JP2011187981A - 発光素子 - Google Patents
発光素子 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2011187981A JP2011187981A JP2011116159A JP2011116159A JP2011187981A JP 2011187981 A JP2011187981 A JP 2011187981A JP 2011116159 A JP2011116159 A JP 2011116159A JP 2011116159 A JP2011116159 A JP 2011116159A JP 2011187981 A JP2011187981 A JP 2011187981A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- light
- light emitting
- emitting device
- pattern
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 186
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 34
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 claims description 23
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 claims description 23
- BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N hydridophosphorus(.) (triplet) Chemical compound [PH] BHEPBYXIRTUNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000003566 sealing material Substances 0.000 claims description 6
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 61
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 327
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 64
- 230000006870 function Effects 0.000 description 37
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 36
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 24
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 19
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 17
- 239000008393 encapsulating agent Substances 0.000 description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 description 17
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 16
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 15
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 11
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 8
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 7
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 6
- 239000013079 quasicrystal Substances 0.000 description 6
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 6
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 6
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 5
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000005566 electron beam evaporation Methods 0.000 description 4
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 4
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 4
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 4
- 229910002704 AlGaN Inorganic materials 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 3
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 3
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 3
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 3
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 3
- 239000000565 sealant Substances 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003570 air Substances 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 2
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 2
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000002207 thermal evaporation Methods 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 2
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 2
- -1 2-ethylhexyloxy Chemical group 0.000 description 1
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005725 8-Hydroxyquinoline Substances 0.000 description 1
- 229910000980 Aluminium gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001020 Au alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000742 Cotton Polymers 0.000 description 1
- 229910052688 Gadolinium Inorganic materials 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001015 X-ray lithography Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229920000109 alkoxy-substituted poly(p-phenylene vinylene) Polymers 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N copper tungsten Chemical compound [Cu].[W] SBYXRAKIOMOBFF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000276 deep-ultraviolet lithography Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 1
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000002223 garnet Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010297 mechanical methods and process Methods 0.000 description 1
- 230000005226 mechanical processes and functions Effects 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000001127 nanoimprint lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005329 nanolithography Methods 0.000 description 1
- 229960003540 oxyquinoline Drugs 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 150000003384 small molecules Chemical class 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- OBSZRRSYVTXPNB-UHFFFAOYSA-N tetraphosphorus Chemical compound P12P3P1P32 OBSZRRSYVTXPNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000036962 time dependent Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000005533 two-dimensional electron gas Effects 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/02—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
- H01L33/20—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0083—Periodic patterns for optical field-shaping in or on the semiconductor body or semiconductor body package, e.g. photonic bandgap structures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Led Devices (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
【解決手段】発光素子100は、光発生領域130、及び光発生領域によって支持される第1層を備えた、複数の材料の多層積層体122から成り、前記第1層の表面は、光発生領域が生成する光を発光素子から第1層の表面を通して放出することができるように構成され、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、そしてパターンは理想的な格子定数及びゼロよりも大きい値の微調整(detuning)パラメータを有する。
【選択図】図1
Description
域が生成し、かつ発光素子から第1層の表面を通して放出される光がリン材料と相互反応して、リン材料から放出される光がほぼ白色光となるように構成される。発光素子の面積に対する発光素子の高さの比は、白色光が全方向に広がることができるように十分に小さい。
少なくとも約1ミリメートル(例えば、少なくとも約1.5ミリメートル、少なくとも約2ミリメートル、少なくとも約2.5ミリメートル)の長さであり、そして発光素子は、発光素子の量子効率が端面の長さにほぼ無関係となるように構成される。
複数の材料から成る多層積層体は、複数の半導体材料から成る多層積層体により形成することができる。第1層はn型半導体材料層とすることができ、そして多層積層体は更に、p型半導体材料層を含むことができる。光発生領域は、n型半導体材料層とp型半導体材料層との間に設けることができる。
発光素子は更に、光発生領域によって生成される光の少なくとも50%の光であって、反射材料層に衝突する光を反射する機能を備える反射材料層を含むことができる。反射材料層は、支持体と、複数の材料から成る多層積層体との間に設けることができる。p型半導体材料層と反射材料層との間の距離は、n型半導体材料層と反射材料層との間の距離よりも短くすることができる。発光素子は更に、p型オーミックコンタクト層をp型半導体材料層と反射材料層との間に含むことができる。
複数の材料から成る多層積層体は、例えばIII−V族半導体材料、有機半導体材料、及び/又はシリコンのような半導体材料により形成することができる。
或る実施形態では、パターンは第1層を超えて延びることがない。
或る実施形態では、パターンは第1層を超えて延びる。
に構成することができる。
或る実施形態では、パターンは非周期パターン、準結晶パターン、ロビンソン(Robinson)パターン、及びアムマン(Amman)パターンから選択することができる。或る実施形態では、パターンはペンローズ(Penrose)パターンである。
微調整パラメータは、例えば理想格子定数の少なくとも約1%、そして/または理想格子定数の最大約25%とすることができる。或る実施形態では、パターンはほぼランダムに微調整された理想パターンに対応させることができる。
或る実施形態では、発光素子はパッケージングされる(例えば、パッケージチップの形で)。或る実施形態では、パッケージングされた発光素子には封止材料が不要となる。
或る実施形態では、第1層の表面に接触する材料は少なくとも約1の屈折率を有する。
出されるように構成することができる。
ウェハを形成する方法では、リン材料を配置して約20%未満だけ変化する厚さを有する層を形成することができる。本方法では、リン材料層の厚さが約20%未満だけ変化するようにリン材料層を平坦化することができる。本方法ではまた、リン材料を第1層の表面の上に配置した後に、リン材料を平坦化することができる。リン材料は、例えばスピン塗布により第1層の表面の上に形成することができる。本方法では、ウェハから複数の発光素子を形成し、そしてこれらの発光素子の内の少なくとも幾つかの発光素子を互いから分離することができる。
発光素子を形成する方法では更に、反射材料層をp型材料層に接着させる前に、第1層を基板に接着させることができ、この場合、複数の材料から成る多層積層体は基板と反射材料層との間に位置する。本方法ではまた、接着層を第1層と基板との間に形成することができる。本方法ではまた、基板を取り外すことができる。本方法は更に、基板を取り外す工程の後に、ラッピング工程及び研磨工程を含むことができる。基板は、反射材料層を第1層に接着させた後に取り外すことができる。基板を取り外す工程においては、第1層と基板との間に配置される接着層を加熱することができる。接着層を加熱する工程においては、接着層の少なくとも一部を分解することができる。接着層を加熱する工程においては、接着層をレーザからの放射線に晒すことができる。基板を取り外す工程においては、基板をレーザリフトオフ法を使用してレーザ光に晒すことができる。基板を取り外すことにより、第1層の表面をほぼ平坦にすることができる。本方法では更に、パターンを第1層の表面に形成する前に、かつ基板を取り外した後に、第1層の表面を平坦化することができる。第1層の表面を平坦化する工程においては、第1層の表面に化学機械研磨を施すことができる。第1層の表面を平坦化することによって、第1層の表面の粗さを、約λ/5超にまで小さくすることができ、この場合、λは第1層が放出することができる光の波長である。パターンを形成する工程では、ナノリソグラフィを使用することができる。本方法ではまた、基板を反射材料層の上に配置することができる。本方法では更に、電流拡散層を第1層と光発生領域との間に配置することができる。
或る実施形態では、LED及び/又は非常に大きなLEDチップは、非常に大きな表面輝度、非常に大きな平均表面輝度を示し、熱放散の必要性が非常に小さい、または熱放散の速度が非常に大きく、エテンデュー(etendue:利用できる光源の面積×立体角)を大きく減らすことができ、そして/または電力効率を非常に高くすることができる。
に長い期間に渡って示すことができるパッケージLEDを提供することができる。
種々の図における同様の参照符号は同様の構成要素を指す。
図1は、パッケージチップ(packaged die)構成のLED100の側面図を示している。LED100は、サブマウント120上に配置される多層積層体122を含む。多層積層体122は320nm厚さのシリコン添加(n型)GaN層134を含み、このGaN層は複数の開口150から成るパターンをその上側表面110に有する。多層積層体122はまた、接着層124、100nm厚さの銀層126、40nm厚さのマグネシウム添加(p型)GaN層128、複数のInGaN/GaN量子井戸により形成される120nm厚さの光発生領域130、及びAlGaN層132を含む。n側コンタクトパッド136は層134の上に配置され、そしてp側コンタクトパッド138は層126の上に配置される。封止材(屈折率が1.5のエポキシ)144は層134とカバースリップ140と支持体142との間に設けられる。層144は複数の開口150の内部には延在しない。
値に選択することができ、開口150の直径及び開口150の最近接開口(nearest neighbors)間の間隔は変えることができる。特に断らない限り、以下の図を用いて数値計算の結果を示すために、開口150は約280nmに等しい深さ146を有し、約160bnmの非ゼロ直径を有し、約220nmの最近接開口間隔を有し、そして約1.0に等しい屈折率を有する。三角形状配列パターンを微調整して、パターン150の最近接開口の中心から中心の距離が(a−Δa)と(a+Δa)との間の値を有するようにし、この場合「a」は理想的な三角形状配列パターンの格子定数であり、「Δa」は長さの次元を有する微調整パラメータであり、この微調整はランダムな方向に行なうことができる。LED100からの光取り出し効率を高めるために(以下の議論を参照のこと)、微調整パラメータΔaは通常、理想格子定数aの少なくとも約1%(例えば、少なくとも約2%、少なくとも約3%、少なくとも約4%、少なくとも約5%)であり、そして/または理想格子定数aの最大約25%(例えば、最大約20%、最大約15%、最大約10%)である。或る実施形態では、最近接開口間隔は、(a−Δa)と(a+Δa)との間でほぼランダムに変化して、パターン150をほぼランダムに微調整することができるようにする。
Raton, FL, 1993)、A. Tafloveによる「計算電気力学:有限差分時間領域法」と題する非特許文献2(Artech House, London, 1995)を参照されたく、これらの文献の両方を本明細書において参照することにより、これらの文献の内容が本発明の開示に含まれる。特定パターン150を有するLED100の光動作を説明するために、FDTD計算の入力パラメータは、光発生領域130の点双極子放射源が放出する光の中心周波数及び帯域幅、多層積層体122内の各層の寸法及び誘電特性、及びパターン150の開口の直径、深さ、及び最近接開口間距離(NND)を含む。
例えば、端面が0.01mm超)素子サイズのシミュレーションを行ない易くなる。全ての発展方程式を、全ての双極子放射源がエネルギーを放出した後、長時間経過し、系に残留するエネルギーが無くなるまでの時間に関して解く。シミュレーションの間、合計放出エネルギー、上面110から放射されるエネルギー束、及び量子井戸及びn型層が吸収するエネルギーをモニターする。時間領域及び空間領域の両方におけるフーリェ変換を使用して、放射束の周波数分解及び角度分解データが得られるので、角度分解及び周波数分解による取り出し効率を計算することができる。合計放出エネルギーを実験により判明する光発生領域130の発光(ルミネセンス)と照合することにより、所与の電気入力に対する、ルーメン/単位立体角/単位チップ面積で表わした角度分解による取り出し効率の絶対値が得られる。
を行なう方法、及び図7に示すパターンを有する発光素子の光取り出し効率を高めることに関する物理的説明は概して上述の説明と同じである。或る実施形態では、変形(微調整)パターンは、理想の位置から変位した開口及び理想の位置であるが変化する直径を有する開口を有することができる。
University Press, Cambridge, England 1996)に記載されており、この文献を本明細書において参照することによりこの文献の内容が本発明の開示に含まれる。数値計算によって、取り出し効率が8重準周期構造(class of 8−fold based quasi−periodic structure)が変化するとともにどのように変化するかが分かる。準結晶パターンは、このような構造によって可能になる面内回転対称性が高いので高い取り出し効率を示すと考えられる。光取り出し効率を高くする方法、該当する数値計算を行なう方法、及び図11に示すパターンを有する発光素子の光取り出し効率を高めることに関する物理的説明は概して上述の説明と同じである。図11に示すFDTD計算による結果は、準結晶構造の取り出し効率が約82%に達することを示している。図11に示すデータは、図1に示すLED100に与えられるパラメータを使用して計算されるが、これらのパラメータの中で、放出光が450nmのピーク波長を有し、かつNND(最近接開口間距離)が個々のセル内部の開口の間の距離として定義される点が異なる。
く維持しつつも非常に大きくすることができる。例えば、LED100の一つ以上の端面は少なくとも約1ミリメートル(例えば、少なくとも約1.5ミリメートル、少なくとも約2ミリメートル、少なくとも約2.5ミリメートル、少なくとも約3ミリメートル)とすることができ、そして光発生領域130によって生成され、かつLED100から放出される光の合計量の少なくとも約45%(例えば、少なくとも約50%、少なくとも約55%、少なくとも約60%、少なくとも約70%、少なくとも約80%、少なくとも約90%、少なくとも約95%)の光が表面110を通して放出される。これによってLEDは、良好な電力変換効率を示しつつ、非常に大きな断面(例えば、(少なくとも約1ミリメートル)×(少なくとも約1ミリメートル))を有することができる。
イン内部のG(逆格子ベクトル)点の散乱強度(εG)を大きくするように試みる。これは、NND(最近接開口間距離)を大きくして図5に示す効果を実現することを意味する。しかしながら、ここで我々は、法線方向を中心とする立体角方向の取り出し効率を高くすることに重点を置く。従って、我々は、封止材の光ラインの半径を小さくしてGの絶対値がG>(ω(ne))/cの関係を満たすようにすることにより高次元のG点の導入を制限したいとも考える。我々は、封止材の屈折率を小さくする(屈折率の最小値は封止材を全て取り除いたときに得られる)ことにより、我々は、NND(最近接開口間距離)を大きくすることができるので、法線方向(Fk=0)の光取り出しに寄与させることができる、材料の光ライン内部のG点の数を増やすと共に、封止材における高次方向(傾斜角度方向)の回折を回避する。上述の傾向は図13に示され、この図は、立体角(図における受光半値角により与えられる)方向の取り出し効率を示している。図13に示すデータは、図1に示すLED100に与えられるパラメータを使用して計算されるが、パラメータの中では、放出光が530nmのピーク波長及び34nmの帯域幅を有し、封止材の屈折率が1.0であり、p型層の厚さが160nmであり、光発生領域が30nmの厚さであり、3つの曲線に関するNND(a)が図13に示す値であり、そして深さ、穴の直径、及びn型層の厚さがaによってスケーリングされてそれぞれ1.27a,0.72a,及び1.27a+40nmとなる点が異なる。格子定数が大きくなると、狭い角度での取り出し効率が高くなるだけでなく全ての角度方向の取り出し効率が高くなる。しかしながら、格子定数が更に大きくなると、全ての角度方向の総合取り出し効率が高くなる場合でも、封止材における高次モードの方向への回折によって狭い角度での取り出し効率が低くなる。格子定数が460nmの場合、計算によれば、30度の受光半値角方向への取り出し効率が25%超になる。すなわち、取り出し光の約半分が立体角の上側半球の約13.4%のみの範囲内で収集され、パターンがコリメート効果を有することを示している。材料の光ライン内部のG点の数を大きくし、同時に封止材の光ライン内部のG点の数をk=0のG点のみに限定するパターンであれば必ず、法線方向を中心とする立体角方向への取り出し効率を高くすることができると考えられる。
0秒の間、窒素、酸素、大気、またはフォーミングガスの雰囲気中でアニールしてオーミックコンタクトを形成する。
使用して)、そしてレジスト層704を平坦化層702の上に形成する(例えばスピンコーティングする)。次に、フォトニック格子をLEDに形成するパターンをn型層506にナノインプリントリソグラフィ及びエッチングプロセスにより形成する。まず、所望パターンの一部を画定するモールドをレジスト層704に圧入し、そしてウェハの全表面を部分毎に段階的に横切って、プロセスフローの後の方で設けられるnコンタクトを堆積させるためのパターン150及び残りの領域の形状を印刷する。好適には、n型層506の表面はプロセスのこの部分の間はほぼ平坦である。例えば、X線リソグラフィまたはディープ紫外線リソグラフィを使用してもパターンをレジスト層704に形成することができる。レジストをウェハ上に堆積させ、そしてパターンをウェハ上のレジストに形成する方法に代わる方法として、予め膜を堆積させてエッチングを施したマスクを層506の表面の上に設けることができる。
いことによって回避される。
一例として、発光素子及び関連する層の或る厚さは上に議論したものであるが、他の厚さを採用することも可能である。一般的に、発光素子はどのような所望の厚さを有することもでき、そして発光素子内の個々の層はどのような所望の厚さを有することもできる。通常、多層積層体122内部の層の厚さは、光発生領域130との光モードの空間的重なりを大きくして領域130において生成される光の出力が大きくなるように選択される。発光素子の或る層の例示としての厚さは次の如くである。或る実施形態では、層134は少なくとも約100nm(例えば、少なくとも約200nm、少なくとも約300nm、少なくとも約400nm、少なくとも約500nm)及び/又は最大約10ミクロン(例えば、最大約5ミクロン、最大約3ミクロン、最大約1ミクロン)の厚さを有することができる。或る実施形態では、層128は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約25nm、少なくとも約40nm)及び/又は最大約1ミクロン(例えば、最大約500nm、最大約100nm)の厚さを有することができる。或る実施形態では、層126は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約50nm、少なくとも約100nm)及び/又は最大約1ミクロン(例えば、最大約500nm、最大約250nm)の厚さを有することができる。或る実施形態では、光発生領域130は少なくとも約10nm(例えば、少なくとも約25nm、少なくとも約50nm、少なくとも約100nm)及び/又は最大約500nm(例えば、最大約250nm、最大約150nm)の厚さを有することができる。
ED(例えば、端面が約300ミクロンの標準LEDよりも小さいLED)とすることもできる。
或る実施形態では、リン材料を含有するカバー層140を含むことができる。このような実施形態では、表面110はパターニングすることができる、またはパターニングしな
くてもよい。
Claims (23)
- 光発生領域、及び光発生領域によって支持される第1層備えた、複数の材料の多層積層体と、前記第1層の表面は、光発生領域が生成する光を、発光素子から第1層の表面を通して放出可能に形成されていることと、
前記第1層の表面と接触する材料とを備え、前記材料は気体からなるとともに1.3未満の屈折率を有し、かつ、
パッケージングされている、発光素子。 - 前記第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有する、請求項1記載の発光素子。
- 発光素子はパッケージングされたチップの形態をなす、請求項1記載の発光素子。
- 材料は気体からなる、請求項1記載の発光素子。
- 材料は少なくとも1の屈折率を有する、請求項1記載の発光素子。
- パッケージングされた発光素子には封止材料が不要である、請求項1記載の発光素子。
- 更に、カバーを備え、1.3未満の屈折率を有する材料は、カバーと第1層の表面との間に位置する、請求項1記載の発光素子。
- カバーはリン材料を含む、請求項7記載の発光素子。
- カバーは、光発生領域が生成し、かつ第1層の表面を通して放出される光がリン材料と相互反応することができるように、更に第1層の表面を通して放出され、かつリン材料と相互反応する光がカバーからほぼ白色光として放出されるように構成される、請求項8記載の発光素子。
- 発光素子から放出される光をほぼ透過する材料を含む第1シートと、
リン材料を含み、かつ第1シートに隣接する第2シートとをさらに備え、
1.3未満の屈折率を有する前記材料は第1シートと第1層の表面との間に位置する、請求項1記載の発光素子。 - 第1及び第2シートは、光発生領域が生成し、かつ第1層の表面を通して放出される光がリン材料と相互反応することができるように、更に第1層の表面を通して放出され、かつリン材料と相互反応する光が第2シートからほぼ白色光として放出されるように構成される、請求項10記載の発光素子。
- 更に、複数の材料から成る多層積層体を支持する支持体を備える、請求項1記載の発光素子。
- 更に、反射材料層を備え、該反射材料層は、光発生領域が生成する光の少なくとも50%の光であって、反射材料層に衝突する光を反射する機能を有し、反射材料層は、支持体と複数の材料から成る多層積層体との間に位置する、請求項12記載の発光素子。
- 反射材料はヒートシンク材料である、請求項13記載の発光素子。
- ヒートシンク材料は、ヒートシンク材料が発光素子の使用の間に垂直方向の熱勾配を有
するように構成される、請求項14記載の発光素子。 - 更に、第1層と光発生領域との間に電流拡散層を含む、請求項1記載の発光素子。
- 発光素子は発光ダイオードを含む、請求項1記載の発光素子。
- 第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、そしてパターンは光発生領域の中まで延在することがない、請求項1記載の発光素子。
- 第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、そしてパターンは第1層を超えて延在することがない、請求項1記載の発光素子。
- 第1層の表面は、パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有し、そしてパターンは、第1層を超えて延在する、請求項1記載の発光素子。
- 更に、反射材料層を備え、この反射材料層は、光発生領域が生成する光の少なくとも50%の光であって、反射材料層に衝突する光を反射する機能を有し、
光発生領域は、反射材料層と第1層との間に位置する、請求項1記載の発光素子。 - 更に、反射材料層を備え、この反射材料層は、光発生領域が生成する光の少なくとも50%の光であって、反射材料層に衝突する光を反射する機能を有し、
光発生領域は反射材料層と第1層との間に位置する、請求項1記載の発光素子。 - 第1層の表面は、非周期パターンに従って空間的に変化する誘電関数を有する、請求項1記載の発光素子。
Applications Claiming Priority (22)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US46288903P | 2003-04-15 | 2003-04-15 | |
US60/462,889 | 2003-04-15 | ||
US47419903P | 2003-05-29 | 2003-05-29 | |
US60/474,199 | 2003-05-29 | ||
US47568203P | 2003-06-04 | 2003-06-04 | |
US60/475,682 | 2003-06-04 | ||
US50365403P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50367203P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50367103P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50365303P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US50366103P | 2003-09-17 | 2003-09-17 | |
US60/503,672 | 2003-09-17 | ||
US60/503,654 | 2003-09-17 | ||
US60/503,661 | 2003-09-17 | ||
US60/503,671 | 2003-09-17 | ||
US60/503,653 | 2003-09-17 | ||
US51380703P | 2003-10-23 | 2003-10-23 | |
US60/513,807 | 2003-10-23 | ||
US51476403P | 2003-10-27 | 2003-10-27 | |
US60/514,764 | 2003-10-27 | ||
US10/724,033 US7262550B2 (en) | 2003-04-15 | 2003-11-26 | Light emitting diode utilizing a physical pattern |
US10/724,033 | 2003-11-26 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006509687A Division JP2007525000A (ja) | 2003-04-15 | 2004-04-06 | 発光素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011187981A true JP2011187981A (ja) | 2011-09-22 |
JP2011187981A5 JP2011187981A5 (ja) | 2012-08-09 |
Family
ID=33163350
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006509687A Pending JP2007525000A (ja) | 2003-04-15 | 2004-04-06 | 発光素子 |
JP2011116159A Pending JP2011187981A (ja) | 2003-04-15 | 2011-05-24 | 発光素子 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006509687A Pending JP2007525000A (ja) | 2003-04-15 | 2004-04-06 | 発光素子 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US7262550B2 (ja) |
EP (1) | EP1614147A4 (ja) |
JP (2) | JP2007525000A (ja) |
KR (1) | KR100937148B1 (ja) |
TW (1) | TWI330856B (ja) |
WO (1) | WO2004093132A2 (ja) |
Families Citing this family (42)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7521854B2 (en) * | 2003-04-15 | 2009-04-21 | Luminus Devices, Inc. | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same |
US7667238B2 (en) * | 2003-04-15 | 2010-02-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices for liquid crystal displays |
US20040259279A1 (en) * | 2003-04-15 | 2004-12-23 | Erchak Alexei A. | Light emitting device methods |
US7166871B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-01-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting systems |
US7074631B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-07-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device methods |
US7098589B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-29 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with high light collimation |
US6831302B2 (en) | 2003-04-15 | 2004-12-14 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with improved extraction efficiency |
US7083993B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Methods of making multi-layer light emitting devices |
US7274043B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-09-25 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode systems |
US7105861B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-09-12 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
US7211831B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device with patterned surfaces |
US7084434B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Uniform color phosphor-coated light-emitting diode |
US7262550B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-08-28 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode utilizing a physical pattern |
US7344903B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-18 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7012279B2 (en) * | 2003-10-21 | 2006-03-14 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Photonic crystal light emitting device |
US7450311B2 (en) * | 2003-12-12 | 2008-11-11 | Luminus Devices, Inc. | Optical display systems and methods |
US20050161696A1 (en) * | 2004-01-28 | 2005-07-28 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Semiconductor light-emitting device and method for fabricating the same |
US20050205883A1 (en) * | 2004-03-19 | 2005-09-22 | Wierer Jonathan J Jr | Photonic crystal light emitting device |
US20090023239A1 (en) * | 2004-07-22 | 2009-01-22 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7442964B2 (en) * | 2004-08-04 | 2008-10-28 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | Photonic crystal light emitting device with multiple lattices |
US20060038188A1 (en) | 2004-08-20 | 2006-02-23 | Erchak Alexei A | Light emitting diode systems |
US20060043400A1 (en) * | 2004-08-31 | 2006-03-02 | Erchak Alexei A | Polarized light emitting device |
US7170100B2 (en) | 2005-01-21 | 2007-01-30 | Luminus Devices, Inc. | Packaging designs for LEDs |
US7692207B2 (en) * | 2005-01-21 | 2010-04-06 | Luminus Devices, Inc. | Packaging designs for LEDs |
US20070045640A1 (en) | 2005-08-23 | 2007-03-01 | Erchak Alexei A | Light emitting devices for liquid crystal displays |
US8163575B2 (en) | 2005-06-17 | 2012-04-24 | Philips Lumileds Lighting Company Llc | Grown photonic crystals in semiconductor light emitting devices |
US7196354B1 (en) | 2005-09-29 | 2007-03-27 | Luminus Devices, Inc. | Wavelength-converting light-emitting devices |
US20080099777A1 (en) * | 2005-10-19 | 2008-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light-emitting devices and related systems |
KR100818451B1 (ko) * | 2006-07-03 | 2008-04-01 | 삼성전기주식회사 | 편광성을 갖는 반도체 발광 소자 |
US8110425B2 (en) | 2007-03-20 | 2012-02-07 | Luminus Devices, Inc. | Laser liftoff structure and related methods |
US8461613B2 (en) * | 2008-05-27 | 2013-06-11 | Interlight Optotech Corporation | Light emitting device |
DE102008045028B4 (de) * | 2008-08-29 | 2023-03-16 | OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Optoelektronischer Halbleiterchip |
US8724736B2 (en) * | 2008-09-05 | 2014-05-13 | Icera, Inc. | Passive transmitter architecture with switchable outputs for wireless applications |
CN102257317A (zh) * | 2008-10-17 | 2011-11-23 | 发光装置公司 | 远程照明组件和方法 |
US7994531B2 (en) * | 2009-04-02 | 2011-08-09 | Visera Technologies Company Limited | White-light light emitting diode chips and fabrication methods thereof |
US8597963B2 (en) * | 2009-05-19 | 2013-12-03 | Intematix Corporation | Manufacture of light emitting devices with phosphor wavelength conversion |
US8094323B2 (en) * | 2009-06-26 | 2012-01-10 | Mitutoyo Corporation | Displacement encoder including phosphor illumination source |
KR20120092614A (ko) * | 2009-10-01 | 2012-08-21 | 루미너스 디바이시즈, 아이엔씨. | 발광 소자 어레이 |
JP2012199098A (ja) * | 2011-03-22 | 2012-10-18 | Dainippon Printing Co Ltd | 封止ガラス、封止ガラスを備えた有機el表示装置および有機el表示装置の製造方法 |
US20140191194A1 (en) * | 2011-08-09 | 2014-07-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Nitride semiconductor light-emitting element |
US9147816B2 (en) | 2012-08-24 | 2015-09-29 | Luminus Devices, Inc. | Wavelength converting material deposition methods and associated articles |
US10347798B2 (en) | 2015-06-01 | 2019-07-09 | Intematix Corporation | Photoluminescence material coating of LED chips |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62141788A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 発光ダイオ−ド表示装置 |
JPH1187778A (ja) * | 1997-09-02 | 1999-03-30 | Toshiba Corp | 半導体発光素子、半導体発光装置およびその製造方法 |
JP2000106454A (ja) * | 1998-07-28 | 2000-04-11 | Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw | 高効率で放射線を発するデバイスおよびそのようなデバイスの製造方法 |
JP2001156338A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-06-08 | Koha Co Ltd | 可視光線発光装置 |
JP2001203386A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-27 | Lumileds Lighting Us Llc | 光生成能力を高めたiii−窒化物発光デバイス |
WO2002089218A2 (fr) * | 2001-04-26 | 2002-11-07 | Centre National De La Recherche Scientifique | Dispositif electroluminescent a extracteur de lumiere |
JP2002335014A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-11-22 | Lumileds Lighting Us Llc | 高反射率オーミックコンタクトを有するAlGaInNフリップ・チップ発光デバイス |
JP2003008083A (ja) * | 2001-05-15 | 2003-01-10 | Lumileds Lighting Us Llc | 多数チップ半導体ledアセンブリ |
JP2003258296A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-09-12 | Toshiba Corp | 発光素子およびその製造方法 |
Family Cites Families (140)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US622207A (en) * | 1899-04-04 | Driving mechanism | ||
US3293513A (en) | 1962-08-08 | 1966-12-20 | Texas Instruments Inc | Semiconductor radiant diode |
US3922706A (en) | 1965-07-31 | 1975-11-25 | Telefunken Patent | Transistor having emitter with high circumference-surface area ratio |
US3739217A (en) | 1969-06-23 | 1973-06-12 | Bell Telephone Labor Inc | Surface roughening of electroluminescent diodes |
US4729076A (en) | 1984-11-15 | 1988-03-01 | Tsuzawa Masami | Signal light unit having heat dissipating function |
US4864370A (en) | 1987-11-16 | 1989-09-05 | Motorola, Inc. | Electrical contact for an LED |
US5126231A (en) | 1990-02-26 | 1992-06-30 | Applied Materials, Inc. | Process for multi-layer photoresist etching with minimal feature undercut and unchanging photoresist load during etch |
JPH0442582A (ja) | 1990-06-08 | 1992-02-13 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオードアレイ |
JPH0487381A (ja) | 1990-07-31 | 1992-03-19 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオードアレイチップ |
US5073041A (en) | 1990-11-13 | 1991-12-17 | Bell Communications Research, Inc. | Integrated assembly comprising vertical cavity surface-emitting laser array with Fresnel microlenses |
JPH04264781A (ja) | 1991-02-20 | 1992-09-21 | Eastman Kodak Japan Kk | 発光ダイオードアレイ |
US5359345A (en) | 1992-08-05 | 1994-10-25 | Cree Research, Inc. | Shuttered and cycled light emitting diode display and method of producing the same |
US5724062A (en) | 1992-08-05 | 1998-03-03 | Cree Research, Inc. | High resolution, high brightness light emitting diode display and method and producing the same |
US5363009A (en) | 1992-08-10 | 1994-11-08 | Mark Monto | Incandescent light with parallel grooves encompassing a bulbous portion |
CA2122023A1 (en) * | 1992-09-09 | 1994-03-17 | Alexander H. Slocum | Replicated-in-place internal viscous shear damper for machine structures and components |
EP0614255B1 (en) | 1993-03-04 | 1997-09-10 | AT&T Corp. | Article comprising a focusing surface emitting semiconductor laser |
JPH06338630A (ja) | 1993-05-28 | 1994-12-06 | Omron Corp | 半導体発光素子、並びに当該発光素子を用いた光学検知装置、光学的情報処理装置、光結合装置及び発光装置 |
TW253999B (ja) | 1993-06-30 | 1995-08-11 | Hitachi Cable | |
US5600483A (en) | 1994-05-10 | 1997-02-04 | Massachusetts Institute Of Technology | Three-dimensional periodic dielectric structures having photonic bandgaps |
US5631190A (en) | 1994-10-07 | 1997-05-20 | Cree Research, Inc. | Method for producing high efficiency light-emitting diodes and resulting diode structures |
US5633527A (en) | 1995-02-06 | 1997-05-27 | Sandia Corporation | Unitary lens semiconductor device |
US5814839A (en) | 1995-02-16 | 1998-09-29 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor light-emitting device having a current adjusting layer and a uneven shape light emitting region, and method for producing same |
DE19629920B4 (de) | 1995-08-10 | 2006-02-02 | LumiLeds Lighting, U.S., LLC, San Jose | Licht-emittierende Diode mit einem nicht-absorbierenden verteilten Braggreflektor |
US5779924A (en) | 1996-03-22 | 1998-07-14 | Hewlett-Packard Company | Ordered interface texturing for a light emitting device |
JP2817703B2 (ja) * | 1996-04-25 | 1998-10-30 | 日本電気株式会社 | 光半導体装置 |
US6045240A (en) | 1996-06-27 | 2000-04-04 | Relume Corporation | LED lamp assembly with means to conduct heat away from the LEDS |
EP1341009B1 (en) | 1996-09-24 | 2006-04-19 | Seiko Epson Corporation | Illumination device and display device using it |
DE19640594B4 (de) | 1996-10-01 | 2016-08-04 | Osram Gmbh | Bauelement |
US5834331A (en) | 1996-10-17 | 1998-11-10 | Northwestern University | Method for making III-Nitride laser and detection device |
US5955749A (en) | 1996-12-02 | 1999-09-21 | Massachusetts Institute Of Technology | Light emitting device utilizing a periodic dielectric structure |
FR2758890B1 (fr) | 1997-01-29 | 1999-02-26 | Thomson Multimedia Sa | Dispositif optique de polarisation |
US6388264B1 (en) | 1997-03-28 | 2002-05-14 | Benedict G Pace | Optocoupler package being hermetically sealed |
US6264820B1 (en) * | 1997-04-28 | 2001-07-24 | British Nuclear Fuels Plc | Gas generators |
GB9710062D0 (en) | 1997-05-16 | 1997-07-09 | British Tech Group | Optical devices and methods of fabrication thereof |
US6784463B2 (en) * | 1997-06-03 | 2004-08-31 | Lumileds Lighting U.S., Llc | III-Phospide and III-Arsenide flip chip light-emitting devices |
US6340824B1 (en) | 1997-09-01 | 2002-01-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor light emitting device including a fluorescent material |
KR20010023783A (ko) * | 1997-09-08 | 2001-03-26 | 칼 하인쯔 호르닝어 | 터보 기계 및 증기 터빈용 블레이드 |
JP2845239B1 (ja) * | 1997-12-17 | 1999-01-13 | 日本電気株式会社 | 有機薄膜elデバイスおよびその製造方法 |
US6071795A (en) | 1998-01-23 | 2000-06-06 | The Regents Of The University Of California | Separation of thin films from transparent substrates by selective optical processing |
US6265820B1 (en) | 1998-01-29 | 2001-07-24 | Emagin Corporation | Heat removal system for use in organic light emitting diode displays having high brightness |
US6091085A (en) | 1998-02-19 | 2000-07-18 | Agilent Technologies, Inc. | GaN LEDs with improved output coupling efficiency |
DE19828970C2 (de) | 1998-06-29 | 2000-05-18 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung und Vereinzelung von Halbleiter-Lichtemissionsdioden |
DE19829197C2 (de) | 1998-06-30 | 2002-06-20 | Siemens Ag | Strahlungsaussendendes und/oder -empfangendes Bauelement |
US6504180B1 (en) | 1998-07-28 | 2003-01-07 | Imec Vzw And Vrije Universiteit | Method of manufacturing surface textured high-efficiency radiating devices and devices obtained therefrom |
US6335548B1 (en) | 1999-03-15 | 2002-01-01 | Gentex Corporation | Semiconductor radiation emitter package |
JP3525061B2 (ja) | 1998-09-25 | 2004-05-10 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子の製造方法 |
US6307218B1 (en) | 1998-11-20 | 2001-10-23 | Lumileds Lighting, U.S., Llc | Electrode structures for light emitting devices |
US6429583B1 (en) | 1998-11-30 | 2002-08-06 | General Electric Company | Light emitting device with ba2mgsi2o7:eu2+, ba2sio4:eu2+, or (srxcay ba1-x-y)(a1zga1-z)2sr:eu2+phosphors |
JP3469484B2 (ja) | 1998-12-24 | 2003-11-25 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US20010042866A1 (en) | 1999-02-05 | 2001-11-22 | Carrie Carter Coman | Inxalygazn optical emitters fabricated via substrate removal |
US6222207B1 (en) | 1999-05-24 | 2001-04-24 | Lumileds Lighting, U.S. Llc | Diffusion barrier for increased mirror reflectivity in reflective solderable contacts on high power LED chip |
TW437104B (en) | 1999-05-25 | 2001-05-28 | Wang Tien Yang | Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing the same |
JP2000347601A (ja) * | 1999-06-02 | 2000-12-15 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 発光装置 |
US6288840B1 (en) | 1999-06-22 | 2001-09-11 | Moxtek | Imbedded wire grid polarizer for the visible spectrum |
US6122103A (en) | 1999-06-22 | 2000-09-19 | Moxtech | Broadband wire grid polarizer for the visible spectrum |
US6376864B1 (en) * | 1999-07-06 | 2002-04-23 | Tien Yang Wang | Semiconductor light-emitting device and method for manufacturing the same |
DE19931689A1 (de) | 1999-07-08 | 2001-01-11 | Patent Treuhand Ges Fuer Elektrische Gluehlampen Mbh | Optoelektronische Bauteilgruppe |
US6534798B1 (en) | 1999-09-08 | 2003-03-18 | California Institute Of Technology | Surface plasmon enhanced light emitting diode and method of operation for the same |
IE20000790A1 (en) | 1999-10-01 | 2001-04-18 | Stockeryale Irl Ltd | Linear illumination |
US6287882B1 (en) | 1999-10-04 | 2001-09-11 | Visual Photonics Epitaxy Co., Ltd. | Light emitting diode with a metal-coated reflective permanent substrate and the method for manufacturing the same |
US6614056B1 (en) | 1999-12-01 | 2003-09-02 | Cree Lighting Company | Scalable led with improved current spreading structures |
AU4139101A (en) | 1999-12-03 | 2001-06-12 | Cree Lighting Company | Enhanced light extraction in leds through the use of internal and external optical elements |
US6410942B1 (en) | 1999-12-03 | 2002-06-25 | Cree Lighting Company | Enhanced light extraction through the use of micro-LED arrays |
US7183640B2 (en) * | 1999-12-13 | 2007-02-27 | Lamina Ceramics, Inc. | Method and structures for enhanced temperature control of high power components on multilayer LTCC and LTCC-M boards |
JP2001177145A (ja) | 1999-12-21 | 2001-06-29 | Toshiba Electronic Engineering Corp | 半導体発光素子およびその製造方法 |
US20020068373A1 (en) * | 2000-02-16 | 2002-06-06 | Nova Crystals, Inc. | Method for fabricating light emitting diodes |
WO2001064481A2 (en) | 2000-03-02 | 2001-09-07 | Donnelly Corporation | Video mirror systems incorporating an accessory module |
JP4643794B2 (ja) | 2000-04-21 | 2011-03-02 | 富士通株式会社 | 半導体発光素子 |
KR200205427Y1 (ko) * | 2000-05-10 | 2000-12-01 | 이정훈 | 파장 변환 발광 다이오드 |
GB0011749D0 (en) | 2000-05-17 | 2000-07-05 | Cambridge Display Tech Ltd | Light-eminating devices |
US6853663B2 (en) * | 2000-06-02 | 2005-02-08 | Agilent Technologies, Inc. | Efficiency GaN-based light emitting devices |
US6410940B1 (en) | 2000-06-15 | 2002-06-25 | Kansas State University Research Foundation | Micro-size LED and detector arrays for minidisplay, hyper-bright light emitting diodes, lighting, and UV detector and imaging sensor applications |
US6452217B1 (en) | 2000-06-30 | 2002-09-17 | General Electric Company | High power LED lamp structure using phase change cooling enhancements for LED lighting products |
JP4024994B2 (ja) | 2000-06-30 | 2007-12-19 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子 |
TW445507B (en) | 2000-07-20 | 2001-07-11 | United Epitaxy Co Ltd | Roughened interface of light emitting device |
US6661028B2 (en) | 2000-08-01 | 2003-12-09 | United Epitaxy Company, Ltd. | Interface texturing for light-emitting device |
US6476549B2 (en) | 2000-10-26 | 2002-11-05 | Mu-Chin Yu | Light emitting diode with improved heat dissipation |
AU2002217845A1 (en) * | 2000-11-16 | 2002-05-27 | Emcore Corporation | Microelectronic package having improved light extraction |
US6518600B1 (en) | 2000-11-17 | 2003-02-11 | General Electric Company | Dual encapsulation for an LED |
TW579608B (en) | 2000-11-24 | 2004-03-11 | High Link Technology Corp | Method and structure of forming electrode for light emitting device |
JP5110744B2 (ja) | 2000-12-21 | 2012-12-26 | フィリップス ルミレッズ ライティング カンパニー リミテッド ライアビリティ カンパニー | 発光装置及びその製造方法 |
JP2002280607A (ja) | 2001-01-10 | 2002-09-27 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光装置 |
AUPR245601A0 (en) | 2001-01-10 | 2001-02-01 | Silverbrook Research Pty Ltd | An apparatus (WSM09) |
US6703780B2 (en) * | 2001-01-16 | 2004-03-09 | General Electric Company | Organic electroluminescent device with a ceramic output coupler and method of making the same |
US6791119B2 (en) | 2001-02-01 | 2004-09-14 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for light extraction |
US6794684B2 (en) | 2001-02-01 | 2004-09-21 | Cree, Inc. | Reflective ohmic contacts for silicon carbide including a layer consisting essentially of nickel, methods of fabricating same, and light emitting devices including the same |
US6468824B2 (en) | 2001-03-22 | 2002-10-22 | Uni Light Technology Inc. | Method for forming a semiconductor device having a metallic substrate |
US6522063B2 (en) | 2001-03-28 | 2003-02-18 | Epitech Corporation | Light emitting diode |
US6481874B2 (en) | 2001-03-29 | 2002-11-19 | Gelcore Llc | Heat dissipation system for high power LED lighting system |
JP3891115B2 (ja) * | 2001-04-17 | 2007-03-14 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置 |
EP1398839B1 (en) * | 2001-04-23 | 2012-03-28 | Panasonic Corporation | Light emitting device comprising light emitting diode chip |
US6574383B1 (en) | 2001-04-30 | 2003-06-03 | Massachusetts Institute Of Technology | Input light coupler using a pattern of dielectric contrast distributed in at least two dimensions |
US6709929B2 (en) * | 2001-06-25 | 2004-03-23 | North Carolina State University | Methods of forming nano-scale electronic and optoelectronic devices using non-photolithographically defined nano-channel templates |
JP2003017751A (ja) | 2001-06-28 | 2003-01-17 | Toyoda Gosei Co Ltd | 発光ダイオード |
US6740906B2 (en) | 2001-07-23 | 2004-05-25 | Cree, Inc. | Light emitting diodes including modifications for submount bonding |
TW518771B (en) * | 2001-09-13 | 2003-01-21 | United Epitaxy Co Ltd | LED and the manufacturing method thereof |
DE10147887C2 (de) | 2001-09-28 | 2003-10-23 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierendes Halbleiterbauelement mit einem Kontakt, der eine Mehrzahl von voneinander beabstandeten Kontaktstellen umfaßt |
US6501103B1 (en) | 2001-10-23 | 2002-12-31 | Lite-On Electronics, Inc. | Light emitting diode assembly with low thermal resistance |
US6812503B2 (en) | 2001-11-29 | 2004-11-02 | Highlink Technology Corporation | Light-emitting device with improved reliability |
DE10158754A1 (de) | 2001-11-30 | 2003-06-18 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Lichtemittierendes Halbleiderbauelement |
TW576864B (en) * | 2001-12-28 | 2004-02-21 | Toshiba Corp | Method for manufacturing a light-emitting device |
US6480389B1 (en) | 2002-01-04 | 2002-11-12 | Opto Tech Corporation | Heat dissipation structure for solid-state light emitting device package |
JP3802424B2 (ja) | 2002-01-15 | 2006-07-26 | 株式会社東芝 | 半導体発光素子及びその製造方法 |
US20030141563A1 (en) * | 2002-01-28 | 2003-07-31 | Bily Wang | Light emitting diode package with fluorescent cover |
EP2105977B1 (en) | 2002-01-28 | 2014-06-25 | Nichia Corporation | Nitride semiconductor element with supporting substrate and method for producing nitride semiconductor element |
US7279718B2 (en) * | 2002-01-28 | 2007-10-09 | Philips Lumileds Lighting Company, Llc | LED including photonic crystal structure |
US6869820B2 (en) * | 2002-01-30 | 2005-03-22 | United Epitaxy Co., Ltd. | High efficiency light emitting diode and method of making the same |
US6943379B2 (en) | 2002-04-04 | 2005-09-13 | Toyoda Gosei Co., Ltd. | Light emitting diode |
US6849558B2 (en) | 2002-05-22 | 2005-02-01 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Replication and transfer of microstructures and nanostructures |
US6878969B2 (en) | 2002-07-29 | 2005-04-12 | Matsushita Electric Works, Ltd. | Light emitting device |
US6649437B1 (en) | 2002-08-20 | 2003-11-18 | United Epitaxy Company, Ltd. | Method of manufacturing high-power light emitting diodes |
TW541732B (en) * | 2002-08-28 | 2003-07-11 | Arima Optoelectronics Corp | Manufacturing method of LED having transparent substrate |
US6762069B2 (en) | 2002-11-19 | 2004-07-13 | United Epitaxy Company, Ltd. | Method for manufacturing light-emitting element on non-transparent substrate |
US7750059B2 (en) * | 2002-12-04 | 2010-07-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Polymer solution for nanoimprint lithography to reduce imprint temperature and pressure |
US20040130263A1 (en) * | 2003-01-02 | 2004-07-08 | Ray-Hua Horng | High brightness led and method for producing the same |
JP4325232B2 (ja) * | 2003-03-18 | 2009-09-02 | 日亜化学工業株式会社 | 窒化物半導体素子 |
US7141828B2 (en) * | 2003-03-19 | 2006-11-28 | Gelcore, Llc | Flip-chip light emitting diode with a thermally stable multiple layer reflective p-type contact |
US7083993B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Methods of making multi-layer light emitting devices |
US7262550B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-08-28 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode utilizing a physical pattern |
US7211831B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-05-01 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device with patterned surfaces |
US7274043B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-09-25 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting diode systems |
US7521854B2 (en) * | 2003-04-15 | 2009-04-21 | Luminus Devices, Inc. | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same |
US7074631B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-07-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device methods |
US7084434B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-01 | Luminus Devices, Inc. | Uniform color phosphor-coated light-emitting diode |
US7098589B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-08-29 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with high light collimation |
US7166871B2 (en) * | 2003-04-15 | 2007-01-23 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting systems |
US6831302B2 (en) * | 2003-04-15 | 2004-12-14 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting devices with improved extraction efficiency |
US7105861B2 (en) * | 2003-04-15 | 2006-09-12 | Luminus Devices, Inc. | Electronic device contact structures |
KR100483049B1 (ko) | 2003-06-03 | 2005-04-15 | 삼성전기주식회사 | 수직구조 질화갈륨계 발광다이오드의 제조방법 |
US6864571B2 (en) | 2003-07-07 | 2005-03-08 | Gelcore Llc | Electronic devices and methods for making same using nanotube regions to assist in thermal heat-sinking |
US6847057B1 (en) | 2003-08-01 | 2005-01-25 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Semiconductor light emitting devices |
US7341880B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-11 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US7344903B2 (en) * | 2003-09-17 | 2008-03-18 | Luminus Devices, Inc. | Light emitting device processes |
US6914261B2 (en) | 2003-10-10 | 2005-07-05 | Lambda Opto Technology Co., Ltd. | Light emitting diode module |
US7012279B2 (en) * | 2003-10-21 | 2006-03-14 | Lumileds Lighting U.S., Llc | Photonic crystal light emitting device |
KR100533635B1 (ko) * | 2003-11-20 | 2005-12-06 | 삼성전기주식회사 | Led 패키지 |
US7450311B2 (en) * | 2003-12-12 | 2008-11-11 | Luminus Devices, Inc. | Optical display systems and methods |
US20050205883A1 (en) * | 2004-03-19 | 2005-09-22 | Wierer Jonathan J Jr | Photonic crystal light emitting device |
US6849876B1 (en) | 2004-05-31 | 2005-02-01 | Excel Cell Electronic Co., Ltd. | Light emitting device |
US6881980B1 (en) | 2004-06-17 | 2005-04-19 | Chunghwa Picture Tubes, Ltd. | Package structure of light emitting diode |
-
2003
- 2003-11-26 US US10/724,033 patent/US7262550B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2004
- 2004-04-06 KR KR1020057019415A patent/KR100937148B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2004-04-06 JP JP2006509687A patent/JP2007525000A/ja active Pending
- 2004-04-06 WO PCT/US2004/010383 patent/WO2004093132A2/en active Application Filing
- 2004-04-06 EP EP04759115A patent/EP1614147A4/en not_active Withdrawn
- 2004-04-13 TW TW093110209A patent/TWI330856B/zh not_active IP Right Cessation
-
2007
- 2007-07-12 US US11/827,601 patent/US20070257601A1/en not_active Abandoned
-
2011
- 2011-05-24 JP JP2011116159A patent/JP2011187981A/ja active Pending
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62141788A (ja) * | 1985-12-16 | 1987-06-25 | Mitsubishi Cable Ind Ltd | 発光ダイオ−ド表示装置 |
JPH1187778A (ja) * | 1997-09-02 | 1999-03-30 | Toshiba Corp | 半導体発光素子、半導体発光装置およびその製造方法 |
JP2000106454A (ja) * | 1998-07-28 | 2000-04-11 | Interuniv Micro Electronica Centrum Vzw | 高効率で放射線を発するデバイスおよびそのようなデバイスの製造方法 |
JP2001156338A (ja) * | 1999-11-24 | 2001-06-08 | Koha Co Ltd | 可視光線発光装置 |
JP2001203386A (ja) * | 1999-12-22 | 2001-07-27 | Lumileds Lighting Us Llc | 光生成能力を高めたiii−窒化物発光デバイス |
JP2002335014A (ja) * | 2001-03-29 | 2002-11-22 | Lumileds Lighting Us Llc | 高反射率オーミックコンタクトを有するAlGaInNフリップ・チップ発光デバイス |
WO2002089218A2 (fr) * | 2001-04-26 | 2002-11-07 | Centre National De La Recherche Scientifique | Dispositif electroluminescent a extracteur de lumiere |
JP2003008083A (ja) * | 2001-05-15 | 2003-01-10 | Lumileds Lighting Us Llc | 多数チップ半導体ledアセンブリ |
JP2003258296A (ja) * | 2001-12-28 | 2003-09-12 | Toshiba Corp | 発光素子およびその製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100937148B1 (ko) | 2010-01-15 |
TWI330856B (en) | 2010-09-21 |
EP1614147A4 (en) | 2010-12-08 |
US7262550B2 (en) | 2007-08-28 |
WO2004093132A2 (en) | 2004-10-28 |
TW200506994A (en) | 2005-02-16 |
WO2004093132A3 (en) | 2007-03-08 |
US20070257601A1 (en) | 2007-11-08 |
US20040207323A1 (en) | 2004-10-21 |
KR20060015506A (ko) | 2006-02-17 |
JP2007525000A (ja) | 2007-08-30 |
EP1614147A2 (en) | 2006-01-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9698306B2 (en) | Large emission area light-emitting devices | |
JP2011187981A (ja) | 発光素子 | |
JP2011187982A (ja) | 発光素子 | |
JP2011205114A (ja) | 発光素子 | |
US7521854B2 (en) | Patterned light emitting devices and extraction efficiencies related to the same | |
US20040206971A1 (en) | Light emitting devices | |
US20040207319A1 (en) | Light emitting devices | |
CN101673801B (zh) | 发光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110623 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110623 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120106 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121225 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130321 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130326 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130625 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140204 |