JPS62118244A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPS62118244A JPS62118244A JP60257769A JP25776985A JPS62118244A JP S62118244 A JPS62118244 A JP S62118244A JP 60257769 A JP60257769 A JP 60257769A JP 25776985 A JP25776985 A JP 25776985A JP S62118244 A JPS62118244 A JP S62118244A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
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- G01N23/046—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、被検体の検査部位にＸ線を放射して断層画像
を撮影するＸ線断層撮影装置に関し、特に被検体を透過
したトータルエネルギとしてのＸ線線量を計測すると共
にＸ線エネルギスペクトルの計測をも可能としたＸ線断
層撮影装置に関する。
を撮影するＸ線断層撮影装置に関し、特に被検体を透過
したトータルエネルギとしてのＸ線線量を計測すると共
にＸ線エネルギスペクトルの計測をも可能としたＸ線断
層撮影装置に関する。
従来の技術
従来のＸ線断層撮影装置は、第４図に示すように、Ｘ線
管１から放射されたＸ線ビーム２をコリメータ３により
所定のスライス厚にコリメートした後、被検体４に曝射
し、この被検体４を透過したＸ線を上記Ｘ線管１と対向
配置された放射線検出器５で検出して電気信号に変換し
、この電気信号を積分増幅器６により積分かつ増幅した
後１画像処理部７で計算処理して断層画像を再構成し。
管１から放射されたＸ線ビーム２をコリメータ３により
所定のスライス厚にコリメートした後、被検体４に曝射
し、この被検体４を透過したＸ線を上記Ｘ線管１と対向
配置された放射線検出器５で検出して電気信号に変換し
、この電気信号を積分増幅器６により積分かつ増幅した
後１画像処理部７で計算処理して断層画像を再構成し。
この再構成された断層画像をモニタ８に表示するように
なっていた。ここで、上記放射線検出器５は、被検体４
を透過して入射したＸ線をそのまま検出して電気信号に
変換しており、上記被検体４を透過したＸ線の積分量と
してトータルエネルギを計測するものであった。
なっていた。ここで、上記放射線検出器５は、被検体４
を透過して入射したＸ線をそのまま検出して電気信号に
変換しており、上記被検体４を透過したＸ線の積分量と
してトータルエネルギを計測するものであった。
ところで、一般的に被検体では、Ｘ線の低エネルギ側の
方がＸ線吸収係数が大きいために、上記被検体４を透過
する前と後とでは、そのＸ線のエネルギスペクトルは第
５図に示すように変化する。
方がＸ線吸収係数が大きいために、上記被検体４を透過
する前と後とでは、そのＸ線のエネルギスペクトルは第
５図に示すように変化する。
図では、被検体４を透過前のエネルギスペクトルＳ□を
実線で表し、透過後のエネルギスペクトルＳ２を破線で
表している。第５図から明らかなように、被検体４を透
過後のエネルギスペクトルＳ２は低エネルギ側でより大
きく減衰していることがわかる。また、被検体透過後の
Ｘ線のエネルギスペクトルは、被検体４を構成する物質
によっても第６図に示すように変化する。図では、被検
体４が水の場合のエネルギスペクトルＳ、を実線で表し
、被検体４が骨の場合のエネルギスペクトルＳ４を破線
で表している。この場合、被検体４が水の場合及び骨の
場合でも、透過Ｘ線のトータルエネルギは同等であるが
、第６図から明らかなように、骨の方が低エネルギ側で
のＸ線吸収量が多く、骨の場合のエネルギスペクトルＳ
４は低エネルギ側でより大きく減衰していることがわか
る。
実線で表し、透過後のエネルギスペクトルＳ２を破線で
表している。第５図から明らかなように、被検体４を透
過後のエネルギスペクトルＳ２は低エネルギ側でより大
きく減衰していることがわかる。また、被検体透過後の
Ｘ線のエネルギスペクトルは、被検体４を構成する物質
によっても第６図に示すように変化する。図では、被検
体４が水の場合のエネルギスペクトルＳ、を実線で表し
、被検体４が骨の場合のエネルギスペクトルＳ４を破線
で表している。この場合、被検体４が水の場合及び骨の
場合でも、透過Ｘ線のトータルエネルギは同等であるが
、第６図から明らかなように、骨の方が低エネルギ側で
のＸ線吸収量が多く、骨の場合のエネルギスペクトルＳ
４は低エネルギ側でより大きく減衰していることがわか
る。
発明が解決しようとする問題点
しかし、上記のようなＸ線断層撮影装置においては、そ
の放射線検出器５は、被検体４を透過して入射したＸ線
の積分量としてトータルエネルギを計測するものであり
、Ｘ線の光子数を一つずつ計数するものではなかった。
の放射線検出器５は、被検体４を透過して入射したＸ線
の積分量としてトータルエネルギを計測するものであり
、Ｘ線の光子数を一つずつ計数するものではなかった。
従って、従来のＸ線断層撮影装置は、透過Ｘ線のエネル
ギ強度についての情報だけを計測しており、そのエネル
ギスペクトルについては計測できなかった。ここで、第
６図に示すように、被検体４を構成する物質によってそ
のエネルギスペクトルＳ、、Ｓ４は変化するが、従来の
Ｘ線断層撮影装置ではエネルギスペクトルの分布が計測
できないため、被検体４の物質識別が十分にできないこ
とがあった。このことから、被検体４に骨等の他の物が
含まれていると、実際よりもＸ線吸収係数が低く計測さ
れ、再構成した断層画像上にアーチファクトが発生する
ことがあった。また、透過Ｘ線のエネルギスペクトルが
計測できないので、適宜のところで一定のＸ線吸収係数
を設定して一律に断層画像を再構成していたが、特に被
検体４が大きくなると散乱線量が増加し、上記設定した
Ｘ線吸収係数から外れるところ、すなわち被検体４の厚
みが大きい中心付近において誤差が大きくなり、良い断
層画像が得られないものであった。そこで、本発明は、
被検体を透過したトータルエネルギとしてのＸ線線量を
計測すると共にＸ線エネルギスペクトルの計測をも可能
としたＸ線断層撮影装置を提供することを目的とする。
ギ強度についての情報だけを計測しており、そのエネル
ギスペクトルについては計測できなかった。ここで、第
６図に示すように、被検体４を構成する物質によってそ
のエネルギスペクトルＳ、、Ｓ４は変化するが、従来の
Ｘ線断層撮影装置ではエネルギスペクトルの分布が計測
できないため、被検体４の物質識別が十分にできないこ
とがあった。このことから、被検体４に骨等の他の物が
含まれていると、実際よりもＸ線吸収係数が低く計測さ
れ、再構成した断層画像上にアーチファクトが発生する
ことがあった。また、透過Ｘ線のエネルギスペクトルが
計測できないので、適宜のところで一定のＸ線吸収係数
を設定して一律に断層画像を再構成していたが、特に被
検体４が大きくなると散乱線量が増加し、上記設定した
Ｘ線吸収係数から外れるところ、すなわち被検体４の厚
みが大きい中心付近において誤差が大きくなり、良い断
層画像が得られないものであった。そこで、本発明は、
被検体を透過したトータルエネルギとしてのＸ線線量を
計測すると共にＸ線エネルギスペクトルの計測をも可能
としたＸ線断層撮影装置を提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段
上記の問題点を解決する本発明の手段は、被検体の周り
に回転し該被検体に向けてＸ線ビームを放射するＸ線管
と、上記被検体を間に挟んでＸ線管と対向配置され該被
検体を透過したＸ線を検出して電気信号に変換する放射
線検出器と、この放射線検出器で得られた計測データを
処理して断層画像を再構成する画像処理部と、この再構
成された断層画像を表示するモニタとを有するＸ線断層
撮影装置において、上記放射線検出器は被検体を透過し
たＸ線についてＸ線線量を計測する前段放射線検出器と
し、この前段放射線検出器のＸ線の透過方向の後方には
上記前段放射線検出器により減弱された入射Ｘ線につい
てエネルギスペクトルを計測する後段放射線検出器を設
け、上記前段及び後段放射線検出器の計測データを画像
処理部で処理するようにしたことによってなされる。
に回転し該被検体に向けてＸ線ビームを放射するＸ線管
と、上記被検体を間に挟んでＸ線管と対向配置され該被
検体を透過したＸ線を検出して電気信号に変換する放射
線検出器と、この放射線検出器で得られた計測データを
処理して断層画像を再構成する画像処理部と、この再構
成された断層画像を表示するモニタとを有するＸ線断層
撮影装置において、上記放射線検出器は被検体を透過し
たＸ線についてＸ線線量を計測する前段放射線検出器と
し、この前段放射線検出器のＸ線の透過方向の後方には
上記前段放射線検出器により減弱された入射Ｘ線につい
てエネルギスペクトルを計測する後段放射線検出器を設
け、上記前段及び後段放射線検出器の計測データを画像
処理部で処理するようにしたことによってなされる。
実施例
以下、本発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説明
する。
する。
第１図は本発明によるＸ線断層撮影装置の実施例を示す
説明図である。Ｘ線管１は、被検体４の周りに回転し該
被検体４に向けて扇状にＸ線ビーム２を放射するもので
ある。符号３は、上記Ｘ線ビーム２を所定のスライス厚
にコリメートするコリメータである。上記被検体４を間
に挟んでＸ線管１と対向する位置には、前段放射線検出
器９が被検体４の周りに回転可能に設けられている。こ
の前段放射線検出器９は、上記被検体４を透過したＸ線
についてトータルエネルギとしてのｘｓｉｉａ量を計測
するもので、複数の検出素子を多チャンネルに列状に並
べて成り、被検体４を透過したＸ線を検出して電気信号
（電流）に変換する。上記前段放射線検出器９の出力側
には、前段積分増幅器１ｏが設けられている。この前段
積分増幅器１０は、上記前段放射線検出器９から出力さ
れた電気信号を積分しかつ増幅して、上記透過Ｘ線の線
急に比例する電気信号を生成するもので、その積分時間
は所定時間内のＸ線線量が計測できるように長くされて
いる。このようにして得られたトータルエネルギとして
のＸ線線量の計測データは。
説明図である。Ｘ線管１は、被検体４の周りに回転し該
被検体４に向けて扇状にＸ線ビーム２を放射するもので
ある。符号３は、上記Ｘ線ビーム２を所定のスライス厚
にコリメートするコリメータである。上記被検体４を間
に挟んでＸ線管１と対向する位置には、前段放射線検出
器９が被検体４の周りに回転可能に設けられている。こ
の前段放射線検出器９は、上記被検体４を透過したＸ線
についてトータルエネルギとしてのｘｓｉｉａ量を計測
するもので、複数の検出素子を多チャンネルに列状に並
べて成り、被検体４を透過したＸ線を検出して電気信号
（電流）に変換する。上記前段放射線検出器９の出力側
には、前段積分増幅器１ｏが設けられている。この前段
積分増幅器１０は、上記前段放射線検出器９から出力さ
れた電気信号を積分しかつ増幅して、上記透過Ｘ線の線
急に比例する電気信号を生成するもので、その積分時間
は所定時間内のＸ線線量が計測できるように長くされて
いる。このようにして得られたトータルエネルギとして
のＸ線線量の計測データは。
画像処理部７に送出され、その内部に蓄積される。
上記前段放射線検出器９のＸ線の透過方向め後方には、
後段放射線検出器１１が設けられている。
後段放射線検出器１１が設けられている。
この後段放射線検出器１１は、上記前段放射線検出器９
を透過して減弱された入射Ｘ線について光子数を計数し
てエネルギスペクトルを計測するもので、複数の検出素
子を多チャンネルに列状に並べて成り、被検体４及び前
段放射線検出器９を透過したＸ線を１個ずつ検出して電
気信号（電流）に変換する。ここで、現在の放射線検出
器の動作速度によれば、−検出素子が計測可能なＸ線の
光子数の計数率は最大でも１０ｓ〜１０′個／ｓｅｃ程
度である。一方、上記前段放射線検出器９に入射するＸ
線の光子数は、被検体４が無い場合で１０１０〜１０１
１個／ｓｅｅにも達している。従って、上記後段放射線
検出器１１でＸ線の光子数を十分に計数するためには、
それを透過した後のＸ線量が１０−４〜１０°６にまで
減衰するだけのＸ線吸収量を有する放射線検出器を前段
放射線検出器９として用いればよい、上記後段放射線検
出器１１の出力側には、後段積分増幅器１２が各チャン
ネル毎に設けられている。この後段積分増幅器１２は、
上記後段放射線検出器１１から出力された電気信号を積
分しかつ増幅して、上記入射Ｘ線の光子エネルギに比例
した電圧に変換するもので、その積分時間は入射Ｘ線の
光子を１個ずつ計数できるように短くされている。上記
後段積分増幅器１２の出力側には、Ａ／Ｄ変換器１３が
各チャンネル毎に設けられており、後段積分増幅器１２
からの電圧信号はデジタル量に変換される。そして、こ
のＡ／Ｄ変換器１３の出力側には、メモリ１４が各チャ
ンネル毎に設けられており、 Ａ７Ｄ変換器１３からの
デジタル信号がデータとして蓄えられる。
を透過して減弱された入射Ｘ線について光子数を計数し
てエネルギスペクトルを計測するもので、複数の検出素
子を多チャンネルに列状に並べて成り、被検体４及び前
段放射線検出器９を透過したＸ線を１個ずつ検出して電
気信号（電流）に変換する。ここで、現在の放射線検出
器の動作速度によれば、−検出素子が計測可能なＸ線の
光子数の計数率は最大でも１０ｓ〜１０′個／ｓｅｃ程
度である。一方、上記前段放射線検出器９に入射するＸ
線の光子数は、被検体４が無い場合で１０１０〜１０１
１個／ｓｅｅにも達している。従って、上記後段放射線
検出器１１でＸ線の光子数を十分に計数するためには、
それを透過した後のＸ線量が１０−４〜１０°６にまで
減衰するだけのＸ線吸収量を有する放射線検出器を前段
放射線検出器９として用いればよい、上記後段放射線検
出器１１の出力側には、後段積分増幅器１２が各チャン
ネル毎に設けられている。この後段積分増幅器１２は、
上記後段放射線検出器１１から出力された電気信号を積
分しかつ増幅して、上記入射Ｘ線の光子エネルギに比例
した電圧に変換するもので、その積分時間は入射Ｘ線の
光子を１個ずつ計数できるように短くされている。上記
後段積分増幅器１２の出力側には、Ａ／Ｄ変換器１３が
各チャンネル毎に設けられており、後段積分増幅器１２
からの電圧信号はデジタル量に変換される。そして、こ
のＡ／Ｄ変換器１３の出力側には、メモリ１４が各チャ
ンネル毎に設けられており、 Ａ７Ｄ変換器１３からの
デジタル信号がデータとして蓄えられる。
ここで、１回のデータ計測時間は通常１〜数ｍ５１３Ｃ
であるから、上記後段放射線検出器１１の一検出素子に
例えば１０′個／ｓｅｃのＸ線光子が入射したとすると
、１０３〜１０４個程度のＸ線光子を１回の計測で測定
できることとなる。従って、上記Ａ／Ｄ変換器１３の分
解能としては４〜８ビット程度のものが適当である。ま
た、計測データの統計的誤差は計測するＸ線の光子数に
依存し、光子数が増える程誤差の少ないデータが得られ
る。
であるから、上記後段放射線検出器１１の一検出素子に
例えば１０′個／ｓｅｃのＸ線光子が入射したとすると
、１０３〜１０４個程度のＸ線光子を１回の計測で測定
できることとなる。従って、上記Ａ／Ｄ変換器１３の分
解能としては４〜８ビット程度のものが適当である。ま
た、計測データの統計的誤差は計測するＸ線の光子数に
依存し、光子数が増える程誤差の少ないデータが得られ
る。
そして、Ａ／Ｄ変換器１３の分解能とデータの処理時間
とは反比例の関係にあるので、上記分解能とデータの統
計誤差との関係を考慮して上記Ａ／Ｄ変換器１３のビッ
ト数を決めればよい。
とは反比例の関係にあるので、上記分解能とデータの統
計誤差との関係を考慮して上記Ａ／Ｄ変換器１３のビッ
ト数を決めればよい。
上記各メモリ１４に蓄えられたＸ線のエネルギスペクト
ルの計測データも前記画像処理部７へ送出される。そし
て、上記前段放射線検出器９で得られたトータルエネル
ギとしてのＸ線線量の計測データと共に処理された後、
モニタ８に断層画像として表示される。ただし、上記後
段放射線検出器１１で得られたエネルギスペクトルの計
測データは、前段放射線検出器９を透過後のものである
ため、ここで求めようとする被検体４を透過直後のもの
とは異なっている。そこで、上記前段放射線検出器９の
Ｘ線吸収係数を予め測定しておき。
ルの計測データも前記画像処理部７へ送出される。そし
て、上記前段放射線検出器９で得られたトータルエネル
ギとしてのＸ線線量の計測データと共に処理された後、
モニタ８に断層画像として表示される。ただし、上記後
段放射線検出器１１で得られたエネルギスペクトルの計
測データは、前段放射線検出器９を透過後のものである
ため、ここで求めようとする被検体４を透過直後のもの
とは異なっている。そこで、上記前段放射線検出器９の
Ｘ線吸収係数を予め測定しておき。
このＸ線吸収係数を用いて上記計測データを補正するこ
とにより、被検体４を透過直後のエネルギスペクトルと
して求めればよい。
とにより、被検体４を透過直後のエネルギスペクトルと
して求めればよい。
第２図は本発明の第二の実施例を示す要部説明図である
。この実施例は、後段放射線検出器１１が一つではなく
、Ｘ線の透過方向に複数個たとえばｌｌａ、ｌｌｂの二
個を並べて、切換スイッチ１５によりそれらの出力信号
をそれぞれ後段積分増幅器１２へ切り換えて入力するよ
うにしたものである。これは、後段放射線検出器１１へ
の入射Ｘ線量の大小に応じて、常に放射線検出器の最大
計数率で計数可能とするためである。すなわち、入射Ｘ
線量が少ないときは前方の第一の後段放射線検出器１１
ａ側に切り換えて直接計測し、入射Ｘ線量が多いときは
後方の第二の後段放射線検出器１１ｂ側に切り換えてワ
ンクッションをおいて計測する。この場合は、例えば頭
部または腹部などのように被検体４の検査部位の違いに
よる入射Ｘ線量の大小に応じて、いずれの後段放射線検
出器１１ａ、ｌｌｂを用いるかを切換スイッチ１５によ
り選択でき、常に最大計数率で計測してデータの統計的
信頼性を向上することができる。
。この実施例は、後段放射線検出器１１が一つではなく
、Ｘ線の透過方向に複数個たとえばｌｌａ、ｌｌｂの二
個を並べて、切換スイッチ１５によりそれらの出力信号
をそれぞれ後段積分増幅器１２へ切り換えて入力するよ
うにしたものである。これは、後段放射線検出器１１へ
の入射Ｘ線量の大小に応じて、常に放射線検出器の最大
計数率で計数可能とするためである。すなわち、入射Ｘ
線量が少ないときは前方の第一の後段放射線検出器１１
ａ側に切り換えて直接計測し、入射Ｘ線量が多いときは
後方の第二の後段放射線検出器１１ｂ側に切り換えてワ
ンクッションをおいて計測する。この場合は、例えば頭
部または腹部などのように被検体４の検査部位の違いに
よる入射Ｘ線量の大小に応じて、いずれの後段放射線検
出器１１ａ、ｌｌｂを用いるかを切換スイッチ１５によ
り選択でき、常に最大計数率で計測してデータの統計的
信頼性を向上することができる。
第３図は第三の実施例を示す要部説明図である。
この実施例は、第１図に示す前段放射線検出器９と後段
放射線検出器１１との間に、適度なＸ線吸収率を有する
物質でできたＸ線吸収体１６を矢印Ａ、Ｂ方向に移動可
能に設けたものである。これも、第２図の場合と同様に
、後段放射線検出器１１への入射ｘｍｍの大小に応じて
、常に放射線検出器の最大計数率で計測可能とするため
である。
放射線検出器１１との間に、適度なＸ線吸収率を有する
物質でできたＸ線吸収体１６を矢印Ａ、Ｂ方向に移動可
能に設けたものである。これも、第２図の場合と同様に
、後段放射線検出器１１への入射ｘｍｍの大小に応じて
、常に放射線検出器の最大計数率で計測可能とするため
である。
すなわち、入射Ｘ線量が少ないときはＸ線吸収体１６を
矢印Ｂ方向へ移動除去して直接計測し、入射ｘｓａｉが
多いときはＸ線吸収体１６を矢印Ａ方向へ移動挿入して
ワンクッションをおいて計測する。なお、上記Ｘ線吸収
体１６は一枚に限らず、何枚かを用意しておき、入射Ｘ
線量の大小に応じて挿入除去するＸ線吸収体１６の枚数
を調整することにより、最大計数率に対して細かく調整
することができる。この実施例によれば、第２図の場合
と同様に、被検体４の検査部位の違いによる入射Ｘ線量
の大小に応じて常に最大計数率で計測できると共に、後
段放射線検出器１１は一個でよいため、装置全体の構成
が容易かつ安価に行える。
矢印Ｂ方向へ移動除去して直接計測し、入射ｘｓａｉが
多いときはＸ線吸収体１６を矢印Ａ方向へ移動挿入して
ワンクッションをおいて計測する。なお、上記Ｘ線吸収
体１６は一枚に限らず、何枚かを用意しておき、入射Ｘ
線量の大小に応じて挿入除去するＸ線吸収体１６の枚数
を調整することにより、最大計数率に対して細かく調整
することができる。この実施例によれば、第２図の場合
と同様に、被検体４の検査部位の違いによる入射Ｘ線量
の大小に応じて常に最大計数率で計測できると共に、後
段放射線検出器１１は一個でよいため、装置全体の構成
が容易かつ安価に行える。
発明の効果
本発明は以上説明したように、前段放射線検出器９を設
けると共に後段放射線検出器１１を設け。
けると共に後段放射線検出器１１を設け。
これら前段及び前段放射線検出器９，１１の計測データ
を画像処理部７で処理するようにしたので、前段放射線
検出器９により被検体４を透過したトータルエネルギと
してのＸ線線量を計測できると共に、後段放射線検出器
１１により被検体４及び前段放射線検出器９を透過減弱
した入射Ｘ線についてエネルギスペクトルを計測するこ
とができる。
を画像処理部７で処理するようにしたので、前段放射線
検出器９により被検体４を透過したトータルエネルギと
してのＸ線線量を計測できると共に、後段放射線検出器
１１により被検体４及び前段放射線検出器９を透過減弱
した入射Ｘ線についてエネルギスペクトルを計測するこ
とができる。
従って、上記エネルギスペクトルの分布によって。
被検体４の物質識別を行うことができる。また、上記エ
ネルギスペクトルの計測データに基づいて再構成画像を
補正処理することにより、アーチファクトの無い良好な
断層画像を得ることができる。
ネルギスペクトルの計測データに基づいて再構成画像を
補正処理することにより、アーチファクトの無い良好な
断層画像を得ることができる。
さらに、上記エネルギスペクトルの計測データにより、
特定のエネルギ領域だけを用いて画像再構成を行えば、
被検体４のＸ線吸収係数の分布についてより詳しい情報
を得ることができると共に、従来装置では得られなかっ
た新たな画像を作れ、ｘｇ断層撮影装置の利用価値を高
めることができる。
特定のエネルギ領域だけを用いて画像再構成を行えば、
被検体４のＸ線吸収係数の分布についてより詳しい情報
を得ることができると共に、従来装置では得られなかっ
た新たな画像を作れ、ｘｇ断層撮影装置の利用価値を高
めることができる。
第１図は本発明によるＸ線断層撮影装置の実施例を示す
説明図、第２図は本発明の第二の実施例を示す要部説明
図、第３図は第三の実施例を示す要部説明図、第４図は
従来のＸ線断層撮影装置を示す説明図、第５図は被検体
を透過する前後におけるＸ線のエネルギスペクトルの変
化を示すグラフ、第６図は被検体の物質の相違によるＸ
線のエネルギスペクトルの変化を示すグラフである。 １・・・Ｘ線管 ２・・・Ｘ線ビーム ４・・・被検体 ７・・・画像処理部 ８・・・モニタ ９・・・前段放射線検出器 １０・・・前段積分増幅器 １１・・・後段放射線検出器 １１ａ・・・第一の後段放射線検出器 １１ｂ・・・第二の後段放射線検出器 １２・・・後段積分増幅器 １３・・・Ａ／Ｄ変換器 １４・・・メモリ １５・・・切換スイッチ １６・・・Ｘ線吸収体
説明図、第２図は本発明の第二の実施例を示す要部説明
図、第３図は第三の実施例を示す要部説明図、第４図は
従来のＸ線断層撮影装置を示す説明図、第５図は被検体
を透過する前後におけるＸ線のエネルギスペクトルの変
化を示すグラフ、第６図は被検体の物質の相違によるＸ
線のエネルギスペクトルの変化を示すグラフである。 １・・・Ｘ線管 ２・・・Ｘ線ビーム ４・・・被検体 ７・・・画像処理部 ８・・・モニタ ９・・・前段放射線検出器 １０・・・前段積分増幅器 １１・・・後段放射線検出器 １１ａ・・・第一の後段放射線検出器 １１ｂ・・・第二の後段放射線検出器 １２・・・後段積分増幅器 １３・・・Ａ／Ｄ変換器 １４・・・メモリ １５・・・切換スイッチ １６・・・Ｘ線吸収体
Claims (2)
- （１）被検体の周りに回転し該被検体に向けてＸ線ビー
ムを放射するＸ線管と、上記被検体を間に挟んでＸ線管
と対向配置され該被検体を透過したＸ線を検出して電気
信号に変換する放射線検出器と、この放射線検出器で得
られた計測データを処理して断層画像を再構成する画像
処理部と、この再構成された断層画像を表示するモニタ
とを有するＸ線断層撮影装置において、上記放射線検出
器は被検体を透過したＸ線についてＸ線線量を計測する
前段放射線検出器とし、この前段放射線検出器のＸ線の
透過方向の後方には上記前段放射線検出器により減弱さ
れた入射Ｘ線についてエネルギスペクトルを計測する後
段放射線検出器を設け、上記前段及び後段放射線検出器
の計測データを画像処理部で処理するようにしたことを
特徴とするＸ線断層撮影装置。 - （２）上記後段放射線検出器は、入射Ｘ線量の大小に応
じて最大計数率で計測可能な状態に設定しうるようにし
たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線断
層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60257769A JPS62118244A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60257769A JPS62118244A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62118244A true JPS62118244A (ja) | 1987-05-29 |
Family
ID=17310840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60257769A Pending JPS62118244A (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62118244A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4222941B4 (de) * | 1991-08-19 | 2004-02-05 | Instrumentarium Corp. | Aufnahmeautomatik für ein Panorama-Röntgengerät |
| JP2009201885A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013143980A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2016075676A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 株式会社東芝 | 光子計数装置及びｘ線ｃｔ装置 |
-
1985
- 1985-11-19 JP JP60257769A patent/JPS62118244A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4222941B4 (de) * | 1991-08-19 | 2004-02-05 | Instrumentarium Corp. | Aufnahmeautomatik für ein Panorama-Röntgengerät |
| JP2009201885A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2013143980A (ja) * | 2012-01-13 | 2013-07-25 | Toshiba Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
| JP2016075676A (ja) * | 2014-10-06 | 2016-05-12 | 株式会社東芝 | 光子計数装置及びｘ線ｃｔ装置 |
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