ（ｉ）＝ＤｋＶＲｅｆ（ｉ）・ｅρｔ（ｉ）．．．（数式１）
Ｘ線フィルタ厚補正した出力は、理想的にはフィルタを通過していないＸ線と同等になるが、実際はＸ線のエネルギーにより変動した出力となる。本実施例においては、このエネルギーの違いに伴う出力の変動を利用する。即ち、Ｘ線エネルギー情報特定部３４は、予め、エネルギー毎のＸ線フィルタ厚補正後の出力の基準（図４（ｃ）のグラフ中の点線）を記憶し、当該基準との比較により、算出又は推測により実測の出力のエネルギーをＸ線のエネルギー情報として特定する。例えば、各チャネル毎に算出又は推測により実測の出力のエネルギー平均値を、当該ビューのエネルギー情報とすることができる。
また、上記実施例においては、第２のＸ線検出器として、より多くのＸ線検出素子を用いることにより、より高い精度のエネルギー情報を得ることができるが、Ｘ線検出素子は、複数に限らず、１つ以上であればよい。
（変形例）
次に、変形例として、実施例１又は実施例２と同様の第２のＸ線検出器の配置を、Ｘ線管２１の近傍に配置した例について説明する。
図５は、第２のＸ線検出器の配置を示す図である。図５においては、第２のＸ線検出器４４１は、Ｘ線管２１の近傍に配置されている。このような第２のＸ線検出器４４１は、被検体が大きい場合であっても、被検体に隠れることがない。この場合、第２のＸ線検出器４４１に入力されるＸ線と、ビーム形成フィルタを介して多列Ｘ線検出器２４に入力されるＸ線とは、線質が異なるため、上述のＸ線フィルタ２４２と同様のＸ線フィルタに加え、ビーム形成フィルタに相当するＸ線フィルタを第２のＸ線検出器の上に配置することが好ましい。尚、本変形例において、Ｘ線のエネルギー情報の取得は、実施例１又は実施例２と同様に行うことができる。
次に、変形例として、実施例１又は実施例２と同様の第２のＸ線検出器の配置を、Ｘ線管２１の近傍に配置した例について説明する。
図５は、第２のＸ線検出器の配置を示す図である。図５においては、第２のＸ線検出器４４１は、Ｘ線管２１の近傍に配置されている。このような第２のＸ線検出器４４１は、被検体が大きい場合であっても、被検体に隠れることがない。この場合、第２のＸ線検出器４４１に入力されるＸ線と、ビーム形成フィルタを介して多列Ｘ線検出器２４に入力されるＸ線とは、線質が異なるため、上述のＸ線フィルタ２４２と同様のＸ線フィルタに加え、ビーム形成フィルタに相当するＸ線フィルタを第２のＸ線検出器の上に配置することが好ましい。尚、本変形例において、Ｘ線のエネルギー情報の取得は、実施例１又は実施例２と同様に行うことができる。
尚、上記の全ての例により得られたＸ線のエネルギー情報は、例えば、ビュー毎に、Ｘ線投影データに付加させても良い。
また、上記の全ての例により得られたＸ線のエネルギー情報は、モニタ６において、スキャン中に継続的に表示してエネルギー情報を監視することもできる。
また、上記の全ての例により得られたＸ線のエネルギー情報は、モニタ６において、スキャン中に継続的に表示してエネルギー情報を監視することもできる。
さらに、上記の全ての例により得られたＸ線のエネルギー情報は、データ補正部３５において行われる断層像を得るためのデータの補正に用いることができる。例えば、画像処理部３３において実施されるビームハードニング補正等のＸ線投影データの補正において、Ｘ線管電圧（Ｘ線のエネルギー）の関数が用いられる場合において、当該関数に、第２のＸ線検出器に基づく取得されたエネルギー情報を用いて補正を行うことができる。または、所定のＸ線管電圧（Ｘ線のエネルギー）の関数が用いられる補正を行った後、当該補正に用いたＸ線エネルギー情報と、第２のＸ線検出器に基づき取得されたエネルギー情報が異なる場合、当該補正後のＸ線投影データに対し、さらに、第２のＸ線検出器に基づき取得されたエネルギー情報を用いて補正したかの如くデータが得られるような補正を行うこともできる。
また、データ補正の別の例としては、あるエネルギースペクトルのＸ線を用いて得られた被検体のデータを、異なるエネルギースペクトルのＸ線で得られたデータに変換する補正が挙げられる（以下、Ｘ線エネルギー補正と呼ぶ）。具体的には、デュアルエネルギー撮影により得られたＸ線管電圧８０ｋＶの投影データ及びＸ線管電圧１４０ｋＶの投影データを、Ｘ線管電圧１２０ｋＶ相当の投影データに変換する補正が、例として挙げられる。
このＸ線エネルギー補正は、例えば、被検体の組成又は形状の変化に合わせ、ビュー方向又は体軸方向に、公知のＸ線管電流の変化と共に、又はＸ線管電流に代わりに、Ｘ線管電圧ｋＶを変化させ、ノイズを最適化することに用いることが考えられる。
Ｘ線エネルギー補正としては、下記のようは方法が挙げられる。
（１）デュアルエネルギー撮影法を用いたスカウトスキャンにより、被検体の組成情報を得ておく。そして、任意のＸ線管電圧を用いて撮影して得られた画像に対し、組成及びエネルギーに依存する係数であるＸ線吸収係数を用いて、前記被検体の組成毎に、所望のＸ線管電圧相当のデータに変換する。
（２）デュアルエネルギー撮影を行って得られた加重減算画像の被検体の組成毎に、組成及びエネルギーに依存する係数であるＸ線吸収係数に基づいて、所望のＸ線管電圧相当のデータに変換する。
（１）デュアルエネルギー撮影法を用いたスカウトスキャンにより、被検体の組成情報を得ておく。そして、任意のＸ線管電圧を用いて撮影して得られた画像に対し、組成及びエネルギーに依存する係数であるＸ線吸収係数を用いて、前記被検体の組成毎に、所望のＸ線管電圧相当のデータに変換する。
（２）デュアルエネルギー撮影を行って得られた加重減算画像の被検体の組成毎に、組成及びエネルギーに依存する係数であるＸ線吸収係数に基づいて、所望のＸ線管電圧相当のデータに変換する。
そして、上記のようなＸ線エネルギー補正に、上述のように特定されたエネルギー情報を用いることにより、正確なＸ線エネルギー補正を行うことができる。
尚、上記実施形態におけるデュアルエネルギー撮影法としては、例えば、以下のような方法を用いることができる。
（１）単一のＸ線管のＸ線管電圧を、回転単位で切り替えて前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
（２）単一のＸ線管のＸ線管電圧を、１又は複数ビュー毎に切り替えて前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
（３）Ｘ線管電圧の異なる複数のＸ線管により前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
尚、上記実施形態におけるデュアルエネルギー撮影法としては、例えば、以下のような方法を用いることができる。
（１）単一のＸ線管のＸ線管電圧を、回転単位で切り替えて前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
（２）単一のＸ線管のＸ線管電圧を、１又は複数ビュー毎に切り替えて前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
（３）Ｘ線管電圧の異なる複数のＸ線管により前記複数のエネルギー分布のＸ線を発生させて行う方法。
１ … 操作コンソール
２ … 入力装置
３ … 中央処理装置 （３３ … 画像再構成部，３４ … Ｘ線エネルギー情報特定部，３５ … データ補正部）
５ … データ収集バッファ
６ … モニタ
７ … 記憶装置
１０ … 撮影テーブル
１２ … クレードル
１５ … 回転部
２０ … 走査ガントリ
２１ … Ｘ線管
２２ … Ｘ線制御部
２３ … コリメータ
２４ … 多列Ｘ線検出器
２４１ … 第１のＸ線検出器
２４１ … 第２のＸ線検出器
２５ … データ収集装置（ＤＡＳ）
２６ … 回転制御部
２８ … ビーム形成Ｘ線フィル
２９ … ガントリ制御部
２ … 入力装置
３ … 中央処理装置 （３３ … 画像再構成部，３４ … Ｘ線エネルギー情報特定部，３５ … データ補正部）
５ … データ収集バッファ
６ … モニタ
７ … 記憶装置
１０ … 撮影テーブル
１２ … クレードル
１５ … 回転部
２０ … 走査ガントリ
２１ … Ｘ線管
２２ … Ｘ線制御部
２３ … コリメータ
２４ … 多列Ｘ線検出器
２４１ … 第１のＸ線検出器
２４１ … 第２のＸ線検出器
２５ … データ収集装置（ＤＡＳ）
２６ … 回転制御部
２８ … ビーム形成Ｘ線フィル
２９ … ガントリ制御部
Claims (17)
- Ｘ線を発生し、被検体に照射するＸ線発生装置と、
前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する複数のＸ線検出チャネルを有する第１のＸ線検出器と、
前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を取得するために、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線を検出する第２のＸ線検出器と、
前記第２のＸ線検出器により検出された情報に基づき、前記Ｘ線発生装置から照射されるＸ線のエネルギー情報を特定するＸ線エネルギー情報特定部と
を備えることを特徴とするＸ線ＣＴ装置。 - 前記第２のＸ線検出器は、前記第１のＸ線検出器の端部に配置されていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、光子計数が可能な半導体検出器であり、前記光子計数に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とする請求項３に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であり、前記第２のＸ線検出器の上方に、Ｘ線フィルタを備え、前記Ｘ線フィルタを通過したＸ線に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とする請求項１または請求項２に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、前記第１のＸ線検出器の複数のＸ線検出チャネルの一部であることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第１のＸ線検出器は、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、複数のＸ線検出チャネルを含むことを特徴とする請求項１から請求項７のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記複数のＸ線検出チャネルが、前記被検体の体軸方向に配列されていることを特徴とする請求項８に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、前記Ｘ線発生装置の近傍に設けられていることを特徴とする請求項１に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、光子計数が可能な半導体検出器であり、前期光子計数に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とする請求項１０に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記光子計数が可能な半導体検出器が、ＣｄＴｅ、ＣｄＺｎＴｅ、ＨｇＩ２、ＰｂＩ２、及びＧａＡｓのいずれか一つの材料を用いたものであることを特徴とする請求項１１に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第２のＸ線検出器は、シンチレータとフォトダイオードとを含むＸ線検出器であり、前記第２のＸ線検出器の上方に、Ｘ線フィルタを備え、前記Ｘ線フィルタを通過したＸ線に基づき前記エネルギー情報を特定することを特徴とする請求項１０に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記Ｘ線発生装置は、複数のＸ線管電圧に基づく複数のエネルギースペクトルのＸ線を発生することを特徴とする請求項１から請求項１３のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記Ｘ線発生装置は、単一のＸ線発生装置において、複数のＸ線管電圧を１又は複数ビュー毎に切り替えて前記複数のエネルギースペクトルのＸ線を発生することを特徴とする請求項１４に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記第１のＸ線検出器により検出されたＸ線に基づくデータを、前記Ｘ線エネルギー情報特定部により特定されたエネルギー情報に基づき補正するデータ補正部をさらに備えることを特徴とする請求項１から請求項１５のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
- 前記Ｘ線発生装置より照射されているＸ線のエネルギー情報を表示する表示部をさらに備えることを特徴とする請求項１から１６のいずれか一項に記載のＸ線ＣＴ装置。
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012034901A (ja) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、方法およびプログラム |
| WO2012070661A1 (ja) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、及び放射線撮影システム |
| JP2013215480A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013240594A (ja) * | 2012-05-21 | 2013-12-05 | General Electric Co <Ge> | イメージング・システム用の線源側監視装置 |
| WO2014163187A1 (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 株式会社 東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2015107235A (ja) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2015112475A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 株式会社東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びリファレンス補正プログラム |
| JP2020179039A (ja) * | 2019-04-26 | 2020-11-05 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 補正用ｘ線検出器及びｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US2833089A (en) * | 1954-05-18 | 1958-05-06 | Alfred F Beauloye | Engine cylinder block and head gasket surface grinding apparatus |
| US20080096503A1 (en) * | 2006-10-23 | 2008-04-24 | Motorola, Inc. | System and method for dynamically reconfiguring associations between a remote site and a zone controller in a communication system |
| WO2010070554A1 (en) * | 2008-12-17 | 2010-06-24 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | X-ray examination apparatus and method |
| DE102010027227B4 (de) * | 2010-07-15 | 2016-10-20 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren und Computertomographiegerät zur Durchführung einer angiographischen Untersuchung |
| WO2013058841A1 (en) | 2011-10-21 | 2013-04-25 | Accuray, Inc. | Apparatus for generating multi-energy x-ray images and methods of using the same |
| DE102012216269A1 (de) * | 2012-09-13 | 2014-03-13 | Siemens Aktiengesellschaft | Röntgensystem und Verfahren zur Erzeugung von Bilddaten |
| KR20150043630A (ko) | 2013-10-14 | 2015-04-23 | 삼성전자주식회사 | 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 |
| JP6529858B2 (ja) | 2014-08-20 | 2019-06-12 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置及びｘ線検出器 |
| US10117628B2 (en) * | 2014-10-01 | 2018-11-06 | Toshiba Medical Systems Corporation | Photon counting apparatus |
| EP3494889B1 (de) * | 2017-12-11 | 2020-06-17 | Siemens Healthcare GmbH | Verfahren zur kalibrierung einer röntgenmesseinrichtung |
| US10869646B2 (en) * | 2018-04-12 | 2020-12-22 | Canon Medical Systems Corporation | Method and apparatus for computed tomography (CT) and material decomposition with pile-up correction calibrated using real pulse pileup effect and detector response |
Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118244A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-29 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH01161712U (ja) * | 1988-04-30 | 1989-11-10 | ||
| JPH02218351A (ja) * | 1989-02-20 | 1990-08-31 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線ｃｔのｘ線検出システム |
| JPH03251234A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-08 | Shimadzu Corp | 骨塩定量装置 |
| JPH06114051A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-26 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH0712948A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Hitachi Medical Corp | 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 |
| JPH10509069A (ja) * | 1994-11-22 | 1998-09-08 | アナロジック コーポレーション | 断層撮影イメージ・データの正規化 |
| JPH11206750A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-08-03 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | 放射線照射位置合わせ方法および放射線照射・検出装置並びに放射線断層撮影装置 |
| JP2004065975A (ja) * | 2002-07-31 | 2004-03-04 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | プラーク特徴評価の方法、システム及びコンピュータ・プロダクト |
| JP2004181017A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-02 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2005526556A (ja) * | 2002-03-21 | 2005-09-08 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 複数の検出器からなる検出器ユニットによるｘ線検出のためのコンピュータ断層撮影装置およびｘ線検出方法 |
| WO2006075295A1 (en) * | 2005-01-12 | 2006-07-20 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computer tomography apparatus |
| JP2006320464A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Hitachi Medical Corp | 放射線撮影装置、画像処理方法 |
| WO2007010448A2 (en) * | 2005-07-22 | 2007-01-25 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | X-ray detector imaging with polychromatic spectra |
| WO2007122882A1 (ja) * | 2006-04-24 | 2007-11-01 | Hitachi Medical Corporation | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2008021663A2 (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Apparatus and method for spectral computed tomography |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AT283784B (de) * | 1968-10-31 | 1970-08-25 | Oesterr Studien Atomenergie | Comptonspektrometer |
| US4611341A (en) * | 1981-05-05 | 1986-09-09 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Multiple-energy x-ray substraction imaging system |
| US4529882A (en) * | 1982-08-09 | 1985-07-16 | E. I. Du Pont De Nemours & Company | Compton scattering gamma radiation camera and method of creating radiological images |
| US4963746A (en) * | 1986-11-25 | 1990-10-16 | Picker International, Inc. | Split energy level radiation detection |
| US5485492A (en) * | 1992-03-31 | 1996-01-16 | Lunar Corporation | Reduced field-of-view CT system for imaging compact embedded structures |
| US5548123A (en) * | 1994-12-06 | 1996-08-20 | Regents Of The University Of California | High resolution, multiple-energy linear sweep detector for x-ray imaging |
| US6052433A (en) * | 1995-12-29 | 2000-04-18 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Apparatus and method for dual-energy x-ray imaging |
| US6134297A (en) * | 1998-12-09 | 2000-10-17 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Apparatus and method for removing scatter from an x-ray image using two-dimensional detectors and a single-energy spectrum x-ray source |
| US20030223539A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | Granfors Paul R. | Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector |
| JP2004166728A (ja) * | 2002-11-15 | 2004-06-17 | Canon Inc | Ｘ線撮影装置 |
| JP4334244B2 (ja) * | 2003-02-13 | 2009-09-30 | 株式会社東芝 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
| JP2009533125A (ja) * | 2006-04-11 | 2009-09-17 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 低比率散乱放射線を含むｘ線画像の生成 |
| US7486761B2 (en) * | 2007-03-08 | 2009-02-03 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Computed tomography facilitation method and apparatus |
-
2008
- 2008-02-29 JP JP2008049433A patent/JP5582514B2/ja active Active
-
2009
- 2009-02-27 US US12/394,754 patent/US7738625B2/en active Active
Patent Citations (16)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62118244A (ja) * | 1985-11-19 | 1987-05-29 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線断層撮影装置 |
| JPH01161712U (ja) * | 1988-04-30 | 1989-11-10 | ||
| JPH02218351A (ja) * | 1989-02-20 | 1990-08-31 | Yokogawa Medical Syst Ltd | Ｘ線ｃｔのｘ線検出システム |
| JPH03251234A (ja) * | 1990-02-28 | 1991-11-08 | Shimadzu Corp | 骨塩定量装置 |
| JPH06114051A (ja) * | 1992-09-30 | 1994-04-26 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JPH0712948A (ja) * | 1993-06-28 | 1995-01-17 | Hitachi Medical Corp | 散乱線検出器及び散乱線・線質検出装置 |
| JPH10509069A (ja) * | 1994-11-22 | 1998-09-08 | アナロジック コーポレーション | 断層撮影イメージ・データの正規化 |
| JPH11206750A (ja) * | 1998-01-20 | 1999-08-03 | Ge Yokogawa Medical Systems Ltd | 放射線照射位置合わせ方法および放射線照射・検出装置並びに放射線断層撮影装置 |
| JP2005526556A (ja) * | 2002-03-21 | 2005-09-08 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 複数の検出器からなる検出器ユニットによるｘ線検出のためのコンピュータ断層撮影装置およびｘ線検出方法 |
| JP2004065975A (ja) * | 2002-07-31 | 2004-03-04 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | プラーク特徴評価の方法、システム及びコンピュータ・プロダクト |
| JP2004181017A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-02 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2006075295A1 (en) * | 2005-01-12 | 2006-07-20 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computer tomography apparatus |
| JP2006320464A (ja) * | 2005-05-18 | 2006-11-30 | Hitachi Medical Corp | 放射線撮影装置、画像処理方法 |
| WO2007010448A2 (en) * | 2005-07-22 | 2007-01-25 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | X-ray detector imaging with polychromatic spectra |
| WO2007122882A1 (ja) * | 2006-04-24 | 2007-11-01 | Hitachi Medical Corporation | Ｘ線ｃｔ装置 |
| WO2008021663A2 (en) * | 2006-08-09 | 2008-02-21 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Apparatus and method for spectral computed tomography |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012034901A (ja) * | 2010-08-09 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置、方法およびプログラム |
| WO2012070661A1 (ja) * | 2010-11-26 | 2012-05-31 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像検出装置、放射線撮影装置、及び放射線撮影システム |
| JP2013215480A (ja) * | 2012-04-11 | 2013-10-24 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013240594A (ja) * | 2012-05-21 | 2013-12-05 | General Electric Co <Ge> | イメージング・システム用の線源側監視装置 |
| KR102057033B1 (ko) | 2012-05-21 | 2019-12-18 | 제너럴 일렉트릭 캄파니 | 이미징 시스템을 위한 소스측 모니터링 디바이스 |
| WO2014163187A1 (ja) * | 2013-04-04 | 2014-10-09 | 株式会社 東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2014210180A (ja) * | 2013-04-04 | 2014-11-13 | 株式会社東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| US10182775B2 (en) | 2013-04-04 | 2019-01-22 | Toshiba Medical Systems Corporation | X-ray computed tomography apparatus including a first X-ray detector and a second X-ray detector for counting X-ray photons |
| JP2015107235A (ja) * | 2013-12-05 | 2015-06-11 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2015112475A (ja) * | 2013-12-11 | 2015-06-22 | 株式会社東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置及びリファレンス補正プログラム |
| JP2020179039A (ja) * | 2019-04-26 | 2020-11-05 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 補正用ｘ線検出器及びｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP7309437B2 (ja) | 2019-04-26 | 2023-07-18 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | 補正用ｘ線検出器及びｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
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| Publication number | Publication date |
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