JP2009147266A - 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック - Google Patents

薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック Download PDF

Info

Publication number
JP2009147266A
JP2009147266A JP2007325777A JP2007325777A JP2009147266A JP 2009147266 A JP2009147266 A JP 2009147266A JP 2007325777 A JP2007325777 A JP 2007325777A JP 2007325777 A JP2007325777 A JP 2007325777A JP 2009147266 A JP2009147266 A JP 2009147266A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
storage rack
substrate storage
solar cell
processing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007325777A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Akiyama
政記 秋山
Masashi Inoue
正志 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2007325777A priority Critical patent/JP2009147266A/ja
Priority to CN200880020468.XA priority patent/CN101689582B/zh
Priority to EP08863219A priority patent/EP2224499A1/en
Priority to US12/666,728 priority patent/US20100324717A1/en
Priority to PCT/JP2008/067763 priority patent/WO2009078209A1/ja
Publication of JP2009147266A publication Critical patent/JP2009147266A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/062Easels, stands or shelves, e.g. castor-shelves, supporting means on vehicles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/063Transporting devices for sheet glass
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/063Transporting devices for sheet glass
    • B65G49/064Transporting devices for sheet glass in a horizontal position
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/067Sheet handling, means, e.g. manipulators, devices for turning or tilting sheet glass
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G49/00Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for
    • B65G49/05Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles
    • B65G49/06Conveying systems characterised by their application for specified purposes not otherwise provided for for fragile or damageable materials or articles for fragile sheets, e.g. glass
    • B65G49/068Stacking or destacking devices; Means for preventing damage to stacked sheets, e.g. spaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67712Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67718Changing orientation of the substrate, e.g. from a horizontal position to a vertical position
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67721Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrates to be conveyed not being semiconductor wafers or large planar substrates, e.g. chips, lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67727Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations using a general scheme of a conveying path within a factory
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1876Particular processes or apparatus for batch treatment of the devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/20Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof such devices or parts thereof comprising amorphous semiconductor materials
    • H01L31/206Particular processes or apparatus for continuous treatment of the devices, e.g. roll-to roll processes, multi-chamber deposition
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65GTRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
    • B65G2249/00Aspects relating to conveying systems for the manufacture of fragile sheets
    • B65G2249/02Controlled or contamination-free environments or clean space conditions
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)

Abstract

【課題】工場の設置スペースを削減可能な薄膜太陽電池製造システムを提供する。
【解決手段】薄膜太陽電池製造システムは、第1共通基板保管ラック40−1と第2共通基板保管ラック40−2と複数の処理装置1〜16−2とを具備する。第1共通基板保管ラック40−1と第2共通基板保管ラック40−2は、基板を傾けて保管する。複数の処理装置1〜16−2は、薄膜太陽電池の製造工程で基板の処理に使用され、第1共通基板保管ラック40−1と第2共通基板保管ラック40−2との間の領域に、基板の搬出部及び搬入部のいずれか一方が第1共通基板保管ラック40−1に面し、他方が第2共通基板保管ラック40−2に面するように配置されている。第1共通基板保管ラック40−1及び第2共通基板保管ラック40−2は、複数の処理装置1〜16−2に共用される。
【選択図】図3

Description

本発明は、薄膜太陽電池製造装置システム及び薄膜太陽電池製造に使用される共通基板保管ラックに関する。
太陽電池として薄膜太陽電池が知られている。薄膜太陽電池は、主にモジュール化工程と、パネル化工程とにより製造される。パネル化工程では、ガラス基板上に透明電極層、光電変換層、及び裏面電極層を製膜しながら、各層についてレーザエッチングを行うことによりセルを集積化してモジュールにする。パネル化工程では、そのモジュールを接着シート(EVA)とバックシートで覆い、端子箱を設置してパネルにする。このように、薄膜太陽電池は、数多くの処理装置を用いて複雑な処理工程を経ることにより製造される。
このような薄膜太陽電池を製造するシステムとして、特開2005−235904号公報に薄膜太陽電池製造システムが開示されている。図1は、その薄膜太陽電池製造システムの実施例を示す構成図である。この薄膜太陽電池製造システムにおけるアモルファスシリコン太陽電池製造時の各工程機器の配置を、基板の流れに沿って説明する。まず、モジュール化工程として、一般雰囲気131において、基板搬入装置101に受け入れられたガラス基板は、基板洗浄器102、管理器103、透明電極製膜装置104、及び基板洗浄器105で各処理等を実施された後、基板搬送器106によってクリーンルーム130内へ搬送される。その後、レーザエッチング装置107、基板洗浄器108、基板搬送器109、アモルファスシリコン膜製膜装置(プラズマCVD装置)110、基板搬送器111、レーザエッチング装置112、裏面電極製膜装置113、基板搬送器114、基板洗浄器115、裏面レーザエッチング装置116、基板搬送器117、発電検査装置118、基板バッファ装置148で各処理等を実施される。以上によりモジュールが完成する。次に、パネル化工程として、モジュールは、基板搬送器119によって一般雰囲気132へ搬送された後、膜研磨装置120、基板洗浄器121、レイアップ装置122、ラミネータ装置123、パネル化装置124、端子台取付装置125、基板搬送器126、及び発電検査装置127で各処理等を実施された後、性能別仕分保管庫128に仕分けられる。以上により、パネルが完成する。
このように、各処理装置はS字状のスネークラインに並べられ、各処理装置は順次基板搬送器で接続されている。この薄膜太陽電池製造システムでは、各処理装置の処理タクト差やメンテサイクルに伴う基板滞留用のバッファとして、基板を一時的に保管する基板カセット140が概ね各処理装置ごと(製造工程ごと)に設けられている。図2は、その基板カセットを示す構成図である。基板カセット140には、基板100が横向きに水平になるように格納され、水平保管されている。この基板カセット140は天井クレーン(図示されず)により、搬送することが可能である。
関連する技術として特開平8−139153号公報に、枚葉式基板処理装置、基板搬送装置及びカセットが開示されている。この枚葉式基板処理装置1は、傾斜姿勢でカセットに収納された基板を取り出し、基板に対して1枚ずつ複数の基板処理を行った後に、カセットに基板を戻す装置である。カセットを載置するカセット載置台と、基板を受け渡すための第1基板受渡し部と、カセット載置台に載置されたカセットと第1基板受渡し部との間で基板を1枚ずつ縦姿勢に保持して搬送するインデクサロボットと、基板に対して傾斜姿勢で処理を行う複数の処理部と、第1基板受渡し部と各処理部との間で基板を傾斜姿勢で保持して搬送する基板搬送ロボットとを備えている。そして、基板を斜めに収納するカセットで占有面積を小さくすること、基板を斜めで搬送することで搬送空間を小さくすることが記載されている。
また、特開平10−123193号公報に表示パネル基板の検査装置および検査方法が開示されている。この検査装置は、ワークテーブルに載せた表示パネル基板の電極にプローブ針を接触させて前記表示パネル基板を検査する。この検査装置は、カセット、ワークテーブル、基板搬送機構、及びプローブユニットを備える。カセットは、複数の表示パネル基板を水平面に対して65〜80°の傾斜角度で収納する。ワークテーブルは、表示パネル基板を載せるための載置面が水平面に対して前記傾斜角度で傾斜している。基板搬送機構は、傾斜状態の表示パネル基板を前記カセットから1枚ずつ取り出してその傾斜状態のままで前記ワークテーブルに搬送できる。プローブユニットは、前記ワークテーブルの載置面に対向して配置されている。そして、基板を水平より60〜80°傾斜収納するカセットにより占有面積が低減すること、基板変形が抑制されることが記載されている。
また、特開2001−291765号公報に基板収容ボックス及び処理システムが開示されている。この基板収容ボックスは、1枚の被処理基板を気密に収容可能な内部空間を有し、前記内部空間の上面、側面または底面のいずれかが開閉可能に構成された筐体と、前記被処理基板を垂直または斜めに立てた状態で支持するための前記筐体内に設けられた支持部材とを具備する。そして、防塵用の基板収容ボックス内に基板を斜め保持した移動システムの記載がある。
また、特開平11−199007号公報にカセットの搬送方法及び処理設備が開示されている。この処理設備は、移載装置を備えたスタッカクレーンの移動を案内するレールを挟んで、その両側に、カセットを保管するストッカと、ローダ部を有する処理装置とを対向して配備している。加えて、上記ストッカと、スタッカクレーンと、処理装置のうちのローダ部のみとを、クリーンルーム本体内に配置している。そして、並列配置した処理装置のローダ部にストッカを設置しローダ部のみにクリーンルームを配置することの記載がある。
特開2005−235904号公報 特開平08−139153号公報 特開平10−123193号公報 特開2001−291765号公報 特開平11−199007号公報
特開2005−235904号公報に記載の薄膜太陽電池製造システムでは、上記のように基板を一時的に保管する複数の基板カセットが使用されている。しかし、各製造工程、各処理装置に対応するように複数の基板カセットを設けた場合に次のような課題がある。すなわち、各製造工程、各処理装置のそれぞれの保管が必要な最大基板数量に対応可能な基板カセットが必要になり、基板カセットが大型化又は多数化してしまう。その結果、基板カセットの設置場所が増大して工場スペースを大きく占有することになる。また、多くの基板カセットを管理する必要があるため、その管理が煩雑になり、コストアップの要因になる。また、処理中の基板を一括して保管できる共通ストッカーだけでは、処理装置との基板出し入れが煩雑になり、処理工程の混乱を発生することが危惧される。即ち、各処理装置の処理速度やメンテナンスサイクルによる稼動時間が散在し統一できない処理装置や処理装置群を配置して製造ラインとして運用するに当たり、簡易に的確に運用するシステムの構築が課題である。
特に、大型基板(例示:1.1m×1.4m×4mm)の場合、基板を水平保管するために、基板のタワミ(例示:4mmのガラス基板を1.1m幅で支持すると基板中央のタワミは約5mm)と基板出し入れを考慮するとカセットの基板間隔は30〜50mm以上必要になる。そのため、基板カセットを大きくせざるを得ず、工場において各製造工程での設置スペースがかさむ要因の一つとなっている。
従って、本発明の目的は、工場の設置スペースを削減可能な薄膜太陽電池製造システムを提供することにある。
また、本発明の他の目的は、大きさ及び設置スペースを削減可能な薄膜太陽電池製造用の共通基板保管ラックを提供することにある。
また、本発明の他の目的は、基板滞留用のバッファとして、滞留する製造工程の変動にフレキシブルに対応可能な薄膜太陽電池製造システム及び薄膜太陽電池製造用の共通基板保管ラックを提供することにある。
この発明のこれらの目的とそれ以外の目的と利益とは以下の説明と添付図面とによって容易に確認することができる。
以下に、発明を実施するための最良の形態で使用される番号・符号を用いて、課題を解決するための手段を説明する。これらの番号・符号は、特許請求の範囲の記載と発明を実施するための最良の形態との対応関係を明らかにするために括弧付きで付加されたものである。ただし、それらの番号・符号を、特許請求の範囲に記載されている発明の技術的範囲の解釈に用いてはならない。
本発明の薄膜太陽電池製造システムは、基板(100)を鉛直方向より傾けて保管する第1共通基板保管ラック(40−1)と、薄膜太陽電池の製造工程で前記基板(100)の処理に使用され、前記第1共通基板保管ラックへ処理を終了した基板(100)を搬出するように配置された複数の処理装置(1〜16−2)とを具備する。第1共通基板保管ラック(40−1)は、複数の処理装置(1〜16−2)に共用され、製造工程の処理順番に従わずに前記基板(100)を保管する薄膜太陽電池製造システムである。
本発明の薄膜太陽電池製造システムは、製造工程の処理順番に従わずに基板(100)を保管する第1共通基板保管ラック(40−1)を適切に設けることで、複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部を第1共通基板保管ラック(40−1)を用いることで並列に配置することが可能となり、工場での薄膜太陽電池の製造運用だけでなく工場建設コストを低減できる太陽電池製造システムとすることができる。
また、本発明の薄膜太陽電池製造システムは、共通基板保管ラック(40−1)が複数の処理装置(1〜16−2)に共用されて基板(100)を保管する。すなわち、その共通基板保管ラック(40−1)を各処理装置毎の専用ではなく、複数の処理装置(1〜16−2)間で共通としている。それにより、共通基板保管ラック(40−1)の基板ストック数量として、各装置の最大必要量を設ける必要がなくなり、共通基板保管ラック(40−1)の有効利用化と最小化が可能となる。その結果、図1の従来技術のS字スネークラインに配置した基板カセット保管に比べて、全体として設置スペースを大幅に低減することが出来る。
更に、本発明では、上記の薄膜太陽電池製造システムは、基板(100)を鉛直方向より傾けて保管する第2共通基板保管ラック(40−2)と、基板(100)の処理順番を制御する基板処理制御装置(17)を更に具備する。複数の処理装置(1〜16−2)は、第1共通基板保管ラック(40−1)と第2共通基板保管ラック(40−2)との間の領域に、基板(100)の搬出部及び搬入部のいずれか一方が第1共通基板保管ラック(40−1)に面し、他方が第2共通基板保管ラック(40−2)に面するように配置されている。第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)は、複数の処理装置(1〜16−2)に共用される。基板処理制御装置(17)は、複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部への基板(100)の搬入及び搬出を制御し、第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)への基板(100)の搬入及び搬出を制御する。
本発明では、二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)が複数の処理装置(1〜16−2)に共用されて基板(100)を保管する。すなわち、その二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)を各処理装置毎の専用ではなく、複数の処理装置(1〜16−2)間で共通としている。それにより、共通基板保管ラック(40−1)の基板ストック数量として、各装置の最大必要量を設ける必要がなくなり、共通基板保管ラック(40−1)の有効利用化と最小化が可能となる。その結果、図1の従来技術のS字スネークラインに配置した基板カセット保管に比べて、全体として設置スペースを更に大幅に低減することが出来る。
更に、本発明では、その二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)と複数の処理装置(1〜16−2)とは、搬出部及び搬入部が面するように配置されているので、基板(100)の移動距離を極めて短くすることができる。それにより、基板(100)の移動に必要な移動経路のスペースの増加を大幅に抑制することができる。加えて、移動距離が短いので、移動時間が短縮され、作業効率が向上する。また、処理装置は、搬入部及び搬出部が異なるような、装置の一方の側から基板(100)が入り他方の側から基板(100)が出てくるような流れ作業的な装置であり、両側に二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)があるので基板(100)の一時保管を極めて効率的に行うことができる。
ここで、面するように配置することに関しては、概ね向かい合うように配置することであり、その間に基板移載装置のような基板(100)を移動させる装置があっても良いし、基板(100)の向きを変える装置があっても良い。また、基板(100)に関しては、無垢の基板(81)だけでなく処理装置により各種処理を行った基板であっても良い。また、処理装置に関しては、一つの装置単位に限らず一連の処理を行う装置群であっても良いし、基板(100)の搬送路を伴った装置群でも良い。また、共用に関しては、二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)の各々において、同一の基板格納場所を異なる処理装置が利用することが可能であっても良い。
特許文献1では、基板カセットは各処理装置ごとに設けられており、本発明のような各処理装置に共用で使用されるような共通基板保管ラックを用いていない。そのため、本発明に比較して、その設置スペースは大きくなる。
特許文献2では、同一の基板格納場所を異なる処理装置が利用することが可能なようにカセットが共用されているか否か記載されていない。また、各処理装置に対向してカセットが設けられていないので基板(100)の移動に必要な移動経路(レール20)のスペースが余分に必要である。加えて、処理装置の両側でなく片側にしかカセットが設けられていないので、流れ作業的な装置に対応することができないと考えられる。
特許文献3では、処理装置は一つであるので、複数の処理装置でカセットが共用される構成は記載されていない。また、処理装置の両側でなく片側にしかカセットが設けられていないので、流れ作業的な装置に対応することができないと考えられる。
特許文献4は、同一の基板格納場所を異なる処理装置が利用することが可能なようにカセットステーションが共用されているか否か記載されていない。また、各処理装置に対向してカセットステーションが設けられていないので、カセットステーションから離れた位置の処理装置へ基板(100)を移動する場合には移動距離を長くとる必要がある。加えて、処理装置の両側でなく片側にしかカセットが設けられていないので、流れ作業的な装置に対応することができないと考えられる。
特許文献5では、同一の基板格納場所を異なる処理装置が利用することが可能なようにストッカが共用されているか否か記載されていない。加えて、処理装置の両側でなく片側にしかカセットが設けられていないので、流れ作業的な装置に対応することができないと考えられる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部は、第1共通基板保管ラック(40−1)または前記第2共通基板保管ラック(40−2)により、互いに並列に配置され、前記複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部の配置順番が前記薄膜太陽電池の製造工程の順番に従わないものを含んでも良い。
本発明では、複数の処理装置(1〜16−2)に共用されそれら処理装置(1〜16−2)の周囲に設置された共通基板保管ラック(40−1、40−2)を利用することで、複数の処理装置(1〜16−2)を薄膜太陽電池の製造工程の順序ではなく、薄膜太陽電池の製造工場内の設置に適する場所にそれぞれ配置することができる。共通基板保管ラック(40−1,40−2)は、各処理装置(1〜16−2)に共用されることで処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部を互いに並列に配置し、そのどこに基板(100)を保管しても処理装置の配置順番に関係なくその基板(100)を取り出すことができるからである。そして、基板(100)を次の処理工程の処理装置へと効率よく搬送することが可能となる。また、複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部は、並列配置されるので、処理装置同士の間隔が共有メンテナンススペースとなるので、メンテナンススペースもまた同時に低減することが出来る。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部は、前記複数の処理装置(1〜16−2)の配置順番を変更することなく、基板処理制御装置(17)により、薄膜太陽電池の製造工程の順番を変更が可能である。
すなわち、本発明では、薄膜太陽電池の製造工程の一部に処理順序の変更がある場合も、処理工程順序の変更に対応する処理装置を移動・移設することなく、基板処理制御装置(17)の制御プログラムの変更で製造工程の処理順番の変更が可能である。
上記の膜太陽電池製造システムにおいて、複数の処理装置(1〜16−2)の各々は、複数の処理装置(1〜16−2)の高さに基づいて設定された領域に配置されていることが好ましい。
本発明では、複数の処理装置(1〜16−2)を薄膜太陽電池の製造工程の順序ではなく、複数の処理装置(1〜16−2)の床面からの高さに基づいて設定された領域に配置することで、複数の処理装置(1〜16−2)の周辺の空間を有効に用いることができる。例えば、背の低い処理装置を集めることで、その上部空間の天井を低くしたり、上部空間に、二階を設けて別処理工程の装置を配置する等により、工場内のスペースを有効利用し、工場建屋の建設コストを低減することができる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、複数の処理装置(1〜16−2)の各々は、複数の処理装置(1〜16−2)の使用するユーティリティに基づいて設定された領域に配置されていることが好ましい。
本発明では、複数の処理装置(1〜16−2)を薄膜太陽電池の製造工程の順序ではなく、複数の処理装置(1〜16−2)の使用するユーティリティに基づいて設定された領域に配置することで、ユーティリティの関する配管や配線等の引き回しを短く簡便に、更には安全に行うことができる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、第1共通基板保管ラック(40−1)は、内部の雰囲気の清浄度を外部の雰囲気の清浄度より高く保つ第1浄化装置(42)を備えることが好ましい。更に、第2共通基板保管ラック(40−2)は、内部の雰囲気の清浄度を外部の雰囲気の清浄度より高く保つ第2浄化装置(42)を備えることが好ましい。
本発明では、二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)がそれぞれ浄化装置(42)を有しているので、それらの内部の雰囲気の清浄度を外部の雰囲気の清浄度より高く保つことができる。二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)は内容積も限られるので、浄化装置(42)の通気気流の容量も大きなものが不要になる。その結果、低コストにて基板(100)の清浄度を極めて高く確保することが可能となる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、第1室(図示されず)と、第3浄化装置(図示されず)と、第2室(図示されず)と、第4浄化装置(図示されず)とを更に具備することが好ましい。ただし、第1室(図示されず)は、第1共通基板保管ラック(40−1)と複数の処理装置(1〜16−2)との間の空間(20−1を含む空間)を含む。第3浄化装置(図示されず)は、第1室(図示されず)内の雰囲気の清浄度を他の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ。第2室(図示されず)は、第2共通基板保管ラック(40−2)と複数の処理装置(1〜16−2)との間の空間(20−2を含む空間)を含む。第4浄化装置(図示されず)は、第2室(図示されず)の雰囲気の清浄度を他の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ。
本発明では、共通基板保管ラック(40−1、40−2)と各処理装置(1〜16−2)との間の空間を第1室及び第2室(図示されず)で覆い、浄化装置(図示されず)で浄化するので、両室のクリーン度を高く保つことができる。その結果、共通基板保管ラック(40−1、40−2)のクリーン度もより高く保つことができる。それにより、工場内全体をクリーンルームとした厳しい管理状態にする必要がなく工場建設のコストダウンとなる。更に、工場内各処理装置は、クリーンルーム外の一般雰囲気中に配置できるので、無塵服を着用した特別な作業管理が不要となり、特にメンテナンス時の作業性が向上し、生産性向上に寄与する。また、クリーンな環境に保つべき空間を限定できるので、HEPAフィルターを通気させるファン動力などの、クリーンルームの運用コストを大幅に低減することができる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、第1基板移載装置(51、61)と、第2基板移載装置(51、61)とを更に具備することが好ましい。ただし、第1基板移載装置(51、61)は、第1室(図示されず)内で、基板(100)の移動を行う。第2基板移載装置(51、61)は、第2室(図示されず)内で、基板(100)の移動を行う。この場合、第1基板移載装置(51、61)は、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第5浄化装置(52、62)を備えることが好ましい。第2基板移載装置(51、61)は、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第6浄化装置(52、62)を備えることが好ましい。
本発明では、第5浄化装置(52、62)を備える第1基板移載装置(51、61)と、第6浄化装置(52、62)を備える第2基板移載装置(51、61)を用いることで、基板(100)を移載するときにも基板(100)をより清浄に保つことができる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、保管時での基板(100)の傾きは、鉛直方向から5°以上15°以下であることが好ましい。
本発明では、基板(100)を鉛直方向から傾けて保管するとき、基板(100)をその自重で安定して保持するために鉛直方向から5°以上傾斜させることが好ましく、装置スペースを小さく取るために鉛直方向から15°以下が好ましい。このとき、基板(100)のタワミ量は、上記傾斜角度では水平時の約1/10に低減される。それにより、共通基板保管ラック(40)内の基板設置間隔は、例えば水平時の50mmから30mmへ低減することができる。その結果、共通基板保管ラック(40)の設置スペースを水平の場合と比較して約20%低減することができる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)の各々は、複数の基板保管ラック(41)を備えることが好ましい。複数の基板保管ラック(41)の各々は、複数の基板保管ラック(41)の各々と同一の他の基板保管ラック(41)と交換が可能であることが好ましい。
本発明では、一つの基板保管ラック(41)が処理工程途中の基板で満たされた場合、それを天井クレーンやフォークリフトなどで取り出して他の保管場所へ移動し、代わりに他の空の基板保管ラック(41)をそこに挿入することができる。それにより、ある基板保管ラック(41)が満たされて、続く基板(100)の保管ができなくなった場合でも、他の基板保管ラック(41)で対応する等、フレキシブルな対応が可能となる。
上記の薄膜太陽電池製造システムにおいて、第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)との間に設けられ、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保ちながら、第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)の一方から他方へ基板(100)を移動する基板搬送装置(9)を更に具備する。
本発明では、第1共通基板保管ラック(40−1)と第2共通基板保管ラック(40−2)との間の基板の移動を清浄度の高い雰囲気で行うことができるので、基板をより清浄に保つことができる。また、基板移動装置(9)を用いることで、第1共通基板保管ラック(40−1)だけでの基板保管場所の共有だけでなく、実質的に第2共通基板保管ラック(40−2)を含めた基板保管場所の共有が可能となる。その結果、基板(100)の保管場所のフレキシビリティを向上させることができ、第1共通基板保管ラック(40−1)と第2共通基板保管ラック(40−2)の基板保管における余裕容量を更に削減しても、適切な運用ができ、工場建設コストの低減が可能である。基板搬送装置(9)は複数あっても良い。
本発明の共通基板保管ラックは、複数の基板保管ラック(41)と、複数の浄化装置(42)とを具備する。複数の基板保管ラック(41)は、基板(100)を鉛直方向から傾けて保管し、前記基板(100)の出し入れ方向と異なる方向に並んで設けられている。複数の浄化装置(42)は、前記複数の基板保管ラック(41)ごとに設けられ、周辺雰囲気よりも清浄度の高い気体を対応する前記複数の基板保管ラック(41)内へ供給する。薄膜太陽電池の製造工程で使用される複数の処理装置(1〜16−2)における前記基板(100)を搬出する搬出部及び搬入する搬入部のいずれか一方が前記複数の基板保管ラック(41)に面し、複数の処理装置(1〜16−2)に共用されるように配置される。前記複数の基板保管ラック(41)の各々は、前記複数の基板保管ラック(41)の各々と同一の他の基板保管ラック(41)と交換が可能である。
本発明では、基板保管ラック(41)は、浄化装置(42)と開口機構(46)とを有している。それにより、基板(100)を清浄に保管することができる。また、基板(100)を鉛直方向から傾けているので、基板(100)は水平設置状態よりも基板の自重によるソリ量が少なく、鉛直設置状態よりも狭い空間でも基板の自重で基板の設置位置を安定して保持できるので、基板保管ラック(41)の設置面積を大幅に削減することが得きる。更に、基板保管ラック基板保管ラック(41)と複数の処理装置(1〜16−2)とは、搬出部もしくは搬入部が面するように配置されているので、基板(100)の移動距離を極めて短くすることができる。それにより、基板(100)の移動に必要な移動経路のスペースの増加を大幅に抑制することができ、基板保管処理に要するタクトタイムを短縮できる。
本発明は薄膜太陽電池製造システムを用いた薄膜太陽電池の製造方法である。ここで、薄膜太陽電池システムは、第1共通基板保管ラック(40−1)と、第2共通基板保管ラック(40−2)と、複数の処理装置(1〜16−2)とを具備する。第1共通基板保管ラック(40−1)と第2共通基板保管ラック(40−2)は、基板(100)を鉛直方向より傾けて保管する。複数の処理装置(1〜16−2)は、薄膜太陽電池の製造工程で基板(100)の処理に使用され、第1共通基板保管ラック(40−1)と第2共通基板保管ラック(40−2)との間の領域に、基板(100)の搬出部及び搬入部のいずれか一方が第1共通基板保管ラック(40−1)に面し、他方が第2共通基板保管ラック(40−2)に面するように配置されている。また、前記基板(100)の処理順番を制御する基板処理制御装置(17)を更に具備する。第1共通基板保管ラック(40−1)及び第2共通基板保管ラック(40−2)は、複数の処理装置(1〜16−2)に共用され、前記基板処理制御装置(17)は前記複数の処理装置(1〜16−2)の少なくとも一部への前記基板(100)の搬入及びと搬出を制御し、前記第1共通基板保管ラック(40−1)及び前記第2共通基板保管ラック(40−2)への前記基板(100)の搬入及び搬出を制御する。
薄膜太陽電池の製造方法は、(a)第1共通基板保管ラック(40−1)または第2共通基板保管ラック(40−2)に保管された基板(100)を搬出し、複数の処理装置(1〜16−2)のうちの一つである対象処理装置へ搬入する工程と、(b)搬入された基板(100)を対象処理装置で処理する工程と、(c)処理された基板(100)を対象処理装置から搬出し、第1共通基板保管ラック(40−1)または第2共通基板保管ラック(40−2)へ搬入して保管する工程とを具備する。
本発明では、二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)が複数の処理装置(1〜16−2)に共用されて基板(100)を保管する。それにより、共通基板保管ラック(40−1、40−2)の基板ストック数量として、各装置の最大必要量を設ける必要がなくなり、共通基板保管ラック(40−1、40−2)の有効利用化と最小化が可能となる。またその二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)と複数の処理装置(1〜16−2)とは、搬出部または搬入部が面するように配置されているので、基板(100)の移動距離を極めて短くすることができる。それにより、基板(100)の移動時間に必要な移動経路のスペースの増加を大幅に抑制することができる。加えて、移動距離が短いので、移動時間が短縮され、作業効率が向上する。また、処理装置の少なくとも一部は、搬入部及び搬出部が異なるような、装置の一方の側から基板(100)が入り他方の側から基板(100)が出てくるようなインライン的な装置または装置群であり、基板(100)を搬入または搬出する両側方向に二つの共通基板保管ラック(40−1、40−2)があるので搬入方向と搬出方向を限定する必要がなく、基板(100)の一時保管を極めて効率的に行うことができる。
本発明の薄膜太陽電池製造装置システムにより、工場の設置スペースを削減し、処理装置のメンテナンス性を向上することが可能となる。本発明の基板保管ラックにより、基板保管ラック自体の大きさ及び設置スペースを削減し、クリーンな環境を簡易に維持することが可能となる。また、基板滞留用のバッファとして、滞留する製造工程の変動にフレキシブルに対応することが可能となる。さらに、基板保管処理に要するタクトタイムを短縮し、生産効率を高めることが可能となる。
以下、本発明の実施の形態に関して、添付図面を参照して説明する。図3は、本実施形態に係る薄膜太陽電池製造システムを示す構成図である。薄膜太陽電池製造システム30は、薄膜太陽電池工場内に設置され、透光性ガラス基板などの基板上にアモルファス太陽電池やタンデム型太陽電池のような薄膜太陽電池を製造するシステムである。薄膜太陽電池製造システム30は、一般雰囲気の室に配置された複数の処理装置と共通基板保管ラック40(40−1、40−2)とを具備する。
複数の処理装置は、薄膜太陽電池の製造工程で用いられる装置である。ここでは、モジュール製造までの複数の処理装置の一例として、基板搬入装置1、基板洗浄装置2、透明電極製膜装置(熱CVD装置)4、TCO(透明電極)レーザエッチング装置7、基板洗浄装置8、基板搬送装置9、光電変換層製膜装置(プラズマCVD装置)10、光電変換層レーザエッチング装置12、裏面電極製膜装置(スパッタリング装置)13、基板洗浄装置15、裏面レーザエッチング装置16−1、絶縁レーザエッチング装置16−2を備える。これらの処理装置は、共通基板保管ラック40−1、40−2に挟まれた領域22において、各製造工程の各処理装置又は組み合わされた前後工程の処理装置群が基本的に並列に配置されている。なお、各処理装置は、一連の処理を行う複数の装置が組み合わされたものであっても良い。
共通基板保管ラック40−1、40−2は、各処理装置に共有されて使用される基板滞留を吸収するためのバッファである。それぞれ薄膜太陽電池製造システム30の配置される領域の面する二つの境界(側面)30−1、30−2に沿って設けられている。すなわち、共通基板保管ラック40−1,40−2は、処理装置群の周囲に、各処理装置における基板の搬入部及び搬出部に面するように配置されている。各共通基板保管ラック40−1,40−2には、各処理装置で処理した基板に対して収納保管する専用領域(固定領域)は設定されず、各処理装置が共有して使用することが可能なようになっている。なお、基板は、何の処理も施されていない基板だけでなく、上記各処理装置により処理が行われたものも簡単のために基板と称する。
共通基板保管ラック40−1、40−2と各処理装置との基板の搬入/搬出は、それぞれ領域20−1、20−2において主にX方向に移動しながら動作する基板移載装置(後述)によって行われる。領域20−1、20−2は、それぞれ領域22と共通基板保管ラック40−1、40−2との間の領域である。基板移載装置は、各処理装置の専用ではなく、各処理装置が共有して使用することが可能なようになっている。基板移載装置は、領域20−1、20−2ごとに一台であっても複数台であっても良い。
基板の処理順番は基板処理制御装置17により制御される。基板処理制御装置17は少なくとも一部の処理装置への基板の搬入と搬出を制御し、第1共通基板保管ラック40−1及び第2共通基板保管ラック40−2への基板の搬入と搬出を制御する。さらに、基板移載装置同士の連係や、各基板移載装置と各処理装置との間の連係も行い、基板処理制御装置17の制御用のコンピュータ(図示されず)に内蔵された制御プログラムによって制御される。基板処理制御装置17において、基板移載装置同士、各基板移載装置と各処理装置との間、各基板移載装置及び各処理装置とコンピュータとの間の情報や命令の送受信は、例えば、薄膜太陽電池製造システム30内の無線LANによって行うことができる。その制御プログラムは、基板の位置(保管位置を含む)や、共通基板保管ラック40への基板の搬入/搬出を、制御用のコンピュータ専用の記録領域でメモリーしておいても良い。また、基板に設置した基板IDを用いて管理しても良い。基板IDは、各処理装置の処理工程や、途中にある検査工程と連動して処理基板の品質管理に使用しても良い。また各基板移載装置に設けられた読取装置で読み取り、コンピュータへ送信して共通基板保管ラック40への基板の搬入/搬出を確認しても良い。
上記各処理装置と薄膜太陽電池の製造工程との対応について説明する。図4及び図5は、その薄膜太陽電池製造システムを用いた薄膜太陽電池の製造工程を示す模式図である。
まず、薄膜太陽電池のうち、薄膜太陽電池製造時の主要製造工程を図4及び図5の模式図を参照して順に列記する。ここでは、モジュール化工程は、図4に示されるように以下の(A)から(H)の工程を有する。
(A)図4(a):基板81の受け入れ、洗浄。
(B)図4(b):基板81上に透明電極層82を製膜。
(C)図4(c):透明電極層82をレーザエッチングして分離溝90を形成、洗浄。
(D)図4(d):透明電極層82上に光電変換層83を製膜。
(E)図4(e):光電変換層83をレーザエッチングして分離溝91を形成、洗浄。
(F)図4(f):光電変換層83上に裏面電極層84を製膜。
(G)図4(g):光電変換層83と裏面電極層84をレーザエッチングして分離溝92を形成、洗浄
(H)図4(h):透明電極層82と光電変換層83と裏面電極層84をレーザエッチングして絶縁溝95を形成、洗浄、モジュール86の完成。
一方、パネル化工程は、図5に示されるように以下の(I)から(N)の工程を有する。
(I)図5(a):周辺領域94の透明電極層82と光電変換層83と裏面電極層84を削除、洗浄。
(J)図5(b):カバーシート97を接着。
(K)図5(c):端子箱98を取付け。
(L)図5(d):封止材を注入。
(M)図5(e):発電検査。
(N)図5(f):薄膜太陽電池パネルの完成。
以下、薄膜太陽電池の製造工程における各処理装置及び共通基板保管ラック40と、基板の流れとの関係について、図3から図5を参照して説明する。
(A)基板は、基板搬入装置1に受け入れられる(図3(1))。次に、基板は、基板洗浄装置2で洗浄される(図3(2)、図4(a))。基板は、基板移載装置により、基板洗浄装置2から搬出され、共通基板保管ラック40−2に搬入される。
(B)基板は、基板移載装置により、共通基板保管ラック40−2から搬出され、透明電極製膜装置(熱CVD装置)4に搬入される。そして、透明電極製膜装置4において、基板上に透明電極層82が製膜される(図3(3)、図4(b))。基板は、基板移載装置により、透明電極製膜装置4から搬出され、共通基板保管ラック40−1に搬入される。
(C)基板は、共通基板保管ラック40−1から搬出され、TCO(透明電極)レーザエッチング装置7に搬入される。そして、TCOレーザエッチング装置7により、透明電極層82にレーザエッチングで溝90が形成される(図3(4)、図4(c))。これにより、透明電極層82が短冊状に分離される。その後、基板洗浄装置8により、基板が洗浄される(図3(5))。基板は、基板移載装置により、基板洗浄装置8から搬出され、共通基板保管ラック40−2に搬入される。又は、基板は、基板洗浄装置8から搬出され、基板移載装置により基板搬送装置9に搬入され、基板搬送装置9により搬送され(図3(6))、基板移載装置により基板搬送装置9から搬出され基板共通ラック40−1へ搬入される。
(D)基板は、基板移載装置により、基板共通ラック40−1から搬出され、光電変換層製膜装置(プラズマCVD装置)10に搬入される。そして、光電変換層製膜装置10により、透明導電層82上に光電変換層83が製膜される(図3(7)、図4(d))。光電変換層83は通常、p層・i層・n層の半導体層により構成される。光電変換層83がタンデム型の場合は、さらに基板は、基板共通ラック40−2から搬出され、基板移載装置により、基板搬送装置9に搬入され、基板搬送装置9により搬送され(図3(6))、基板移載装置により基板搬送装置9から搬出され、光電変換層製膜装置(プラズマCVD装置)10に搬入される。そして、光電変換層製膜装置10により、タンデム型太陽電池のボトム層となる光電変換層83が製膜される(図3(7)、図4(d))。
(E)光電変換層レーザエッチング装置12により、光電変換層83にレーザエッチングで溝91が形成される(図3(8)、図4(e))。これにより、光電変換層83が透明電極層82のエッチング位置と少しずらした位置で短冊状に分離される。基板は、基板移載装置により、光電変換層レーザエッチング装置12から搬出され、基板共通ラック40−2へ搬入される。
(F)基板は、基板移載装置により、共通基板保管ラック40−2から搬出され、裏面電極製膜装置(スパッタリング装置)13へ搬入される。そして、裏面電極製膜装置13により、光電変換層83上に裏面電極層84が製膜される(図3(9)、図4(f))。基板は、基板移載装置により、裏面電極製膜装置13から搬出され、基板共通ラック40−1へ搬入される。
(G)基板は、基板移載装置により、共通基板保管ラック40−1から搬出され、基板洗浄装置15に搬入される。そして、基板洗浄装置15において、基板が洗浄される(図3(10))。その後、裏面レーザエッチング装置16−1により、裏面電極層84および光電変換層83にレーザエッチングで溝92が形成される(図3(11)、図4(g))。これにより、裏面電極層84および光電変換層83が更にエッチング位置をずらした位置で短冊状に分離され、短冊状の複数の太陽電池85が直列接続されたモジュール86が形成される。
(H)絶縁レーザエッチング装置16−2により、裏面電極層84、光電変換層83及び透明導電層82にレーザエッチングで絶縁溝95が形成される(図3(12)、図4(h))。これにより、モジュール86の面する二辺の絶縁が行われる。基板は、基板移載装置により、絶縁レーザエッチング装置16−2から搬出され、基板共通ラック40−2に搬入される。ただし、図4(h)におけるX方向及びY方向は、図4(i)に示されるモジュール86における太陽電池85の短冊方向がY方向であり、Y方向に垂直な方向がX方向である。
なお、共通基板保管ラック40−1、40−2との間のスペースに設置した処理装置のなかで、装置長さが短い装置がある場合は、処理装置の基板搬入側または搬出側に必要な搬送長さの基板搬送装置を追設して、基板移載装置との基板受渡を可能にしている。また処理装置のなかで、基板の搬入や搬出方向が共通基板保管ラック40−1、40−2に向かい面しないものがあれば、基板の搬入や搬出方向を回転する装置を追加して対応している。
また、基板搬送装置9により基板共通ラック40−1と基板共通ラック40−2の間で基板の移動が可能であるが、必要に応じて基板搬送装置9を複数台設置することで、基板を移動させるタクトタイムを短縮させて、製造ラインのフレキシビリティを向上することが可能である。
その後のパネル化工程については、処理装置の設置雰囲気がモジュール製造工程に比較して厳密なクリーン環境を必要としない一般環境で良いため、工場の別区画で処理装置を配置することでも良い。例えば図3のモジュール化工程のフロアの、階上もしくは階下もしくは隣接のフロアに図1に示される特開2005−235904号公報の膜研磨装置121から性能別仕分保管庫128までの工程を行う処理装置を配置することができる。すなわち、(I)共通基板保管ラックから140−2から取り出された基板は、膜研磨装置120で周辺領域94の裏面電極層84/光電変換層83/透明導電層82が研磨除去される(図5(a))。(J)続いて、基板は基板洗浄器121で洗浄され、レイアップ装置122、ラミネータ装置123およびパネル化装置24でカバーシート97が基板に接着される(図5(b))。(K)次に、端子台取付装置125において端子箱が基板に取付けられる(図5(c))。(L)端子箱が封止剤(ポッティング剤)で充填されて密閉・封入される(図5(d))。(M)その後、基板搬送器126で発電検査装置127に搬送され、ここで発電検査が行われる(図5(e))。(N)そして、完成品として(図5(f))性能別仕分保管庫128に仕分けられる。
上記の薄膜太陽電池の製造工程では、共通基板保管ラック40−1、40−2には基本的に各処理装置に対する専用の領域が設定されず、複数の処理装置間で共通としている。そのため、各処理装置のそれぞれについて保管が必要な最大基板数量に対応させる必要がないので、図1の対応する基板カセット140を合体させた容積に比較して、その容積を著しく小さくすることができる。すなわち、基板保管ラックの有効利用化と最小化が可能となる。
図3に示されるように、処理装置又は組み合わされた処理装置群は、その基板搬入口及び基板搬出口のいずれか一方が共通基板保管ラック40−1に向かい、他方が共通基板保管ラック40−2に向かうように領域22に配置されていることが好ましい。共通基板保管ラック40から搬出された基板を処理装置に搬入し易く、共通基板保管ラック40から搬出された基板を処理装置に搬入し易いからである。また、処理装置が直線的な形状を有し、その一端に基板搬入口が有り、他端に基板搬出口が有る場合、共通基板保管ラック40−1、40−2の長手方向に対して処理装置は略直角に配置されていることが好ましい。図3の例では、X方向に長い共通基板保管ラック40に対して、Y方向に処理が進む処理装置又は処理装置群となっている。
ただし、共通基板保管ラック40−1のある側及び共通基板保管ラック40−2のある側のいずれか一方において、基板が滞留することがない、又は、基板を滞留させなくても対応できる、というような場合、共通基板保管ラック40−1、40−2のいずれか一方だけにしても良い。その場合、共通基板保管ラック40のない側では、例えば、基板移載装置(後述)により、次の処理装置へ基板を移動する。
図3の例では、薄膜太陽電池製造システム30として、光電変換層が単層である薄膜太陽電池のモジュール化工程を実施するための複数の処理装置が例示している。しかし、本発明はこの例に限定されるものではなく、光電変換層が複数であるタンデム型の薄膜太陽電池を製造するシステムや、パネル化工程を含んだ製造システムであっても良い。その場合には、必要に応じて他の処理装置を共通基板保管ラック40−1、40−2で挟まれた領域(22)に配置する。
薄膜太陽電池の製造工程では、処理装置のサイズや基板の搬入部(ローダ)及び搬出部(アンローダ)の位置のような装置の特徴により、処理工程の順に並べると工場での設置スペースの効率が悪くなる処理装置がある。また、ユーティリティ(例示:ガス供給装置及び排ガス処理装置のようなガス関連設備)などの関係で工場内の設置位置が限られる装置がある。例えば、図3の場合、光電変換層製膜装置(プラズマCVD装置)10は、工場建屋の外に設けられたガス関連設備200との間でガスの供給及び排出を行う必要がある。ガス配管は出来るだけ短いことが望ましいので、光電変換層製膜装置10をできるだけ工場建屋の壁際に配置することが好ましい場合がある。また、光電変換層製膜装置10は他の処理装置に比べて床面からの背が高い装置で、装置メンテナンスに天井クレーンを利用することが好ましいので、その上部の空間に上階(例えば二階)の部屋を作るというような空間の有効利用をすることが難しい。工場内に広い二階の部屋を作って空間を有効利用するためには、光電変換層製膜装置10をできるだけ工場建屋の壁際に配置して、上部の空間に二階の部屋を作ることが出来る背の低い処理装置をその反対側に集める必要がある。そのため、光電変換層製膜装置10を工場建屋の壁際である領域P2とし、他の処理装置をその反対側の領域P1に設置するようにしている。領域P1の上部の空間に上階(例えば二階)の部屋を作り、そのフロアにパネル化工程の処理装置を配置すれば、工場の設置面積縮小し、土地を有効に活用することが可能となる。
このように、これら各処理装置を処理工程の順序に従うのではなく、薄膜太陽電池の製造工場内の設置に適する場所にそれぞれ並列に配置し、周囲に設置した共通基板保管ラックと基板移載装置を利用することで、基板を次工程で処理が必要な装置へと効率よく搬送することが可能となる。そして、この共通基板保管ラックを用いることで、自動倉庫と各装置への基板融通性の両方の機能を確保することができる。工場内の設置に適する場所は、例えば、処理装置の高さの範囲毎にまとまって配置するように設定された場所や、ユーティリティの関係で予め設定された場所である。本実施の形態では、更に、処理装置同士の間隔が共有メンテナンススペースとなるので、メンテナンススペースもまた同時に低減することが出来る。
また、薄膜太陽電池の製造工程の一部に処理順序の変更や、一部の処理を省く変更がある場合は、処理工程順序の変更に対応する処理装置を移動・移設する必要がなく基板処理制御装置17の制御プログラムの変更で製造工程の処理順番の変更が可能であり、工場の生産に対してフレキシビリティが高い。
本実施の形態により、図1に示されるような従来技術のスネークラインに比べて各処理装置の設置に対して自由度を増すことが出来る。それにより、無駄なスペースを少なくして生産と工場スペースに適した製造ラインを形成することができ、工場内設置スペース効率を向上することが可能となる。例えば、図1の薄膜太陽電池製造システムのパネル化工程に比較して、図3の薄膜太陽電池製造システム30のパネル化工程は、約40%設置スペースを低減することが出来る。
次に、共通基板保管ラック40について詳細に説明する。
図6は、本実施の形態に係る共通基板保管ラックの構成を示す模式図である。ここでは、共通基板保管ラック40−1について説明するが、共通基板保管ラック40−2についても同様である。図6(a)に示されるように、共通基板保管ラック40−1は、複数の基板保管ラック41を備え、その複数の基板保管ラック41がX方向に並んだ構成を有している。例えば、一つの基板保管ラック41に50枚の基板を格納する場合、図の例では、6個の基板保管ラック41a〜41fを有しているので、300枚の基板を格納することができる。
また、図6(b)に示されるように、例えば、ある処理装置が長時間運転休止が必要となり、その処理装置上流で大量の処理基板が滞留し始めたことで、基板保管ラック41cが基板で満たされて他の処理装置の基板の受け入れができなくなった場合、長時間運転休止中処理装置の上流と下流の処理装置の処理作業に影響を及ぼすことがある。そのときは、基板で満たされた基板保管ラック41cを取り出して他の保管場所へ移動し、代わりに空の基板保管ラック41gをそこに挿入することができる。それにより、ある基板保管ラック41が満たされて、続く基板の保管ができなくなった場合でも、他の基板保管ラック41で対応することができ、長時間運転休止中処理装置の上流と下流の処理装置の処理作業を継続することが出来るなど、フレキシブルな対応が可能となる。移動方法としては、特開2005−235904号公報に記載されているような天井クレーンを用いて搬送することが可能である。
図7は、本実施の形態に係る共通基板保管ラックの使用状況の一例を示す模式図である。図7(a)及び図7(b)は異なる時点での基板の滞留状態の例を示している。処理工程終了後の基板の滞留量は、各処理工程の処理状況によって異なっている。図7(a)に示されるように、ある時点において、処理工程Aが終了した基板100a、処理工程Bが終了した基板100b、処理工程Cが終了した基板100c、処理工程Dが終了した基板100dが、それぞれ共通基板保管ラック40−1に格納されている。基板100aや基板100cの保管には、それぞれ基板保管ラック41が一個で十分である。しかし、基板100bや基板100dの保管には、基板保管ラック41が二個分必要となっている。
一方、図7(b)に示されるように、ある時点において、処理工程Aが終了した基板100a、処理工程Bが終了した基板100b、処理工程Cが終了した基板100c、処理工程Dが終了した基板100dが、それぞれ共通基板保管ラック40−1に格納されている。基板100bや基板100dの保管には、それぞれ基板保管ラック41が一個で十分である。しかし、基板100aや基板100cの保管には、基板保管ラック41が二個分必要となっている。
上記のような状況を考慮すると、図1のような従来技術の場合には、処理工程A、B、C、D用の基板保管ラック41はそれぞれ二個分を準備する必要がある。すなわち、全部で基板保管ラック41を八個用意する必要がある。
しかし、図7(a)、図7(b)に示されるように、共通基板保管ラック40−1の各基板保管ラック41は、各処理工程で共用されているため、各処理工程は、最も近い基板保管ラック41に束縛されること無く、周囲の基板保管ラック41を使用することができる。すなわち、滞留基板が多くなった場合、最も近い基板保管ラック41に限らず、他の複数の基板保管ラック41を使用することができる。その場合、基板保管ラック41が他の処理工程で使用中か否かに係らずに使用できる。それにより、基板保管ラック41の必要量を抑制し余裕量を縮小することができる。この場合には、全部で基板保管ラック41を六個用意するれば対応できる。
各処理工程には処理速度やメンテナンス周期のずれがあるため、滞留基板を一時保管する基板保管ラックが必要である。滞留させずに一貫ラインとして基板を流すと、各処理装置の処理速度差やメンテナンスタイミングの差があるために、工場全体生産量は大きく低減するからである。各処理工程毎に基板保管ラックを設ける(図1の従来技術)と、それぞれの処理工程で滞留する最大量に対応する基板保管ラックが必要となる。更に、滞留が一時的に増大すれば基板カセットなどへ保管し工場ライン外へ移動するなど、対処が大変でライン処理混乱を生じる可能性があった。
しかし、本実施の形態における共通基板保管ラックでは、基板保管ラックを各処理装置毎の専用ではなく、複数の処理装置間で共通としている。それにより、基板保管ラックの基板ストック数量として、各装置の最大必要量を設ける必要がなくなり、基板保管ラックの有効利用化と最小化が可能となる。例えば、図1の従来技術のS字スネークラインに配置した基板カセット保管に比べて、保管スペースに関して、全体として設置スペースを約50%低減することが出来た。このような基板保管ラック全体量の低減で、工場内スペースの有効利用と基板保管ラックのコスト低減を図ることが出来る。また、各処理工程での基板の滞留を整流化でき、ライン処理混乱を防止することができる。更に、万一に保管基板が増大した場合は、基板保管ラックを天井クレーンなどで吊り上げて、工程外へ一時的に搬出して保管する一方、空いた部分に空の基板保管ラックを挿入して対応することが可能となる。
上記図6、図7の例では、各共通基板保管ラック40−1,40−2は、各処理装置に対応する専用領域は設定されず、各処理装置が全領域で共有して使用することが可能なようになっている。しかし、ある程度の使用領域を予め設定しておいても良い。例えば、処理装置に最近接の基板保管ラック41及びその両側の基板保管ラック41を使用領域とすることが考えられる。この場合、処理装置に関連する基板は、その処理装置からそれ程遠くない場所に配置されるので、基板移動が少なくて済む。ただし、この場合でも、専用領域は設定されていないので、共有使用は概ね制限されていない。
次に、基板保管ラック41について詳細に説明する。
上記のように共通基板保管ラック40は、複数の基板保管ラック41を備え、複数の基板保管ラック41がX方向に並んだ構成を有している。図8は、本実施の形態に係る基板保管ラックの構成を示す斜視図である。基板保管ラック41は、筐体45と、フィルタ装置42と、複数の基板上部支持ローラ43と、複数の基板下部支持ローラ44とを備える。
筐体45は、略直方体形状を有している。Y方向に垂直な面の一方は、基板100が出し入れ可能に開放されている。ただし、基板100は、何の処理も施されていない基板だけでなく、製膜やエッチング等の処理を施された基板の両方を含む基板を示している。
フィルタ装置42は、外気を吸引してHEPAフィルタで浄化し、周辺雰囲気よりも清浄度(クリーン度)の高い気体として、筐体45へその内部が若干の陽圧となるように供給している。
複数の基板上部支持ローラ43は、筐体45の内側の上部平面に、その長手方向がY方向に平行になるように、互いに平行にX方向に並べられている。基板上部支持ローラ43には、複数のローラが設けられ、基板100が移動するとき、移動容易なように回転可能である。
複数の基板下部支持ローラ44は、筐体45の内側の下部平面に、その長手方向がY方向に平行になるように、互いに平行にX方向に並べられている。基板下部支持ローラ44には、複数のローラが設けられ、基板100が移動するとき、移動容易なように回転可能である。
基板100は、製膜など処理面を上面にして、鉛直方向から角度αだけ傾けた状態で、基板上部支持ローラ43と基板下部支持ローラ44とに支持し、基板の製膜面に触れずに基板自重によりその位置を安定して保持されている。図9は、基板保管ラックにおいて基板を支持している状態を示す模式図である。基板100は、基板下部支持ローラ44のローラ44aの凹部44bに下側を支えられている。また、基板100は、基板上部支持ローラ43のローラ43aにその上部の表面(製膜面と反対側の基板表面)を支えられている。基板100を基板保管ラック41に対して搬入/搬出するとき、ローラ43a及びローラ44aは、基板100を支持しつつ、その移動が容易となるように回転する。また、基板100を傾ける向きは、太陽電池の形成される面(製膜面)を上面として、ローラ43aの接触する面と反対となるように傾ける。凹部44bの凹みの深さは、太陽電池モジュールの周辺領域94の幅よりも小さくする。このようにすることで、基板100自重を支える箇所であるローラ43aは膜面と反対側となり、凹部44bも膜に接触しなくなるので、基板100を基板保管ラック41に搬入/搬出するとき、製膜面を傷付けることがない。基板上部支持ローラ43aや基板下部支持ローラ44aなどの各ローラの材質は、基板に傷をつけることなく発塵の少ない材質が望ましく、たとえばUPE、ジュラコン、テフロン(登録商標)などが一例として使用可能である。
基板100の鉛直方向からの傾斜の角度αは、特開2000−177842号公報「搬送装置及び真空処理システム」に記載されているように、基板自重で安定した搬送状態を確保するための7°以上が好ましく、装置スペースから12°以下が好ましい。ただし、基板保管ラック41は、基板100を静止した状態で保持する。したがって、この許容値範囲は少し広くすることができ、確認試験の結果から、5°以上であれば自重で安定して保持が可能である。一方、基板は多数枚がストックされるので、鉛直方向からの傾斜角が少し増大しても基板保管ラック41全体としては両端領域の基板の傾斜角度によるデッドスペースに影響するだけで、サイズアップへの影響は非常に小さい。したがって、この許容値範囲は大きくなる方向に少し広くすることができ、占有面積との関係から15°以下であれば十分に省スペースである。
また、基板100のタワミ量は鉛直方向からの傾斜角度のsin成分となるため、上記傾斜角度の範囲内では水平時の約1/10に低減される。それにより、基板保管ラック40内の基板設置間隔は水平時の約50mmから約30mmへ低減することができる。その結果、基板保管ラック41の設置スペースを約20%低減することができる。
図10は、本実施の形態に係る基板保管ラックの開口機構を示す斜視図である。また、図11は、本実施の形態に係る基板保管ラックの開口機構を示す上面図である。開口機構46は、筐体45におけるY方向に垂直な面のうち、基板100の出し入れ可能に開放されている領域の開口面積を制限する。この開口機構46は、シート収納部48−1、48−2、シート47を備える。開放されている領域の開口面積を制限することで、基板保管ラック内部のクリーン度を容易に向上することが可能となる。
シート収納部48−1、48−2は、いずれか一方がシート47を巻き上げ、他方がそのシート47を送り出す。シート47は、筐体45におけるY方向に垂直な面と概ね同じ幅を有し、その面を覆うように設けられている。ただし、シート47には一部に開口部49が設けられている。その開口部49がシート収納部48−1、48−2間(筐体45におけるY方向に垂直な面上)に現れるとき、その開口部49から基板100の出し入れが可能となる。シート47としては、クリーンブース用の帯電防止ビニールカーテンを用いることができる。本開口機構46と筐体45とにより、基板100の清浄度を極めて高く確保することが可能なクリーンベンチを構成している。
なお、ここでは筐体45におけるY方向に垂直な二面のうち、一方の面から基板100を出し入れする場合を例に示している。しかし、筐体45におけるY方向に垂直な二面の両方から基板100を出し入れする場合(筐体45におけるY方向に垂直な二面の両方が開放されている場合)、もう一方の面にも開口機構46を設ければよい。
次に、基板移載装置について詳細に説明する。
図12は、本実施の形態に係る基板移載装置の構成を示す斜視図である。基板移載装置51は、各処理装置と共通基板保管ラック40又は他の処理装置との間の基板の移動、及び搬入/搬出を行う装置である。基板移載装置51は、領域20−1、20−2のそれぞれに設けられ、X方向に延伸する移動用レール50に案内されて移動する。基板移載装置51は、フィルタ装置52、基板上部支持ローラ53、基板下部支持ローラ54、クリーンベンチ55、移載機移動装置56、移載部上下移動装置57、移載部支持台58を備える。
フィルタ装置52は、外気を吸引してHEPAフィルタで浄化し、周辺雰囲気よりも清浄度(クリーン度)の高い気体として、クリーンベンチ55内部が若干の陽圧となるように供給している。
基板上部支持ローラ53は、クリーンベンチ55の内側の上部平面に、その長手方向がY方向に平行になるように配置されている。基板上部支持ローラ53には、複数のローラが設けられ、基板100の上部の製膜面と反対側を支持し、基板100が移動するとき、移動容易なように回転可能である。、
基板下部支持ローラ54は、クリーンベンチ55の内側の下部平面に、その長手方向がY方向に平行になるように配置されている。基板下部支持ローラ54には、複数のローラが設けられ、基板100が移動するとき、その移動方向に基板が移動するように回転駆動される。また、基板下部支持ローラ54の共通基板保管ラック40側の端部は、基板の搬入/搬出のとき共通基板保管ラック40方向へ移動する。同様に、基板下部支持ローラ54の処理装置側の端部は、基板の搬入/搬出のとき処理装置方向へ移動する。
クリーンベンチ55は、略直方体形状を有している。Y方向に垂直な面は扉部(図示されず)を有し、基板の搬入/搬出のときにその扉部が開放される。またはY方向に垂直な面は、基板の搬入/搬出に支障がないスリット幅の開口がある。クリーンベンチ55とフィルタ装置52とにより、この基板移載装置は、基板移載中においても清浄度が確保された空間で基板100を保持することが出来る。
移載機移動装置56は、移載部及び移載部上下移動装置57を保持している移載部支持台58を保持する。ただし、移載部は、フィルタ装置52、基板上部支持ローラ53、基板下部支持ローラ54及びクリーンベンチ55を含む。移載機移動装置56は、自身が移動用レール50上を±X方向に移動することにより、移載部支持台58を±X方向の所望の位置へ移動させる。
移載部上下移動装置57は、各処理装置および、基板保管ラック40との基板の搬入/搬出のときに移載部のY方向の基板搬送レベルが合致するように上下方向(Z方向)に移動させる。
移載部支持台58は、移載部上下移動装置57を上下方向(Z方向)に保持している。
図13は、本実施の形態に係る基板下部支持ローラ54の動作を示す斜視図である。基板下部支持ローラ54は、Y方向に延伸する部材54a、Y方向に延伸し部材54aの両端に設けられた部材54b(54b−1、54b−2)、複数のローラ54cを有している。複数のローラ54cは、基板100が移動するとき、その移動方向に基板が移動するように回転駆動される。
部材54aの共通基板保管ラック40側の端に設けられた部材54b−1は、基板の搬出のとき、延伸機構(図示されず)により、共通基板保管ラック40方向(54b−1’の位置)へ移動し、共通基板保管ラック40の基板下部支持ローラ44の直近まで達する。それにより、基板移載装置51から共通基板保管ラック40へ基板を安定的に移動させることができる。また、部材54b−1は、延伸機構により、基板の搬入のとき、一度下方(−Z方向)へ下がり、共通基板保管ラック40方向(54b−1’の方向)へ移動し、それから上方(+Z方向)へ上がり、54b−1’の位置になる。部材54b−1(54b−1’の位置)は、上方へ上がったとき、共通基板保管ラック40の基板100の端部をつかみ保持する。その後、部材54b−1が元の位置に戻るとき、基板100が基板移載装置51へ引き出される。その後、ローラ54cの駆動により、基板100を基板移載装置51へ安定的に移動させることが出来る。
同様に、部材54aの共通基板保管ラック40側の端に設けられた部材54b−2は、基板の搬出のとき、延伸機構(図示されず)により、処理装置方向(54b−2’の位置)へ移動し、処理装置の基板出し入れ部(図示されず)の直近まで達する。それにより、基板移載装置51から処理装置へ基板を安定的に移動させることができる。また、部材54b−2は、延伸機構により、基板の搬入のとき、一度下方(−Z方向)へ下がり、処理装置方向(54b−2’の方向)へ移動し、それから上方(+Z方向)へ上がり、54b−2’の位置になる。部材54b−2(54b−2’の位置)は、上方へ上がったとき、処理装置の基板100の端部をつかみ保持する。その後、部材54b−2が元の位置に戻るとき、基板100が基板移載装置51へ引き出される。その後、ローラ54cの駆動により、基板100を基板移載装置51へ安定的に移動させることが出来る。
基板100は、製膜など処理面を上面にして、鉛直方向から角度βだけ傾けた状態で、基板上部支持ローラ53と基板下部支持ローラ54とに支持されている。図14(a)は、基板移載装置において基板を支持している状態を示す模式図である。図14(b)は、基板移載装置において基板を移動させている状態を示す模式図である。基板100は、基板下部支持ローラ54のローラ54cの凹部54eに下側を支えられている。また、基板100は、基板上部支持ローラ53のローラ53aにその上部の製膜面と反対の表面を支えられている。ローラ54cは、ローラ部材54c−1、54c−2を含む。
基板移載装置51が基板100を保持しているとき、図14(a)に示されるように、ローラ53aはローラ43aと同様に基板100を支持する。一方、ローラ54cは、ローラ部材54c−1とローラ部材54c−2とにより基板100を支持しているが、ローラ部材54c−1とローラ部材54c−2は緩んで凹部54eの幅が広がり基板100を挟み込んではいない。
ローラ54aは基板移載装置51が移動中に基板位置が変化しないよう、ブレーキを設けることが好ましい。ローラ54aが基板を少し挟み込んで、ローラの回転軸にブレーキ機構を設ける手法が簡便で好ましい。
基板移載装置51が基板100を搬入/搬出するとき、図14(a)に示される状態で、ローラ53aは基板100を支持しつつその移動が容易となるように回転する。一方、ローラ部材54c−1とローラ部材54c−2は緩んで凹部54eの幅が広がった状態で、その基板100を所望の方向へ移動させるように、ローラ駆動部54fにより回転駆動される。ただし、既述のように部材54b−1、54b−2が共通基板保管ラック40や処理装置へ延伸して基板100をつかんで引き出すとき、ローラ54cは図14(b)に示されるようになる。すなわち、軸部材54dに結合されたローラ部材54c−2は、ローラ駆動部54fによる軸部材54dの移動によりローラ部材54c−1に押し付けられて接触して凹部54eの幅を狭める。それにより、ローラ54cは、その基板100を挟み込んでつかむことができる。
また、基板100を傾ける向きは、太陽電池の形成される面(製膜面)を上面として、ローラ53aの接触する面と反対となるように傾ける。凹部54eの凹みの深さは、周辺領域94の幅よりも小さくする。このようにすることで、基板100自重を支える箇所であるローラ53aは膜面と反対側となり、凹部54eも膜に接触しなくなるので、基板100を基板移載装置51に搬入/搬出するとき、製膜面を傷付けることがない。
基板100の傾斜の角度βは、特開2000−177842号公報「搬送装置及び真空処理システム」に記載されているように、基板自重で安定した搬送状態を確保するための7°以上が好ましく、装置スペースから12°以下が好ましい。
図12から図14では基板を1枚のみ搬送する基板移載装置に関して説明している。しかし、本発明はそれに限定されることは無く、基板上部支持ローラ53及び基板下部支持ローラ54の数量を増加することで、複数の基板を同時に移載することも可能である。図15(a)は、基板下部支持ローラにおいて基板を支持/移動する状態を示す模式図である。ここでは、4枚の基板を同時につかむ基板下部支持ローラが記載されている。図15(b)は、基板下部支持ローラにおいて基板をつかむ状態を示す模式図である。構成及び動作は、基板上部支持ローラ53及び基板下部支持ローラ54の数量が増加している以外は、図12から図14の場合と同様であるのでその説明を省略する。
図12から図15では、基板を概ね立てた状態(鉛直縦方向)で保持、移動、搬入/搬出する基板移載装置に関して説明している。しかし、本発明はそれに限定されることは無く、保持、移動、搬入/搬出を基板を寝かせた状態(水平横方向)で行っても良い。処理装置においては、基板を水平状態で処理するものがあり、このような処理装置のなかには処理装置毎のローダ・アンローダに基板傾斜角回転機構を設けるのは非効率になる場合があるためである。図16及び図17は、本実施の形態に係る基板移載装置の他の構成を示す斜視図である。図16は基板を寝かせた状態を示し、図17は基板を概ね立てた状態(図12から図15の場合に対応)を示している。この基板移載装置61は、各処理装置と共通基板保管ラック40又は他の処理装置との間の基板の移動、及び搬入/搬出を行う装置である。基板移載装置61は、領域20−1、20−2のそれぞれに設けられ、X方向に延伸する移動用レール50に案内されて移動する。基板移載装置61は、フィルタ装置62、基板側部支持ローラ63、基板側部支持ローラ64、クリーンベンチ65、移載機移動装置66、移載部上下移動装置67、移載部支持台68、移動部ローラ69、移動用レール70、を備える。
フィルタ装置62は、外気を吸引してHEPAフィルタで浄化し、周辺雰囲気よりも清浄度(クリーン度)の高い気体として、クリーンベンチ65内部が若干の陽圧となるように供給している。
基板側部支持ローラ63及び基板側部支持ローラ64は、基板の水平荷重支持と横ガイド機能がある。
クリーンベンチ65は、略直方体形状を有している。Y方向に垂直な面は扉部(図示されず)を有し、基板の搬入/搬出のときにその扉部が開放される。またはY方向に垂直な面は、基板の搬入/搬出に支障がないスリット幅の開口があるものでも良い。クリーンベンチ65とフィルタ装置62とにより、この基板移載装置は、基板移載中においても清浄度が確保された空間で基板100を保持することが出来る。
図16における状態において、クリーンベンチ65内のY方向に平行になるように、基板側部支持ローラ63、64が配置されていて、複数のローラが設けられている。その複数のローラは、基板100が移動するとき、その移動方向に基板100が移動するように回転駆動部(図示されず)により回転駆動される。
水平方向の基板の搬入と搬出のとき(矢印参照)、基板側部支持ローラ63及びローラ64はY方向の両側から基板100を引き込むことが出来る。その後、基板側部支持ローラ63及びローラ64が回転駆動し、基板100をクリーンベンチ65外に搬出する。
移載機移動装置66は、移載部、移載部上下移動装置67、移載部支持台58、移動用レール70を保持する。ただし、移載部は、フィルタ装置62、基板側部支持ローラ63、基板側部支持ローラ64、クリーンベンチ65、移動部ローラ69を含む。移載機移動装置66は、自身が移動用レール50上を±X方向に移動することにより、移載部、移載部上下移動装置67、移載部支持台58、移動用レール70を±X方向の所望の位置へ移動させる。
移載部上下移動装置67は、基板の搬入/搬出のとき、基板の搬入/搬出相手の基板の鉛直方向からの傾斜向きに対応して、移動部内の基板が概ね縦方向(概ね鉛直方向)及び横方向(水平方向)のいずれかになるように、移動部を移動させる。移動部内の基板を概ね縦方向(概ね鉛直方向)にする場合、移載部上下移動装置67aを移動用ガイド67bに沿って上方(+Z方向)へ移動させる。それにより、移動部ローラ69が移動用レール70上を+X方向へ移動しながら、移動部の本体が回転支持軸67cを中心に相対的に回転する。その結果、図17に示す状態になる。及び横方向(水平方向)のいずれかになるように、移動部を移動させる。移動部内の基板を横方向(水平方向)にする場合、概ね縦方向にする場合と逆の動作を行う。
移載部支持台68は、移載部上下移動装置57を上下方向(Z方向)に保持している。
移動部ローラ69は、クリーンベンチ65において、移動用レール70の位置に対応する位置に設けられている。移動部の移動のとき、移動用レール70を移動するすることにより、移動部の移動を円滑にする。
移動用レール70は、移載機移動装置66上に設けられ、移動部ローラ69をガイドする。
共通基板保管ラック40−1、40−2のいずれか一方の側から他方の側へ基板を移動させたい場合、基板搬送装置9を用いることが出来る。図18は、本実施の形態に係る基板搬送装置の構成を示す斜視図である。基板搬送装置9は、フィルタ装置72、基板上部支持ローラ73、基板下部支持ローラ74、クリーンベンチ75を備える。フィルタ装置72、基板上部支持ローラ73、基板下部支持ローラ74、クリーンベンチ75は、基本的にフィルタ装置52、基板上部支持ローラ53、基板下部支持ローラ54、クリーンベンチ55と同じである。ただし、基板の移動距離が長いため、基板上部支持ローラ73、基板下部支持ローラ74の途中部分が長くなっている点で基板上部支持ローラ53、基板下部支持ローラ54と異なる。クリーンベンチ75とフィルタ装置72とにより、この基板移載装置は、基板移載中においても清浄度が確保された空間で基板100を保持することが出来る。また、基板搬送装置9を用いることで、例えば、一方の共通基板保管ラック40(例示:40−1)だけで処理装置が基板保管場所を共有するだけでなく、実質的に他方の共通基板保管ラック40(例示:40−2)を含めて基板保管場所を共有することが可能となる。すなわち、基板100の保管場所のフレキシビリティが向上する。基板搬送装置9は複数台あっても良く、必要に応じて基板搬送装置9を複数台設置することで、基板を移動させるタクトタイムを短縮させて、製造ラインのフレキシビリティを向上することが可能である。
本実施の形態では、共通基板保管ラック、基板移載装置は、クリーンベンチを用いているので、清浄な空間で基板を保管、移載することが出来る。例えば、薄膜太陽電池製造システム30全体が一般雰囲気(例えばクラス50万程度)の場合、基板保管ラックは、開口機構ありでクラス1000〜5000程度、開口機構なしでクラス1万〜5万程度であり、基板移載装置は、クラス1万程度となる。更に、共通基板保管ラックと基板移載装置との間及び基板移載装置と処理装置との間の空間を含む領域20をクリーンベンチ又はクリーンブース(図示されず)で覆った場合、その領域のクリーン度を例えばクラス10万程度とすると、基板保管ラックは、開口機構ありでクラス1000程度、開口機構なしでクラス1000〜5000程度であり、基板移載装置は、クラス1000程度となる。このようにすることで、工場内全体をクリーンルームとした厳しい管理状態にする必要がなく工場のコストダウンとなる。更に、工場内各機器は、一般雰囲気なので、無塵服を着用した特別な作業管理が不要となり、特にメンテナンス時の作業性が向上し、生産性向上に寄与する。
以上に示されるように、本発明の薄膜太陽電池製造装置システムにより、工場の設置スペースを削減することが可能となる。また、本発明の共通基板保管ラックにより、保管に係る大きさ及び設置スペースを削減することが可能となる。また、本発明の共通基板保管ラックにより、基板滞留用のバッファとして、滞留する製造工程の変動にフレキシブルに対応することが可能となる。
本発明は上記各実施の形態に限定されず、本発明の技術思想の範囲内において、各実施の形態は適宜変形又は変更され得ることは明らかである。
図1は、従来技術の薄膜太陽電池製造システムの実施例を示す構成図である。 図2は、従来技術の基板カセットを示す構成図である。 図3は、本実施形態に係る薄膜太陽電池製造システムを示す構成図である。 図4は、その薄膜太陽電池製造システムを用いた薄膜太陽電池の製造工程を示す模式図である。 図5は、その薄膜太陽電池製造システムを用いた薄膜太陽電池の製造工程を示す模式図である。 図6は、本実施の形態に係る共通基板保管ラックの構成を示す模式図である。 図7は、本実施の形態に係る共通基板保管ラックの使用状況の一例を示す模式図である。 図8は、本実施の形態に係る基板保管ラックの構成を示す斜視図である。 図9は、基板保管ラックにおいて基板を支持している状態を示す模式図である。 図10は、本実施の形態に係る基板保管ラックの開口機構を示す斜視図である。 図11は、本実施の形態に係る基板保管ラックの開口機構を示す上面図である。 図12は、本実施の形態に係る基板移載装置の構成を示す斜視図である。 図13は、本実施の形態に係る基板下部支持ローラの動作を示す斜視図である。 図14は、基板移載装置において基板を支持/移動している状態を示す模式図である。 図15は、基板下部支持ローラにおいて基板を支持/移動する状態/つかむ状態を示す模式図である。 図16は、本実施の形態に係る基板移載装置の他の構成を示す斜視図である。 図17は、本実施の形態に係る基板移載装置の他の構成を示す斜視図である。 図18は、本実施の形態に係る基板搬送装置の構成を示す斜視図である。
符号の説明
1 基板搬入装置
2 基板洗浄装置
4 透明電極製膜装置(熱CVD装置)
7 TCO(透明電極)レーザエッチング装置
8 基板洗浄装置
9 基板搬送装置
10 光電変換層製膜装置(プラズマCVD装置)
12 光電変換層レーザエッチング装置
13 裏面電極製膜装置(スパッタリング装置)
15 基板洗浄装置
16−1 裏面レーザエッチング装置
16−2 絶縁レーザエッチング装置
17 基板処理制御装置
20−1、20−2、22 領域
30 薄膜太陽電池製造システム
30−1、30−2 境界(側面)
40、40−1、40−2 共通基板保管ラック
41、41a〜41g 基板保管ラック
42 フィルタ装置
43 基板上部支持ローラ 43a ローラ
44 基板下部支持ローラ 44a ローラ 44b 凹部
45 筐体
46 開口機構
47 シート
48、48−1、48−2 シート収納部
49 開口部
50 移動用レール
51 基板移載装置
52 フィルタ装置
53 基板上部支持ローラ 53a ローラ
54 基板下部支持ローラ 54a、54b、54b−1、54b−1’、54b−2、54b−2’ 部材 54c ローラ 54c−1、54c−2 ローラ部材 54e 凹部 54f ローラ駆動部
55 クリーンベンチ
56 移載機移動装置
57 移載部上下移動装置
58 移載部支持台
61 基板移載装置
62 フィルタ装置
63 基板側部支持ローラ
64 基板側部支持ローラ
65 クリーンベンチ
66 移載機移動装置
67 移載部上下移動装置
68 移載部支持台
69 移動部ローラ
70 移動用レール
72 フィルタ装置
73 基板上部支持ローラ
74 基板下部支持ローラ
75 クリーンベンチ
81 基板
82 透明電極層
83 光電変換層
84 裏面電極層
85 太陽電池
86 モジュール
90、91、92 分離溝
94 周辺領域
95 絶縁溝
97 カバーシート
98 端子箱
200 ガス関連設備

Claims (14)

  1. 基板を鉛直方向より傾けて保管する第1共通基板保管ラックと、
    薄膜太陽電池の製造工程で前記基板の処理に使用され、前記第1共通基板保管ラックへ処理を終了した基板を搬出するように配置された複数の処理装置と
    を具備し、
    前記第1共通基板保管ラックは、前記複数の処理装置に共用され、製造工程の処理順番に従わずに前記基板を保管する
    薄膜太陽電池製造システム。
  2. 請求項1に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記基板を鉛直方向より傾けて保管する第2共通基板保管ラックと、
    前記基板の処理順番を制御する基板処理制御装置と
    を更に具備し、
    前記複数の処理装置は、前記第1共通基板保管ラックと前記第2共通基板保管ラックとの間の領域に、前記基板の搬出部及び搬入部のいずれか一方が前記第1共通基板保管ラックに面し、他方が前記第2共通基板保管ラックに面するように配置され、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックは、前記複数の処理装置に共用され、
    前記基板処理制御装置は、
    前記複数の処理装置の少なくとも一部への前記基板の搬入及び搬出を制御し、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックへの前記基板の搬入及び搬出を制御する
    薄膜太陽電池製造システム。
  3. 請求項2に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記複数の処理装置の少なくとも一部は、前記第1共通基板保管ラックまたは前記第2共通基板保管ラックにより、互いに並列に配置され、前記複数の処理装置の少なくとも一部の配置順番が前記薄膜太陽電池の製造工程の順番に従わない
    薄膜太陽電池製造システム。
  4. 請求項3に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記複数の処理装置の少なくとも一部は、前記複数の処理装置の配置順番を変更することなく、前記基板処理制御装置により、前記薄膜太陽電池の製造工程の順番を変更可能とする
    薄膜太陽電池製造システム。
  5. 請求項3又は4に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記複数の処理装置の各々は、前記複数の処理装置の高さに基づいて設定された領域に配置されている
    薄膜太陽電池製造システム。
  6. 請求項3又は4に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記複数の処理装置の各々は、前記複数の処理装置の使用するユーティリティに基づいて設定された領域に配置されている
    薄膜太陽電池製造システム。
  7. 請求項1乃至6のいずれか一項に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記第1共通基板保管ラックは、内部の雰囲気の清浄度を外部の雰囲気の清浄度より高く保つ第1浄化装置を備え、
    前記第2共通基板保管ラックは、内部の雰囲気の清浄度を外部の雰囲気の清浄度より高く保つ第2浄化装置を備える
    薄膜太陽電池製造システム。
  8. 請求項7に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記第1共通基板保管ラックと前記複数の処理装置との間の空間を含む第1室と、
    前記第1室内の雰囲気の清浄度を他の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第3浄化装置と、
    前記第2共通基板保管ラックと前記複数の処理装置との間の空間を含む第2室と、
    前記第2室内の雰囲気の清浄度を他の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第4浄化装置と
    を更に具備する
    薄膜太陽電池製造システム。
  9. 請求項8に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記第1室内で、前記基板の移動を行う第1基板移載装置と、
    前記第2室内で、前記基板の移動を行う第2基板移載装置と
    を更に具備し、
    前記第1基板移載装置は、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第5浄化装置を備え、
    前記第2基板移載装置は、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保つ第6浄化装置を備える
    薄膜太陽電池製造システム。
  10. 請求項1乃至9のいずれか一項に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記保管時での前記基板の傾きは、鉛直方向から5°以上15°以下である
    薄膜太陽電池製造システム。
  11. 請求項1乃至10のいずれか一項に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックの各々は、複数の基板保管ラックを備え、
    前記複数の基板保管ラックの各々は、前記複数の基板保管ラックの各々と同一の他の基板保管ラックと交換が可能である
    薄膜太陽電池製造システム。
  12. 請求項1乃至11のいずれか一項に記載の薄膜太陽電池製造システムにおいて、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックとの間に設けられ、内部の雰囲気の清浄度を外部の領域の雰囲気の清浄度より高く保ちながら、前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックの一方から他方へ前記基板を移動する基板搬送装置を更に具備する
    薄膜太陽電池製造システム。
  13. 基板を鉛直方向から傾けて保管し、前記基板の出し入れ方向と異なる方向に並んで設けられた複数の基板保管ラックと、
    前記複数の基板保管ラックごとに設けられ、周辺雰囲気よりも清浄度の高い気体を対応する前記複数の基板保管ラックへ供給する複数の浄化装置と
    を具備し、
    薄膜太陽電池の製造工程で使用される複数の処理装置における前記基板を搬出する搬出部及び搬入する搬入部のいずれか一方が前記複数の基板保管ラックに面し、複数の処理装置に共用されるように配置され、
    前記複数の基板保管ラックの各々は、前記複数の基板保管ラックの各々と同一の他の基板保管ラックと交換が可能である
    共通基板保管ラック。
  14. 薄膜太陽電池製造システムを用いた薄膜太陽電池の製造方法であって、
    ここで、前記薄膜太陽電池システムは、
    基板を鉛直方向から5°以上15°以下傾けて保管する第1共通基板保管ラックと、
    前記基板を鉛直方向から5°以上15°以下傾けて保管する第2共通基板保管ラックと、
    薄膜太陽電池の製造工程で前記基板の処理に使用され、前記第1共通基板保管ラックと前記第2共通基板保管ラックとの間の領域に、前記基板の搬出部及び搬入部のいずれか一方が前記第1共通基板保管ラックに面し、他方が前記第2共通基板保管ラックに面するように配置された複数の処理装置と、
    前記基板の処理順番を制御する前記基板処理制御装置と
    を具備し、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックは、前記複数の処理装置に共用され、
    前記基板処理制御装置は、
    前記複数の処理装置の少なくとも一部への前記基板の搬入及び搬出を制御し、
    前記第1共通基板保管ラック及び前記第2共通基板保管ラックへの前記基板の搬入及び搬出を制御し、
    製造工程の処理順番に従わずに前記基板を保管する前記薄膜太陽電池の製造方法は、
    (a)前記第1共通基板保管ラックまたは前記第2共通基板保管ラックに保管された基板を搬出し、前記複数の処理装置のうちの一つである対象処理装置へ搬入する工程と、
    (b)前記搬入された基板を前記対象処理装置で処理する工程と、
    (c)前記処理された基板を前記対象処理装置から搬出し、前記第1共通基板保管ラックまたは前記第2共通基板保管ラックへ搬入して保管する工程と
    を具備する
    薄膜太陽電池製造システム。
JP2007325777A 2007-12-18 2007-12-18 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック Pending JP2009147266A (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007325777A JP2009147266A (ja) 2007-12-18 2007-12-18 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック
CN200880020468.XA CN101689582B (zh) 2007-12-18 2008-09-30 薄膜太阳电池制造系统以及共用基板保管架
EP08863219A EP2224499A1 (en) 2007-12-18 2008-09-30 Thin-film solar cell manufacturing system and common substrate storage rack
US12/666,728 US20100324717A1 (en) 2007-12-18 2008-09-30 Thin-film solar-cell manufacturing system and common substrate storage rack
PCT/JP2008/067763 WO2009078209A1 (ja) 2007-12-18 2008-09-30 薄膜太陽電池製造システム及び共通基板保管ラック

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007325777A JP2009147266A (ja) 2007-12-18 2007-12-18 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2009147266A true JP2009147266A (ja) 2009-07-02

Family

ID=40795328

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007325777A Pending JP2009147266A (ja) 2007-12-18 2007-12-18 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20100324717A1 (ja)
EP (1) EP2224499A1 (ja)
JP (1) JP2009147266A (ja)
CN (1) CN101689582B (ja)
WO (1) WO2009078209A1 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011102274A1 (ja) * 2010-02-18 2011-08-25 株式会社カネカ 薄膜製造装置及び薄膜製造方法、並びに薄膜製造装置のメンテナンス方法
JP2011177770A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Hitachi High-Technologies Corp レーザ加工システム及びソーラパネル製造方法
WO2011142351A1 (ja) * 2010-05-12 2011-11-17 シャープ株式会社 基板載置台車
WO2012081625A1 (ja) * 2010-12-18 2012-06-21 株式会社カネカ 有機el装置の製造方法、有機el装置の製造装置、光電変換装置の製造方法及び光電変換装置の製造装置
WO2012096144A1 (ja) * 2011-01-13 2012-07-19 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP2017064737A (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 株式会社アマダホールディングス ワーク載置台
JP2021034406A (ja) * 2019-08-15 2021-03-01 株式会社アルバック 真空処理装置

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20120199065A1 (en) * 2011-02-04 2012-08-09 Stion Corporation Multi-Module System for Processing Thin Film Photovoltaic Devices
ITUD20110164A1 (it) * 2011-10-14 2013-04-15 Applied Materials Italia Srl Impianto e procedimento per la produzione di moduli fotovoltaici
TWI629116B (zh) * 2016-06-28 2018-07-11 荏原製作所股份有限公司 清洗裝置、具備該清洗裝置之鍍覆裝置、以及清洗方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982773A (ja) * 1995-09-08 1997-03-28 Advanced Display:Kk 自動搬送車
JP2006069684A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Hitachi Kiden Kogyo Ltd 液晶パネルの生産設備
JP2006190731A (ja) * 2005-01-04 2006-07-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 基板加熱装置、真空装置及び基板加熱方法
JP2006264799A (ja) * 2005-03-22 2006-10-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 真空処理装置及び処理室増設方法
US20060278497A1 (en) * 2005-06-10 2006-12-14 Applied Materials, Inc. Linear vacuum deposition system
WO2007118252A2 (en) * 2006-04-11 2007-10-18 Applied Materials, Inc. System architecture and method for solar panel formation

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08139153A (ja) 1994-11-10 1996-05-31 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 枚葉式基板処理装置、基板搬送装置及びカセット
JPH10123193A (ja) 1996-10-18 1998-05-15 Micronics Japan Co Ltd 表示パネル基板の検査装置および検査方法
JPH11199007A (ja) 1998-01-09 1999-07-27 Mitsubishi Electric Corp カセットの搬送方法及び処理設備
JP3977514B2 (ja) * 1998-05-26 2007-09-19 高砂熱学工業株式会社 空気浄化フィルタ及びその製造方法及び高度清浄装置
JP2000177842A (ja) 1998-12-10 2000-06-27 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 搬送装置及び真空処理システム
JP3723003B2 (ja) * 1998-12-18 2005-12-07 三菱重工業株式会社 真空処理システム
JP3806276B2 (ja) * 1999-10-26 2006-08-09 三菱重工業株式会社 クラスタ型真空処理システム
JP3787755B2 (ja) 2000-04-10 2006-06-21 東京エレクトロン株式会社 処理システム
JP2004106992A (ja) * 2002-09-17 2004-04-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 真空処理装置
JP4370186B2 (ja) 2004-02-18 2009-11-25 三菱重工業株式会社 薄膜太陽電池製造システム

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0982773A (ja) * 1995-09-08 1997-03-28 Advanced Display:Kk 自動搬送車
JP2006069684A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Hitachi Kiden Kogyo Ltd 液晶パネルの生産設備
JP2006190731A (ja) * 2005-01-04 2006-07-20 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 基板加熱装置、真空装置及び基板加熱方法
JP2006264799A (ja) * 2005-03-22 2006-10-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 真空処理装置及び処理室増設方法
US20060278497A1 (en) * 2005-06-10 2006-12-14 Applied Materials, Inc. Linear vacuum deposition system
WO2007118252A2 (en) * 2006-04-11 2007-10-18 Applied Materials, Inc. System architecture and method for solar panel formation

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011102274A1 (ja) * 2010-02-18 2011-08-25 株式会社カネカ 薄膜製造装置及び薄膜製造方法、並びに薄膜製造装置のメンテナンス方法
EP2537956A4 (en) * 2010-02-18 2017-03-22 Kaneka Corporation Thin film manufacturing apparatus, thin film manufacturing method, and method for maintaining thin film manufacturing apparatus
JP2011177770A (ja) * 2010-03-03 2011-09-15 Hitachi High-Technologies Corp レーザ加工システム及びソーラパネル製造方法
WO2011142351A1 (ja) * 2010-05-12 2011-11-17 シャープ株式会社 基板載置台車
WO2012081625A1 (ja) * 2010-12-18 2012-06-21 株式会社カネカ 有機el装置の製造方法、有機el装置の製造装置、光電変換装置の製造方法及び光電変換装置の製造装置
JP5940460B2 (ja) * 2010-12-18 2016-06-29 株式会社カネカ 有機el装置の製造方法、有機el装置の製造装置、光電変換装置の製造方法及び光電変換装置の製造装置
WO2012096144A1 (ja) * 2011-01-13 2012-07-19 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置
JP2012146862A (ja) * 2011-01-13 2012-08-02 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置
JP2017064737A (ja) * 2015-09-29 2017-04-06 株式会社アマダホールディングス ワーク載置台
JP2021034406A (ja) * 2019-08-15 2021-03-01 株式会社アルバック 真空処理装置
JP7290509B2 (ja) 2019-08-15 2023-06-13 株式会社アルバック 真空処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009078209A1 (ja) 2009-06-25
US20100324717A1 (en) 2010-12-23
CN101689582B (zh) 2012-05-23
CN101689582A (zh) 2010-03-31
EP2224499A1 (en) 2010-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2009147266A (ja) 薄膜太陽電池製造装置システム及び共通基板保管ラック
JP5503006B2 (ja) 基板処理システム、搬送モジュール、基板処理方法及び半導体素子の製造方法
JP4220173B2 (ja) 基板の搬送方法
US10957569B2 (en) Access to one or more levels of material storage shelves by an overhead hoist transport vehicle from a single track position
US8070410B2 (en) Scalable stocker with automatic handling buffer
US11515189B2 (en) Automatic handling buffer for bare stocker
JP4980978B2 (ja) 基板処理装置
TW200305188A (en) Reduced footprint tool for automated processing of microelectronic substrates
KR100991288B1 (ko) 기판처리장치
KR20010032641A (ko) 기판이송장치 및 방법
TW200931576A (en) Transport system with buffering
US20070092359A1 (en) Access to one or more levels of material storage shelves by an overhead hoist transport vehicle from a single track position
KR102058985B1 (ko) 로드 스테이션
US20120321417A1 (en) Narrow Width Loadport Mechanism for Cleanroom Material Transfer Systems
KR20150058255A (ko) 기판 처리 장치
KR20040081313A (ko) 제조 대상물 제조 장치 및 제조 방법
JP4224467B2 (ja) 半導体製造ライン
US20040265107A1 (en) Stocker and transfer system including the same
JP2001093957A (ja) 電子部品の製造装置および電子部品の製造方法
KR100521401B1 (ko) 기판세정시스템
JP2018046171A (ja) 搬送条件設定装置、基板処理装置、および搬送条件設定方法
CN113966548A (zh) 搬送设备、搬送方法和搬送系统
KR101702901B1 (ko) 베어 스토커용 자동 취급 버퍼
JP2008100802A (ja) 基板保管庫
KR20130018149A (ko) 처리 시스템 및 처리 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20101110

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120417

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120618

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20121225