JP2008084995A - 高耐圧トレンチmosトランジスタ及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】高耐圧トランジスタは、半導体基板8に形成されたトレンチに設けられたゲート電極4と、ゲート電極4の両側に、ゲート電極4からそれぞれ所定の間隔を空けて形成されたソース5及びドレイン6と、トレンチのソース5側の側壁とトレンチのドレイン6側の側壁とに沿って形成された電界緩和層2と、ゲート電極4とソース5との間と、ゲート電極4とドレイン6との間とに形成された電界緩和層3とを備える。
【選択図】図11
Description
本発明の実施形態について図1ないし図14に基づいて説明すると以下の通りである。
本実施の形態に係る高耐圧トランジスタは、耐圧を低下させることなく、高耐圧トランジスタを大幅に縮小化できるという効果を奏する。
図13は、実施の形態2に係る変形例の高耐圧トランジスタ1aの構成を示す断面図である。前述した構成要素と同一の構成要素には同一の参照符号を付している。従って、これらの構成要素の詳細な説明は省略する。
本実施の形態に係る高耐圧トランジスタは、高濃度拡散層6とゲート電極4とを所望の距離だけ離して、トランジスタの耐圧低下を防ぐためのCVD膜10の形成工程を削除して、ゲート電極4をゲートのトレンチ7の外側まで残して形成し、その側壁にサイドウォールを形成することによって、実施の形態1と同様の効果を奏することが出来る。しかし、ゲート電極4をゲートのトレンチ7の外側まで残して形成する分、高耐圧トランジスタの縮小効果は減少する。
図14は、実施の形態3に係る変形例の高耐圧トランジスタ1bの構成を示す断面図である。
本実施の形態に係る高耐圧トランジスタは、高濃度拡散層6とゲート電極4とを、ゲートのトレンチの深さ方向に所望の距離だけ離すことによって、トランジスタの耐圧低下を防ぎ、かつ、CVD膜10の形成工程を削除して、実施の形態1の縮小効果を減じることなく、実施の形態1と同様の効果を奏することが出来る。
2 電界緩和層
3 電界緩和層
4 ゲート電極
5 ソース
6 ドレイン
7 トレンチ
8 半導体基板
9 底面
10 絶縁膜
11 CVD酸化膜
12 ゲート酸化膜
13 フォトレジストパターン
14 開口部
15 イオン
16 イオン
17 イオン
18 トレンチ
19 チャネル領域
24 CVD酸化膜
25 配線
Claims (20)
- 半導体基板に形成されたトレンチと、前記トレンチの表面部に形成されたゲート酸化膜とを有し、
前記ゲート酸化膜上のトレンチ内に形成されたゲート電極を有し、
前記ゲート電極の両側に隣接する半導体基板の表面部に形成された第1電界緩和層を有し、
前記ゲート電極を有する領域のトレンチの側壁に沿って、半導体基板中に前記第1電界緩和層に接続して形成される第2電界緩和層を有し、
前記ゲート電極部を覆う絶縁膜を有し、
前記ゲート電極の両側に形成された第1電界緩和層の表面部に包含されて形成されるソースおよびドレイン領域を有する高耐圧トレンチMOSトランジスタ。 - 前記ゲート電極の頂部の平面は、隣接する前記半導体基板の表面部と略同一平面である請求項1記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 半導体基板に形成されたトレンチと、前記トレンチの内壁に形成されたゲート酸化膜とを有し、
前記ゲート酸化膜を介してトレンチ内と前記半導体基板上の前記トレンチに隣接する領域に形成されたゲート電極を有し、
前記半導体基板上の前記ゲート電極の両側に形成されたサイドウォールを有し、
前記ゲート電極の両側に隣接する半導体基板の表面部に形成された第1電界緩和層を有し、
前記ゲート電極を有するトレンチの側壁に沿って、半導体基板中に前記第1電界緩和層に接続して形成される第2電界緩和層を有し、
前記ゲート電極の両側に形成された前記第1電界緩和層の表面部に包含されて形成されるソースおよびドレイン領域を有する高耐圧トレンチMOSトランジスタ。 - 半導体基板に形成されたトレンチと、前記トレンチの内壁に形成されたゲート酸化膜とを有し、
前記ゲート酸化膜を介してトレンチ内に形成されたゲート電極の上面は、前記半導体基板の表面部より低く形成された構造を有し、
前記ゲート電極の上面に位置し、且つ前記トレンチの内壁に沿って形成されたサイドウォールを有し、
前記ゲート電極の両側に隣接する半導体基板の表面部に形成された第1電界緩和層を有し、
前記ゲート電極が配置されるトレンチの側壁に沿って、半導体基板中に前記第1電界緩和層に接続して形成される第2電界緩和層を有し、
前記ゲート電極の両側に形成された第1電界緩和層の表面部に包含されて形成されるソースおよびドレイン領域を有する高耐圧トレンチMOSトランジスタ。 - 前記トレンチの深さが0.3〜2μmである請求項1乃至請求項4に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記トレンチの幅は0.3〜1.0μmである請求項1乃至請求項4に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記第1電界緩和層の不純物濃度は1×1016〜5×1017cm-3である請求項1記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記第2電界緩和層の不純物濃度は1×1016〜5×1017cm-3である請求項1乃至請求項4に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記トレンチ側壁に沿って形成される第2電界緩和層の先端部は、トレンチの深さの80〜90%の位置に形成される請求項1乃至請求項4に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記高耐圧トレンチMOSトランジスタのゲート長方向であって、前記ゲート電極部を覆う前記絶縁膜の幅は0.4〜1.5μmである請求項1乃至請求項2に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 前記高耐圧トレンチMOSトランジスタのソース領域とドレイン領域の耐圧は10〜100Vである請求項1乃至請求項4に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタ。
- 第1伝導型の半導体基板にトレンチを形成してCVD酸化膜を埋め込む工程と、
レジストをマスクにしてトランジスタ形成領域の前記トレンチの両側の側壁に沿って第2伝導型のイオンを注入して第2電界緩和層を形成する工程と、
前記トランジスタ形成領域のCVD酸化膜を前記トレンチから除去して、露出したトレンチの側壁と底面の半導体基板にゲート酸化膜をする工程と、
ゲート電極を前記トレンチ内に埋め込む工程と、
前記ゲート電極を所望の幅で覆う絶縁膜を形成する工程と、
前記絶縁膜をマスクにして第2伝導型のイオンを注入して第1電界緩和層を形成する工程と、
前記絶縁膜をマスクにして第2伝導型のイオンを注入して、ソース領域及びドレイン領域を形成することを特徴とする高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。 - 前記ゲート電極の頂部の平面は隣接する前記半導体基板の表面部と略同一平面に形成される請求項12記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記トレンチの深さが0.3〜2μmに形成される請求項12乃至請求項13に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記トレンチの幅は0.3〜1.0μmに形成される請求項12乃至請求項14に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記第1電界緩和層の不純物濃度は1×1016〜5×1017cm-3に形成される請求項12乃至請求項15に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記第2電界緩和層の不純物濃度は1×1016〜5×1017cm-3に形成される請求項12乃至請求項16に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記トレンチ側壁に沿って形成される第2電界緩和層の先端部は、トレンチの深さの80〜90%の位置に形成される請求項12乃至請求項17に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記高耐圧トレンチMOSトランジスタのゲート長方向であって、前記ゲート電極部を覆う第2の絶縁膜の幅は0.4〜1.5μmに形成される請求項12乃至請求項18に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
- 前記高耐圧トレンチMOSトランジスタのソース領域とドレイン領域の耐圧は10〜100Vに形成される請求項12乃至請求項19に記載の高耐圧トレンチMOSトランジスタの製造方法。
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