JP2009004756A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009004756A5 JP2009004756A5 JP2008127915A JP2008127915A JP2009004756A5 JP 2009004756 A5 JP2009004756 A5 JP 2009004756A5 JP 2008127915 A JP2008127915 A JP 2008127915A JP 2008127915 A JP2008127915 A JP 2008127915A JP 2009004756 A5 JP2009004756 A5 JP 2009004756A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crystal semiconductor
- single crystal
- semiconductor layer
- substrate
- drive circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 12
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 8
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 125000004435 hydrogen atom Chemical class [H]* 0.000 claims 1
Claims (4)
- 同一の基板上にアナログ駆動回路とデジタル駆動回路とが形成された非接触タグを有し、
前記アナログ駆動回路のトランジスタは劈開単結晶半導体層を用いて形成されており、
前記デジタル駆動回路のうち変調回路のトランジスタは前記劈開単結晶半導体層を用いて形成されており、
前記デジタル駆動回路のうち前記変調回路以外の回路のトランジスタは非単結晶半導体層を用いて形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 同一の基板上にアナログ駆動回路とデジタル駆動回路とが形成された非接触タグを有し、
前記アナログ駆動回路のトランジスタは劈開単結晶半導体層を用いて形成されており、
前記デジタル駆動回路のトランジスタは非単結晶半導体層を用いて形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1又は請求項2において、
前記基板上にフォトICが設けられており、
前記フォトICの回路のトランジスタは前記劈開単結晶半導体層を用いて形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項3のいずれか一項において、
前記劈開単結晶半導体層は、水素、ヘリウム及びハロゲンから選ばれた一又は複数の同一の原子から成るイオン種を単結晶半導体基板に注入して、前記単結晶半導体基板の表面から所定の深さの領域にイオン層を形成し、前記単結晶表面に接合層を形成し、前記接合層と基板とを貼り合わせた後、前記単結晶半導体基板にエネルギーを加えることによって前記イオン層に亀裂を生じさせることによって、前記基板上に残存させた半導体層であることを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008127915A JP2009004756A (ja) | 2007-05-18 | 2008-05-15 | 半導体装置の作製方法 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007132540 | 2007-05-18 | ||
JP2008127915A JP2009004756A (ja) | 2007-05-18 | 2008-05-15 | 半導体装置の作製方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014094751A Division JP2014170959A (ja) | 2007-05-18 | 2014-05-01 | 半導体装置の作製方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009004756A JP2009004756A (ja) | 2009-01-08 |
JP2009004756A5 true JP2009004756A5 (ja) | 2011-05-06 |
Family
ID=40027928
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008127915A Withdrawn JP2009004756A (ja) | 2007-05-18 | 2008-05-15 | 半導体装置の作製方法 |
JP2014094751A Withdrawn JP2014170959A (ja) | 2007-05-18 | 2014-05-01 | 半導体装置の作製方法 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014094751A Withdrawn JP2014170959A (ja) | 2007-05-18 | 2014-05-01 | 半導体装置の作製方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7960262B2 (ja) |
JP (2) | JP2009004756A (ja) |
CN (1) | CN101308772B (ja) |
TW (1) | TWI476927B (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8236668B2 (en) * | 2007-10-10 | 2012-08-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing SOI substrate |
JP5654206B2 (ja) | 2008-03-26 | 2015-01-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Soi基板の作製方法及び該soi基板を用いた半導体装置 |
JP2009260315A (ja) * | 2008-03-26 | 2009-11-05 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | Soi基板の作製方法及び半導体装置の作製方法 |
JP5552276B2 (ja) * | 2008-08-01 | 2014-07-16 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | Soi基板の作製方法 |
SG161151A1 (en) * | 2008-10-22 | 2010-05-27 | Semiconductor Energy Lab | Soi substrate and method for manufacturing the same |
SG162675A1 (en) * | 2008-12-15 | 2010-07-29 | Semiconductor Energy Lab | Manufacturing method of soi substrate and manufacturing method of semiconductor device |
WO2013054823A1 (en) * | 2011-10-14 | 2013-04-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
TWI721077B (zh) | 2015-12-28 | 2021-03-11 | 日商日立造船股份有限公司 | 奈米碳管複合材料及奈米碳管複合材料的製造方法 |
KR101936795B1 (ko) * | 2017-03-31 | 2019-01-11 | (주)알엔알랩 | 레이저를 이용한 간접 가열 방법 |
JP6743752B2 (ja) | 2017-04-20 | 2020-08-19 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
CN107833924B (zh) * | 2017-10-26 | 2020-06-19 | 京东方科技集团股份有限公司 | 顶栅型薄膜晶体管及其制备方法、阵列基板、显示面板 |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5528397A (en) * | 1991-12-03 | 1996-06-18 | Kopin Corporation | Single crystal silicon transistors for display panels |
JP3431033B2 (ja) | 1993-10-29 | 2003-07-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体作製方法 |
TW264575B (ja) | 1993-10-29 | 1995-12-01 | Handotai Energy Kenkyusho Kk | |
US5923962A (en) | 1993-10-29 | 1999-07-13 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device |
JP3067949B2 (ja) | 1994-06-15 | 2000-07-24 | シャープ株式会社 | 電子装置および液晶表示装置 |
US6534380B1 (en) | 1997-07-18 | 2003-03-18 | Denso Corporation | Semiconductor substrate and method of manufacturing the same |
JPH1197379A (ja) | 1997-07-25 | 1999-04-09 | Denso Corp | 半導体基板及び半導体基板の製造方法 |
JPH11163363A (ja) | 1997-11-22 | 1999-06-18 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置およびその作製方法 |
JP4476390B2 (ja) | 1998-09-04 | 2010-06-09 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
JP2000216265A (ja) * | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Mega Chips Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
JP4379943B2 (ja) | 1999-04-07 | 2009-12-09 | 株式会社デンソー | 半導体基板の製造方法および半導体基板製造装置 |
JP4101409B2 (ja) * | 1999-08-19 | 2008-06-18 | シャープ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP2001318652A (ja) * | 2000-05-08 | 2001-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | アクティブマトリクス液晶表示素子 |
JP2003142402A (ja) * | 2001-08-10 | 2003-05-16 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置の作製方法 |
JP4772258B2 (ja) * | 2002-08-23 | 2011-09-14 | シャープ株式会社 | Soi基板の製造方法 |
JP2003282885A (ja) * | 2002-03-26 | 2003-10-03 | Sharp Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
US7119365B2 (en) * | 2002-03-26 | 2006-10-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor device and manufacturing method thereof, SOI substrate and display device using the same, and manufacturing method of the SOI substrate |
US7508034B2 (en) | 2002-09-25 | 2009-03-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Single-crystal silicon substrate, SOI substrate, semiconductor device, display device, and manufacturing method of semiconductor device |
JP4759919B2 (ja) | 2004-01-16 | 2011-08-31 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
JP5110772B2 (ja) | 2004-02-03 | 2012-12-26 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体薄膜層を有する基板の製造方法 |
JP5072208B2 (ja) * | 2004-09-24 | 2012-11-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置の作製方法 |
US7897443B2 (en) * | 2005-04-26 | 2011-03-01 | Sharp Kabushiki Kaisha | Production method of semiconductor device and semiconductor device |
JP2007036216A (ja) * | 2005-06-24 | 2007-02-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置及び無線通信システム |
JP2007079431A (ja) * | 2005-09-16 | 2007-03-29 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示素子用アレイ基板及びその作製方法、これを用いた表示素子 |
KR101299604B1 (ko) * | 2005-10-18 | 2013-08-26 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체 장치 및 그 제조 방법 |
CN101281912B (zh) | 2007-04-03 | 2013-01-23 | 株式会社半导体能源研究所 | Soi衬底及其制造方法以及半导体装置 |
KR101457656B1 (ko) | 2007-05-17 | 2014-11-04 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 반도체장치의 제조방법, 표시장치의 제조방법, 반도체장치,표시장치 및 전자기기 |
US7745268B2 (en) | 2007-06-01 | 2010-06-29 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method for manufacturing a semiconductor device with irradiation of single crystal semiconductor layer in an inert atmosphere |
-
2008
- 2008-03-28 TW TW097111176A patent/TWI476927B/zh not_active IP Right Cessation
- 2008-03-28 US US12/078,215 patent/US7960262B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-03-31 CN CN200810088431.2A patent/CN101308772B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2008-05-15 JP JP2008127915A patent/JP2009004756A/ja not_active Withdrawn
-
2014
- 2014-05-01 JP JP2014094751A patent/JP2014170959A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009004756A5 (ja) | ||
JP2012257192A5 (ja) | 半導体装置 | |
WO2009108752A3 (en) | Laser-induced structuring of substrate surfaces | |
JP2008235876A5 (ja) | ||
JP2015072764A5 (ja) | ||
EP4293706A3 (en) | Direct and sequential formation of monolayers of boron nitride and graphene on substrates | |
WO2009142391A3 (ko) | 발광소자 패키지 및 그 제조방법 | |
JP2010521061A5 (ja) | ||
JP2012118545A5 (ja) | ||
JP2013070070A5 (ja) | 半導体装置及びその作製方法 | |
JP2013042180A5 (ja) | ||
JP2009260314A5 (ja) | ||
JP2008257710A5 (ja) | ||
JP2011119675A5 (ja) | ||
SG157351A1 (en) | Hybrid conductive vias including small dimension active surface ends and larger dimension back side ends, semiconductor devices including the same, and associated methods | |
JP2008311635A5 (ja) | ||
JP2009111375A5 (ja) | ||
WO2009059128A3 (en) | Crystalline-thin-film photovoltaic structures and methods for forming the same | |
GB2509683A (en) | Flattened substrate surface for substrate bonding | |
JP2009111363A5 (ja) | ||
MY185237A (en) | Semiconductor wafer with a layer of al:ga1-zn and process for producing it | |
JP2009010365A5 (ja) | ||
WO2009089472A3 (en) | Photovoltaic devices | |
JP2013153160A5 (ja) | 半導体装置の作製方法 | |
JP2013038404A5 (ja) |