JP2009004077A - 不揮発性メモリ素子及びその動作方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明は、データをそれぞれ保存する多数のメモリセルと、メモリセルにデータの何番目のビットまで記入されているかに関する情報を保存するブロック状態確認セルとをそれぞれ備える少なくとも一つのメモリブロック;ブロック状態確認セルに保存されたビットのみ、メモリブロックからデータを読み取るコントローラを備える半導体装置である。
【選択図】図2
Description
図1の半導体装置は、複数個のメモリブロックMB11〜MB4nを備える。また、図1の半導体装置は、複数個のプレーンPLANE1〜PLANE4に区分され、それぞれのプレーン(例えば、PLANE1)は、n個のメモリブロック(例えば、MB11〜MB1n)を備えうる。図1には、半導体装置が4個のプレーンPLANE1〜PLANE4に区分されると示されているが、当業者ならば、区分されるプレーンの個数が4個に限定されないという点が分かるであろう。
図2を参照すれば、図1のメモリブロック(例えば、MB11)は、多数のメモリセルMC1〜MCn及びブロック状態確認セルBSCCを備える。多数のメモリセルMC1〜MCnは、データをそれぞれ保存する。ブロック状態確認セルBSCCは、メモリセルMC1〜MCnにデータの何番目のビットまで記入されているかに関する情報を保存する。図2には、図1のメモリブロックMC1〜MCnのうちから一つのメモリブロックMB11の様子を示したが、図1の残りのメモリブロックMC2〜MCnも、図2に示されたメモリブロックMB11と同じ様子を有しうる。また、図1の一部ブロックのみが図2に示されたメモリブロックMB11と同じ様子を有することもある。
図3の一番目の行のように、ブロック状態確認セルBSCCの全てのビットが‘off’である場合には、メモリセルMC1〜MCnに1ビットのデータのみ記入されていると判断する。それにより、メモリセルMC1〜MCnから1ビットのデータのみを読み取る。また、図3の二番目の行のように、ブロック状態確認セルBSCCの一番目のビット(Check bit 1)のみが‘on’であり、残りのビットは、‘off’である場合には、メモリセルMC1〜MCnに2ビットのデータが記入されていると判断する。それにより、メモリセルMC1〜MCnから2ビットのデータを読み取る。ここで、ブロック状態確認セルBSCCのビットが‘on’である場合は、前記ビットを‘0’にプログラミングしたことを意味し、ブロック状態確認セルBSCCのビットが‘off’である場合は、前記ビット‘1’にプログラミングしたことを意味する。
図4を参照すれば、制御ロジック460でメモリセルアレイのブロック状態確認セルBSCCに保存された情報を読み取ってメモリセルアレイの現在記入状態を把握する。すなわち、メモリセルの何番目のビットまで記入されているかを確認する。このように把握されたビット情報に基づいて、コマンドレジスタ450は、読み取り方式を選択する。すなわち、メモリセルの何番目のビットまでデータを読み取るかを決定する。次いで、制御ロジック460、入出力バッファ/ラッチ470、Yゲーティング回路430、データレジスタ/センスアンプ420、出力ドライバ490及びグローバルバッファ480を利用して、メモリセルアレイからデータを読み取る。
420 データレジスタ&センスアンプ
430 Yゲーティング回路
450 コマンドレジスタ
460 制御ロジック
470 入出力バッファ&ラッチ
480 グローバルバッファ
490 出力ドライバ
BSCC ブロック状態確認セル
Claims (17)
- データをそれぞれ保存する多数のメモリセルと、前記メモリセルに前記データの何番目のビットまで記入されているかに関する情報を保存するブロック状態確認セルとをそれぞれ備える少なくとも一つのメモリブロックと、
前記ブロック状態確認セルに保存されたビットによって、前記メモリブロックから前記データを読み取るコントローラと、を備えることを特徴とする半導体装置。 - 前記ブロック状態確認セルは、
前記ブロック状態確認セルの属するメモリブロックのメモリセルが保存しうるビット数より1ビット小さなビット数を有することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記ブロック状態確認セルは、
対応するメモリブロックの一番目のデータページに属することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記ブロック状態確認セルは、
対応するメモリブロックに連結される多数のワードラインのうち、一番目のワードラインに連結されることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記それぞれのメモリブロックは、
前記メモリセルに欠陥が発生した場合、前記欠陥の発生したメモリセルを代替する少なくとも一つのスペアセルをさらに備え、
前記スペアセルのロウ方向の個数と前記ブロック状態確認セルのロウ方向の個数とは、前記メモリセルのロウ方向の個数と同じであることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記コントローラは、
前記ブロック状態確認セルに保存されたビットによって、前記メモリセルに記入されたデータを検証することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記メモリセルは、
NANDフラッシュメモリセルであることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 少なくとも一つのメモリセルのデータを読み取るメモリデータ読み取り方法において、
前記メモリセルに記入されているデータのビット数を検出するステップと、
前記検出されたビット数のみ前記メモリセルのデータを読み取るステップと、を含むことを特徴とするメモリデータ読み取り方法。 - 前記データのビット数を検出するステップは、
メモリセルに記入されているデータのビット数を指示するブロック状態確認セルに保存されたビット数を検出することを特徴とする請求項8に記載のメモリデータ読み取り方法。 - 前記ブロック状態確認セルは、
前記ブロック状態確認セルの属するメモリブロックのメモリセルが保存しうるビット数より小さいビット数を有することを特徴とする請求項9に記載の半導体装置。 - 前記少なくとも一つのメモリセルと前記ブロック状態確認セルとは、
少なくとも一つのメモリブロックに含まれることを特徴とする請求項10に記載の半導体装置。 - 前記少なくとも一つのメモリセルは、
Mビットのデータを保存しうるマルチ−レベルフラッシュメモリセルを含むことを特徴とする請求項8に記載の半導体装置。 - 前記読み取られたデータは、
前記メモリセルに記入されているデータの検証に利用され、
前記データ検証は、前記検出されたビット数のみ行われることを特徴とする請求項8に記載のメモリデータ読み取り方法。 - 前記データ検証は、
前記ブロック状態確認セルに保存された情報を読み取るコントローラで行われることを特徴とする請求項13に記載のメモリデータ読み取り方法。 - 多数のメモリセルにデータを記入するメモリプログラミング方法において、
前記メモリセルにデータを記入するステップと、
前記メモリセルに前記データの何番目のビットが記入されているかに関する情報を保存するステップと、
前記情報を保存するステップで保存されたビットのみ前記データを検証するステップと、を含むことを特徴とするメモリプログラミング方法。 - 前記メモリセルは、
前記Mビットのデータが保存されるマルチレベルフラッシュメモリセルであることを特徴とする請求項15に記載のメモリプログラミング方法。 - 前記情報を保存するステップは、
前記メモリセルが保存しうるデータのビット数より1ビット小さいビット数の情報を保存することを特徴とする請求項15に記載のメモリプログラミング方法。
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