JP2007525817A - 発光素子 - Google Patents
発光素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007525817A JP2007525817A JP2006509844A JP2006509844A JP2007525817A JP 2007525817 A JP2007525817 A JP 2007525817A JP 2006509844 A JP2006509844 A JP 2006509844A JP 2006509844 A JP2006509844 A JP 2006509844A JP 2007525817 A JP2007525817 A JP 2007525817A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light emitting
- layer
- light
- emitting device
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 217
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 38
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 18
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 13
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 12
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 10
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 5
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 5
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 claims description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 61
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 323
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 64
- 230000006870 function Effects 0.000 description 37
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 36
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 31
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 25
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 20
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 17
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 15
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 6
- 239000013079 quasicrystal Substances 0.000 description 6
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 6
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 5
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 description 5
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 4
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 4
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003570 air Substances 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 2-ethylhexyloxy Chemical group 0.000 description 1
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005725 8-Hydroxyquinoline Substances 0.000 description 1
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001015 X-ray lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229920000109 alkoxy-substituted poly(p-phenylene vinylene) Polymers 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N copper tungsten Chemical compound [Cu].[W] SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000276 deep-ultraviolet lithography Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000005226 mechanical processes and functions Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000001127 nanoimprint lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005329 nanolithography Methods 0.000 description 1
- 229960003540 oxyquinoline Drugs 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- OBSZRRSYVTXPNB-UHFFFAOYSA-N tetraphosphorus Chemical compound P12P3P1P32 OBSZRRSYVTXPNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000005533 two-dimensional electron gas Effects 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/10—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a light reflecting structure, e.g. semiconductor Bragg reflector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0083—Periodic patterns for optical field-shaping in or on the semiconductor body or semiconductor body package, e.g. photonic bandgap structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/26—Materials of the light emitting region
- H01L33/30—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table
- H01L33/32—Materials of the light emitting region containing only elements of Group III and Group V of the Periodic Table containing nitrogen
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/11—Comprising a photonic bandgap structure
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
Description
一の実施形態では、本発明は複数の材料から成る多層積層体を含む発光素子を特徴とする。複数の材料の多層積層体は、光発生領域、及び光発生領域に支持される第1層を含む。第1層の表面は、光発生領域が生成する光を発光素子から第1層の表面を通して放出することができるように構成される。第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、そしてパターンは理想的な格子定数及びゼロよりも大きい値の微調整(detuning)パラメータを有する。
第1層の表面は、光発生領域が生成する光を発光素子から第1層の表面を通して放出することができるように構成され、そして表面は複素周期パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有する。
い。
複数の材料から成る多層積層体は、複数の半導体材料から成る多層積層体により形成することができる。第1層はn型半導体材料層とすることができ、そして多層積層体は更に、p型半導体材料層を含むことができる。光発生領域は、n型半導体材料層とp型半導体材料層との間に設けることができる。
発光素子は更に、光発生領域によって生成される光の少なくとも50%の光であって、反射材料層に衝突する光を反射する機能を備える反射材料層を含むことができる。反射材料層は、支持体と、複数の材料から成る多層積層体との間に設けることができる。p型半導体材料層と反射材料層との間の距離は、n型半導体材料層と反射材料層との間の距離よりも短くすることができる。発光素子は更に、p型オーミックコンタクト層をp型半導体材料層と反射材料層との間に含むことができる。
複数の材料から成る多層積層体は、例えばIII−V族半導体材料、有機半導体材料、及び/又はシリコンのような半導体材料により形成することができる。
或る実施形態では、パターンは第1層を超えて延びることがない。
或る実施形態では、パターンは第1層を超えて延びる。
、第1層の複数の連続する筋(vein)、第1層の複数の不連続な筋、及びこれらの組合せの中から選択される部品により形成することができる。
或る実施形態では、パターンは非周期パターン、準結晶パターン、ロビンソン(Robinson)パターン、及びアムマン(Amman)パターンから選択することができる。或る実施形態では、パターンはペンローズ(Penrose)パターンである。
微調整パラメータは、例えば理想格子定数の少なくとも約1%、そして/または理想格子定数の最大約25%とすることができる。或る実施形態では、パターンはほぼランダムに微調整された理想パターンに対応させることができる。
或る実施形態では、発光素子はパッケージングされる(例えば、パッケージチップの形で)。或る実施形態では、パッケージングされた発光素子には封止材料が不要となる。
或る実施形態では、第1層の表面に接触する材料は少なくとも約1の屈折率を有する。
ウェハを形成する方法では、リン材料を配置して約20%未満だけ変化する厚さを有する層を形成することができる。本方法では、リン材料層の厚さが約20%未満だけ変化するようにリン材料層を平坦化することができる。本方法ではまた、リン材料を第1層の表面の上に配置した後に、リン材料を平坦化することができる。リン材料は、例えばスピン塗布により第1層の表面の上に形成することができる。本方法では、ウェハから複数の発光素子を形成し、そしてこれらの発光素子の内の少なくとも幾つかの発光素子を互いから分離することができる。
発光素子を形成する方法では更に、反射材料層をp型材料層に接着させる前に、第1層を基板に接着させることができ、この場合、複数の材料から成る多層積層体は基板と反射材料層との間に位置する。本方法ではまた、接着層を第1層と基板との間に形成することができる。本方法ではまた、基板を取り外すことができる。本方法は更に、基板を取り外す工程の後に、ラッピング工程及び研磨工程を含むことができる。基板は、反射材料層を第1層に接着させた後に取り外すことができる。基板を取り外す工程においては、第1層と基板との間に配置される接着層を加熱することができる。接着層を加熱する工程においては、接着層の少なくとも一部を分解することができる。接着層を加熱する工程においては、接着層をレーザからの放射線に晒すことができる。基板を取り外す工程においては、基板をレーザリフトオフ法を使用してレーザ光に晒すことができる。基板を取り外すことにより、第1層の表面をほぼ平坦にすることができる。本方法では更に、パターンを第1層の表面に形成する前に、かつ基板を取り外した後に、第1層の表面を平坦化することができる。第1層の表面を平坦化する工程においては、第1層の表面に化学機械研磨を施すことができる。第1層の表面を平坦化することによって、第1層の表面の粗さを、約λ/5超にまで小さくすることができ、この場合、λは第1層が放出することができる光の波長である。パターンを形成する工程では、ナノリソグラフィを使用することができる。本方法ではまた、基板を反射材料層の上に配置することができる。本方法では更に、電流拡散層を第1層と光発生領域との間に配置することができる。
或る実施形態では、LED及び/又は非常に大きなLEDチップは、非常に大きな表面輝度、非常に大きな平均表面輝度を示し、熱放散の必要性が非常に小さい、または熱放散の速度が非常に大きく、エテンデュー(etendue:利用できる光源の面積×立体角)を大きく減らすことができ、そして/または電力効率を非常に高くすることができる。
るパッケージLED)は、リン材料から成る非常に均一なコーティングを含むことができる。
種々の図における同様の参照符号は同様の構成要素を指す。
図1は、パッケージチップ(packaged die)構成のLED100の側面図を示している。LED100は、サブマウント120上に配置される多層積層体122を含む。多層積層体122は320nm厚さのシリコン添加(n型)GaN層134を含み、このGaN層は複数の開口150から成るパターンをその上側表面110に有する。多層積層体122はまた、接着層124、100nm厚さの銀層126、40nm厚さのマグネシウム添加(p型)GaN層128、複数のInGaN/GaN量子井戸により形成される120nm厚さの光発生領域130、及びAlGaN層132を含む。n側コンタクトパッド136は層134の上に配置され、そしてp側コンタクトパッド138は層126の上に配置される。封止材(屈折率が1.5のエポキシ)144は層134とカバースリップ140と支持体142との間に設けられる。層144は複数の開口150の内部には延在しない。
れると領域130内で結合する電子−正孔ペアを生じさせるので、領域130は光を生成する。同様に、領域130によって生成される光の少なくとも或る部分はパッド136に振り向けられる。パッド136の下側は、光発生領域130によって生成される光の少なくとも或る部分を反射する材料(例えばTi/Al/Ni/Au合金)により形成される。従って、パッド136に振り向けられる光はパッド136によって反射され、続いてLED100から表面110を通って放出される(例えば、銀層126によって反射されることにより)、またはパッド136に振り向けられる光はパッド136によって反射され、次にLED100の半導体材料内部で吸収されると領域130内で結合する電子−正孔ペアを生じさせるので、領域130は光を生成する(例えば、銀層126によって反射されることにより、または反射されることなく)。
Raton, FL, 1993)、A. Tafloveによる「計算電気力学:有限差分時間領域法」と題する非特許文献2(Artech House, London, 1995)を参照されたく、これらの文献の両方を本明細書において参照することにより、これらの文献の内容が本発明の開示に含まれる。特定パターン150を有するLED100の光動作を説明するために、FDTD計算の入力パラメータは、光発生領域130の点双極子放射源が放出する光の中心周波数及び帯域幅、多層積層体122内の各層の寸法及び誘電特性、及びパターン150の開口の直径、深さ、及び最近接開口間距離(NND)を含む。
次のように計算される。FDTD法を使用して完全ベクトルの、時間に依存する(full−vector time−dependent)マクスウェル方程式を解く。
れる誘電関数εGの該当するフーリエ成分(Fk)の絶対値に比例する。
ば少なくとも約15%、少なくとも約20%)及び/又は最大約90%(例えば最大約80%、最大約70%、最大約60%)の充填率を有する。
いる。アルキミディアンパターンA7は、最近接開口間距離がaの7つの等間隔穴を有する六角形ユニットセル230から成る。ユニットセル230内では、6個の穴が正六角形状に配列され、そして7個目の穴が六角形の中心に配置される。従って、六角形状配列ユニットセル230は、ユニットセル間の中心間の間隔が
University Press, Cambridge, England 1996)に記載されており、この文献を本明細書において参照することによりこの文献の内容が本発明の開示に含まれる。数値計算によって、取り出し効率が8重準周期構造(class of 8−fold based quasi−periodic structure)が変化するとともにどのように変化するかが分かる。準結晶パターンは、このような構造によって可能になる面内回転対称性が高いので高い取り出し効率を示すと考えられる。光取り出し効率を高くする方法、該当する数値計算を行なう方法、及び図11に示すパターンを有する発光素子の光取り出し効率を高めることに関する物理的説明は概して上述の説明と同じである。図11に示すFDTD計算による結果は、準結晶構造の取り出し効率が約82%に達することを示している。図11に示すデータは、図1に示すLED100に与えられるパラメータを使用して計算されるが、これらのパラメータの中で、放出光が450nmのピーク波長を有し、かつNND(最近接開口間距離)が個々のセル内部の開口の間の距離として定義される点が異なる。
加えることによって、取り出し効率を高くすることができると考えられる。
ートル)×(少なくとも約1ミリメートル))を有することができる。
の内側で放出される。
をそのままにして、局部的に平坦ではない境界を素子100に設けることにより素子の取り出し効率を上げ易くすることができる。粗表面によって、顕微鏡的なサイズの平滑性を有する表面よりも、表面700に複数回衝突する光線が最終的に表面をスネルの法則で与えられる臨界角度未満の角度で衝突し、そして表面700から取り出される確率が高くなる。
時にチップを機械的に、かつ周りの環境から保護する機能を備える必要がある。例えば、封止材を使用しない場合に、透明カバーをLEDチップの上にパッケージングして506のパターニング済み表面を保護する。カバースリップを支持体142に、炉の中で溶融するガラスフリットを使用して取り付ける。支持体の反対側の両端部は、例えばキャップ溶接またはエポキシを使用して接続される。支持体は通常、ニッケルメッキしてパッケージの金メッキ表面への溶接を容易にする。封止層を設けないことによって、LED100のパターニング済み表面の単位面積当たりの許容電力負荷を大きくすることができると考えられる。封止材の劣化は、標準LEDの普通の故障メカニズムであり、封止層を使用しないことによって回避される。
一例として、発光素子及び関連する層の或る厚さは上に議論したものであるが、他の厚さを採用することも可能である。一般的に、発光素子はどのような所望の厚さを有することもでき、そして発光素子内の個々の層はどのような所望の厚さを有することもできる。通常、多層積層体122内部の層の厚さは、光発生領域130との光モードの空間的重なりを大きくして領域130において生成される光の出力が大きくなるように選択される。発光素子の或る層の例示としての厚さは次の如くである。或る実施形態では、層134は少なくとも約100nm(例えば、少なくとも約200nm、少なくとも約300nm、少なくとも約400nm、少なくとも約500nm)及び/又は最大約10ミクロン(例えば、最大約5ミクロン、最大約3ミクロン、最大約1ミクロン)の厚さを有することができる。或る実施形態では、層128は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約25nm、少なくとも約40nm)及び/又は最大約1ミクロン(例えば、最大約500nm、最大約100nm)の厚さを有することができる。或る実施形態では、層126は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約50nm、少なくとも約100nm)及び/又は最大約1ミクロン(例えば、最大約500nm、最大約250nm)の厚さを有することができる。或る実施形態では、光発生領域130は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約25nm、少なくとも約50nm、少なくとも約100nm)及び/又は最大約500nm(例えば、最大約250nm、最大約150nm)の厚さを有することができる。
うな半導体材料(例えば、III−V族半導体材料、有機半導体材料、シリコン)も使用することができる。他の光発生材料の例としては、InGaAsP,AlInGaN,AlGaAs,InGaAlPが挙げられる。有機発光材料には、アルミニウムトリス−8−ヒドロキシキノリン(Alq3)のような小分子及びポリ[2−メトキシ−5−(2−エチルへキシルオキシ)−1,4−ビニレンフェニレン]またはMEH−PPVのような共役ポリマーが含まれる。
0はパターニングすることができる、またはパターニングしなくてもよい。例えば、表面110はパターニングしないが、粗面化することができる(すなわち、λ/5未満の種々のサイズ及び形のランダムに分布させた形状を有する)。
或る実施形態では、リン材料を含有するカバー層140を含むことができる。このような実施形態では、表面110はパターニングすることができる、またはパターニングしなくてもよい。
Claims (47)
- n型材料層と、p型材料層と、そして光発生領域とを備えた、複数の材料の多層積層体と、
光発生領域が生成する光の少なくとも約50%の光を反射する機能を有する反射材料層であって、この少なくとも約50%の光が反射材料層に衝突する構成の反射材料層とを備え、
n型材料層の表面は、光発生領域が生成する光を、発光素子からn型材料層の表面を通して放出することができるように構成され、
前記n型材料層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、
前記p型材料層と反射材料層との間の距離が、n型材料層と反射材料層との間の距離よりも短い、発光素子。 - 複数の材料の前記多層積層体は、複数の半導体材料から成る多層積層体である、請求項1記載の発光素子。
- n型材料はn型半導体材料であり、p型材料はp型半導体材料である、請求項1記載の発光素子。
- 光発生領域はn型材料層とp型半導体材料との間に位置する、請求項1記載の発光素子。
- 更に、複数の材料の多層積層体を支持する支持体を備える、請求項1記載の発光素子。
- 更に、p型材料層と反射材料層との間にp型オーミックコンタクト層を備える、請求項1記載の発光素子。
- 更に、n型材料層と光発生領域との間に電流拡散層を含む、請求項1記載の発光素子。
- 複数の材料の多層積層体は半導体材料からなる、請求項1記載の発光素子。
- 半導体材料は、III−V族半導体材料、有機半導体材料、及びシリコンから成るグループから選択される、請求項8記載の発光素子。
- パターンは光発生領域の中まで延在することがない、請求項1記載の発光素子。
- パターンはn型材料層を超えて延在することがない、請求項1記載の発光素子。
- パターンはn型材料層を超えて延在する、請求項1記載の発光素子。
- 更に、電流を発光素子に注入するように構成される電気コンタクトを備える、請求項1記載の発光素子。
- 電気コンタクトは、電流を発光素子に垂直方向に注入するように構成される、請求項13記載の発光素子。
- パターンは一部が、n型材料層の表面の複数の穴、n型材料層の複数のピラー(柱)、n型材料層の複数の連続する筋、n型材料層の複数の不連続な筋、及びこれらの組合せから成るグループから選択される部品により形成される、請求項1記載の発光素子。
- 変化パターンは、非周期パターン、複素周期パターン、及び理想格子定数及びゼロよりも大きい微調整パラメータを有するパターンから成るグループから選択される、請求項1記載の発光素子。
- パターンは一部が、第1層の複数の穴により形成される、請求項1記載の発光素子。
- パターンは、n型材料層の表面から放出される光が放射モードのスペクトルを有し、かつ放射モードのスペクトルが光発生領域の固有放出スペクトルとほぼ同じとなるように構成される、請求項1記載の発光素子。
- 発光素子は、発光ダイオード、レーザ、光増幅器、及びこれらの組合せから成るグループから選択される、請求項1記載の発光素子。
- 発光素子は発光ダイオードを含む、請求項1記載の発光素子。
- 発光素子は、有機発光素子、面発光LED、高輝度発光素子、及びこれらの組合せから成るグループから選択される、請求項1記載の発光素子。
- 光発生領域、及び光発生領域に支持される第1層を備えた複数の材料の多層積層体と、第1層の表面は、光発生領域が生成する光を、発光素子から第1層の表面を通して放出することができるように構成され、及び第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有することと、
光発生領域が生成する光の少なくとも約50%の光を反射する機能を有する反射材料層であって、この少なくとも約50%の光が反射材料層に衝突する構成の反射材料層とを備え、
前記光発生領域は反射材料層と第1層との間に位置し、そしてパターンは第1層を超えて延在することがない、発光素子。 - 複数の材料の多層積層体は、複数の半導体材料から成る多層積層体である、請求項22記載の発光素子。
- 第1層はn型半導体材料層を含み、多層積層体は更に、p型半導体材料層を含む、請求項23記載の発光素子。
- 光発生領域はn型半導体材料層とp型半導体材料層との間に位置する、請求項24記載の発光素子。
- 更に、複数の材料の多層積層体を支持する支持体を備える、請求項25記載の発光素子。
- p型半導体材料層と反射材料層との間の距離が、n型半導体材料層と反射材料層との間の距離よりも短い、請求項26記載の発光素子。
- 更に、p型材料層と反射材料層との間にp型オーミックコンタクト層を備える、請求項27記載の発光素子。
- 更に、第1層と光発生領域との間に電流拡散層を含む、請求項22記載の発光素子。
- 複数の材料の多層積層体は半導体材料を含む、請求項22記載の発光素子。
- 半導体材料は、III−V族半導体材料、有機半導体材料、及びシリコンから成るグループから選択される、請求項30記載の発光素子。
- パターンは光発生領域の中まで延在することがない、請求項22記載の発光素子。
- 更に、電流を発光素子に注入するように構成される電気コンタクトを備える、請求項22記載の発光素子。
- 電気コンタクトは、電流を発光素子に垂直方向に注入するように構成される、請求項33記載の発光素子。
- パターンは一部が、第1層の表面の複数の穴、第1層の複数のピラー(柱)、第1層の複数の連続する筋、第1層の複数の不連続な筋、及びこれらの組合せから成るグループから選択される部品により形成される、請求項22記載の発光素子。
- パターンは、非周期パターン、複素周期パターン、及び理想格子定数及びゼロよりも大きい微調整パラメータを有するパターンから成るグループから選択される少なくとも一つのパターンを含む、請求項22記載の発光素子。
- パターンは一部が、第1層の複数の穴により形成される、請求項22記載の発光素子。
- パターンは、パターンの理想格子定数の最大約25%である微調整パラメータを有する、請求項22記載の発光素子。
- パターンは、パターンの理想格子定数の最大約少なくとも約1%である微調整パラメータを有する、請求項22記載の発光素子。
- 誘電関数を変化させるパターンは、ほぼランダムに微調整される理想パターンに対応する、請求項22記載の発光素子。
- パターンは非周期パターンである、請求項22記載の発光素子。
- パターンは、第1層の表面から放出される光が放射モードのスペクトルを有し、かつ放射モードのスペクトルが光発生領域の固有放出スペクトルとほぼ同じとなるように構成される、請求項22記載の発光素子。
- 発光素子は、発光ダイオード、レーザ、光増幅器、及びこれらの組合せから成るグループから選択される、請求項22記載の発光素子。
- 発光素子は発光ダイオードを含む、請求項22記載の発光素子。
- 発光素子は、有機発光素子(OLED)、面発光LED、高輝度発光素子(HBLED)、及びこれらの組合せから成るグループから選択される、請求項22記載の発光素子。
- λが光発生領域が生成することができ、かつ発光素子からn型材料層の表面を通して放出することができる光の波長である場合、n型材料層の表面は約λ/5未満のサイズの形状を有する、請求項1記載の発光素子。
- λが光発生領域が生成することができ、かつ発光素子から第1層の表面を通して放出することができる光の波長である場合、第1層の表面は約λ/5未満のサイズの形状を有す
る、請求項22記載の発光素子。
Applications Claiming Priority (23)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US46288903P | 2003-04-15 | 2003-04-15 | |
US60/462,889 | 2003-04-15 | ||
US47419903P | 2003-05-29 | 2003-05-29 | |
US60/474,199 | 2003-05-29 | ||
US47568203P | 2003-06-04 | 2003-06-04 | |
US60/475,682 | 2003-06-04 | ||
US50366103P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50365303P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50365403P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50367203P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50367103P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US60/503,653 | 2003-09-17 | ||
US60/503,671 | 2003-09-17 | ||
US60/503,654 | 2003-09-17 | ||
US60/503,661 | 2003-09-17 | ||
US60/503,672 | 2003-09-17 | ||
US51380703P | 2003-10-23 | 2003-10-23 | |
US60/513,807 | 2003-10-23 | ||
US51476403P | 2003-10-27 | 2003-10-27 | |
US60/514,764 | 2003-10-27 | ||
US10/724,004 | 2003-11-26 | ||
US10/724,004 US6831302B2 (en) | 2003-04-15 | 2003-11-26 | Light emitting devices with improved extraction efficiency |
PCT/US2004/010936 WO2004093143A2 (en) | 2003-04-15 | 2004-04-08 | Light emitting devices |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011116160A Division JP2011187982A (ja) | 2003-04-15 | 2011-05-24 | 発光素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007525817A true JP2007525817A (ja) | 2007-09-06 |
Family
ID=33163345
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006509844A Pending JP2007525817A (ja) | 2003-04-15 | 2004-04-08 | 発光素子 |
JP2011116160A Pending JP2011187982A (ja) | 2003-04-15 | 2011-05-24 | 発光素子 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011116160A Pending JP2011187982A (ja) | 2003-04-15 | 2011-05-24 | 発光素子 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (9) | US6831302B2 (ja) |
EP (1) | EP1614160A4 (ja) |
JP (2) | JP2007525817A (ja) |
KR (1) | KR100892957B1 (ja) |
TW (1) | TWI332715B (ja) |
WO (1) | WO2004093143A2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007103689A (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光装置 |
US8538224B2 (en) | 2010-04-22 | 2013-09-17 | 3M Innovative Properties Company | OLED light extraction films having internal nanostructures and external microstructures |
JP2019186548A (ja) * | 2018-04-13 | 2019-10-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体発光素子 |
Families Citing this family (197)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7211833B2 (en) | 2001-07-23 | 2007-05-01 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including barrier layers/sublayers |
US20060005763A1 (en) | 2001-12-24 | 2006-01-12 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US8545629B2 (en) | 2001-12-24 | 2013-10-01 | Crystal Is, Inc. | Method and apparatus for producing large, single-crystals of aluminum nitride |
US7638346B2 (en) | 2001-12-24 | 2009-12-29 | Crystal Is, Inc. | Nitride semiconductor heterostructures and related methods |
KR101030068B1 (ko) * | 2002-07-08 | 2011-04-19 | 니치아 카가쿠 고교 가부시키가이샤 | 질화물 반도체 소자의 제조방법 및 질화물 반도체 소자 |
US7074631B2 (en) | 2003-04-15 | 2006-07-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device methods |
US6831302B2 (en) | 2003-04-15 | 2004-12-14 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with improved extraction efficiency |
US7166871B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-01-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting systems |
US7105861B2 (en) | 2003-04-15 | 2006-09-12 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
US7211831B2 (en) | 2003-04-15 | 2007-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device with patterned surfaces |
US7521854B2 (en) | 2003-04-15 | 2009-04-21 | Luminus Devices, Inc. | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same |
US7084434B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Uniform color phosphor-coated light-emitting diode |
US7098589B2 (en) | 2003-04-15 | 2006-08-29 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with high light collimation |
US7274043B2 (en) | 2003-04-15 | 2007-09-25 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode systems |
US7262550B2 (en) | 2003-04-15 | 2007-08-28 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode utilizing a physical pattern |
US7667238B2 (en) | 2003-04-15 | 2010-02-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices for liquid crystal displays |
US7083993B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Methods of making multi-layer light emitting devices |
US20040259279A1 (en) * | 2003-04-15 | 2004-12-23 | Erchak Alexei A. | Light emitting device methods |
US7528421B2 (en) * | 2003-05-05 | 2009-05-05 | Lamina Lighting, Inc. | Surface mountable light emitting diode assemblies packaged for high temperature operation |
US7633093B2 (en) | 2003-05-05 | 2009-12-15 | Lighting Science Group Corporation | Method of making optical light engines with elevated LEDs and resulting product |
US7777235B2 (en) | 2003-05-05 | 2010-08-17 | Lighting Science Group Corporation | Light emitting diodes with improved light collimation |
US7157745B2 (en) * | 2004-04-09 | 2007-01-02 | Blonder Greg E | Illumination devices comprising white light emitting diodes and diode arrays and method and apparatus for making them |
US7400805B2 (en) * | 2003-06-10 | 2008-07-15 | Abu-Ageel Nayef M | Compact light collection system and method |
US7360936B2 (en) * | 2003-06-10 | 2008-04-22 | Abu-Ageel Nayef M | Method and system of LED light extraction using optical elements |
US7456035B2 (en) * | 2003-07-29 | 2008-11-25 | Lumination Llc | Flip chip light emitting diode devices having thinned or removed substrates |
US7341880B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7344903B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-18 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7012279B2 (en) * | 2003-10-21 | 2006-03-14 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Photonic crystal light emitting device |
FR2862424B1 (fr) * | 2003-11-18 | 2006-10-20 | Valeo Electronique Sys Liaison | Dispositif de refroidissement d'un composant electrique et procede de fabrication de ce dispositif |
US7450311B2 (en) | 2003-12-12 | 2008-11-11 | Luminus Devices, Inc. | Optical display systems and methods |
US7189591B2 (en) * | 2003-12-19 | 2007-03-13 | Nitto Denko Corporation | Process for producing light-emitting semiconductor device |
WO2005062905A2 (en) * | 2003-12-24 | 2005-07-14 | Gelcore Llc | Laser lift-off of sapphire from a nitride flip-chip |
JP4557542B2 (ja) * | 2003-12-24 | 2010-10-06 | ▲さん▼圓光電股▲ふん▼有限公司 | 窒化物発光装置及び高発光効率窒化物発光装置 |
US20050152417A1 (en) * | 2004-01-08 | 2005-07-14 | Chung-Hsiang Lin | Light emitting device with an omnidirectional photonic crystal |
US6969626B2 (en) * | 2004-02-05 | 2005-11-29 | Advanced Epitaxy Technology | Method for forming LED by a substrate removal process |
US20050173714A1 (en) * | 2004-02-06 | 2005-08-11 | Ho-Shang Lee | Lighting system with high and improved extraction efficiency |
US7250635B2 (en) * | 2004-02-06 | 2007-07-31 | Dicon Fiberoptics, Inc. | Light emitting system with high extraction efficency |
US20050205883A1 (en) * | 2004-03-19 | 2005-09-22 | Wierer Jonathan J Jr | Photonic crystal light emitting device |
DE102004021233A1 (de) * | 2004-04-30 | 2005-12-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Leuchtdiodenanordnung |
US7582910B2 (en) * | 2005-02-28 | 2009-09-01 | The Regents Of The University Of California | High efficiency light emitting diode (LED) with optimized photonic crystal extractor |
US20070267646A1 (en) * | 2004-06-03 | 2007-11-22 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Light Emitting Device Including a Photonic Crystal and a Luminescent Ceramic |
US7795623B2 (en) | 2004-06-30 | 2010-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting devices having current reducing structures and methods of forming light emitting devices having current reducing structures |
US20090023239A1 (en) * | 2004-07-22 | 2009-01-22 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7557380B2 (en) | 2004-07-27 | 2009-07-07 | Cree, Inc. | Light emitting devices having a reflective bond pad and methods of fabricating light emitting devices having reflective bond pads |
US7442964B2 (en) * | 2004-08-04 | 2008-10-28 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Photonic crystal light emitting device with multiple lattices |
US20060038188A1 (en) * | 2004-08-20 | 2006-02-23 | Erchak Alexei A | Light emitting diode systems |
US20060043400A1 (en) * | 2004-08-31 | 2006-03-02 | Erchak Alexei A | Polarized light emitting device |
US7737459B2 (en) | 2004-09-22 | 2010-06-15 | Cree, Inc. | High output group III nitride light emitting diodes |
US8174037B2 (en) | 2004-09-22 | 2012-05-08 | Cree, Inc. | High efficiency group III nitride LED with lenticular surface |
US7509012B2 (en) * | 2004-09-22 | 2009-03-24 | Luxtaltek Corporation | Light emitting diode structures |
US7327924B2 (en) * | 2004-09-23 | 2008-02-05 | Stc.Unm | Generalized transverse bragg waveguide |
US7256483B2 (en) * | 2004-10-28 | 2007-08-14 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Package-integrated thin film LED |
US7692207B2 (en) * | 2005-01-21 | 2010-04-06 | Luminus Devices, Inc. | Packaging designs for LEDs |
US7170100B2 (en) | 2005-01-21 | 2007-01-30 | Luminus Devices, Inc. | Packaging designs for LEDs |
US7335920B2 (en) | 2005-01-24 | 2008-02-26 | Cree, Inc. | LED with current confinement structure and surface roughening |
US20060204865A1 (en) * | 2005-03-08 | 2006-09-14 | Luminus Devices, Inc. | Patterned light-emitting devices |
US20070045640A1 (en) | 2005-08-23 | 2007-03-01 | Erchak Alexei A | Light emitting devices for liquid crystal displays |
US7125734B2 (en) * | 2005-03-09 | 2006-10-24 | Gelcore, Llc | Increased light extraction from a nitride LED |
JP2006310721A (ja) * | 2005-03-28 | 2006-11-09 | Yokohama National Univ | 自発光デバイス |
JP2008311687A (ja) * | 2005-03-28 | 2008-12-25 | Stanley Electric Co Ltd | 自発光デバイス |
WO2006110535A2 (en) * | 2005-04-07 | 2006-10-19 | Nanometrics Incorporated | Apparatus and methods for scatterometry of optical devices |
WO2006117389A1 (de) * | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Ihp Gmbh - Innovations For High Performance Microelectronics / Institut Für Innovative Mikroelektronik | Versetzungsbasierter lichtemitter |
KR100588377B1 (ko) * | 2005-05-10 | 2006-06-09 | 삼성전기주식회사 | 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드 소자 및 그 제조방법 |
DE102005048408B4 (de) * | 2005-06-10 | 2015-03-19 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Dünnfilm-Halbleiterkörper |
US7592637B2 (en) * | 2005-06-17 | 2009-09-22 | Goldeneye, Inc. | Light emitting diodes with reflective electrode and side electrode |
US8163575B2 (en) | 2005-06-17 | 2012-04-24 | Philips Lumileds Lighting Company Llc | Grown photonic crystals in semiconductor light emitting devices |
TWI282629B (en) * | 2005-06-21 | 2007-06-11 | Unit Light Technology Inc | Method for fabricating LED |
EP1899435A4 (en) * | 2005-07-01 | 2010-06-02 | Lamina Lighting Inc | LIGHTING DEVICE WITH WHITE LIGHT EMITTING DIODES AND DIODE ARRANGEMENTS AND METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING THEM |
US20070018186A1 (en) * | 2005-07-19 | 2007-01-25 | Lg Chem, Ltd. | Light emitting diode device having advanced light extraction efficiency and preparation method thereof |
US20070024809A1 (en) * | 2005-07-28 | 2007-02-01 | Victor Company Of Japan, Limited | Polarizing illuminant apparatus and image display apparatus |
KR101154744B1 (ko) * | 2005-08-01 | 2012-06-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 질화물 발광 소자 및 그 제조 방법 |
US7391059B2 (en) * | 2005-10-17 | 2008-06-24 | Luminus Devices, Inc. | Isotropic collimation devices and related methods |
US7348603B2 (en) * | 2005-10-17 | 2008-03-25 | Luminus Devices, Inc. | Anisotropic collimation devices and related methods |
US20070085098A1 (en) * | 2005-10-17 | 2007-04-19 | Luminus Devices, Inc. | Patterned devices and related methods |
US7388233B2 (en) * | 2005-10-17 | 2008-06-17 | Luminus Devices, Inc. | Patchwork patterned devices and related methods |
US9530940B2 (en) | 2005-10-19 | 2016-12-27 | Epistar Corporation | Light-emitting device with high light extraction |
US8100567B2 (en) * | 2005-10-19 | 2012-01-24 | Rambus International Ltd. | Light-emitting devices and related systems |
US20080099777A1 (en) * | 2005-10-19 | 2008-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light-emitting devices and related systems |
TWI276208B (en) * | 2005-10-21 | 2007-03-11 | Advanced Semiconductor Eng | Semiconductor package having an optical device and the method of making the same |
US20070153864A1 (en) * | 2005-11-02 | 2007-07-05 | Luminus Devices, Inc. | Lasers and methods associated with the same |
US7598531B2 (en) * | 2005-11-18 | 2009-10-06 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
CN101331249B (zh) | 2005-12-02 | 2012-12-19 | 晶体公司 | 掺杂的氮化铝晶体及其制造方法 |
KR20080106402A (ko) | 2006-01-05 | 2008-12-05 | 일루미텍스, 인크. | Led로부터 광을 유도하기 위한 개별 광학 디바이스 |
KR100658970B1 (ko) * | 2006-01-09 | 2006-12-19 | 주식회사 메디아나전자 | 복합 파장의 광을 발생시키는 발광 다이오드 소자 |
US7717343B2 (en) * | 2006-01-12 | 2010-05-18 | Hand Held Products, Inc. | High-efficiency illumination in data collection devices |
US20070211183A1 (en) * | 2006-03-10 | 2007-09-13 | Luminus Devices, Inc. | LCD thermal management methods and systems |
US20070211184A1 (en) * | 2006-03-10 | 2007-09-13 | Luminus Devices, Inc. | Liquid crystal display systems including LEDs |
US20070211182A1 (en) * | 2006-03-10 | 2007-09-13 | Luminus Devices, Inc. | Optical system thermal management methods and systems |
JP5479888B2 (ja) | 2006-03-30 | 2014-04-23 | クリスタル アイエス インコーポレイテッド | 窒化アルミニウムバルク結晶を制御可能にドーピングする方法 |
US9034103B2 (en) | 2006-03-30 | 2015-05-19 | Crystal Is, Inc. | Aluminum nitride bulk crystals having high transparency to ultraviolet light and methods of forming them |
US8469760B2 (en) * | 2006-03-31 | 2013-06-25 | Dowa Electronics Materials Co., Ltd. | Light emitting device and method for producing same |
KR100783251B1 (ko) * | 2006-04-10 | 2007-12-06 | 삼성전기주식회사 | 양자점을 이용한 다층 구조 백색 발광 다이오드 및 그의제조방법 |
US7521727B2 (en) * | 2006-04-26 | 2009-04-21 | Rohm And Haas Company | Light emitting device having improved light extraction efficiency and method of making same |
US7955531B1 (en) | 2006-04-26 | 2011-06-07 | Rohm And Haas Electronic Materials Llc | Patterned light extraction sheet and method of making same |
KR100736623B1 (ko) | 2006-05-08 | 2007-07-09 | 엘지전자 주식회사 | 수직형 발광 소자 및 그 제조방법 |
US20070262341A1 (en) * | 2006-05-09 | 2007-11-15 | Wen-Huang Liu | Vertical led with eutectic layer |
US20070267642A1 (en) * | 2006-05-16 | 2007-11-22 | Luminus Devices, Inc. | Light-emitting devices and methods for manufacturing the same |
EP2458653B1 (en) * | 2006-06-23 | 2023-08-30 | LG Electronics Inc. | Light emitting diode having vertical topology |
US7959341B2 (en) | 2006-07-20 | 2011-06-14 | Rambus International Ltd. | LED color management and display systems |
US20080030974A1 (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-07 | Abu-Ageel Nayef M | LED-Based Illumination System |
US7915624B2 (en) | 2006-08-06 | 2011-03-29 | Lightwave Photonics, Inc. | III-nitride light-emitting devices with one or more resonance reflectors and reflective engineered growth templates for such devices, and methods |
US7829905B2 (en) * | 2006-09-07 | 2010-11-09 | Hong Kong Applied Science And Technology Research Institute Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device |
US8362603B2 (en) * | 2006-09-14 | 2013-01-29 | Luminus Devices, Inc. | Flexible circuit light-emitting structures |
JP5186093B2 (ja) * | 2006-09-26 | 2013-04-17 | スタンレー電気株式会社 | 半導体発光デバイス |
JP2008084973A (ja) * | 2006-09-26 | 2008-04-10 | Stanley Electric Co Ltd | 半導体発光デバイス |
US7745843B2 (en) * | 2006-09-26 | 2010-06-29 | Stanley Electric Co., Ltd. | Semiconductor light emitting device |
CN101553928B (zh) | 2006-10-02 | 2011-06-01 | 伊鲁米特克有限公司 | Led系统和方法 |
US7697584B2 (en) * | 2006-10-02 | 2010-04-13 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Light emitting device including arrayed emitters defined by a photonic crystal |
US7847306B2 (en) * | 2006-10-23 | 2010-12-07 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Insitute Company, Ltd. | Light emitting diode device, method of fabrication and use thereof |
KR100809227B1 (ko) * | 2006-10-27 | 2008-03-05 | 삼성전기주식회사 | 질화물 반도체 발광소자 및 제조 방법 |
US20080101062A1 (en) * | 2006-10-27 | 2008-05-01 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited | Lighting device for projecting a beam of light |
US9318327B2 (en) * | 2006-11-28 | 2016-04-19 | Cree, Inc. | Semiconductor devices having low threading dislocations and improved light extraction and methods of making the same |
US8110838B2 (en) * | 2006-12-08 | 2012-02-07 | Luminus Devices, Inc. | Spatial localization of light-generating portions in LEDs |
WO2008088838A1 (en) | 2007-01-17 | 2008-07-24 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
US9771666B2 (en) | 2007-01-17 | 2017-09-26 | Crystal Is, Inc. | Defect reduction in seeded aluminum nitride crystal growth |
JP5730484B2 (ja) | 2007-01-26 | 2015-06-10 | クリスタル アイエス インコーポレイテッド | 厚みのある擬似格子整合型の窒化物エピタキシャル層 |
US8080833B2 (en) | 2007-01-26 | 2011-12-20 | Crystal Is, Inc. | Thick pseudomorphic nitride epitaxial layers |
US20080205078A1 (en) * | 2007-02-23 | 2008-08-28 | Luminus Devices, Inc. | Illumination tiles and related methods |
US8110425B2 (en) | 2007-03-20 | 2012-02-07 | Luminus Devices, Inc. | Laser liftoff structure and related methods |
US7781779B2 (en) * | 2007-05-08 | 2010-08-24 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices including wavelength converting material |
TWI447933B (zh) * | 2007-05-17 | 2014-08-01 | Semi Photonics Co Ltd | 具有共熔層之立式發光二極體 |
US8088220B2 (en) | 2007-05-24 | 2012-01-03 | Crystal Is, Inc. | Deep-eutectic melt growth of nitride crystals |
US8278190B2 (en) * | 2007-05-30 | 2012-10-02 | Luminus Devices, Inc. | Methods of forming light-emitting structures |
KR101623422B1 (ko) * | 2007-06-27 | 2016-05-23 | 더 리전츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 | 고 효율 백색 발광 다이오드들을 위한 광학 설계들 |
US8179034B2 (en) | 2007-07-13 | 2012-05-15 | 3M Innovative Properties Company | Light extraction film for organic light emitting diode display and lighting devices |
US20090050905A1 (en) * | 2007-08-20 | 2009-02-26 | Abu-Ageel Nayef M | Highly Efficient Light-Emitting Diode |
GB0722054D0 (en) * | 2007-11-09 | 2007-12-19 | Photonstar Led Ltd | LED with enhanced light extraction |
US8872204B2 (en) * | 2007-11-23 | 2014-10-28 | Epistar Corporation | Light-emitting device having a trench in a semiconductor layer |
US20090218588A1 (en) * | 2007-12-06 | 2009-09-03 | Paul Panaccione | Chip-scale packaged light-emitting devices |
US8362703B2 (en) * | 2007-12-20 | 2013-01-29 | Luminus Devices, Inc. | Light-emitting devices |
US20090309114A1 (en) * | 2008-01-16 | 2009-12-17 | Luminus Devices, Inc. | Wavelength converting light-emitting devices and methods of making the same |
EP2240968A1 (en) | 2008-02-08 | 2010-10-20 | Illumitex, Inc. | System and method for emitter layer shaping |
US20100038670A1 (en) * | 2008-08-18 | 2010-02-18 | Luminus Devices, Inc. | Illumination assembly including chip-scale packaged light-emitting device |
JP2012502471A (ja) * | 2008-09-04 | 2012-01-26 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 光遮断構成要素を有する光源 |
CN102197499A (zh) * | 2008-09-04 | 2011-09-21 | 3M创新有限公司 | 具有改善的单色性的光源 |
CN102197500A (zh) * | 2008-09-04 | 2011-09-21 | 3M创新有限公司 | 具有高纵横比的单色光源 |
WO2010027581A1 (en) * | 2008-09-04 | 2010-03-11 | 3M Innovative Properties Company | Monochromatic light source |
WO2010027648A1 (en) * | 2008-09-04 | 2010-03-11 | 3M Innovative Properties Company | I i-vi mqw vcsel on a heat sink optically pumped by a gan ld |
US7741134B2 (en) * | 2008-09-15 | 2010-06-22 | Bridgelux, Inc. | Inverted LED structure with improved light extraction |
US8643266B2 (en) * | 2008-09-24 | 2014-02-04 | Luminus Devices, Inc. | Light-emitting device including independently electrically addressable sections |
CN102257317A (zh) * | 2008-10-17 | 2011-11-23 | 发光装置公司 | 远程照明组件和方法 |
US20100148199A1 (en) * | 2008-11-04 | 2010-06-17 | Samsung Led Co., Ltd. | Light emitting device with fine pattern |
KR101064016B1 (ko) * | 2008-11-26 | 2011-09-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자 및 그 제조방법 |
TW201034256A (en) | 2008-12-11 | 2010-09-16 | Illumitex Inc | Systems and methods for packaging light-emitting diode devices |
US7957621B2 (en) | 2008-12-17 | 2011-06-07 | 3M Innovative Properties Company | Light extraction film with nanoparticle coatings |
GB0902569D0 (en) | 2009-02-16 | 2009-04-01 | Univ Southampton | An optical device |
WO2010098848A2 (en) * | 2009-02-25 | 2010-09-02 | Air Motion Systems, Inc. | An efficient irradiation system using curved reflective surfaces |
KR101134810B1 (ko) * | 2009-03-03 | 2012-04-13 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 및 그 제조방법 |
KR100969160B1 (ko) * | 2009-03-10 | 2010-07-21 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자 및 그 제조방법 |
TWI478372B (zh) * | 2009-03-20 | 2015-03-21 | Huga Optotech Inc | 具有中空結構之柱狀結構之發光元件及其形成方法 |
WO2011013363A1 (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-03 | キヤノン株式会社 | 微細構造の製造方法 |
US8585253B2 (en) | 2009-08-20 | 2013-11-19 | Illumitex, Inc. | System and method for color mixing lens array |
US8449128B2 (en) | 2009-08-20 | 2013-05-28 | Illumitex, Inc. | System and method for a lens and phosphor layer |
KR20120092614A (ko) * | 2009-10-01 | 2012-08-21 | 루미너스 디바이시즈, 아이엔씨. | 발광 소자 어레이 |
US20110121726A1 (en) * | 2009-11-23 | 2011-05-26 | Luminus Devices, Inc. | Solid-state lamp |
US20110119949A1 (en) * | 2009-11-24 | 2011-05-26 | Luminus Devices, Inc. | Controllable curing systems and methods including an led source |
US10290788B2 (en) * | 2009-11-24 | 2019-05-14 | Luminus Devices, Inc. | Systems and methods for managing heat from an LED |
KR100969100B1 (ko) * | 2010-02-12 | 2010-07-09 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광소자, 발광소자의 제조방법 및 발광소자 패키지 |
KR100993077B1 (ko) * | 2010-02-17 | 2010-11-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 발광소자 및 그 제조방법, 발광소자 패키지 |
US8378367B2 (en) | 2010-04-16 | 2013-02-19 | Invenlux Limited | Light-emitting devices with vertical light-extraction mechanism and method for fabricating the same |
US9558954B2 (en) | 2010-04-22 | 2017-01-31 | Luminus Devices, Inc. | Selective wet etching and textured surface planarization processes |
KR101047720B1 (ko) * | 2010-04-23 | 2011-07-08 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자, 발광 소자 제조방법 및 발광 소자 패키지 |
US9190560B2 (en) * | 2010-05-18 | 2015-11-17 | Agency For Science Technology And Research | Method of forming a light emitting diode structure and a light diode structure |
CN103038400B (zh) | 2010-06-30 | 2016-06-22 | 晶体公司 | 使用热梯度控制的大块氮化铝单晶的生长 |
US8476652B2 (en) | 2010-07-30 | 2013-07-02 | Invenlux Corporation | Three-dimensional light-emitting devices and method for fabricating the same |
US8723201B2 (en) | 2010-08-20 | 2014-05-13 | Invenlux Corporation | Light-emitting devices with substrate coated with optically denser material |
KR101795053B1 (ko) * | 2010-08-26 | 2017-11-07 | 엘지이노텍 주식회사 | 발광 소자, 발광 소자 패키지, 라이트 유닛 |
JP5016712B2 (ja) * | 2010-09-21 | 2012-09-05 | 三井金属鉱業株式会社 | 電極箔および有機デバイス |
US20120119241A1 (en) * | 2010-11-17 | 2012-05-17 | Luminus Devices, Inc. | Etendue and Light Extraction System and Method |
CN102487111B (zh) * | 2010-12-04 | 2014-08-27 | 展晶科技(深圳)有限公司 | 半导体发光芯片制造方法 |
JP2012186414A (ja) * | 2011-03-08 | 2012-09-27 | Toshiba Corp | 発光装置 |
US8872217B2 (en) | 2011-04-15 | 2014-10-28 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
TWI664752B (zh) | 2011-06-28 | 2019-07-01 | 魯米納斯設備公司 | 用於增強性能之發光二極體架構 |
US8962359B2 (en) | 2011-07-19 | 2015-02-24 | Crystal Is, Inc. | Photon extraction from nitride ultraviolet light-emitting devices |
US20140191194A1 (en) * | 2011-08-09 | 2014-07-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nitride semiconductor light-emitting element |
US9064980B2 (en) * | 2011-08-25 | 2015-06-23 | Palo Alto Research Center Incorporated | Devices having removed aluminum nitride sections |
US20130187540A1 (en) | 2012-01-24 | 2013-07-25 | Michael A. Tischler | Discrete phosphor chips for light-emitting devices and related methods |
US8907362B2 (en) | 2012-01-24 | 2014-12-09 | Cooledge Lighting Inc. | Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods |
US8896010B2 (en) | 2012-01-24 | 2014-11-25 | Cooledge Lighting Inc. | Wafer-level flip chip device packages and related methods |
CN104170113B (zh) * | 2012-01-27 | 2017-05-17 | 韦克森林大学 | 电致发光装置及其应用 |
US9088133B2 (en) * | 2012-02-28 | 2015-07-21 | Kyoto University | Two-dimensional photonic crystal surface emitting laser |
US20140008660A1 (en) * | 2012-03-14 | 2014-01-09 | Lightwave Photonics, Inc. | Materials, structures, and methods for optical and electrical iii-nitride semiconductor devices |
TWI470833B (zh) | 2012-06-04 | 2015-01-21 | Phostek Inc | 半導體裝置及其製造方法 |
US9147816B2 (en) | 2012-08-24 | 2015-09-29 | Luminus Devices, Inc. | Wavelength converting material deposition methods and associated articles |
USD777121S1 (en) | 2013-03-05 | 2017-01-24 | Luminus Devices, Inc. | LED package |
EP2973664B1 (en) | 2013-03-15 | 2020-10-14 | Crystal Is, Inc. | Ultraviolet light-emitting device and method of forming a contact to an ultraviolet light-emitting device |
US9048387B2 (en) | 2013-08-09 | 2015-06-02 | Qingdao Jason Electric Co., Ltd. | Light-emitting device with improved light extraction efficiency |
US9343443B2 (en) | 2014-02-05 | 2016-05-17 | Cooledge Lighting, Inc. | Light-emitting dies incorporating wavelength-conversion materials and related methods |
EP3113304B1 (en) * | 2014-02-28 | 2022-04-13 | Japan Science and Technology Agency | Thermal-radiation light source and two-dimensional photonic crystal used therein |
US10361343B2 (en) | 2014-07-02 | 2019-07-23 | Trustees Of Boston University | Ultraviolet light emitting diodes |
CN104332524B (zh) * | 2014-08-26 | 2018-01-09 | 日月光半导体制造股份有限公司 | 电子装置、光学模块及其制造方法 |
DE102015102857A1 (de) * | 2015-02-27 | 2016-09-01 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Halbleiterbauelement, Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Kontakts und Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements |
US9412907B1 (en) * | 2015-04-17 | 2016-08-09 | Cree, Inc. | Graded vias for LED chip P- and N- contacts |
US10263144B2 (en) | 2015-10-16 | 2019-04-16 | Robbie J. Jorgenson | System and method for light-emitting devices on lattice-matched metal substrates |
EP3464689A4 (en) | 2016-05-26 | 2020-07-22 | Robbie Jorgenson | SYSTEM AND METHOD FOR GROWING GROUP IIIA NITRIDE |
GB2593181B (en) | 2020-03-17 | 2023-11-15 | Plessey Semiconductors Ltd | Micro-LED device |
GB2595715B (en) | 2020-06-04 | 2022-08-17 | Plessey Semiconductors Ltd | Enhanced colour conversion and collimation of micro-LED devices |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11251629A (ja) * | 1998-02-27 | 1999-09-17 | Daido Steel Co Ltd | 半導体発光素子の製造方法 |
JP2000228537A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Agilent Technol Inc | InXAlYGaZN発光素子及びその製造方法 |
WO2003065464A1 (fr) * | 2002-01-28 | 2003-08-07 | Nichia Corporation | Dispositif a semi-conducteur a base de nitrure comprenant un substrat de support, et son procede de realisation |
JP2003318443A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-07 | Sharp Corp | 窒化物系半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2004281863A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Nichia Chem Ind Ltd | 窒化物半導体素子及びその製造方法 |
Family Cites Families (133)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3293513A (en) | 1962-08-08 | 1966-12-20 | Texas Instruments Inc | Semiconductor radiant diode |
US3922706A (en) * | 1965-07-31 | 1975-11-25 | Telefunken Patent | Transistor having emitter with high circumference-surface area ratio |
US3739217A (en) * | 1969-06-23 | 1973-06-12 | Bell Telephone Labor Inc | Surface roughening of electroluminescent diodes |
JPS5216192A (en) * | 1975-07-30 | 1977-02-07 | Hitachi Ltd | Luminous diode and its producing method |
US4864370A (en) * | 1987-11-16 | 1989-09-05 | Motorola, Inc. | Electrical contact for an LED |
US5126231A (en) * | 1990-02-26 | 1992-06-30 | Applied Materials, Inc. | Process for multi-layer photoresist etching with minimal feature undercut and unchanging photoresist load during etch |
JPH0442582A (ja) * | 1990-06-08 | 1992-02-13 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオードアレイ |
US5073041A (en) | 1990-11-13 | 1991-12-17 | Bell Communications Research, Inc. | Integrated assembly comprising vertical cavity surface-emitting laser array with Fresnel microlenses |
US5300788A (en) * | 1991-01-18 | 1994-04-05 | Kopin Corporation | Light emitting diode bars and arrays and method of making same |
JPH04264781A (ja) * | 1991-02-20 | 1992-09-21 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオードアレイ |
FR2681472B1 (fr) | 1991-09-18 | 1993-10-29 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de films minces de materiau semiconducteur. |
US5359345A (en) | 1992-08-05 | 1994-10-25 | Cree Research, Inc. | Shuttered and cycled light emitting diode display and method of producing the same |
US5724062A (en) | 1992-08-05 | 1998-03-03 | Cree Research, Inc. | High resolution, high brightness light emitting diode display and method and producing the same |
US5363009A (en) | 1992-08-10 | 1994-11-08 | Mark Monto | Incandescent light with parallel grooves encompassing a bulbous portion |
CA2122023A1 (en) * | 1992-09-09 | 1994-03-17 | Alexander H. Slocum | Replicated-in-place internal viscous shear damper for machine structures and components |
EP0614255B1 (en) | 1993-03-04 | 1997-09-10 | AT&T Corp. | Article comprising a focusing surface emitting semiconductor laser |
US5376580A (en) | 1993-03-19 | 1994-12-27 | Hewlett-Packard Company | Wafer bonding of light emitting diode layers |
JPH06338630A (ja) * | 1993-05-28 | 1994-12-06 | Omron Corp | 半導体発光素子、並びに当該発光素子を用いた光学検知装置、光学的情報処理装置、光結合装置及び発光装置 |
TW253999B (ja) * | 1993-06-30 | 1995-08-11 | Hitachi Cable | |
US5679152A (en) | 1994-01-27 | 1997-10-21 | Advanced Technology Materials, Inc. | Method of making a single crystals Ga*N article |
US5600483A (en) * | 1994-05-10 | 1997-02-04 | Massachusetts Institute Of Technology | Three-dimensional periodic dielectric structures having photonic bandgaps |
US5631190A (en) | 1994-10-07 | 1997-05-20 | Cree Research, Inc. | Method for producing high efficiency light-emitting diodes and resulting diode structures |
US5707745A (en) | 1994-12-13 | 1998-01-13 | The Trustees Of Princeton University | Multicolor organic light emitting devices |
US5633527A (en) | 1995-02-06 | 1997-05-27 | Sandia Corporation | Unitary lens semiconductor device |
US5814839A (en) * | 1995-02-16 | 1998-09-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor light-emitting device having a current adjusting layer and a uneven shape light emitting region, and method for producing same |
DE19629920B4 (de) * | 1995-08-10 | 2006-02-02 | LumiLeds Lighting, U.S., LLC, San Jose | Licht-emittierende Diode mit einem nicht-absorbierenden verteilten Braggreflektor |
US5779924A (en) | 1996-03-22 | 1998-07-14 | Hewlett-Packard Company | Ordered interface texturing for a light emitting device |
EP1341009B1 (en) * | 1996-09-24 | 2006-04-19 | Seiko Epson Corporation | Illumination device and display device using it |
DE19640594B4 (de) | 1996-10-01 | 2016-08-04 | Osram Gmbh | Bauelement |
US5834331A (en) * | 1996-10-17 | 1998-11-10 | Northwestern University | Method for making III-Nitride laser and detection device |
US5955749A (en) * | 1996-12-02 | 1999-09-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Light emitting device utilizing a periodic dielectric structure |
FR2758890B1 (fr) * | 1997-01-29 | 1999-02-26 | Thomson Multimedia Sa | Dispositif optique de polarisation |
US6388264B1 (en) * | 1997-03-28 | 2002-05-14 | Benedict G Pace | Optocoupler package being hermetically sealed |
GB9710062D0 (en) * | 1997-05-16 | 1997-07-09 | British Tech Group | Optical devices and methods of fabrication thereof |
US6784463B2 (en) * | 1997-06-03 | 2004-08-31 | Lumileds Lighting U.S., Llc | III-Phospide and III-Arsenide flip chip light-emitting devices |
US6340824B1 (en) * | 1997-09-01 | 2002-01-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device including a fluorescent material |
US6071795A (en) | 1998-01-23 | 2000-06-06 | The Regents Of The University Of California | Separation of thin films from transparent substrates by selective optical processing |
US6265820B1 (en) * | 1998-01-29 | 2001-07-24 | Emagin Corporation | Heat removal system for use in organic light emitting diode displays having high brightness |
US6091085A (en) * | 1998-02-19 | 2000-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | GaN LEDs with improved output coupling efficiency |
JP5019664B2 (ja) * | 1998-07-28 | 2012-09-05 | アイメック | 高効率で光を発するデバイスおよびそのようなデバイスの製造方法 |
US6504180B1 (en) * | 1998-07-28 | 2003-01-07 | Imec Vzw And Vrije Universiteit | Method of manufacturing surface textured high-efficiency radiating devices and devices obtained therefrom |
US6335548B1 (en) * | 1999-03-15 | 2002-01-01 | Gentex Corporation | Semiconductor radiation emitter package |
US6735230B1 (en) | 1998-09-10 | 2004-05-11 | Rohm, Co., Ltd | Semiconductor luminous elements and semiconductor laser |
JP3525061B2 (ja) * | 1998-09-25 | 2004-05-10 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子の製造方法 |
US6307218B1 (en) * | 1998-11-20 | 2001-10-23 | Lumileds Lighting, U.S., Llc | Electrode structures for light emitting devices |
US6429583B1 (en) * | 1998-11-30 | 2002-08-06 | General Electric Company | Light emitting device with ba2mgsi2o7:eu2+, ba2sio4:eu2+, or (srxcay ba1-x-y)(a1zga1-z)2sr:eu2+phosphors |
JP3469484B2 (ja) | 1998-12-24 | 2003-11-25 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US6222207B1 (en) * | 1999-05-24 | 2001-04-24 | Lumileds Lighting, U.S. Llc | Diffusion barrier for increased mirror reflectivity in reflective solderable contacts on high power LED chip |
TW437104B (en) | 1999-05-25 | 2001-05-28 | Wang Tien Yang | Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing the same |
US6122103A (en) * | 1999-06-22 | 2000-09-19 | Moxtech | Broadband wire grid polarizer for the visible spectrum |
US6288840B1 (en) * | 1999-06-22 | 2001-09-11 | Moxtek | Imbedded wire grid polarizer for the visible spectrum |
US6363096B1 (en) | 1999-08-30 | 2002-03-26 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising a plastic laser |
US6711200B1 (en) | 1999-09-07 | 2004-03-23 | California Institute Of Technology | Tuneable photonic crystal lasers and a method of fabricating the same |
US6534798B1 (en) * | 1999-09-08 | 2003-03-18 | California Institute Of Technology | Surface plasmon enhanced light emitting diode and method of operation for the same |
US6287882B1 (en) * | 1999-10-04 | 2001-09-11 | Visual Photonics Epitaxy Co., Ltd. | Light emitting diode with a metal-coated reflective permanent substrate and the method for manufacturing the same |
AU4139101A (en) | 1999-12-03 | 2001-06-12 | Cree Lighting Company | Enhanced light extraction in leds through the use of internal and external optical elements |
US6410942B1 (en) | 1999-12-03 | 2002-06-25 | Cree Lighting Company | Enhanced light extraction through the use of micro-LED arrays |
JP2001177145A (ja) * | 1999-12-21 | 2001-06-29 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US6486499B1 (en) * | 1999-12-22 | 2002-11-26 | Lumileds Lighting U.S., Llc | III-nitride light-emitting device with increased light generating capability |
US6885035B2 (en) * | 1999-12-22 | 2005-04-26 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Multi-chip semiconductor LED assembly |
US6573537B1 (en) * | 1999-12-22 | 2003-06-03 | Lumileds Lighting, U.S., Llc | Highly reflective ohmic contacts to III-nitride flip-chip LEDs |
WO2001064481A2 (en) * | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Donnelly Corporation | Video mirror systems incorporating an accessory module |
US6777871B2 (en) * | 2000-03-31 | 2004-08-17 | General Electric Company | Organic electroluminescent devices with enhanced light extraction |
JP4643794B2 (ja) * | 2000-04-21 | 2011-03-02 | 富士通株式会社 | 半導体発光素子 |
CN1292494C (zh) * | 2000-04-26 | 2006-12-27 | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 | 发光半导体元件及其制造方法 |
JP2003533030A (ja) | 2000-04-26 | 2003-11-05 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | GaNをベースとする発光ダイオードチップおよび発光ダイオード構造素子の製造法 |
GB0011749D0 (en) | 2000-05-17 | 2000-07-05 | Cambridge Display Tech Ltd | Light-eminating devices |
JP3934851B2 (ja) * | 2000-05-23 | 2007-06-20 | 日本食品化工株式会社 | 新規シクロテ゛キストリン・ク゛ルカノトランスフェラーセ゛、その製造方法及びこの酵素を用いるシクロテ゛キストリンの製造方法 |
US6853663B2 (en) * | 2000-06-02 | 2005-02-08 | Agilent Technologies, Inc. | Efficiency GaN-based light emitting devices |
JP4024994B2 (ja) | 2000-06-30 | 2007-12-19 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
TW445507B (en) * | 2000-07-20 | 2001-07-11 | United Epitaxy Co Ltd | Roughened interface of light emitting device |
US6661028B2 (en) | 2000-08-01 | 2003-12-09 | United Epitaxy Company, Ltd. | Interface texturing for light-emitting device |
US6515305B2 (en) | 2000-09-18 | 2003-02-04 | Regents Of The University Of Minnesota | Vertical cavity surface emitting laser with single mode confinement |
TW579608B (en) * | 2000-11-24 | 2004-03-11 | High Link Technology Corp | Method and structure of forming electrode for light emitting device |
JP5110744B2 (ja) * | 2000-12-21 | 2012-12-26 | フィリップス ルミレッズ ライティング カンパニー リミテッド ライアビリティ カンパニー | 発光装置及びその製造方法 |
JP2002280607A (ja) * | 2001-01-10 | 2002-09-27 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
US6703780B2 (en) * | 2001-01-16 | 2004-03-09 | General Electric Company | Organic electroluminescent device with a ceramic output coupler and method of making the same |
US6791119B2 (en) * | 2001-02-01 | 2004-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for light extraction |
US6794684B2 (en) * | 2001-02-01 | 2004-09-21 | Cree, Inc. | Reflective ohmic contacts for silicon carbide including a layer consisting essentially of nickel, methods of fabricating same, and light emitting devices including the same |
US20020117672A1 (en) | 2001-02-23 | 2002-08-29 | Ming-Sung Chu | High-brightness blue-light emitting crystalline structure |
US6468824B2 (en) * | 2001-03-22 | 2002-10-22 | Uni Light Technology Inc. | Method for forming a semiconductor device having a metallic substrate |
US6522063B2 (en) * | 2001-03-28 | 2003-02-18 | Epitech Corporation | Light emitting diode |
FR2824228B1 (fr) * | 2001-04-26 | 2003-08-01 | Centre Nat Rech Scient | Dispositif electroluminescent a extracteur de lumiere |
US6574383B1 (en) * | 2001-04-30 | 2003-06-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Input light coupler using a pattern of dielectric contrast distributed in at least two dimensions |
US6709929B2 (en) * | 2001-06-25 | 2004-03-23 | North Carolina State University | Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates |
JP2003017751A (ja) * | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光ダイオード |
US6740906B2 (en) * | 2001-07-23 | 2004-05-25 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for submount bonding |
JP4884613B2 (ja) | 2001-09-04 | 2012-02-29 | パナソニック株式会社 | 芳香族メチリデン化合物、それを製造するための芳香族アルデヒド化合物、メチルスチリル化合物、及びそれらの製造方法 |
DE10147887C2 (de) | 2001-09-28 | 2003-10-23 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement mit einem Kontakt, der eine Mehrzahl von voneinander beabstandeten Kontaktstellen umfaßt |
US6949395B2 (en) | 2001-10-22 | 2005-09-27 | Oriol, Inc. | Method of making diode having reflective layer |
US6812503B2 (en) | 2001-11-29 | 2004-11-02 | Highlink Technology Corporation | Light-emitting device with improved reliability |
DE10158754A1 (de) * | 2001-11-30 | 2003-06-18 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Lichtemittierendes Halbleiderbauelement |
JP4077312B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2008-04-16 | 株式会社東芝 | 発光素子の製造方法および発光素子 |
TW576864B (en) * | 2001-12-28 | 2004-02-21 | Toshiba Corp | Method for manufacturing a light-emitting device |
JP3802424B2 (ja) * | 2002-01-15 | 2006-07-26 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
US7279718B2 (en) | 2002-01-28 | 2007-10-09 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | LED including photonic crystal structure |
US20030141563A1 (en) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Bily Wang | Light emitting diode package with fluorescent cover |
US6869820B2 (en) * | 2002-01-30 | 2005-03-22 | United Epitaxy Co., Ltd. | High efficiency light emitting diode and method of making the same |
WO2003067724A1 (fr) | 2002-02-08 | 2003-08-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Dispositif semi-conducteur electroluminescent et procede de fabrication de celui-ci |
US6943379B2 (en) * | 2002-04-04 | 2005-09-13 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting diode |
US6849558B2 (en) * | 2002-05-22 | 2005-02-01 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Replication and transfer of microstructures and nanostructures |
US20030222263A1 (en) | 2002-06-04 | 2003-12-04 | Kopin Corporation | High-efficiency light-emitting diodes |
US6704343B2 (en) | 2002-07-18 | 2004-03-09 | Finisar Corporation | High power single mode vertical cavity surface emitting laser |
US6878969B2 (en) * | 2002-07-29 | 2005-04-12 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light emitting device |
US6649437B1 (en) | 2002-08-20 | 2003-11-18 | United Epitaxy Company, Ltd. | Method of manufacturing high-power light emitting diodes |
TW541732B (en) * | 2002-08-28 | 2003-07-11 | Arima Optoelectronics Corp | Manufacturing method of LED having transparent substrate |
US6883407B2 (en) * | 2002-08-30 | 2005-04-26 | Hardinge Inc. | Expanding collet assembly for pick-off spindle |
US6762069B2 (en) * | 2002-11-19 | 2004-07-13 | United Epitaxy Company, Ltd. | Method for manufacturing light-emitting element on non-transparent substrate |
US7750059B2 (en) * | 2002-12-04 | 2010-07-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Polymer solution for nanoimprint lithography to reduce imprint temperature and pressure |
US20040130263A1 (en) * | 2003-01-02 | 2004-07-08 | Ray-Hua Horng | High brightness led and method for producing the same |
JP3847261B2 (ja) | 2003-02-10 | 2006-11-22 | 国立大学法人京都大学 | 2次元フォトニック結晶中の共振器と波長分合波器 |
US7141828B2 (en) * | 2003-03-19 | 2006-11-28 | Gelcore, Llc | Flip-chip light emitting diode with a thermally stable multiple layer reflective p-type contact |
US7274043B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-09-25 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode systems |
US7084434B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Uniform color phosphor-coated light-emitting diode |
US7521854B2 (en) * | 2003-04-15 | 2009-04-21 | Luminus Devices, Inc. | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same |
US7166871B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-01-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting systems |
US6831302B2 (en) | 2003-04-15 | 2004-12-14 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with improved extraction efficiency |
US7083993B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Methods of making multi-layer light emitting devices |
US7105861B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-09-12 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
US7074631B2 (en) | 2003-04-15 | 2006-07-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device methods |
US7262550B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-08-28 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode utilizing a physical pattern |
US7098589B2 (en) | 2003-04-15 | 2006-08-29 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with high light collimation |
US20040259279A1 (en) | 2003-04-15 | 2004-12-23 | Erchak Alexei A. | Light emitting device methods |
US7211831B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device with patterned surfaces |
KR100483049B1 (ko) | 2003-06-03 | 2005-04-15 | 삼성전기주식회사 | 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드의 제조방법 |
US6847057B1 (en) * | 2003-08-01 | 2005-01-25 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Semiconductor light emitting devices |
US6958494B2 (en) * | 2003-08-14 | 2005-10-25 | Dicon Fiberoptics, Inc. | Light emitting diodes with current spreading layer |
US7341880B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7344903B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-18 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7012279B2 (en) | 2003-10-21 | 2006-03-14 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Photonic crystal light emitting device |
US7450311B2 (en) * | 2003-12-12 | 2008-11-11 | Luminus Devices, Inc. | Optical display systems and methods |
US7250635B2 (en) | 2004-02-06 | 2007-07-31 | Dicon Fiberoptics, Inc. | Light emitting system with high extraction efficency |
US20050205883A1 (en) | 2004-03-19 | 2005-09-22 | Wierer Jonathan J Jr | Photonic crystal light emitting device |
-
2003
- 2003-11-26 US US10/724,004 patent/US6831302B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-04-08 WO PCT/US2004/010936 patent/WO2004093143A2/en active Application Filing
- 2004-04-08 KR KR1020057019416A patent/KR100892957B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-04-08 JP JP2006509844A patent/JP2007525817A/ja active Pending
- 2004-04-08 EP EP04749905A patent/EP1614160A4/en not_active Withdrawn
- 2004-04-13 TW TW093110210A patent/TWI332715B/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-11-19 US US10/993,342 patent/US7166870B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2006
- 2006-04-22 US US11/409,510 patent/US7719019B2/en active Active
- 2006-09-14 US US11/521,571 patent/US7495260B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2007
- 2007-07-13 US US11/879,035 patent/US7504669B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2007-07-27 US US11/881,446 patent/US20080067525A1/en not_active Abandoned
-
2008
- 2008-10-09 US US12/248,870 patent/US7994521B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-02-12 US US12/370,074 patent/US20090206355A1/en not_active Abandoned
-
2011
- 2011-05-24 JP JP2011116160A patent/JP2011187982A/ja active Pending
- 2011-06-28 US US13/170,777 patent/US8513692B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11251629A (ja) * | 1998-02-27 | 1999-09-17 | Daido Steel Co Ltd | 半導体発光素子の製造方法 |
JP2000228537A (ja) * | 1999-02-05 | 2000-08-15 | Agilent Technol Inc | InXAlYGaZN発光素子及びその製造方法 |
WO2003065464A1 (fr) * | 2002-01-28 | 2003-08-07 | Nichia Corporation | Dispositif a semi-conducteur a base de nitrure comprenant un substrat de support, et son procede de realisation |
JP2003318443A (ja) * | 2002-04-23 | 2003-11-07 | Sharp Corp | 窒化物系半導体発光素子およびその製造方法 |
JP2004281863A (ja) * | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Nichia Chem Ind Ltd | 窒化物半導体素子及びその製造方法 |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007103689A (ja) * | 2005-10-05 | 2007-04-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体発光装置 |
US8538224B2 (en) | 2010-04-22 | 2013-09-17 | 3M Innovative Properties Company | OLED light extraction films having internal nanostructures and external microstructures |
JP2019186548A (ja) * | 2018-04-13 | 2019-10-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体発光素子 |
CN110380336A (zh) * | 2018-04-13 | 2019-10-25 | 浜松光子学株式会社 | 半导体发光元件 |
JP7227060B2 (ja) | 2018-04-13 | 2023-02-21 | 浜松ホトニクス株式会社 | 半導体発光素子 |
CN110380336B (zh) * | 2018-04-13 | 2023-11-14 | 浜松光子学株式会社 | 半导体发光元件 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090121243A1 (en) | 2009-05-14 |
US20080067525A1 (en) | 2008-03-20 |
US20070114546A1 (en) | 2007-05-24 |
US7166870B2 (en) | 2007-01-23 |
WO2004093143A3 (en) | 2005-04-14 |
TWI332715B (en) | 2010-11-01 |
US20120018756A1 (en) | 2012-01-26 |
WO2004093143A2 (en) | 2004-10-28 |
US7994521B2 (en) | 2011-08-09 |
US7719019B2 (en) | 2010-05-18 |
US7504669B2 (en) | 2009-03-17 |
EP1614160A2 (en) | 2006-01-11 |
US20080217601A1 (en) | 2008-09-11 |
KR20050119693A (ko) | 2005-12-21 |
EP1614160A4 (en) | 2010-12-08 |
US20080017874A1 (en) | 2008-01-24 |
US8513692B2 (en) | 2013-08-20 |
US6831302B2 (en) | 2004-12-14 |
US7495260B2 (en) | 2009-02-24 |
JP2011187982A (ja) | 2011-09-22 |
US20090206355A1 (en) | 2009-08-20 |
US20050087757A1 (en) | 2005-04-28 |
US20040206972A1 (en) | 2004-10-21 |
TW200423441A (en) | 2004-11-01 |
KR100892957B1 (ko) | 2009-04-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9698306B2 (en) | Large emission area light-emitting devices | |
JP2007525817A (ja) | 発光素子 | |
JP2011205114A (ja) | 発光素子 | |
JP2011187981A (ja) | 発光素子 | |
US7521854B2 (en) | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same | |
US20040206971A1 (en) | Light emitting devices | |
US20040207319A1 (en) | Light emitting devices | |
CN101673801B (zh) | 发光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100323 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100621 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100630 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100924 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101124 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20110214 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20110221 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110712 |