JP4334244B2 - バイプレーンｘ線撮影装置 - Google Patents
バイプレーンｘ線撮影装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4334244B2 JP4334244B2 JP2003035569A JP2003035569A JP4334244B2 JP 4334244 B2 JP4334244 B2 JP 4334244B2 JP 2003035569 A JP2003035569 A JP 2003035569A JP 2003035569 A JP2003035569 A JP 2003035569A JP 4334244 B2 JP4334244 B2 JP 4334244B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image data
- ray
- component
- period
- reading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 53
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 13
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 135
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 48
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 18
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 18
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000007670 refining Methods 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000000747 cardiac effect Effects 0.000 description 1
- 210000000748 cardiovascular system Anatomy 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/40—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4007—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a plurality of source units
- A61B6/4014—Arrangements for generating radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a plurality of source units arranged in multiple source-detector units
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/50—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications
- A61B6/503—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment specially adapted for specific body parts; specially adapted for specific clinical applications for diagnosis of the heart
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Pathology (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、２方向からの撮影を可能とするバイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図２２に示すように、主に循環器系検査のために開発されたバイプレーン型のＸ線撮影装置には、同時に２方向からの撮影を可能にするために、寝台天板状に仰向けに載置された被検体に対して、その正面（フロンタル）から撮影するＸ線管３とＸ線検出器４とを有する正面系撮影系統１と、側面（ラテラル）から撮影するＸ線管５とＸ線検出器６とを有する側面系撮影系統２との２系統の撮影系統が装備されている。
【０００３】
このバイプレーン型のＸ線撮影装置では、正面系撮影系統１のＸ線管３から発生したＸ線は、被検体Ｐを通過して直接的にＸ線検出器４に入射するとともに、側面系撮影系統２のＸ線検出器６には散乱線として入射してしまう。同様に、側面系撮影系統２のＸ線管５から発生したＸ線は、被検体Ｐを通過して直接的にＸ線検出器６に入射するとともに、正面系撮影系統１のＸ線検出器４に散乱線として入射してしまう。
【０００４】
そのため撮影シーケンスでは、図２３、図２４に示すように、まず、正面系のＸ線管３からＸ線発生後に正面系のＸ線検出器４から信号を読み出すと共に、側面系のＸ線検出器６からも信号を読み出して、散乱線入射により発生した電荷を排出するようにしている。データ読み出し後、今度は、側面系のＸ線管５からＸ線を発生し、側面系のＸ線検出器６から信号を読み出すと共に、正面系のＸ線検出器４からも信号を読み出して、散乱線入射により発生した電荷を排出する。
【０００５】
この手順では確かに正面系と側面系とで相互に生じる散乱線の影響を除去することはできるものの、それぞれ単体で見ると、Ｘ線検出器が備える最速駆動能力の２倍の周期でしか撮影できない、換言すると、実効的なフレームレート（単位時間当たりのフレーム数）が最速のときのほぼ１／２に低下してしまう。
【０００６】
また、例えば心臓撮影では、Ｆ側とＬ側とで撮影時間が同時であることが理想的である。しかし、上述したように散乱線の影響を回避するために、一定の周期で正面系と側面系とで交互に撮影が行われているため、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレは無視できない。
【０００７】
【特許文献１】
特開２０００−１０２５２９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、バイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置において、散乱線の影響の軽減と共に、フレームレートの向上及び正面系と側面系との間での撮影時間のズレの短縮を実現することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明のある局面は、第１Ｘ線管と第１Ｘ線検出器とを有する第１Ｘ線撮影系統と、第２Ｘ線管と第２Ｘ線検出器とを有する第２Ｘ線撮影系統と、前記第１Ｘ線管と前記第２Ｘ線管とから交互にＸ線を発生させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第１Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第１画像を読み出させ、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第２Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第２画像を読み出させるとともに、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第１Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第１Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第１散乱線画像を読み出させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第２Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第２Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第２散乱線画像を読み出させるよう前記第１Ｘ線管と前記第１Ｘ線検出器と前記第２Ｘ線管と前記第２Ｘ線検出器とを制御する制御部と、前記第１画像を前記第１散乱線画像により補正し、前記第２画像を前記第２散乱線画像により補正する補正部と、前記補正された第１画像と前記補正された第２画像とを表示する表示部と具備することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明によるバイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置を好ましい実施形態により説明する。
【００１１】
図１は本実施形態に係るバイプレーンＸ線撮影装置の構成を示している。バイプレーンＸ線撮影装置は、複数のＸ線撮影系統、例えば正面系（フロンタル；Ｆ）のＸ線撮影系統と、側面系（ラテラル；Ｌ）のＸ線撮影系統とを備える。正面系のＸ線撮影系統は、Ｘ線管１１と、Ｘ線管１１に被検体Ｐを挟んで正対するＸ線検出器１２とを有している。側面系のＸ線撮影系統は、Ｘ線管２１と、Ｘ線管２１に被検体Ｐを挟んで正対するＸ線検出器２２とを有している。Ｘ線検出器１２，２２は、入射Ｘ線を直接的又は間接的に電荷に変換する複数の検出素子（画素）が２次元状に配列されてなる固体平面検出器である。
【００１２】
正面系のＸ線管１１は例えば床置型のＣアームの一端に取り付けられ、Ｘ線検出器１２はＣアームの他端に取り付けられる。側面系のＸ線管２１は例えば天井吊り下げ型のΩアームの一端に取り付けられ、Ｘ線検出器２２はΩアームの他端に取り付けられる。Ｘ線管１１の焦点からＸ線検出器１２の受像面中心を結ぶ撮影中心軸と、Ｘ線管２１の焦点からＸ線検出器２２の受像面中心を結ぶ撮影中心軸とは、アイソセンタと呼ばれる不動点で交差するように、Ｃアームの支持機構とΩアームの支持機構とが設計されている。
【００１３】
正面系のＸ線管１１にはＦ側Ｘ線制御部１３が接続される。Ｆ側Ｘ線制御部１３は、Ｘ線管１１の陰極と回転陽極との間に高電圧を印加する。またＦ側Ｘ線制御部１３は、Ｘ線管１１の陰極フィラメントに加熱電流を供給する。加熱されたフィラメントから放出される熱電子は、高電圧により加速され回転陽極のターゲットに衝突する。それによりＸ線が発生する。側面系のＸ線管２１にはＬ側Ｘ線制御部２３が接続される。Ｌ側Ｘ線制御部２３は、Ｘ線管２１の陰極と回転陽極との間に高電圧を印加する。またＬ側Ｘ線制御部２３は、Ｘ線管２１の陰極フィラメントに加熱電流を供給する。
【００１４】
正面系のＸ線検出器１２にはＦ側検出器制御部１４が接続される。Ｆ側検出器制御部１４は、Ｆ側Ｘ線検出器１２のデータ読出しを制御する。側面系のＸ線検出器２２にはＬ側検出器制御部２４が接続される。Ｌ側検出器制御部２４は、Ｌ側Ｘ線検出器２２のデータ読出しを制御する。
【００１５】
システムコントローラー３１は、Ｆ側Ｘ線制御部１３、Ｆ側検出器制御部１４、Ｌ側Ｘ線制御部２３、Ｌ側検出器制御部２４を制御して撮像動作を実行するとともに、その撮像動作に同期して記憶部３３、画像処理部３５、表示部３７の各動作を制御する。
【００１６】
図２、図３、図４には、本実施形態による基本的な撮影シーケンスを示している。まず、期間（１）でＦ側Ｘ線管１１からＸ線を発生し、次の期間（２）においてＦ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２から粗い（低空間分解能）画像データを高速で読み出す。期間（２）に続いて、今度は、Ｌ側Ｘ線管２１からＸ線を発生し、次の期間（４）において、Ｆ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２からほぼ同時に粗い画像データを高速で読み出し、またＦ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２からほぼ同時に細かい（高空間分解能）画像データを低速で読み出す。
【００１７】
本実施形態では、このようにＦ側撮影系統とＬ側撮影系統とでそれぞれ３種類の画像データを取得する。この３種類の画像データは異なるパターンで散乱成分と信号成分を含んでいる。３種類の画像データの中の少なくとも２種類の画像データを画像処理に供することで、Ｆ側撮影系統とＬ側撮影系統とでそれぞれ散乱成分が除去され、信号成分のみを含む細かい画像データを生成することを実現している。
【００１８】
上記のように期間（４）に、データ読出しをＦ側とＬ側とで並行して行うことができる。それによりデータ読出しをＬ側とＦ側とでシリアルに行うよりも、サイクル時間を短縮してフレームレートを向上させることができる。また、各画像から散乱成分を除去するためには散乱成分を読み出す必要があるが、本実施形態では、散乱成分の空間周波数が低いことに着目し、低分解能で高速（短時間）に読み出すことにより、この散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響を抑えることができる。さらに、散乱成分を低分解能で高速に読み出すことにより、その期間（２）を短縮して、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレを短縮することができる。
【００１９】
上記撮影シーケンスは基本的な撮影シーケンスであり、Ｘ線検出器の読出方式、Ｘ線検出器の構造、画像処理の方式の様々な組み合わせにより多くのバリエーションがある。周知のとおり、Ｘ線検出器の読出方式には、電荷読出方式と電圧読出方式とがあり、本実施形態ではそのいずれの方式にも適用可能である。また、電圧読出方式では画素容量の電荷はデータ読出し後にも保持され、従って画素容量をリセットするためのフラッシュ動作が必要とされるが、そのフラッシュのタイミングに関して、読出毎フラッシュとフレーム毎フラッシュとがある。また、Ｘ線検出器の構造に関しても、詳細は後述するが、２段構成、一部独立読出構成（１段構成、独立信号線）、一部独立読出構成（１段構成、共通信号線）の３種類から選択的であり、画像処理も、空間補間、再利用再構成、ぼかし、ぼかしのアルゴリズム変形から選択的である。このような様々な組み合わせで撮影シーケンスのバリエーションを整理すると次の通りである。
【００２０】
（１−１）電荷読出方式＋２段構成
（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成
（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成
（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし
（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし
（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかし
（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形
（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形
（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形 以下、上記バリエーションについて順番に説明する。
（１−１）電荷読出方式＋２段構成
Ｘ線検出器１２，２２には、Ｘ線照射により発生した電荷を電流信号として読み出す電荷読出し方式が採用される。電荷読出し方式では、データ読み出しにより、画素容量から電荷が排出され、結果的に画素容量はリセットされる。
【００２１】
図５には、正面系のＸ線検出器１２の構成を示している。側面系のＸ線検出器２２の構成は、正面系のＸ線検出器１２の構成と同じであるので、説明を省略する。Ｘ線検出器１２のガラス基板４１上には、画素配列層４３，４５が２段に重ねられる。第１層４５は、複数の検出素子４７が配列された通常のＴＦＴ構造を有する。第２層４３は、第１層４５とガラス基板４１との間に配置される。第２層４３を構成する検出素子４９の数（画素数）は、第１層４５を構成する検出素子４７の数（画素数）より少ないが、第２層４３を構成する検出素子４９の画素電極の面積は、第１層４５を構成する検出素子４７のそれよりも大きい。第２層４３を構成する検出素子４９は、第１層４５の検出素子４７の配列範囲と同じ大きさの範囲に配列されている。第２層４３には、第１層４５を透過したＸ線が入射する。第２層４３が第１層４５より画素数が少ないので、第２層４３の全画素のデータ読出しは第１層４５のそれより、高速で、つまり短時間で完了する。
【００２２】
なお、図６に示すように、第２層４３の各検出素子５０の受光面は、第１層４５の各検出素子４７の受光面と略等価であって、検出素子４７の配列範囲と同じ範囲に離散的に検出素子４９が配列される構造であっても良い。また、図７に示すように、ガラス基板４１の表面に第１層４５が形成され、ガラス基板４１の裏面に第２層４３が形成される構造であっても良い。さらに、図８に示すように、ガラス基板４１−１に第１層４５が形成され、他のガラス基板４１−２に第２層４３が形成され、貼り合わされる構造であっても良い。
【００２３】
図９に、（電荷読出方式＋２段構成）方式における１サイクル分の撮影シーケンスを示している。まず、期間（１）において、Ｆ側Ｘ線管１１からＸ線が発生される。期間（１）では、Ｆ側Ｘ線管１１からの直接Ｘ線が被検体を透過してＦ側Ｘ線検出器１２の第１、第２層４５，４３で信号成分として検出される。また、期間（１）では、Ｆ側Ｘ線管１１からのＸ線が被検体内で散乱することにより生じる散乱線が、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１、第２層で散乱成分として検出される。
【００２４】
続いて、期間（２）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３から粗い画像データＳ１１が高速に読み出される。画像データＳ１１は、Ｆ側からの直接Ｘ線（信号成分）のみを含んでいる。これを便宜上、（Ｆ信粗）と表記する。また、期間（２）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３からの粗い画像データＳ１１の読み出しと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２１が高速に読み出される。画像データＳ２１は、Ｆ側Ｘ線管１１からＸ線の散乱線に由来する散乱成分のみを含んでいる。これを便宜上、（Ｆ散粗）と表記する。
【００２５】
Ｆ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層からの画像データＳ１１、Ｓ２１の読出し完了後、期間（３）において、今度は、Ｌ側Ｘ線管２１からＸ線が発生される。期間（３）では、Ｌ側Ｘ線管２１からのＸ線に由来する散乱線がＦ側Ｘ線検出器１２の第１、第２層４５，４３で検出される。また、期間（３）では、Ｌ側Ｘ線管２１からの直接Ｘ線がＸ線が被検体を透過してＬ側Ｘ線検出器２２の第１、第２層で検出される。
【００２６】
続いて、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３から粗い画像データＳ１２が高速に読み出される。電荷読出方式では読み出した電荷は保持されないので、期間（４）に読み出す画像データＳ１２は、期間（１）の蓄積電荷を反映せず、期間（３）に蓄積したＬ側からのＸ線に由来する散乱成分のみを示している。これを便宜上、（Ｌ散粗）と表記する。
【００２７】
また、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３からの粗い画像データＳ１２の読み出しと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２２が高速に読み出される。期間（４）に読み出す画像データＳ２２は、期間（１）の蓄積電荷を反映しないので、期間（３）に蓄積したＬ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを有する。これを便宜上、（Ｌ信粗）と表記する。
【００２８】
さらに、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層４５から細かい画像データＳ１３が低速で読み出される。期間（４）に第１層４５から読み出す画像データＳ１３は、期間（１）及び期間（３）の蓄積電荷を反映しているので、期間（１）に蓄積したＦ側からの直接Ｘ線を表す信号成分と、期間（３）に蓄積したＬ側からのＸ線に由来する散乱成分とを含んでいる。これを便宜上、（（Ｆ信細）（Ｌ散細））と表記する。
【００２９】
また、期間（４）に、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層から細かい画像データＳ２３が低速で読み出される。期間（４）に第１層から読み出す画像データＳ２３は、期間（１）及び期間（３）の蓄積電荷を反映しているので、期間（１）に蓄積したＦ側からのＸ線に由来する散乱成分と、Ｌ側からの直接Ｘ線に関する信号成分とを含んでいる。これを便宜上、（（Ｆ散細）（Ｌ信細））と表記する。
【００３０】
この第１、第２層を有する当該２段構成では、図９では、便宜上、期間（４）において第１層からのデータ読出しと、第２層からのデータ読出しとが順番に行われるように記載されているが、実際には、第１層からのデータ読出しと、第２層からのデータ読出しと並行して行われる。
【００３１】
次に、このようなシーケンスで得られた画像データに対する画像処理について説明する。まず、Ｆ側に関して、細かい画像データＳ１３は、信号成分と散乱成分とを含んでいるので、散乱成分を除去する必要がある。この散乱成分は、画像データＳ１２が保有している。ここで散乱成分は空間周波数が信号成分のそれより低く、低分解能の画像データでも充分捕捉できる。散乱成分に関する低分解能の画像データＳ１２をまず画像データＳ１３のそれと同じ高分解能に変換し（ファイン化）、その高分解能に変換した散乱成分に関する画像データＳ１２と、細かい画像データＳ１３とを差分することで、散乱成分が除去されたＬ側の細かい画像データを生成することができる。
【００３２】
同様に、Ｌ側に関しても、高分解能で収集した画像データＳ２３にも、Ｆ側Ｘ線管１１からのＸ線に由来する散乱成分が含まれている。この散乱成分は、画像データＳ２１が保有している。画像データＳ２１を画像データＳ２３のそれと同じ高い分解能に変換し、その高分解能に変換した散乱成分に関する画像データＳ２３と、画像データＳ２３とを差分することで、散乱成分が除去された高分解能の画像データＳ２４を生成することができる。
【００３３】
以上のように本実施形態では、データ読出しをＦ側とＬ側とで並行して行うことができる。それによりデータ読出しをＬ側とＦ側とでシリアルに行うよりも、サイクル時間を短縮してフレームレートを向上させることができる。また、各画像から散乱成分を除去するためには散乱成分を読み出す必要があるが、本実施形態では、散乱成分の空間分解能が低いことに着目し、低分解能で高速（短時間）に読み出すことにより、この散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響を抑えることができる。さらに、散乱成分を低分解能で高速に読み出すことにより、その期間（２）を短縮して、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレを短縮することができる。
【００３４】
（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間 上述した２段構成では、画素が粗く配列された第２層が細かく画素が配列された第１層と別々の層で設けられている。それに対して、一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成を有するＸ線検出器では、画素配列層は１段であり、その一部の画素を特定の画素として他の画素と区別し、上記期間（２）、（４）において特定画素から粗い画像データを読み出し、上記期間（４）において他の画素から細かい画像データを読み出すように構成される。
【００３５】
図１０には、一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成を有するＸ線検出器を示している。斜線で示す画素５２が、粗い画像データの読出しために割り当てられた特定画素であり、他の画素５１が、細かい画像データの読出しために割り当てられた画素である。特定画素５２は、その数が、画素５１より少なく、縦方向及び横方向に関してそれぞれ所定の数の画素５１を挟んで離散的に分散している。特定の画素５２には、他の画素５１のゲート線５３とは、独立して駆動可能なゲート線５４が接続される。また特定の画素５２には、他の画素５１の信号線５５とは、独立した信号線５６が接続される。高速読出し時には、特定画素５２に接続されたゲート線５４が順番に活性化され、特定画素５２に接続された信号線５６を経由して順番にデータが読み出される。
【００３６】
図９の期間（２）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から粗い画像データＳ１１が高速に読み出され、またそれと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から粗い画像データＳ２１が高速に読み出される。また、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から粗い画像データＳ１２が高速に読み出され、それと並行してＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から粗い画像データＳ２２が高速に読み出される。同じ期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の他の画素５１から細かい画像データＳ１３が低速で読み出され、それと並行してＬ側Ｘ線検出器２２の他の画素５１から細かい画像データＳ２３が低速で読み出される。
【００３７】
この一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成では、図９では、便宜上、期間（４）において特定画素５２からのデータ読出しと、他の画素５１からのデータ読出しとが順番に行われるように記載されているが、実際には、並行して行われる。
【００３８】
Ｆ側に関して、細かい画像データＳ１３から散乱成分を除去するために、散乱成分に関する粗い画像データＳ１２をまず画像データＳ１３のそれと同じ高分解能に変換し（ファイン化）、その高分解能に変換した散乱成分のみを有する細かい画像データＳ１２を、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することで、信号成分のみを含む細かい画像データを生成することができる。ここで、当該一部独立読出構成では、一部の画素を特定画素５２に適用しているため、画像データＳ１３の特定画素５２では、信号欠落を起こしている。そのため差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３を空間的に補間することにより、信号欠落を起こした特定画素のデータを埋める。
【００３９】
同様に、Ｌ側の画像に関して、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から散乱成分を除去するために、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１をまず画像データＳ２３のそれと同じ高分解能に変換し、その高分解能に変換した散乱成分のみを含む画像データＳ２１を、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することで、散乱成分を除去し、信号成分のみを含む細かい画像データを生成する。差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３を空間的に補間することにより、信号欠落を起こした特定画素のデータを埋める。
【００４０】
本方式においても、フレームレートの向上、散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響の抑制、さらに、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレの短縮を図ることができる。
【００４１】
（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間 上述した一部独立読出において、図１１に示すように、信号線５５を特定画素５２と他の画素５１とで共通化してもよい。特定画素５２のゲート線５４は他の画素５１のゲート線５３と別に独立して形成されている。散乱成分除去のための画像処理については（１−２）で説明した画像処理と等価であるので説明は省略する。
【００４２】
本方式においては、従来に対して、フレームレートの向上、散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響の抑制、さらに、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレの短縮を図ることができる。
【００４３】
なお、当該方式（１−３）では、図１２に示すように、ライン単位で特定画素５２を割り当てても良い。所定の本数のゲート線５３を挟んで縦方向に離散的に特定のゲート線５４を割り当てる。この特定のゲート線５４に共通接続された同じライン上の複数画素が特定画素５２として粗い画素データの読出しに用いられる。粗い画素データＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２の読出しに際しては、特定のゲート線５４を対象に順番に活性化し、各ゲート線５４の活性化期間に全ての信号線５５から順番にデータを読み出す。この例では従来の検出器構成をそのまま流用することができる。
【００４４】
（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
この方式では、画像処理に関してのみ上記（１−２）の方式と相違する。上記（１−２）の方式では、信号欠落を起こす特定画素のデータを空間補間により埋めている。それに対して本方式では、図１３に示すように、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋めるというものである。
【００４５】
画像データＳ１１は、散乱成分を含まず、Ｆ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを含んでいるので、信号成分のみからなる細かい画像データを生成できる。同様に、画像データＳ２２は、散乱成分を含まず、Ｌ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを含んでいるので、信号成分のみからなる細かい画像データを生成できる。
【００４６】
（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
この方式では、画像処理に関してのみ上記（１−３）の方式と相違する。 画像処理に関しては、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００４７】
（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成
電圧読出し方式では、電荷読出し方式と異なり、読出し後でも画素容量に電荷を保持する。そのため、図１４に示すように、期間（２）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層から粗い画像データＳ１２を読み出した後、期間（３）でＬ側からＸ線を発生する前に、第２層の画素容量の電荷をリセットする動作（フラッシュ）が必要とされる。このリセットにより、画像データＳ１２への信号成分の混入を防止し、散乱成分だけを反映させることができる。
【００４８】
同様に、期間（２）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２２を読み出した後、期間（３）でＬ側からＸ線を発生する前に、第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、画像データＳ２２への散乱成分の混入を防止し、信号成分だけを反映させることができる。
【００４９】
また、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層及び第２層から画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、次のサイクルへの電荷持ち越しを防止できる。同様に、期間（４）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層及び第２層から画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、次のサイクルへの電荷持ち越しを防止できる。
画像処理に関しては、（１−１）の画像処理と等価である。
【００５０】
（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
上述のように電圧読出し方式では電荷保持されることからフラッシュが必要とされたが、これは上記（１−２）の電荷読出方式を電圧読出し方式に代えた場合でも同様であり、まずＦ側では、期間（２）において画像データＳ１１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。Ｌ側でも同様に、期間（２）において画像データＳ２１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。
【００５１】
画像処理に関しては、（１−２）の画像処理と等価であり、Ｆ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。同様に、Ｌ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。
【００５２】
（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
上述のように電圧読出し方式では電荷保持されることからフラッシュが必要とされたが、これは上記（１−３）の電荷読出方式を電圧読出し方式に代えた場合でも同様であり、まずＦ側では、期間（２）において画像データＳ１１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットし、同様にＬ側でも、期間（２）において画像データＳ２１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。
【００５３】
画像処理に関しては、（１−３）の画像処理と等価であり、Ｆ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。同様に、Ｌ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。
【００５４】
（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
本方式は、上記（３−２）に対して画像処理のみ相違する。図１５に示すように、画像処理は、空間補間ではなく、再利用再構成を使用する。つまり、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００５５】
（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
本方式は、上記（３−３）に対して画像処理のみ相違する。図１５に示すように、画像処理は、再利用再構成を使用する。つまり、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００５６】
（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成
本方式は、上記（３−１）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理に関して相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。一方、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層及び第２層から画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする。同様に、期間（４）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層及び第２層から画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする。
【００５７】
期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしないので、期間（４）で読み出す粗い画像データＳ１２、Ｓ２２は、信号成分と散乱成分とを含んでいる。画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分のみを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により生成した散乱成分のみを含む画像データＳ１２をファイン化してから、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データを生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−１）と等価である。
【００５８】
（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
方式は、上記（３−２）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理について相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、方式（５−１）と同様に、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により生成された散乱成分のみを含む画像データをファイン化してから、画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成する。この散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、特定画素のデータを埋める。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−２）と等価である。
【００５９】
（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
方式は、上記（３−３）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理について相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、方式（５−１）と同様に、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。（５−１）と同様に、画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により散乱成分のみを含む画像データをファイン化してから、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成する。この散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、特定画素のデータを埋める。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−３）と等価である。
【００６０】
（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし
方式は、上記（５−１）に対して画像処理について相違する。上記（５−１）では、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分することで、信号成分を含まず、散乱成分を含む画像データを生成している。それに対して本方式（６−１）では、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能に低下させる（ぼかす）。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−１）と等価である。
【００６１】
（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし
方式は、上記（５−２）に対して画像処理について相違する。本方式（６−２）では、上記（６−１）と同様に、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能にぼかす。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−２）と等価である。
【００６２】
（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかし
方式は、上記（５−３）に対して画像処理について相違する。本方式（６−３）では、上記（６−１）と同様に、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能にぼかす。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−３）と等価である。
【００６３】
（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−１）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−１）では、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理によりぼかした粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分する。それに対して本方式（７−１）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６４】
（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−２）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−２）とは、ファイン化と差分との順番が逆転する。つまり、本方式（７−２）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６５】
（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−３）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−３）とは、ファイン化と差分との順番が逆転する。つまり、本方式（７−３）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６６】
（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
方式は、上記（５−２）に対して空間補間に代えて再利用再構成を用いる点で相違する。上記（５−２）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、欠落していた特定画素のデータを埋めるものである。本方式（８−１）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３の欠落していた特定画素のデータを、期間（２）に読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１により埋めるものである。
【００６７】
Ｌ側に関しては、欠落補充のために用いる信号成分のみを含む粗い画像データを、期間（４）に読み出した散乱成分と信号成分とを含む粗い画像データＳ２２から、期間（２）に読み出した散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより生成する。この生成した信号成分のみを含む粗い画像データにより、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ２３の欠落していた特定画素のデータを埋める。
【００６８】
（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
方式は、上記（５−３）に対して空間補間に代えて再利用再構成を用いる点で相違する。上記（５−３）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、欠落していた特定画素のデータを埋めるものである。本方式（８−２）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３の欠落していた特定画素のデータを、期間（２）に読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１により埋めるものである。
【００６９】
Ｌ側に関しては、欠落補充のために用いる信号成分のみを含む粗い画像データを、期間（４）に読み出した散乱成分と信号成分とを含む粗い画像データＳ２２から、期間（２）に読み出した散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより生成する。この生成した信号成分のみを含む粗い画像データにより、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ２３の欠落していた特定画素のデータを埋める。
【００７０】
（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
本方式は、上記（８−１）に対して次の点で相違する。つまり、上記（８−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１と、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ１２との差分により散乱線のみを含む粗い画像データを生成し、それをファイン化することにより生成するものである。本方式（９−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７１】
Ｌ側に関しても同様で、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ２３から、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７２】
（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
本方式は、上記（８−２）に対して次の点で相違する。つまり、上記（８−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１と、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ１２との差分により散乱線のみを含む粗い画像データを生成し、それをファイン化することにより生成するものである。本方式（９−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７３】
Ｌ側に関しても同様で、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ２３から、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７４】
（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
本方式は、上記（９−１）に対して次の点で相違する。つまり、上記（９−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７５】
それに対して本方式（１０−１）では、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７６】
Ｌ側に関しても同様で、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７７】
（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしアルゴリズム変形
本方式は、上記（９−２）に対して次の点で相違する。つまり、上記（９−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７８】
それに対して本方式（１０−２）では、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７９】
Ｌ側に関しても同様で、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００８０】
（変形例）
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。
【００８１】
【発明の効果】
本発明によれば、バイプレーン型のＸ線撮影装置において、散乱線の影響を軽減し且つフレームレートを向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るＸ線撮影装置の構成図。
【図２】本実施形態において、基本的な撮影シーケンスを示す図。
【図３】図２の補足図。
【図４】図２の各期間の一例を示す図。
【図５】図１のＸ線検出器の２段構成の例を示す図。
【図６】図１のＸ線検出器の２段構成の他の例を示す図。
【図７】図１のＸ線検出器の２段構成のさらに他の例を示す図。
【図８】図１のＸ線検出器の２段構成のさらに他の例を示す図。
【図９】本実施形態において、方式（１−１）電荷読出方式＋２段構成、（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１０】図１のＸ線検出器の１段構成（独立信号線）の例を示す図。
【図１１】図１のＸ線検出器の１段構成（共通信号線）の例を示す図。
【図１２】図１のＸ線検出器の１段構成（共通信号線）の他の例を示す図。
【図１３】本実施形態において、方式（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１４】本実施形態において、方式（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成、（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１５】本実施形態において、方式（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１６】本実施形態において、方式（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成、（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１７】本実施形態において、方式（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし、（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし、（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしに関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１８】本実施形態において、方式（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形、（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形、（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１９】本実施形態において、方式（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２０】本実施形態において、方式（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし、（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしに関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２１】本実施形態において、方式（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形、（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２２】散乱線が他方の側の検出器に入射する様子を示す模式図。
【図２３】従来の撮影シーケンスを示す図。
【図２４】図２３の補足図。
【符号の説明】
１１…正面系のＸ線管、
１２…正面系のＸ線検出器、
１３…正面系のＸ線制御部、
１４…正面系の検出器制御部、
２１…側面系のＸ線管、
２２…側面系のＸ線検出器、
２３…側面系のＸ線制御部、
２４…側面系の検出器制御部、
３１…システムコントローラー、
３３…記憶部、
３５…画像処理部、
３７…表示部。
【発明の属する技術分野】
本発明は、２方向からの撮影を可能とするバイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図２２に示すように、主に循環器系検査のために開発されたバイプレーン型のＸ線撮影装置には、同時に２方向からの撮影を可能にするために、寝台天板状に仰向けに載置された被検体に対して、その正面（フロンタル）から撮影するＸ線管３とＸ線検出器４とを有する正面系撮影系統１と、側面（ラテラル）から撮影するＸ線管５とＸ線検出器６とを有する側面系撮影系統２との２系統の撮影系統が装備されている。
【０００３】
このバイプレーン型のＸ線撮影装置では、正面系撮影系統１のＸ線管３から発生したＸ線は、被検体Ｐを通過して直接的にＸ線検出器４に入射するとともに、側面系撮影系統２のＸ線検出器６には散乱線として入射してしまう。同様に、側面系撮影系統２のＸ線管５から発生したＸ線は、被検体Ｐを通過して直接的にＸ線検出器６に入射するとともに、正面系撮影系統１のＸ線検出器４に散乱線として入射してしまう。
【０００４】
そのため撮影シーケンスでは、図２３、図２４に示すように、まず、正面系のＸ線管３からＸ線発生後に正面系のＸ線検出器４から信号を読み出すと共に、側面系のＸ線検出器６からも信号を読み出して、散乱線入射により発生した電荷を排出するようにしている。データ読み出し後、今度は、側面系のＸ線管５からＸ線を発生し、側面系のＸ線検出器６から信号を読み出すと共に、正面系のＸ線検出器４からも信号を読み出して、散乱線入射により発生した電荷を排出する。
【０００５】
この手順では確かに正面系と側面系とで相互に生じる散乱線の影響を除去することはできるものの、それぞれ単体で見ると、Ｘ線検出器が備える最速駆動能力の２倍の周期でしか撮影できない、換言すると、実効的なフレームレート（単位時間当たりのフレーム数）が最速のときのほぼ１／２に低下してしまう。
【０００６】
また、例えば心臓撮影では、Ｆ側とＬ側とで撮影時間が同時であることが理想的である。しかし、上述したように散乱線の影響を回避するために、一定の周期で正面系と側面系とで交互に撮影が行われているため、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレは無視できない。
【０００７】
【特許文献１】
特開２０００−１０２５２９号公報
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、バイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置において、散乱線の影響の軽減と共に、フレームレートの向上及び正面系と側面系との間での撮影時間のズレの短縮を実現することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】
本発明のある局面は、第１Ｘ線管と第１Ｘ線検出器とを有する第１Ｘ線撮影系統と、第２Ｘ線管と第２Ｘ線検出器とを有する第２Ｘ線撮影系統と、前記第１Ｘ線管と前記第２Ｘ線管とから交互にＸ線を発生させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第１Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第１画像を読み出させ、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第２Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第２画像を読み出させるとともに、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第１Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第１Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第１散乱線画像を読み出させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第２Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第２Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第２散乱線画像を読み出させるよう前記第１Ｘ線管と前記第１Ｘ線検出器と前記第２Ｘ線管と前記第２Ｘ線検出器とを制御する制御部と、前記第１画像を前記第１散乱線画像により補正し、前記第２画像を前記第２散乱線画像により補正する補正部と、前記補正された第１画像と前記補正された第２画像とを表示する表示部と具備することを特徴とする。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明によるバイプレーンＸ線撮影方法及びバイプレーンＸ線撮影装置を好ましい実施形態により説明する。
【００１１】
図１は本実施形態に係るバイプレーンＸ線撮影装置の構成を示している。バイプレーンＸ線撮影装置は、複数のＸ線撮影系統、例えば正面系（フロンタル；Ｆ）のＸ線撮影系統と、側面系（ラテラル；Ｌ）のＸ線撮影系統とを備える。正面系のＸ線撮影系統は、Ｘ線管１１と、Ｘ線管１１に被検体Ｐを挟んで正対するＸ線検出器１２とを有している。側面系のＸ線撮影系統は、Ｘ線管２１と、Ｘ線管２１に被検体Ｐを挟んで正対するＸ線検出器２２とを有している。Ｘ線検出器１２，２２は、入射Ｘ線を直接的又は間接的に電荷に変換する複数の検出素子（画素）が２次元状に配列されてなる固体平面検出器である。
【００１２】
正面系のＸ線管１１は例えば床置型のＣアームの一端に取り付けられ、Ｘ線検出器１２はＣアームの他端に取り付けられる。側面系のＸ線管２１は例えば天井吊り下げ型のΩアームの一端に取り付けられ、Ｘ線検出器２２はΩアームの他端に取り付けられる。Ｘ線管１１の焦点からＸ線検出器１２の受像面中心を結ぶ撮影中心軸と、Ｘ線管２１の焦点からＸ線検出器２２の受像面中心を結ぶ撮影中心軸とは、アイソセンタと呼ばれる不動点で交差するように、Ｃアームの支持機構とΩアームの支持機構とが設計されている。
【００１３】
正面系のＸ線管１１にはＦ側Ｘ線制御部１３が接続される。Ｆ側Ｘ線制御部１３は、Ｘ線管１１の陰極と回転陽極との間に高電圧を印加する。またＦ側Ｘ線制御部１３は、Ｘ線管１１の陰極フィラメントに加熱電流を供給する。加熱されたフィラメントから放出される熱電子は、高電圧により加速され回転陽極のターゲットに衝突する。それによりＸ線が発生する。側面系のＸ線管２１にはＬ側Ｘ線制御部２３が接続される。Ｌ側Ｘ線制御部２３は、Ｘ線管２１の陰極と回転陽極との間に高電圧を印加する。またＬ側Ｘ線制御部２３は、Ｘ線管２１の陰極フィラメントに加熱電流を供給する。
【００１４】
正面系のＸ線検出器１２にはＦ側検出器制御部１４が接続される。Ｆ側検出器制御部１４は、Ｆ側Ｘ線検出器１２のデータ読出しを制御する。側面系のＸ線検出器２２にはＬ側検出器制御部２４が接続される。Ｌ側検出器制御部２４は、Ｌ側Ｘ線検出器２２のデータ読出しを制御する。
【００１５】
システムコントローラー３１は、Ｆ側Ｘ線制御部１３、Ｆ側検出器制御部１４、Ｌ側Ｘ線制御部２３、Ｌ側検出器制御部２４を制御して撮像動作を実行するとともに、その撮像動作に同期して記憶部３３、画像処理部３５、表示部３７の各動作を制御する。
【００１６】
図２、図３、図４には、本実施形態による基本的な撮影シーケンスを示している。まず、期間（１）でＦ側Ｘ線管１１からＸ線を発生し、次の期間（２）においてＦ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２から粗い（低空間分解能）画像データを高速で読み出す。期間（２）に続いて、今度は、Ｌ側Ｘ線管２１からＸ線を発生し、次の期間（４）において、Ｆ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２からほぼ同時に粗い画像データを高速で読み出し、またＦ側とＬ側の両方のＸ線検出器１２，２２からほぼ同時に細かい（高空間分解能）画像データを低速で読み出す。
【００１７】
本実施形態では、このようにＦ側撮影系統とＬ側撮影系統とでそれぞれ３種類の画像データを取得する。この３種類の画像データは異なるパターンで散乱成分と信号成分を含んでいる。３種類の画像データの中の少なくとも２種類の画像データを画像処理に供することで、Ｆ側撮影系統とＬ側撮影系統とでそれぞれ散乱成分が除去され、信号成分のみを含む細かい画像データを生成することを実現している。
【００１８】
上記のように期間（４）に、データ読出しをＦ側とＬ側とで並行して行うことができる。それによりデータ読出しをＬ側とＦ側とでシリアルに行うよりも、サイクル時間を短縮してフレームレートを向上させることができる。また、各画像から散乱成分を除去するためには散乱成分を読み出す必要があるが、本実施形態では、散乱成分の空間周波数が低いことに着目し、低分解能で高速（短時間）に読み出すことにより、この散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響を抑えることができる。さらに、散乱成分を低分解能で高速に読み出すことにより、その期間（２）を短縮して、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレを短縮することができる。
【００１９】
上記撮影シーケンスは基本的な撮影シーケンスであり、Ｘ線検出器の読出方式、Ｘ線検出器の構造、画像処理の方式の様々な組み合わせにより多くのバリエーションがある。周知のとおり、Ｘ線検出器の読出方式には、電荷読出方式と電圧読出方式とがあり、本実施形態ではそのいずれの方式にも適用可能である。また、電圧読出方式では画素容量の電荷はデータ読出し後にも保持され、従って画素容量をリセットするためのフラッシュ動作が必要とされるが、そのフラッシュのタイミングに関して、読出毎フラッシュとフレーム毎フラッシュとがある。また、Ｘ線検出器の構造に関しても、詳細は後述するが、２段構成、一部独立読出構成（１段構成、独立信号線）、一部独立読出構成（１段構成、共通信号線）の３種類から選択的であり、画像処理も、空間補間、再利用再構成、ぼかし、ぼかしのアルゴリズム変形から選択的である。このような様々な組み合わせで撮影シーケンスのバリエーションを整理すると次の通りである。
【００２０】
（１−１）電荷読出方式＋２段構成
（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成
（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成
（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし
（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし
（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかし
（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形
（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形
（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形 以下、上記バリエーションについて順番に説明する。
（１−１）電荷読出方式＋２段構成
Ｘ線検出器１２，２２には、Ｘ線照射により発生した電荷を電流信号として読み出す電荷読出し方式が採用される。電荷読出し方式では、データ読み出しにより、画素容量から電荷が排出され、結果的に画素容量はリセットされる。
【００２１】
図５には、正面系のＸ線検出器１２の構成を示している。側面系のＸ線検出器２２の構成は、正面系のＸ線検出器１２の構成と同じであるので、説明を省略する。Ｘ線検出器１２のガラス基板４１上には、画素配列層４３，４５が２段に重ねられる。第１層４５は、複数の検出素子４７が配列された通常のＴＦＴ構造を有する。第２層４３は、第１層４５とガラス基板４１との間に配置される。第２層４３を構成する検出素子４９の数（画素数）は、第１層４５を構成する検出素子４７の数（画素数）より少ないが、第２層４３を構成する検出素子４９の画素電極の面積は、第１層４５を構成する検出素子４７のそれよりも大きい。第２層４３を構成する検出素子４９は、第１層４５の検出素子４７の配列範囲と同じ大きさの範囲に配列されている。第２層４３には、第１層４５を透過したＸ線が入射する。第２層４３が第１層４５より画素数が少ないので、第２層４３の全画素のデータ読出しは第１層４５のそれより、高速で、つまり短時間で完了する。
【００２２】
なお、図６に示すように、第２層４３の各検出素子５０の受光面は、第１層４５の各検出素子４７の受光面と略等価であって、検出素子４７の配列範囲と同じ範囲に離散的に検出素子４９が配列される構造であっても良い。また、図７に示すように、ガラス基板４１の表面に第１層４５が形成され、ガラス基板４１の裏面に第２層４３が形成される構造であっても良い。さらに、図８に示すように、ガラス基板４１−１に第１層４５が形成され、他のガラス基板４１−２に第２層４３が形成され、貼り合わされる構造であっても良い。
【００２３】
図９に、（電荷読出方式＋２段構成）方式における１サイクル分の撮影シーケンスを示している。まず、期間（１）において、Ｆ側Ｘ線管１１からＸ線が発生される。期間（１）では、Ｆ側Ｘ線管１１からの直接Ｘ線が被検体を透過してＦ側Ｘ線検出器１２の第１、第２層４５，４３で信号成分として検出される。また、期間（１）では、Ｆ側Ｘ線管１１からのＸ線が被検体内で散乱することにより生じる散乱線が、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１、第２層で散乱成分として検出される。
【００２４】
続いて、期間（２）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３から粗い画像データＳ１１が高速に読み出される。画像データＳ１１は、Ｆ側からの直接Ｘ線（信号成分）のみを含んでいる。これを便宜上、（Ｆ信粗）と表記する。また、期間（２）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３からの粗い画像データＳ１１の読み出しと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２１が高速に読み出される。画像データＳ２１は、Ｆ側Ｘ線管１１からＸ線の散乱線に由来する散乱成分のみを含んでいる。これを便宜上、（Ｆ散粗）と表記する。
【００２５】
Ｆ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層からの画像データＳ１１、Ｓ２１の読出し完了後、期間（３）において、今度は、Ｌ側Ｘ線管２１からＸ線が発生される。期間（３）では、Ｌ側Ｘ線管２１からのＸ線に由来する散乱線がＦ側Ｘ線検出器１２の第１、第２層４５，４３で検出される。また、期間（３）では、Ｌ側Ｘ線管２１からの直接Ｘ線がＸ線が被検体を透過してＬ側Ｘ線検出器２２の第１、第２層で検出される。
【００２６】
続いて、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３から粗い画像データＳ１２が高速に読み出される。電荷読出方式では読み出した電荷は保持されないので、期間（４）に読み出す画像データＳ１２は、期間（１）の蓄積電荷を反映せず、期間（３）に蓄積したＬ側からのＸ線に由来する散乱成分のみを示している。これを便宜上、（Ｌ散粗）と表記する。
【００２７】
また、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層４３からの粗い画像データＳ１２の読み出しと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２２が高速に読み出される。期間（４）に読み出す画像データＳ２２は、期間（１）の蓄積電荷を反映しないので、期間（３）に蓄積したＬ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを有する。これを便宜上、（Ｌ信粗）と表記する。
【００２８】
さらに、期間（４）に、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層４５から細かい画像データＳ１３が低速で読み出される。期間（４）に第１層４５から読み出す画像データＳ１３は、期間（１）及び期間（３）の蓄積電荷を反映しているので、期間（１）に蓄積したＦ側からの直接Ｘ線を表す信号成分と、期間（３）に蓄積したＬ側からのＸ線に由来する散乱成分とを含んでいる。これを便宜上、（（Ｆ信細）（Ｌ散細））と表記する。
【００２９】
また、期間（４）に、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層から細かい画像データＳ２３が低速で読み出される。期間（４）に第１層から読み出す画像データＳ２３は、期間（１）及び期間（３）の蓄積電荷を反映しているので、期間（１）に蓄積したＦ側からのＸ線に由来する散乱成分と、Ｌ側からの直接Ｘ線に関する信号成分とを含んでいる。これを便宜上、（（Ｆ散細）（Ｌ信細））と表記する。
【００３０】
この第１、第２層を有する当該２段構成では、図９では、便宜上、期間（４）において第１層からのデータ読出しと、第２層からのデータ読出しとが順番に行われるように記載されているが、実際には、第１層からのデータ読出しと、第２層からのデータ読出しと並行して行われる。
【００３１】
次に、このようなシーケンスで得られた画像データに対する画像処理について説明する。まず、Ｆ側に関して、細かい画像データＳ１３は、信号成分と散乱成分とを含んでいるので、散乱成分を除去する必要がある。この散乱成分は、画像データＳ１２が保有している。ここで散乱成分は空間周波数が信号成分のそれより低く、低分解能の画像データでも充分捕捉できる。散乱成分に関する低分解能の画像データＳ１２をまず画像データＳ１３のそれと同じ高分解能に変換し（ファイン化）、その高分解能に変換した散乱成分に関する画像データＳ１２と、細かい画像データＳ１３とを差分することで、散乱成分が除去されたＬ側の細かい画像データを生成することができる。
【００３２】
同様に、Ｌ側に関しても、高分解能で収集した画像データＳ２３にも、Ｆ側Ｘ線管１１からのＸ線に由来する散乱成分が含まれている。この散乱成分は、画像データＳ２１が保有している。画像データＳ２１を画像データＳ２３のそれと同じ高い分解能に変換し、その高分解能に変換した散乱成分に関する画像データＳ２３と、画像データＳ２３とを差分することで、散乱成分が除去された高分解能の画像データＳ２４を生成することができる。
【００３３】
以上のように本実施形態では、データ読出しをＦ側とＬ側とで並行して行うことができる。それによりデータ読出しをＬ側とＦ側とでシリアルに行うよりも、サイクル時間を短縮してフレームレートを向上させることができる。また、各画像から散乱成分を除去するためには散乱成分を読み出す必要があるが、本実施形態では、散乱成分の空間分解能が低いことに着目し、低分解能で高速（短時間）に読み出すことにより、この散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響を抑えることができる。さらに、散乱成分を低分解能で高速に読み出すことにより、その期間（２）を短縮して、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレを短縮することができる。
【００３４】
（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間 上述した２段構成では、画素が粗く配列された第２層が細かく画素が配列された第１層と別々の層で設けられている。それに対して、一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成を有するＸ線検出器では、画素配列層は１段であり、その一部の画素を特定の画素として他の画素と区別し、上記期間（２）、（４）において特定画素から粗い画像データを読み出し、上記期間（４）において他の画素から細かい画像データを読み出すように構成される。
【００３５】
図１０には、一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成を有するＸ線検出器を示している。斜線で示す画素５２が、粗い画像データの読出しために割り当てられた特定画素であり、他の画素５１が、細かい画像データの読出しために割り当てられた画素である。特定画素５２は、その数が、画素５１より少なく、縦方向及び横方向に関してそれぞれ所定の数の画素５１を挟んで離散的に分散している。特定の画素５２には、他の画素５１のゲート線５３とは、独立して駆動可能なゲート線５４が接続される。また特定の画素５２には、他の画素５１の信号線５５とは、独立した信号線５６が接続される。高速読出し時には、特定画素５２に接続されたゲート線５４が順番に活性化され、特定画素５２に接続された信号線５６を経由して順番にデータが読み出される。
【００３６】
図９の期間（２）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から粗い画像データＳ１１が高速に読み出され、またそれと並行して、Ｌ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から粗い画像データＳ２１が高速に読み出される。また、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から粗い画像データＳ１２が高速に読み出され、それと並行してＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から粗い画像データＳ２２が高速に読み出される。同じ期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の他の画素５１から細かい画像データＳ１３が低速で読み出され、それと並行してＬ側Ｘ線検出器２２の他の画素５１から細かい画像データＳ２３が低速で読み出される。
【００３７】
この一部独立読出（１段構成：独立信号線）の構成では、図９では、便宜上、期間（４）において特定画素５２からのデータ読出しと、他の画素５１からのデータ読出しとが順番に行われるように記載されているが、実際には、並行して行われる。
【００３８】
Ｆ側に関して、細かい画像データＳ１３から散乱成分を除去するために、散乱成分に関する粗い画像データＳ１２をまず画像データＳ１３のそれと同じ高分解能に変換し（ファイン化）、その高分解能に変換した散乱成分のみを有する細かい画像データＳ１２を、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することで、信号成分のみを含む細かい画像データを生成することができる。ここで、当該一部独立読出構成では、一部の画素を特定画素５２に適用しているため、画像データＳ１３の特定画素５２では、信号欠落を起こしている。そのため差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３を空間的に補間することにより、信号欠落を起こした特定画素のデータを埋める。
【００３９】
同様に、Ｌ側の画像に関して、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から散乱成分を除去するために、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１をまず画像データＳ２３のそれと同じ高分解能に変換し、その高分解能に変換した散乱成分のみを含む画像データＳ２１を、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することで、散乱成分を除去し、信号成分のみを含む細かい画像データを生成する。差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３を空間的に補間することにより、信号欠落を起こした特定画素のデータを埋める。
【００４０】
本方式においても、フレームレートの向上、散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響の抑制、さらに、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレの短縮を図ることができる。
【００４１】
（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間 上述した一部独立読出において、図１１に示すように、信号線５５を特定画素５２と他の画素５１とで共通化してもよい。特定画素５２のゲート線５４は他の画素５１のゲート線５３と別に独立して形成されている。散乱成分除去のための画像処理については（１−２）で説明した画像処理と等価であるので説明は省略する。
【００４２】
本方式においては、従来に対して、フレームレートの向上、散乱成分の読出し動作によるサイクル時間への影響の抑制、さらに、Ｆ側とＬ側との間の撮影時間のズレの短縮を図ることができる。
【００４３】
なお、当該方式（１−３）では、図１２に示すように、ライン単位で特定画素５２を割り当てても良い。所定の本数のゲート線５３を挟んで縦方向に離散的に特定のゲート線５４を割り当てる。この特定のゲート線５４に共通接続された同じライン上の複数画素が特定画素５２として粗い画素データの読出しに用いられる。粗い画素データＳ１１、Ｓ１２、Ｓ２１、Ｓ２２の読出しに際しては、特定のゲート線５４を対象に順番に活性化し、各ゲート線５４の活性化期間に全ての信号線５５から順番にデータを読み出す。この例では従来の検出器構成をそのまま流用することができる。
【００４４】
（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
この方式では、画像処理に関してのみ上記（１−２）の方式と相違する。上記（１−２）の方式では、信号欠落を起こす特定画素のデータを空間補間により埋めている。それに対して本方式では、図１３に示すように、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋めるというものである。
【００４５】
画像データＳ１１は、散乱成分を含まず、Ｆ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを含んでいるので、信号成分のみからなる細かい画像データを生成できる。同様に、画像データＳ２２は、散乱成分を含まず、Ｌ側からの直接Ｘ線に由来する信号成分のみを含んでいるので、信号成分のみからなる細かい画像データを生成できる。
【００４６】
（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
この方式では、画像処理に関してのみ上記（１−３）の方式と相違する。 画像処理に関しては、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００４７】
（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成
電圧読出し方式では、電荷読出し方式と異なり、読出し後でも画素容量に電荷を保持する。そのため、図１４に示すように、期間（２）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第２層から粗い画像データＳ１２を読み出した後、期間（３）でＬ側からＸ線を発生する前に、第２層の画素容量の電荷をリセットする動作（フラッシュ）が必要とされる。このリセットにより、画像データＳ１２への信号成分の混入を防止し、散乱成分だけを反映させることができる。
【００４８】
同様に、期間（２）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第２層から粗い画像データＳ２２を読み出した後、期間（３）でＬ側からＸ線を発生する前に、第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、画像データＳ２２への散乱成分の混入を防止し、信号成分だけを反映させることができる。
【００４９】
また、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層及び第２層から画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、次のサイクルへの電荷持ち越しを防止できる。同様に、期間（４）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層及び第２層から画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする動作が必要とされる。このリセットにより、次のサイクルへの電荷持ち越しを防止できる。
画像処理に関しては、（１−１）の画像処理と等価である。
【００５０】
（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
上述のように電圧読出し方式では電荷保持されることからフラッシュが必要とされたが、これは上記（１−２）の電荷読出方式を電圧読出し方式に代えた場合でも同様であり、まずＦ側では、期間（２）において画像データＳ１１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。Ｌ側でも同様に、期間（２）において画像データＳ２１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。
【００５１】
画像処理に関しては、（１−２）の画像処理と等価であり、Ｆ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。同様に、Ｌ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。
【００５２】
（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
上述のように電圧読出し方式では電荷保持されることからフラッシュが必要とされたが、これは上記（１−３）の電荷読出方式を電圧読出し方式に代えた場合でも同様であり、まずＦ側では、期間（２）において画像データＳ１１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットし、同様にＬ側でも、期間（２）において画像データＳ２１の読み出し後に特定画素５２の画素容量をリセットし、期間（４）において画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出し後に特定画素５２と他の画素５１との全画素を対象として画素容量をリセットする。
【００５３】
画像処理に関しては、（１−３）の画像処理と等価であり、Ｆ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ１３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。同様に、Ｌ側に関しては、差分により散乱成分を除去された画像データＳ２３の中の信号欠落を起こしている特定画素５２を空間的な補間により埋める。
【００５４】
（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
本方式は、上記（３−２）に対して画像処理のみ相違する。図１５に示すように、画像処理は、空間補間ではなく、再利用再構成を使用する。つまり、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００５５】
（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
本方式は、上記（３−３）に対して画像処理のみ相違する。図１５に示すように、画像処理は、再利用再構成を使用する。つまり、差分により散乱成分が除去された細かい画像データＳ１３、Ｓ２３内の信号欠落を起こした特定画素のデータを、Ｆ側では期間（２）にＦ側Ｘ線検出器１２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１で埋め、またＬ側では期間（４）にＬ側Ｘ線検出器２２の特定画素５２から読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ２２で埋める。
【００５６】
（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成
本方式は、上記（３−１）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理に関して相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。一方、期間（４）において、Ｆ側Ｘ線検出器１２の第１層及び第２層から画像データＳ１２、Ｓ１３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする。同様に、期間（４）において、Ｌ側Ｘ線検出器２２の第１層及び第２層から画像データＳ２２、Ｓ２３の読み出しが完了した後、次のサイクルでＦ側からＸ線が発生される前に、第１層及び第２層の画素容量の電荷をリセットする。
【００５７】
期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしないので、期間（４）で読み出す粗い画像データＳ１２、Ｓ２２は、信号成分と散乱成分とを含んでいる。画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分のみを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により生成した散乱成分のみを含む画像データＳ１２をファイン化してから、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データを生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−１）と等価である。
【００５８】
（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間
方式は、上記（３−２）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理について相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、方式（５−１）と同様に、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により生成された散乱成分のみを含む画像データをファイン化してから、画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成する。この散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、特定画素のデータを埋める。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−２）と等価である。
【００５９】
（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間
方式は、上記（３−３）に対してフラッシュを入れるタイミングと画像処理について相違する。まず、フラッシュを入れるタイミングとしては、方式（５−１）と同様に、図１６に示すように、期間（２）においてＦ側、Ｌ側のＸ線検出器１２、２２の第２層の画素容量の電荷はリセットしない。（５−１）と同様に、画像データＳ１２から信号成分を除去し、散乱成分を取り出すために、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分する。差分により散乱成分のみを含む画像データをファイン化してから、信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成する。この散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、特定画素のデータを埋める。他方のＬ側の画像処理に関しては（３−３）と等価である。
【００６０】
（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし
方式は、上記（５−１）に対して画像処理について相違する。上記（５−１）では、信号成分だけを含んでいる画像データＳ１１を、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１２から差分することで、信号成分を含まず、散乱成分を含む画像データを生成している。それに対して本方式（６−１）では、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能に低下させる（ぼかす）。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−１）と等価である。
【００６１】
（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし
方式は、上記（５−２）に対して画像処理について相違する。本方式（６−２）では、上記（６−１）と同様に、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能にぼかす。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−２）と等価である。
【００６２】
（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかし
方式は、上記（５−３）に対して画像処理について相違する。本方式（６−３）では、上記（６−１）と同様に、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理により、粗い画像データＳ１１と同じ分解能にぼかす。ぼかしによる粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３を生成することができる。他方のＬ側の画像処理に関しては（５−３）と等価である。
【００６３】
（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−１）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−１）では、信号成分と散乱成分との両方を含んでいる画像データＳ１３の分解能を、間引き又は局所平均化処理によりぼかした粗い画像データＳ１３から信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、散乱成分のみを含む粗い画像データＳ１３を生成し、それをファイン化してから、細かい画像データＳ１３から差分する。それに対して本方式（７−１）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６４】
（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−２）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−２）とは、ファイン化と差分との順番が逆転する。つまり、本方式（７−２）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６５】
（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋ぼかしのアルゴリズム変形
方式は、上記（６−３）に対して画像処理のぼかしのアルゴリズムについて相違する。上記（６−３）とは、ファイン化と差分との順番が逆転する。つまり、本方式（７−３）では、信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化してから、それを信号成分と散乱成分との両方を含んでいる細かい画像データＳ１３から差分することで、散乱成分のみを含む細かい画像データＳ１３を生成し、それを細かい画像データＳ１３から差分する。
【００６６】
（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成
方式は、上記（５−２）に対して空間補間に代えて再利用再構成を用いる点で相違する。上記（５−２）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、欠落していた特定画素のデータを埋めるものである。本方式（８−１）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３の欠落していた特定画素のデータを、期間（２）に読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１により埋めるものである。
【００６７】
Ｌ側に関しては、欠落補充のために用いる信号成分のみを含む粗い画像データを、期間（４）に読み出した散乱成分と信号成分とを含む粗い画像データＳ２２から、期間（２）に読み出した散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより生成する。この生成した信号成分のみを含む粗い画像データにより、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ２３の欠落していた特定画素のデータを埋める。
【００６８】
（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成
方式は、上記（５−３）に対して空間補間に代えて再利用再構成を用いる点で相違する。上記（５−３）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３に対して空間補間をかけることにより、欠落していた特定画素のデータを埋めるものである。本方式（８−２）では、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ１３の欠落していた特定画素のデータを、期間（２）に読み出した信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１により埋めるものである。
【００６９】
Ｌ側に関しては、欠落補充のために用いる信号成分のみを含む粗い画像データを、期間（４）に読み出した散乱成分と信号成分とを含む粗い画像データＳ２２から、期間（２）に読み出した散乱成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより生成する。この生成した信号成分のみを含む粗い画像データにより、差分により生成した散乱成分を含まない細かい画像データＳ２３の欠落していた特定画素のデータを埋める。
【００７０】
（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
本方式は、上記（８−１）に対して次の点で相違する。つまり、上記（８−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１と、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ１２との差分により散乱線のみを含む粗い画像データを生成し、それをファイン化することにより生成するものである。本方式（９−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７１】
Ｌ側に関しても同様で、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ２３から、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７２】
（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかし
本方式は、上記（８−２）に対して次の点で相違する。つまり、上記（８−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１と、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ１２との差分により散乱線のみを含む粗い画像データを生成し、それをファイン化することにより生成するものである。本方式（９−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７３】
Ｌ側に関しても同様で、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データＳ２３から、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成する。
【００７４】
（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形
本方式は、上記（９−１）に対して次の点で相違する。つまり、上記（９−１）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７５】
それに対して本方式（１０−１）では、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７６】
Ｌ側に関しても同様で、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７７】
（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしアルゴリズム変形
本方式は、上記（９−２）に対して次の点で相違する。つまり、上記（９−２）では、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３をぼかしにより粗い分解能に変換し、その変換により生成した信号成分と散乱成分とを含む粗い画像データから、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１を差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７８】
それに対して本方式（１０−２）では、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ１１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ１３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００７９】
Ｌ側に関しても同様で、期間（２）の信号成分のみを含む粗い画像データＳ２１をファイン化し、それにより生成した信号成分のみを含む細かい画像データを、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３から差分することにより、期間（４）の信号成分と散乱成分とを含む細かい画像データＳ２３と差分するための散乱成分のみを含む細かい画像データを生成するものである。
【００８０】
（変形例）
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが可能である。さらに、上記実施形態には種々の段階が含まれており、開示される複数の構成要件における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出され得る。例えば、実施形態に示される全構成要件から幾つかの構成要件が削除されてもよい。
【００８１】
【発明の効果】
本発明によれば、バイプレーン型のＸ線撮影装置において、散乱線の影響を軽減し且つフレームレートを向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態に係るＸ線撮影装置の構成図。
【図２】本実施形態において、基本的な撮影シーケンスを示す図。
【図３】図２の補足図。
【図４】図２の各期間の一例を示す図。
【図５】図１のＸ線検出器の２段構成の例を示す図。
【図６】図１のＸ線検出器の２段構成の他の例を示す図。
【図７】図１のＸ線検出器の２段構成のさらに他の例を示す図。
【図８】図１のＸ線検出器の２段構成のさらに他の例を示す図。
【図９】本実施形態において、方式（１−１）電荷読出方式＋２段構成、（１−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（１−３）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１０】図１のＸ線検出器の１段構成（独立信号線）の例を示す図。
【図１１】図１のＸ線検出器の１段構成（共通信号線）の例を示す図。
【図１２】図１のＸ線検出器の１段構成（共通信号線）の他の例を示す図。
【図１３】本実施形態において、方式（２−１）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（２−２）電荷読出方式＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１４】本実施形態において、方式（３−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋２段構成、（３−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（３−３）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１５】本実施形態において、方式（４−１）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（４−２）電圧読出方式＋読出毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１６】本実施形態において、方式（５−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成、（５−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間、（５−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１７】本実施形態において、方式（６−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかし、（６−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかし、（６−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしに関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１８】本実施形態において、方式（７−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋２段構成＋ぼかしのアルゴリズム変形、（７−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形、（７−３）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋空間補間＋ぼかしのアルゴリズム変形に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図１９】本実施形態において、方式（８−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成、（８−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２０】本実施形態において、方式（９−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかし、（９−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしに関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２１】本実施形態において、方式（１０−１）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：独立信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形、（１０−２）電圧読出方式＋フレーム毎フラッシュ＋一部独立読出（１段構成：共通信号線）＋再利用再構成＋ぼかしのアルゴリズム変形に関する撮影シーケンスと画像処理を示す図。
【図２２】散乱線が他方の側の検出器に入射する様子を示す模式図。
【図２３】従来の撮影シーケンスを示す図。
【図２４】図２３の補足図。
【符号の説明】
１１…正面系のＸ線管、
１２…正面系のＸ線検出器、
１３…正面系のＸ線制御部、
１４…正面系の検出器制御部、
２１…側面系のＸ線管、
２２…側面系のＸ線検出器、
２３…側面系のＸ線制御部、
２４…側面系の検出器制御部、
３１…システムコントローラー、
３３…記憶部、
３５…画像処理部、
３７…表示部。
Claims (3)
- 第１Ｘ線管と第１Ｘ線検出器とを有する第１Ｘ線撮影系統と、
第２Ｘ線管と第２Ｘ線検出器とを有する第２Ｘ線撮影系統と、
前記第１Ｘ線管と前記第２Ｘ線管とから交互にＸ線を発生させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第１Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第１画像を読み出させ、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後に前記第２Ｘ線検出器から比較的高い分解能で第２画像を読み出させるとともに、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第１Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第１Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第１散乱線画像を読み出させ、前記第１Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第２Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第２Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第２散乱線画像を読み出させるよう前記第１Ｘ線管と前記第１Ｘ線検出器と前記第２Ｘ線管と前記第２Ｘ線検出器とを制御する制御部と、
前記第１画像を前記第１散乱線画像により補正し、前記第２画像を前記第２散乱線画像により補正する補正部と、
前記補正された第１画像と前記補正された第２画像とを表示する表示部と具備することを特徴とするバイプレーンＸ線撮影装置。 - 前記第１Ｘ線検出器と前記第２Ｘ線検出器はそれぞれ、複数の検出素子が２次元状に配列され、列毎に共通信号線で共通接続された構成を有し、
前記制御部は、離散的に共通信号線を活性化して、前記第１Ｘ線検出器と前記第２Ｘ線検出器とからそれぞれ前記第１散乱線画像と前記第２散乱線画像とを読み出させることを特徴とする請求項１記載のバイプレーンＸ線撮影装置。 - 前記制御部は、前記第２Ｘ線管からＸ線を発生した後であって前記第１Ｘ線管からＸ線を発生する前の期間において前記第１Ｘ線検出器から比較的低い分解能で第１散乱線画像を読み出させることを特徴とする請求項１記載のバイプレーンＸ線撮影装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003035569A JP4334244B2 (ja) | 2003-02-13 | 2003-02-13 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
| CNB2004100049457A CN100377690C (zh) | 2003-02-13 | 2004-02-13 | X-射线诊断装置及获得x-射线图象的方法 |
| CN200610138996A CN100591275C (zh) | 2003-02-13 | 2004-02-13 | X-射线诊断装置及获得x-射线图象的方法 |
| US10/777,640 US7145980B2 (en) | 2003-02-13 | 2004-02-13 | X-ray diagnosis apparatus and method for obtaining an X-ray image |
| US11/257,091 US7443955B2 (en) | 2003-02-13 | 2005-10-25 | X-ray diagnosis apparatus and method for obtaining an X-ray image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003035569A JP4334244B2 (ja) | 2003-02-13 | 2003-02-13 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004242873A JP2004242873A (ja) | 2004-09-02 |
| JP4334244B2 true JP4334244B2 (ja) | 2009-09-30 |
Family
ID=33020954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003035569A Expired - Fee Related JP4334244B2 (ja) | 2003-02-13 | 2003-02-13 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US7145980B2 (ja) |
| JP (1) | JP4334244B2 (ja) |
| CN (2) | CN100591275C (ja) |
Families Citing this family (38)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10232429B3 (de) * | 2002-07-17 | 2004-01-22 | Siemens Ag | Verfahren für eine Röntgenanordnung zur Kompensation von Streustrahlung und Röntgeneinrichtung |
| JP4334244B2 (ja) * | 2003-02-13 | 2009-09-30 | 株式会社東芝 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
| DE102004029009A1 (de) * | 2004-06-16 | 2006-01-19 | Siemens Ag | Vorrichtung und Verfahren für die Streustrahlungskorrektur in der Computer-Tomographie |
| US20060269049A1 (en) * | 2005-05-26 | 2006-11-30 | Fang-Fang Yin | Dual-detector, simulation CT, and real time function imaging |
| US20070025514A1 (en) * | 2005-06-06 | 2007-02-01 | Ruediger Lawaczeck | X-ray arrangement for graphic display of an object under examination and use of the x-ray arrangement |
| US7302033B2 (en) * | 2005-06-29 | 2007-11-27 | Accuray Incorporated | Imaging geometry for image-guided radiosurgery |
| DE102005048388B4 (de) * | 2005-10-10 | 2007-07-26 | Siemens Ag | Verfahren zur Strahlungskorrektur eines CT-Systems |
| DE102005048891B4 (de) * | 2005-10-12 | 2007-09-27 | Siemens Ag | Verfahren zur Kalibrierung eines CT-Systems mit mindestens zwei winkelversetzt zueinander angeordneten Fokus/Detektorsystemen und Computertomographie-System |
| JP4805659B2 (ja) * | 2005-11-10 | 2011-11-02 | 株式会社東芝 | Ｘ線画像診断装置 |
| FR2897255B1 (fr) * | 2006-02-10 | 2008-03-14 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'estimation du rayonnement diffuse en tomographie par rayons x |
| ATE468591T1 (de) * | 2006-04-11 | 2010-06-15 | Koninkl Philips Electronics Nv | Erzeugung von röntgenbildern mit einem verringerten anteil an streustrahlung |
| DE102006019920B4 (de) * | 2006-04-28 | 2008-04-10 | Siemens Ag | Verfahren zur Streustrahlungskorrektur eines CT-Systems mit mindestens zwei winkelversetzt angeordneten Fokus-Detektor-Systemen und Röntgen-CT-System |
| GB0611767D0 (en) * | 2006-06-14 | 2006-07-26 | Sec Dep For Home Affairs The | Method and apparatus for computed tomography |
| CN101472522A (zh) * | 2006-06-22 | 2009-07-01 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 双x射线管选通 |
| CN101472525B (zh) * | 2006-06-22 | 2013-02-13 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 多源编码x射线成像 |
| US8290222B2 (en) * | 2006-08-29 | 2012-10-16 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | Systems and methods of image processing utilizing resizing of data |
| JP4840124B2 (ja) * | 2006-12-20 | 2011-12-21 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮影装置 |
| DE102007008118B4 (de) * | 2007-02-19 | 2011-02-03 | Siemens Ag | Verfahren zur Erzeugung tomographischer Darstellungen mit einem Röntgen-Computertomographie-System mit Streustrahlungskorrektur |
| US20080219404A1 (en) * | 2007-03-08 | 2008-09-11 | Bio-Imaging Research, Inc. | Method and Apparatus to Facilitate Formation of a Two-Dimensional Image Using X-Ray Fan Beam Scatter |
| DE102007022714A1 (de) * | 2007-05-15 | 2008-12-04 | Siemens Ag | Verfahren zur Streustrahlungskorrektur bei einem Röntgen-Computertomografie-System und Verfahren zur Erzeugung einer streustrahlungskorrigierten tomografischen Darstellung, sowie Röntgen-Computertomografie-System |
| JP5214942B2 (ja) * | 2007-10-02 | 2013-06-19 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | 多管球ｘ線ｃｔにおける散乱線強度分布のスケーリング方法および多管球ｘ線ｃｔ装置 |
| JP5582514B2 (ja) * | 2008-02-29 | 2014-09-03 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Ｘ線ｃｔ装置 |
| US7970102B2 (en) * | 2008-07-24 | 2011-06-28 | Inspx Llc | Apparatus and method for detecting foreign materials in a container |
| JP5306062B2 (ja) * | 2009-06-01 | 2013-10-02 | キヤノン株式会社 | 放射線撮影装置、放射線撮影方法及びプログラム |
| US8121249B2 (en) * | 2009-06-04 | 2012-02-21 | Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. | Multi-parameter X-ray computed tomography |
| US8483351B2 (en) | 2009-10-28 | 2013-07-09 | Virginia Tech Intellectual Properties, Inc. | Cardiac computed tomography methods and systems using fast exact/quasi-exact filtered back projection algorithms |
| JP2012130406A (ja) * | 2010-12-20 | 2012-07-12 | Shimadzu Corp | 二次元画像撮影装置 |
| JP2012249960A (ja) * | 2011-06-06 | 2012-12-20 | Toshiba Corp | 医用画像処理装置 |
| US9285326B2 (en) * | 2012-06-19 | 2016-03-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sparse and energy discriminating collimated detector elements to assist scatter evaluation in CT imaging |
| CN103901491B (zh) * | 2012-12-27 | 2017-10-17 | 同方威视技术股份有限公司 | 人体背散射安检系统 |
| CN103901494B (zh) * | 2012-12-27 | 2017-08-29 | 同方威视技术股份有限公司 | 人体背散射安检系统及其方法 |
| DE102013200337B4 (de) * | 2013-01-11 | 2021-11-11 | Siemens Healthcare Gmbh | Verfahren, Computertomopraph und Computerprogrammprodukt zum Bestimmen von Intensitätswerten einer Röntgenstrahlung zur Dosismodulation |
| JP6595202B2 (ja) * | 2015-04-15 | 2019-10-23 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線診断装置 |
| JP7179448B2 (ja) * | 2017-07-25 | 2022-11-29 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線診断装置 |
| JP6711952B2 (ja) * | 2019-09-25 | 2020-06-17 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線診断装置 |
| CN110793981B (zh) * | 2019-10-30 | 2022-03-22 | 新鸿电子有限公司 | 分时复用控制装置和系统 |
| EP3832690A1 (en) * | 2019-12-05 | 2021-06-09 | Koninklijke Philips N.V. | Estimation of full-field scattering for dax imaging |
| CN113568027B (zh) * | 2021-07-28 | 2024-04-19 | 广州瑞多思医疗科技有限公司 | 一种双层插值方法、装置、计算机设备及存储介质 |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62191972A (ja) * | 1986-02-18 | 1987-08-22 | Toshiba Corp | Ｘ線画像処理装置 |
| US4872188A (en) * | 1987-11-27 | 1989-10-03 | Picker International, Inc. | Registration correction for radiographic scanners with sandwich detectors |
| US5966422A (en) * | 1992-07-20 | 1999-10-12 | Picker Medical Systems, Ltd. | Multiple source CT scanner |
| US5548123A (en) * | 1994-12-06 | 1996-08-20 | Regents Of The University Of California | High resolution, multiple-energy linear sweep detector for x-ray imaging |
| US6069361A (en) * | 1997-10-31 | 2000-05-30 | Eastman Kodak Company | Imaging resolution of X-ray digital sensors |
| US6104780A (en) * | 1997-11-24 | 2000-08-15 | Oec Medical Systems, Inc. | Mobile bi-planar fluoroscopic imaging apparatus |
| JP2000102529A (ja) * | 1998-09-29 | 2000-04-11 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
| WO2001057554A2 (en) * | 2000-02-02 | 2001-08-09 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Sensor and method of operating the sensor |
| US6658082B2 (en) * | 2000-08-14 | 2003-12-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector, radiation detecting system and X-ray CT apparatus |
| US6748047B2 (en) * | 2002-05-15 | 2004-06-08 | General Electric Company | Scatter correction method for non-stationary X-ray acquisitions |
| US20030223539A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | Granfors Paul R. | Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector |
| JP4314008B2 (ja) * | 2002-10-01 | 2009-08-12 | 株式会社東芝 | Ｘ線ｃｔスキャナ |
| JP4334244B2 (ja) * | 2003-02-13 | 2009-09-30 | 株式会社東芝 | バイプレーンｘ線撮影装置 |
-
2003
- 2003-02-13 JP JP2003035569A patent/JP4334244B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2004
- 2004-02-13 US US10/777,640 patent/US7145980B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2004-02-13 CN CN200610138996A patent/CN100591275C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2004-02-13 CN CNB2004100049457A patent/CN100377690C/zh not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-10-25 US US11/257,091 patent/US7443955B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN100591275C (zh) | 2010-02-24 |
| US20040228442A1 (en) | 2004-11-18 |
| US7443955B2 (en) | 2008-10-28 |
| CN1520781A (zh) | 2004-08-18 |
| CN100377690C (zh) | 2008-04-02 |
| JP2004242873A (ja) | 2004-09-02 |
| CN1931092A (zh) | 2007-03-21 |
| US7145980B2 (en) | 2006-12-05 |
| US20060034424A1 (en) | 2006-02-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4334244B2 (ja) | バイプレーンｘ線撮影装置 | |
| EP1139118A2 (en) | Method and apparatus for imaging and storage medium | |
| EP2269514B1 (en) | X-ray imaging system for medical use | |
| KR20110004839A (ko) | 의료용 ｘ선 촬상 시스템 | |
| JP2003190126A (ja) | Ｘ線画像処理装置 | |
| US8953745B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus and X-ray inspection system | |
| WO2009102839A2 (en) | Imaging array data acquisition system and use thereof | |
| US8477907B2 (en) | Solid-state image pickup apparatus and X-ray inspection system | |
| JP3662688B2 (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| US11128816B2 (en) | Radiographic imaging system | |
| JP2007325796A (ja) | マンモグラフィ装置 | |
| JPH09289985A (ja) | Ｘ線画像表示方法及び装置 | |
| JP3945738B2 (ja) | 放射線撮像装置、撮像装置、放射線撮像方法及び記録媒体 | |
| JP5436004B2 (ja) | 撮影装置 | |
| JP5650349B1 (ja) | 医療用ｘ線撮像システム | |
| JP3982242B2 (ja) | Ｘ線透視撮影装置 | |
| JP3369441B2 (ja) | 多方向ｘ線透視撮影装置 | |
| JP2010227511A (ja) | 放射線検出装置及び方法、並びに放射線画像撮影システム | |
| JP2010227512A (ja) | 放射線検出装置及び方法、並びに放射線画像撮影システム | |
| JP2010227510A (ja) | 放射線検出装置及び方法、並びに放射線画像撮影システム | |
| JP2020031960A (ja) | 放射線画像撮影装置及び放射線画像撮影システム | |
| JP2018153447A (ja) | 放射線撮影装置及びその制御方法 | |
| JP4840124B2 (ja) | 放射線撮影装置 | |
| JP2018068758A (ja) | 放射線撮像装置およびその制御方法 | |
| JPH08248542A (ja) | 放射線画像読取装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060125 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081216 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090209 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090414 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090501 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090602 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090623 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120703 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130703 Year of fee payment: 4 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313114 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313114 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |